玻璃器壁的光学和几何参数测量装置及其测量方法
【专利摘要】一种玻璃器壁的光学和几何参数测量装置，在支架上一侧设置待测量圆柱状玻璃容器、另一侧设上半导体激光器和下半导体激光器，在待测量圆柱状玻璃容器器壁外表面局部设一层白色油漆或白色玻璃油墨构成的光散射成像层。测量方法为：在待测量圆柱状玻璃容器中充入已知折射率的透明液体，上半导体激光器和下半导体激光器射出的激光束通过光散射成像层发生散射，散射光进入玻璃容器与容器内介质的界面时产生全反射，在光散射成像层上形成大椭圆暗斑和小椭圆暗斑，根据折射率和壁厚与小椭圆形暗斑长轴长度和大椭圆形暗斑长轴长度之间的关系，计算出待测玻璃器壁的光学和几何参数。本发明具有结构和方法简单、测量速度快、精度高、且易于实施等优点。
【专利说明】玻璃器壁的光学和几何参数测量装置及其测量方法
【技术领域】
[0001]本发明属于光学测量【技术领域】，具体涉及到玻璃器壁光学、几何参数的测量装置与测量方法。
【背景技术】
[0002]玻璃容器与玻璃管使用的广泛性人所共知，由于其优异稳定的化学、光学和机械性能，成为化学化工、食品卫生、电光源、太阳能等工业生产领域以及实验室和科学研究中必不可少的器具和材料，因此玻璃器壁的光学、几何参数的测量成为其制造和使用中不可缺少的环节。
[0003]传统的玻璃容器和玻璃管壁厚的测量方法有超声测量法和电容测量法，由于其测量过程复杂、设备操作难度大且测量精度差，影响了其推广与应用。近年来采用光学方法测量玻璃器壁光学、几何参数的技术受得了本专业领域技术人员的充分关注，专利
【发明者】张宗权, 苗润才, 姚志, 王文成, 刘志存, 鲁百佐, 杨宗立, 辛经纬, 杜毅鹏, 崔永贞, 刘雅琳 申请人:陕西师范大学