一种基于雪崩二极管的片状遮光料漏光检测装置制造方法
【专利摘要】本发明涉及一种基于雪崩二极管的片状遮光料漏光检测装置，包括暗箱和设置在暗箱中的检测平台，其特征在于：暗箱中还设有能够沿检测平台移动的检测仪，检测仪包括设于检测平台下方的光源以及设于检测平台上方与光源对应的若干雪崩二极管。本发明的漏光检测装置，通过电动或手动方式使检测仪在暗箱中沿检测平台移动从而对遮光料进行扫描，能够方便、快捷的获得检测结果。基于雪崩二极管的检测仪检出率较高。
【专利说明】-种基于雪崩二极管的片状遮光料漏光检测装置

【技术领域】
[0001] 本发明涉及一种漏光检测装置，尤其涉及一种遮光料的漏光检测装置。

【背景技术】
[0002] 遮光料通常是由在物料表面添设遮光层而实现的，广泛应用在各行各业。例如印 刷有遮光油墨的铝箔纸，就是一种遮光料。但由于遮光料的遮光层是后加的，不可避免一些 喷涂或印刷的瑕疵，即遮光料表面会形成一些漏光部位，这些漏光部位将影响遮光料的遮 光效果，降低遮光料生产的成品率。因此，亟需相应的漏光检测装置。


【发明内容】

[0003] 本发明克服了现有技术的不足，提供一种结构简单，使用方便、快捷，次品检出率 高的片状遮光料漏光检测装置。
[0004] 为达到上述目的，本发明采用的技术方案为：一种基于雪崩二极管的片状遮光料 漏光检测装置，包括暗箱和设置在暗箱中的检测平台，其特征在于：所述暗箱中还设有能够 沿检测平台移动的检测仪，所述检测仪包括设于检测平台下方的光源以及设于检测平台上 方与所述光源对应的若干雪崩二极管。
[0005] 优选的，所述检测仪包括多个所述雪崩二极管，全部雪崩二极管线状排列，且排列 方向垂直于检测仪沿检测平台的移动方向。
[0006] 优选的，所述检测仪与检测平台滑动配合，检测仪的侧部设有向外延伸的手柄，且 所述暗箱的对应侧设有沿检测仪滑动方向延伸的条形槽，所述手柄向外伸出所述条形槽。
[0007] 优选的，所述暗箱至少一端对应于所述检测平台高度的位置开槽作为所述遮光料 的通行口。
[0008] 优选的，所述检测平台包括台板本体和可相对于台板本体移动的活动板，所述活 动板用于放置所述遮光料，且能够由所述通行口进出暗箱。
[0009] 优选的，所述台板本体上设有滑槽，所述活动板设置在滑槽中与台板本体滑动配 合，所述滑槽至少有对应所述通行口的一端开口，且槽口设有倒角。
[0010] 优选的，所述活动板对应于所述通行口的一端设有抓握孔。
[0011] 本发明解决了【背景技术】中存在的缺陷，具有如下有益效果： 1.本发明的漏光检测装置，通过电动或手动方式使检测仪在暗箱中沿检测平台移动从 而对遮光料进行扫描，能够方便、快捷的获得检测结果。基于雪崩二极管的检测仪检出率较 商。
[0012] 2.多个雪崩二极管线状排列，且排列方向垂直于检测仪沿检测平台的移动方向， 因此当检测仪移动进行扫描时，能够覆盖遮光料的整个二维平面，检测效果好。
[0013] 3.设置检测仪与检测平台滑动配合的形式，并且检测仪带有伸出暗箱的手柄，方 便人工移动检测仪，操作简单，快捷。
[0014] 4.暗箱至少一端设置通行口，可以直接从通行口放入和/或取出检测平台上的遮 光料，可以避免设置暗箱箱盖和使用时打开暗箱箱盖，更加方便。
[0015] 5.检测平台设置为台板本体和可相对于台板本体移动的活动板形式，使得能够将 活动板取出后放置遮光料再放回到暗箱的台板本体上，便于遮光料的置入和平整度保持， 避免遮光料直接由通行口插入暗箱，完全、折损和摆放不正。尤其可以设计成活动板设置在 滑槽中与台板本体滑动配合的形式，滑槽至少开口，且槽口设有倒角，一方面保证活动板在 台板本体上的稳定，另一方面又方便其抽出，倒角的设置还有利于其重新插入台板本体的 滑槽中。另外活动板对应于通行口的一端还可设置抓握孔，进一步便于人工抓握抽拉活动 板。

【专利附图】

【附图说明】
[0016] 下面结合附图和实施例对本发明进一步说明。
[0017] 图1是本发明的优选实施例的结构示意图； 图2是本发明的优选实施例的内部结构示意图； 图3是图2所示局部A的放大示意图； 图4是本发明优选实施例检测仪中雪崩二极管的分布俯视图； 图中：1、遮光料，2、暗箱，22、入口，24、出口，26、条形槽，3、倒角，4、检测平台，42、滑块， 44、台板本体，442、滑槽，46、活动板，462、抓握孔，6、检测仪，62、光源，63、箱体，632、槽，64、 雪崩二极管，66、滑轨，68、手柄。

【具体实施方式】
[0018] 现在结合附图和实施例对本发明作进一步详细的说明，这些附图均为简化的示意 图，仅以示意方式说明本发明的基本结构，因此其仅显示与本发明有关的构成。
[0019] 如图1-4所示，一种基于雪崩二极管的片状遮光料漏光检测装置，包括暗箱2和设 置在暗箱2中的检测平台4。暗箱2中还设有能够沿检测平台4移动的检测仪6,检测仪6 包括设于检测平台4下方的光源62以及设于检测平台4上方与光源62对应的雪崩二极管 64。
[0020] 暗箱2为长方体状，两端分别设有作为遮光料1通行口的入口 22和出口 24。检测 平台4水平设置在暗箱2中，两端分别延伸至入口 22和出口 24,即检测平台4和出、入口 22、24高度的配合使得遮光料1恰好能够以水平状态从入口 22进入暗箱2、到达检测平台 4,并由出口 24离开。
[0021] 检测仪6与检测平台4滑动配合。具体的，检测平台4的两侧分别设有沿检测平 台4延伸方向的条状滑块42,而检测仪6的两侧分别设有滑轨66,检测仪6两侧的滑轨66 分别卡合在对应的滑块42上，使得检测仪6能沿滑块42延伸方向滑动。检测仪6的侧部 设有向外延伸的手柄68,且暗箱2的对应侧设有沿检测仪6滑动方向延伸的条形槽26,手 柄68向外伸出条形槽26,便于人工抓握来拉动检测仪6相对于检测平台4移动。
[0022] 检测平台4包括固定于暗箱2的台板本体44和可相对于台板本体44移动的活动 板46。活动板46用于放置遮光料1，且能够由入口 22进入暗箱2。具体的，台板本体44上 设有滑槽442,活动板46设置在滑槽442中与台板本体44滑动配合，滑槽442对应暗箱2 入口 22的一端开口，且槽口设有倒角3。另外，活动板46对应于暗箱2入口 22的一端还设 有抓握孔462。
[0023] 检测仪6包括设于检测平台4上方中空的箱体63,以及容置在箱体63中的多个 雪崩二极管64。箱体63的底部设有狭缝或槽632,以便雪崩二极管64对检测平台4活动 板46上的遮光料1进行感应。箱体63中，全部雪崩二极管64线状等间隔排列，且排列方 向垂直于检测仪6沿检测平台4的移动方向，雪崩二极管64的数量在本实施例中为6个， 但不限于6个。
[0024] 使用时，从暗箱2的入口 22,通过抓握孔462抽出活动板46,将待检测遮光料1置 于活动板46上，一同送入暗箱2,嵌设在台板本体44中，随后握住手柄68移动检测仪6即 可对遮光料1进行全面扫描。扫描时，检测平台4下方的光源62进行照明，雪崩二极管64 感应漏光部位。检测仪6可以外接指示装置、计算机来反馈用户检测结果。最后从暗箱2 出口 24可以将检测完毕的遮光料1取出。
[0025] 以上依据本发明的理想实施例为启示，通过上述的说明内容，相关人员完全可以 在不偏离本项发明技术思想的范围内，进行多样的变更以及修改。本项发明的技术性范围 并不局限于说明书上的内容，必须要根据权利要求范围来确定技术性范围。
【权利要求】
1. 一种基于雪崩二极管的片状遮光料漏光检测装置，包括暗箱和设置在暗箱中的检测 平台，其特征在于：所述暗箱中还设有能够沿检测平台移动的检测仪，所述检测仪包括设于 检测平台下方的光源以及设于检测平台上方与所述光源对应的若干雪崩二极管。
2. 根据权利要求1所述的一种基于雪崩二极管的片状遮光料漏光检测装置，其特征在 于：所述检测仪包括多个所述雪崩二极管，全部雪崩二极管线状排列，且排列方向垂直于检 测仪沿检测平台的移动方向。
3. 根据权利要求1所述的一种基于雪崩二极管的片状遮光料漏光检测装置，其特征在 于：所述检测仪与检测平台滑动配合，检测仪的侧部设有向外延伸的手柄，且所述暗箱的对 应侧设有沿检测仪滑动方向延伸的条形槽，所述手柄向外伸出所述条形槽。
4. 根据权利要求1或3所述的一种基于雪崩二极管的片状遮光料漏光检测装置，其 特征在于：所述暗箱至少一端对应于所述检测平台高度的位置开槽作为所述遮光料的通行 □。
5. 根据权利要求4所述的一种基于雪崩二极管的片状遮光料漏光检测装置，其特征在 于：所述检测平台包括台板本体和可相对于台板本体移动的活动板，所述活动板用于放置 所述遮光料，且能够由所述通行口进出暗箱。
6. 根据权利要求5所述的一种基于雪崩二极管的片状遮光料漏光检测装置，其特征在 于：所述台板本体上设有滑槽，所述活动板设置在滑槽中与台板本体滑动配合，所述滑槽至 少有对应所述通行口的一端开口，且槽口设有倒角。
7. 根据权利要求5或6所述的一种基于雪崩二极管的片状遮光料漏光检测装置，其特 征在于：所述活动板对应于所述通行口的一端设有抓握孔。
【文档编号】G01N21/89GK104048974SQ201410229988
【公开日】2014年9月17日 申请日期:2014年5月28日 优先权日:2014年5月28日
【发明者】尚文, 李相鹏 申请人:苏州科技学院