专利名称：光学式反射型传感器的制作方法
技术领域：
本发明涉及光学式反射型传感器，该传感器接受向对象物发射光所得的反射光，对上述对象物进行测量处理，并输出该测量处理结果。
背景技术：
作为此类传感器，例如已知计测距对象物的距离，并计测对象物表面上的位移的位移传感器。现有的位移传感器包括激光二激管等光源和PSD、CCD等受光元件，按每个规定定时进行发光受光，并且按照该发光受光的定时提取受光元件的受光面中的反射光的成像位置，对该成像位置运用三角测距原理来测量距对象物的距离。从该位移传感器将作为测量结果的距离数据、或将测量的距离与规定的阀值进行比较所得的结果等作为处理结果来输出。
在此类传感器中，还存在以下问题由于来自受光元件的模拟输出的波动，测量结果有微小的变动。在使用PSD作为受光元件的位移传感器中，根据通过反射光的入射位置而改变来自PSD的两个模拟输出关系的原理来测量距对象物的距离，但这种情况下，如果入射到受光元件中的反射光的量有变化，即使反射光入射到相同的位置上，上述2个输出电平的关系也会产生变动，在测量值上产生波动。
对于这样的问题，一般来说，通过输出对在进行规定次数的发光受光期间获得的测量值进行平均所得的值，来使测量精度稳定。众所周知，作为平均对象的测量值越多，该平均数据就稳定。制造商将由平均数据得到的测量精度定义为重复精度，并向用户提示获得标准的重复精度与所需时间(响应时间)的关系，用户为了确保期望的测量精度，根据该重复精度来调整响应时间或移动对象物的时间。
一般来说，重复精度是通过将白色的氧化铝陶瓷板等作为对象的测量试验来得到，但是，由于光的反射状态因实际的对象物的反射率、形状、表面粗糙度和测量位置而变化，所以在实际测量中，难以获得由制造商提示那样的测量精度。
为了解决该问题，需要一边测量实际的对象物，一边确认该测量值的重复精度。可是，就确认重复精度来说，需要将传感器连接到记录器、示波器、个人计算机等外部设备上，所以存在处理繁琐，并且成本高的问题。在传感器附近不能确保外部设备的设置场所的情况下，还存在难以与测量状态对应确认重复精度的问题。在测量现场中，即使一边测量实际的对象物，一边求出该测量值的重复精度，但如果白色对象物变更为黑色对象物，并且对象物的反射率或表面状态有变化，那么需要再次测量重复精度，处理更加复杂。

发明内容
本发明是着眼于上述问题的发明，本发明的第1目的在于通过在传感器内具有计算测量值的重复精度的功能，将算出的重复精度显示在传感器的机壳上，从而在传感器的设置场所就可以简单地确认测量实际对象物时的重复精度。
本发明的第2目的在于在将测量值与规定的阀值进行比较、输出其结果的这样结构的传感器中，通过使用在传感器内求得的重复精度来设定适应对象物的最合适的滞后宽度，从而提供提高判别处理精度的传感器。
本发明的第3目的在于在对每次反射光时得到的测量值进行平均来求测量处理结果的情况下，为了能够得到对应于用户设定的精度，通过自动地设定成为平均对象的测量值的数目，来提供提高方便性的传感器。
本发明除了适用于上述位移传感器以外，可以适用于根据向对象物发射包含三基色的光所得的反射光来判别对象物的色彩的传感器等，完全适用于利用来自对象物的反射光进行测量的传感器。这类传感器大多是分离成将光源和受光元件等组装、生成检测使用的受光信号的检测部，以及使用来自检测部的信号来进行运算处理的信号处理部的结构，但不局限于此，也可以将检测部和信号处理部变为一体化的结构。
本发明的第1形态的光学式反射型传感器包括在构成传感器的机壳上设置显示部，在进行测量处理时计算多次测量的测量值的重复精度的部件，以及在所述显示部上显示重复精度的计算结果的显示控制部件。
在上述结构中，‘测量值’是在每次规定的处理时间中得到的值，在所述处理时间内进行多个循环的发光受光处理的情况下，指对每个循环反射光所得到的个别的测量值(例如，如果是位移传感器，则指由受光元件中的反射光的入射位置求出的距离数据)进行平均后得到的测量值。‘重复精度’是表示是通过多次测量处理所得到的各测量值的波动程度，例如，可以提取出各测量值中的最大值和最小值，求出两者的差分，将其作为重复精度。
从传感器可以输出所述测量值本身来作为‘处理结果’，但不局限于此，有时也将测量值和规定的阈值的比较结果作为处理结果来输出。如测量物体的台阶差或厚度的情况那样，也可以输入来自其他同种传感器的测量值并进行运算处理，将该结果作为处理结果来输出。
这里所说的‘输出处理结果’，不局限于输出到外部设备，有时也单指在所述的传感器的机壳上的显示部上显示处理结果的处理。
根据上述的结构，由于一边进行对实际对象物的测量处理，一边将该测量的重复精度显示在传感器的显示部中，所以用户在传感器的设置场所可以简单地确认正在进行中的测量处理按多高的精度来进行。
根据优选的实施例，所述显示部至少包括2个显示区域，对所述显示部件进行设定，以便将所述重复精度和测量处理结果同时显示在所述显示部上。根据这样的结构，用户能够在传感器设置场所中同时确认测量处理结果和重复精度，所以可以大幅度地提高方便性。
重复精度和测量处理结果中的任何一个都可以显示表示运算处理结果本身的数值，但不局限于此，例如，也可以显示将各值分别与规定的设定基准进行比较的结果。
在显示部中不能设定2个显示区域的情况下，也可以在所述显示部中交替显示重复精度和测量处理结果。此时，如果在机壳的适当地方设置显示切换使用的操作部，那么可以根据用户的切换操作来变更显示内容，但显示的切换不局限于此，例如，也可以每隔规定时间自动地切换。
在上述传感器中，在将对规定次数的每次反射光的个别测量值进行平均所得的值或将该平均值与规定的阈值进行比较的结果作为测量处理结果输出的情况下，可以在所述机壳上设置用于可变设定成为所述平均处理对象的数据数目的输入部。根据这样的结构，在显示部上显示的重复精度没有达到用户要求的基准时，由于可以在传感器设置场所中简单地变更测量条件，提高重复精度，所以能够进一步提高方便性。
本发明的第2实施例的光学式反射型传感器是将测量处理结果与规定的阈值进行比较并将该比较结果输出的类型的传感器，包括在规定条件下计算多次测量的测量值的重复精度的部件；以及根据所述重复精度的计算结果来设定对所述阈值的滞后宽度的部件。
例如，在从输送机上运送的对象物中提取高度为规定值以上的对象物的情况下，可以采用如下方法在输送机的上方设置位移传感器，将通过测量得到的距离数据与阈值进行比较。在上述结构中，在使用该方法的传感器中，计算了测量值的重复精度之后，由于根据所述重复精度来设定对比较判定用的阈值的滞后宽度，所以能够设定高精度地反映实际对象物中的测量值的波动影响的滞后宽度，进行稳定的比较判别处理。
比较判定用的阈值也可以通过预先接受来自传感器主体上设置的按键输入或来自外部设备的数据发送来设定，但期望取得所述重复精度的计算中所使用的各测量值的平均值来进行设定。
本发明的第3实施例的光学式反射型传感器包括在机壳上设置用于设定输出的处理结果所要求的精度的输入部，一边变更成为平均对象的测量值的数目，一边执行对规定次数的每次反射光的测量值进行平均的处理的部件；以及计算多个平均的测量值的重复精度的部件；进行测量处理，直至至少取得与所述输入部设定的精度对应的重复精度。
在上述结构中，所谓‘每次反射光的测量值’是发光受光每进行1个循环所得的测量值。在该结构的传感器中，在对规定次数的每次反射光的测量值进行平均并输出，或将该平均的测量值与阈值进行比较的情况下，由用户来设定以多高的精度得到该平均的测量值，作为平均对象的数据数目，可以自动设定最合适的数据数目以便取得所述用户设定的精度，可以确保与测量目的对应的精度。而且，因为使用传感器中设置的输入部来进行所述精度的设定处理，所以在传感器的设置场所中，可以简单地进行测量条件的设定和变更，可以大幅度地提高方便性。
在上述结构的优选的形态的传感器中，包括在取得与所述输入部设定的精度对应的重复精度时，将已成为平均对象的测量值的数目设定为以后的测量处理中的平均对象的数据数目的部件。根据该结构，在连续测量同类对象物时，可以维持最初用户所设定的精度来进行测量。
在上述结构的光学式反射型传感器中，可以设置将测量处理进行中算出的重复精度输出到外部设备中的部件。根据该部件，在个人计算机等中使用来自传感器的输出进行更复杂的计测处理的情况下，可以进行考虑了该输出精度的运算处理。
在上述各结构的光学式反射型传感器中，也可以包括将测量处理进行中算出的重复精度与规定的设定基准进行比较的部件；以及在所述重复精度超过设定基准时进行规定的报警操作的部件。
进行报警操作的部件可以由设置于传感器的机壳适当地方的指示灯等构成，但不局限于此，例如，也可以形成将信号输出到警报蜂鸣器那样的外部设备，进行报警操作的部件，或形成将差错信号发送到个人计算机，并显示差错信息的部件。
根据上述结构，在进行测量处理期间重复精度下降时，由于可以快速进行向用户报警的处理，所以能够迅速应对测量精度的下降。
至此所述的各结构可以适用于下述反射型位移传感器，该传感器如PSD或二分式光电二极管那样包括输出表示来自对象物的反射光的入射位置的一对模拟信号的受光元件，通过利用所述一对模拟信号进行运算处理，来计算出距对象物的距离。如果在这类传感器中采用上述各结构，可以简单地确认对测量物中的对象物的重复精度，在判别对象物的位移的情况下，还可以设定最合适的滞后宽度来进行稳定的判别处理，因为可以自动设定对应于用户设定的精度的重复精度并进行测量，所以即使变更测量对象物等而改变受光元件上的反射光量，也能够应对每个对象物的测量值的波动，并进行稳定的测量。


图1是表示应用本发明的位移传感器结构的方框图。
图2是表示图1的信号处理部外观的立体图。
图3是表示测量处理步骤的流程图。
图4是表示测量处理结果和重复精度的显示例的说明图。
图5是表示用于设定阈值和滞后宽度的步骤的流程图。
图6是表示用于设定在平均移动化处理中所使用的数据数的步骤的流程图。
图7是表示应用本发明的色判别传感器结构的方框图。
具体实施例方式
图1表示应用本发明的位移传感器1的结构。该位移传感器1由装入投光部5和受光部6的检测部2、以及用于进行一连串测量处理的信号处理部3构成。检测部2和信号处理部3是分体的，通过电缆进行电连接。
上述检测部2的投光部5由激光二极管51、投光透镜52、以及上述激光二极管51的驱动电路53等构成。受光部6由受光透镜61、PSD62、以及对来自PSD的2个探测信号中的每个探测信号设定的电流电压转换电路63和放大电路64等构成。
信号处理部3除了包括每个探测信号的采样保持电路31和A/D转换电路32之外，还包括CPU33、输出电路34、显示部35、设定部36等。显示部35被用于显示测量结果和后述的重复精度等。设定部36在设定工作模式、输入作为后述的平均对象的数字数或要求精度等时使用。输出电路34用于将测量结果输出到个人计算机、PLC等外部设备，包括D/A转换电路和外部设备用接口。可以根据需要进行适当连接，而不一定必须与外部设备连接。
在上述结构中，投光部的驱动电路53根据来自CPU33的定时信号来驱动激光二极管51，进行射向对象物10的投光操作。由对象物10的表面反射的激光入射到PSD62上，通过该入射位置输出强度不同的2个探测信号a、b。CPU33在各采样保持电路31、31使用与投光定时同步的定时对各探测信号a、b进行采样之后，输入由A/D转换电路32、32进行了数子转换的探测信号A、B并计算距对象物10的距离L。
而且，CPU33对与每次的投光受光操作对应的测量值进行平均移动处理，在将该计算结果指定为测量结果，同时计算这些测量结果的重复精度。除了将测量结果和重复精度输出到显示部35并进行显示之外，还通过输出电路34输出到外部设备。
图2表示上述位移传感器1的信号处理部3的外观。图示的信号处理部3由在机壳4中装入已安装上述图1所示的各电路的电路板(未图示)而成。在机壳4的上表面中形成上述显示部35和设定部36，在这些显示部35和设定部36的上面覆盖可开闭的盖40。从机壳4的端面引出代码线7，在该代码线7的顶端安装与检测部2进行电连接的插座8。
上述设定部36由用于可变设定数值或工作模式的多个按钮39等构成。显示部35通过将可变显示数值和罗马字母的类型数字显示器37a、37b分别排列多个为一列而构成，以便可以同时显示两种数据。而且除了在这些数字显示器37a、37b的排列间隔中配置了区分记号显示用的指示灯38以外，在数字显示器37a、37b的周围也设置了多个报警用指示灯47。
在机壳4的两个侧面形成使信号传递用插座45、46相对的开口部41。各开口部41分别通过导向槽42、43与可以滑动的槽部44接合。
上述插座45、46在计测物体的台阶差或厚度等而需要与另一个位移传感器1进行信号交换的情况下，用于与另一个位移传感器1的信号处理部3进行连接的插座。在不需要这样连接的情况下，开口部41为被上述盖部44封闭住的状态。
图3表示通过上述位移传感器1来测量距对象物的距离时CPU33的处理步骤。(图中，各步骤表示为‘ST’)，这里所示的步骤是与一个循环的发光受光处理对应执行的处理步骤，是在检测部2和信号处理部3运行状态中重复进行的步骤。
首先，在ST1中，输入上述数字变换后的探测信号A、B之后，在ST2中，使用这些探测信号A、B来计算距对象物10的距离L。因为表示各探测信号A、B之间关系的反射光的成像位置的位移量和距对象物10的距离L的关系是非线性关系，所以在ST2中，通过下述式(1)进行校正运算。
L＝K·A/(B+βA) …(1)(K，β是常数)在上述ST2中算出的距离L被存储在未图示的存储器中，接着在ST3中，使用过去P次的距离L的计算结果来进行平均移动处理。这里算出的平均值(以下称为‘平均移动数据’)与各个距离L同样被存储在存储器中，在接下来的ST4中，通过从过去N次的平均移动数据中读出最大值、最小值，计算两者的差值来计算重复精度。
于是，算出平均移动数据、重复精度后，在ST5中，将这些计算结果通过上述输出电路34输出到外部设备。而且，在ST6中，将各计算结果输出到显示部35并进行显示。
图4表示通过上述ST6的处理进行的显示操作的示例。
在上述两列结构的数字显示器37a、37b中，上列的显示器37a形成得比下列的显示器37b稍微大一些。在图示例中，由上列的各显示器37a显示表示平均移动数据的数字列，由下列的各显示器37b显示表示重复精度的数字列。在这些数字列中，在小数点前后的数字之间点亮上述指示灯38来显示小数点。
显示部35不一定必须形成图4那样的结构，例如在液晶板中显示各数字列也可以。如本实施例，在不能确保尽可能同时显示两种数据的尺寸的情况下，根据设定部36的切换操作等，对测量结果和重复精度进行切换显示也可以。
于是，在本实施例中，可以一边进行对象物10的测量，一边计算作为测量结果而输出的平均移动数据的重复精度，并将该计算结果和测量结果一起显示。因此，用户在传感器的设置场所中可以同时确认测量结果和重复精度，可以简单地识别对当前对象物10的测量结果具有多高的精度。
在这里显示的重复精度不满足用户的期望条件的情况下，通过使用上述设定部36变更作为平均移动处理对象的数据数目P，可以提高重复精度。根据这样的结构，由于用户可以在现场适当、简单地变更计测条件，所以即使在变更测量对象物的种类或在以往的计测条件中不能适应的情况下，也可以迅速应对。
为了使用户容易判别重复精度不满足期望条件的这种情况，最好是让用户预先使用设定部36输入期望的重复精度，当测量时的重复精度比设定等级大时，进行点亮上述报警用指示灯47等的报警操作。
然而，对上述位移传感器1进行设定，以便例如在使用上述位移传感器1进行判别对象物10的高度是否满足规定条件的处理的情况下，将距离L的平均移动数据与规定阈值比较，并将该比较判定的结果作为测量结果输出，但即使在这样处理的情况下，也可以进行设定，以便同时显示比较判定结果和重复精度。
于是，在进行与阈值的比较判定处理时，预先测量距检测部2相当于上述阈值的距离而配置的对象物10，求此时的重复精度，根据该重复精度，如果设定对上述阈值的滞后宽度，那么可以设定实际对象物所对应的滞后宽度，进行高精度的判别处理。
图5表示用于设定上述阈值和滞后宽度的教示处理步骤。该图5的各步骤由ST11以后的符号来表示。
在执行该步骤之前，用户在对于检测部2相隔作为判定基准距离的位置上配置对象物10的模型，而且通过上述设定部36将信号处理部3的工作模式设定为教示模式后，开始进行教示操作。
CPU33按照该操作进行规定循环的投光受光处理，在每个循环中计算距离L并存储在存储器中，然后开始进行图5的处理。在图5中，CPU33首先通过ST11、12的处理将计数n设定为1之后，输入该时刻的探测信号A、B，并根据上述式(1)来计算距离L(ST13、14)。在接下来的ST15中，与上述图3的步骤相同，计算过去P次的距离L的平均移动。
下面，一边在ST12中将n的值增加1，一边重复进行ST13～15的处理。这样，在求出N个平均移动数据后，ST16变为‘是’而进至ST17，使用上述N个平均移动数据来计算重复精度。
在接下来的ST18中，对在该时刻之前得到的平均移动数据再进行平均，求出成为阈值的值，并将其存储在存储器中。
在接下来的ST19中，根据上述ST17求出的重复精度设定滞后宽度。这里，最好是将重复精度所表示的数值范围的规定倍数(1.5～2倍程度)的数值范围设为滞后宽度，并设定充分的滞后宽度，以便由阈值判别处于误差范围内的数据。
于是，在本实施例中，因为按照测量实际对象物时的测量结果的重复精度来设定滞后宽度，所以可以按照对象物的种类来变更滞后宽度，能够进行高精度的判别处理。
在上述图5中，表示了以仅设定1个阈值的情况为前提的步骤，但在为了提取测量结果处于某一范围内的对象物而设定两种以上的阈值的情况下，对于每个阈值都进行与图5相同的步骤，并能够设定合适的滞后宽度。
而且，在本实施例的位移传感器1中，由用户指定通过上述设定部36进行测量处理所需的精度，按照该指定的精度(以下称为‘要求精度’)，也可以自动设定作为上述平均移动化处理对象的数据数目P。
图6表示在上述位移传感器1中设定上述数据数目P时的处理步骤。该图6的各步骤由ST21以后的符号表示。
首先，在ST21中，接受来自设定部36的要求精度的输入之后，在ST22、23中，分别将计数器m、n分别初始设定为0。
在接下来的ST24中，将上述计数器n增加1之后，在ST25中，输入探测信号A、B，接着在ST26中，对这些信号A、B应用上述式(1)来计算距离L。
接着在ST27中，使上述平均移动处理中使用的数据数目P为2m之后，在接下来的ST28中，通过P个距离数据L求出平均移动(因为在初始步骤中P＝1，所以平均移动的结果实际上成为当前的距离L)。
下面，一边将n的值每次增加1，一边重复进行上述ST25～28的处理。然后，在算出N个平均移动数据后，ST29成为‘是’并进至ST30，计算上述N个平均移动数据的重复精度。
接着在ST31中，将上述ST30求出的重复精度与最初的ST21输入的要求精度进行比较。这里，重复精度超过要求精度时，从ST31进至ST33并将上述计数器m增加1之后，返回到ST23。这里，在将计数器n返回为0之后，通过再次进行ST24～ST29的循环，求数据数目P增加到2个状态下的平均移动数据。进而，在得到N个平均移动数据后转移到ST30，计算平均移动数据的重复精度。
重复进行这样处理的结果，如果某时刻的重复精度在要求精度以下，那么ST31变为‘是’并进至ST32，将该时刻的数据数目P作为平均移动处理中的处理对象的数据数目存储在存储器中，使处理结束。
在ST21中，在输入要求精度时，最好是将该输入数据显示在上述显示部35中，以便使用户能够进行确认。
根据上述图6的步骤，一边对实际的对象物进行测量，一边可以自动地设定用于得到满足要求精度的测量结果的计测条件(成为平均移动化处理对象的数据数目)，所以在以后测量相同种类的对象物时，能够保持用户指定的精度并进行稳定的测量。而且，因为该设定在传感器的设置场所进行，所以能够容易进行变更对象物种类时的再设定，可以极大地提高方便性。
如上所述，在该位移传感器1中，通过上述插座45、46输入来自另一传感器1的测量结果，还可以计测对象物的位移和厚度，但进行这样的处理时，与上述图3的处理相同，可以计算规定次数的测量结果的重复精度，与测量结果一起输出，并显示在显示部35上。
而且，计算与上述的对象物对应的重复精度的处理不局限于位移传感器1，也可以完全适用于判别对象物的色彩的色判别传感器等的光学式反射型传感器。
图7表示装入重复精度的计算功能的色判别传感器11的结构。该传感器的结构也分体构成检测部12和信号处理部13，并将两者进行电连接。
在本实施例的检测部12中装入的投光部15由发出红、绿、蓝各色光的3个LED54R、54G、54B、这些LED的驱动电路55、2个分色镜56、57和投光透镜58构成。将红色的LED54R的光轴正对着投光透镜58的透镜面的中心位置进行配置，另一方面，对绿色、蓝色的各LED54G、54B进行配置，使得其光轴分别正交于红色的LED54R的光轴。在这些LED54R、54G、54B的光轴相交的位置上配置上述分色镜56、57，通过这些镜56、57的功能，从各LED54R、54G、54B中选择导入到投光透镜58中的光的波段。
另一方面，上述检测部12的受光部16由受光透镜65、光电二极管66、电流电压转换电路67、放大电路68等构成。
在信号处理部13中，除了CPU33a以外，还装入了用于输入来自上述检测部12的探测信号的采样保持电路31a、对采样保持的探测信号进行数字转换的A/D转换电路32a、输出电路34a等，而且与上述位移传感器1同样，设置显示部35和设定部36。
在上述结构中，CPU33a对投光部15的驱动电路55和采样保持电路31a依次输出每个LED54R、54G、54B的定时信号。驱动电路55根据这些定时信号依次使各LED54R、54G、54B发光。采样保持电路31a也根据上述定时信号输入与各LED54R、54G、54B的发光对应的探测信号，并将该信号输出到A/D转换电路32a。
CPU33a通过A/D转换电路32a输入进行了数字转换的各探测信号R、G、B，通过进行下面的式(2)～(4)的运算，求出在对象物10的表面上红、绿、蓝各色所占比率X、Y、Z。
X＝R/(R+G+B) …(2)Y＝R/(R+G+B) …(3)Z＝R/(R+G+B) …(4)而且，CPU33a将上述X、Y、Z的值分别与规定的阈值进行比较，将各比较判定结果传给输出电路34a和显示部35，并进行输出和显示。
在上述结构的色判别传感器11中，例如通过将对每个X、Y、Z进行了平均移动处理所得的数据作为测量结果输出，同时根据与上述图3相同的方法来计算这些平均移动数据的重复精度，可以将测量结果或阈值的比较判别结果和重复精度同时显示在显示部35上，或一边切换一边显示。
在存储与上述X、Y、Z的值进行比较的阈值时，根据与上述图5相同的方法，来计算各数据X、Y、Z中的重复精度，根据该计算结果，也可以将合适的滞后宽度设定为各阈值。
而且，根据与图6相同的方法，也可以接受用户输入的要求精度，自动设定成为各数据X、Y、Z的平均移动处理对象的数据数目。在该处理中，对每个数据X、Y、Z按照与图6相同的步骤，一边变更成为平均移动化处理对象的数据数，一边计算出重复精度，最好是在对3个数据的重复精度全部满足要求精度的时刻来确定数据数。
在本发明中，在光学式反射型传感器中，一边进行对对象物的测量处理，一边计算出该测量值的重复精度，将该计算结果显示在设置于传感器机壳上的显示部中，所以用户可以在传感器的设置场所中，简单地确认进行中的测量处理达到了多高的精度。
在本发明中，在光学式反射型传感器中，在将测量处理结果与规定的阈值进行比较并将该比较结果输出的情况下，计算测量值的重复精度，对于上述阈值来说，根据上述重复精度设定滞后宽度，所以可以根据测量实际对象物时产生的测量误差来设定合适的滞后宽度，能够提供大幅提高测量精度的传感器。
在本发明中，在光学式反射型传感器中，在对多次中的每个反射光的测量值进行平均处理并作为处理结果输出时，由用户设定输出的处理结果所要求的精度，根据该精度自动设定成为平均处理对象的数据数目，所以对于每个对象物来说，可以确保与其测量目的对应的精度来进行测量处理。而且，因为上述精度的设定处理使用设置于传感器中的输入部来进行，所以在传感器的设置场所也能够简单地进行测量条件的设定和变更，可以提供方便性高的传感器。
权利要求
1.一种光学式反射型传感器，接受向对象物发射光所得的反射光，进行规定的测量处理，并输出该处理结果，该传感器包括将显示部设置在构成所述传感器的机壳上，并且在进行所述测量处理时计算多次测量的测量值的重复精度的部件；以及将所述重复精度的计算结果显示在所述显示部上的显示控制部件。
2.如权利要求1所述的光学式反射型传感器，其中，所述显示部至少具备2个显示区域，所述显示控制部件将所述重复精度和测量处理结果同时显示在所述显示部上。
3.如权利要求1所述的光学式反射型传感器，其中，所述显示控制部件将所述重复精度和测量处理结果交替显示在所述显示部上。
4.如权利要求1～3所述的光学式反射型传感器，其中，将对规定次数的反射光的测量值进行平均所得的值或该平均值与规定的阈值进行比较的结果作为测量处理结果输出，同时在所述机壳上设置用于可变设定所述平均处理对象的数据数目的输入部。
5.一种光学式反射型传感器，接受向对象物发射光所得的反射光，进行规定的测量处理，同时将所述测量处理结果与规定的阈值进行比较，并输出该比较判定结果，该传感器包括在规定条件下计算多次测量的测量值的重复精度的部件；以及根据所述重复精度的计算结果来设定相对于所述阈值的滞后宽度的部件。
6.一种光学式反射型传感器，接受向对象物发射光所得的反射光，进行规定的测量处理，并输出该处理结果，该传感器包括将用于设定输出的处理结果所要求的精度的输入部设置在构成所述传感器的机壳上，并且一边变更作为平均对象的测量值的数目，一边执行对规定次数的反射光的测量值进行平均处理的部件；以及计算多个平均过的测量值的重复精度的部件；其中，至少在取得与所述输入部设定的精度对应的重复精度之前，执行测量处理。
7.如权利要求6所述的光学式反射型传感器，其中，包括在取得与所述输入部设定的精度对应的重复精度时，将已成为平均对象的测量值的数目设定为以后测量处理中的平均对象的数据数目的部件。
8.如权利要求1～7的任何一项所述的光学式反射型传感器，其中，包括将所述测量处理进行中所计算出的重复精度输出到外部设备中的部件。
9.如权利要求1～7的任何一项所述的光学式反射型传感器，其中，包括将所述测量处理进行中所计算出的重复精度与规定的设定基准进行比较的部件，以及在所述重复精度超过设定基准时，执行规定的报警操作的部件。
10.如权利要求1～9的任何一项所述的光学式反射型传感器，其中，包括输出表示来自所述对象物的反射光的入射位置的一对模拟信号的受光元件，通过使用来自该受光元件的一对模拟信号的运算处理来执行计算距对象物的距离的处理。
全文摘要
一种光学式反射型传感器,在传感器的设置场所可以简单地确认测量实际对象物时的重复精度。光学式反射型的位移传感器(1)的信号处理部(3)每次输入反射光就测量距对象物的距离,除了求其平均移动并作为测量处理结果来输出以外,还计算规定数目的平均移动数据的重复精度。在构成信号处理部(3)的机壳(4)中,设置分别将多个数字显示器(37a)、(37b)配置为各自一列的显示部(35),在上列的数字显示器(37a)中显示测量处理结果,同时在下列的数字显示器(37b)中显示重复精度。
文档编号G01S17/00GK1379226SQ0210799
公开日2002年11月13日 申请日期2002年3月26日 优先权日2001年3月30日
发明者冨田公平, 今井清司, 中下直哉, 井上宏之 申请人:欧姆龙株式会社