专利名称：稀土浓度分析仪的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及测量领域，具体为ー种稀土浓度分析仪。
背景技术：
我国有大中型稀土分离厂几十家，都依靠实验室大型仪器分析和中间控制分析指导生产。由于分析结果之后，不能及时掌握槽体情况来调整エ艺，使得产品质量和产量得不到保证，因而急需能在线分析和自动控制的分析仪来稳定エ艺流程。

实用新型内容本实用新型所解决的技术问题在于提供ー种稀土浓度分析仪，以解决上述背景技 术中的缺点。本实用新型所解决的技术问题采用以下技术方案来实现稀土浓度分析仪，包含Ba-133放射源、铅皮、半导体探測器和エ控机，所述Ba-133放射源置于所述铅皮中，并与所述半导体探測器一起置于稀土萃取槽的同侧，所述铅皮上留有放射孔并正对稀土萃取槽，所述半导体探測器通过电缆与所述エ控机连接。本实用新型中，所述Ba-133放射源与所述半导体探測器轴线夹角调整范围是0° 90°，所述Ba-133放射源和所述半导体探测器距稀土萃取槽的距离调整范围均为30 300_。所述エ控机采用能谱分析法对所述半导体探測器的信号进行分析处理。有益效果本实用新型采用在线分析，给エ艺人员提供了及时的槽体信息，减小了槽体的波动幅度，在稳定的槽体下生产，可以加大进料流量和出口流量，充分发挥萃取槽对稀土分离能力，提高产品产量和合格率。

图I为稀土浓度分析仪的原理框图。
具体实施方式
为了使本实用新型实现的技术手段、创作特征、达成目的与功效易于明白了解，下面结合具体图示，进ー步阐述本实用新型。參加图1，稀土浓度分析仪的原理框图，稀土浓度分析仪，包含Ba-133放射源6、铅皮5、半导体探測器2和エ控机4，所述Ba-133放射源6置于所述铅皮5中，并与所述半导体探測器2 —起置于稀土萃取槽I的同侧，所述铅皮5上留有放射孔并正对稀土萃取槽1，所述半导体探測器2通过电缆3与所述エ控机连4接。所述Ba-133放射源6与所述半导体探測器2轴线夹角调整范围是0° 90°，所述Ba-133放射源6和所述半导体探測器2距稀土萃取槽I的距离调整范围均为30 300_。所述エ控机4采用能谱分析法对所述半导体探測器2的信号进行分析处理。[0013] 以上显示和描述了本实用新型的基本原理和主要特征及本实用新型的优点，本行业的技术人员应该了解，本实用新型不受上述实施例的限制，上述实施例和说明书中描述的只是说明本实用新型的原理，在不脱离本实用新型精神和范围的前提下，本实用新型还 会有各种变化和改进，这些变化和改进都落入要求保护的本实用新型范围内，本实用新型要求保护范围由所附的权利要求书及其等效物界定。
权利要求1.稀土浓度分析仪，包含Ba-133放射源、铅皮、半导体探測器和エ控机，其特征在干，所述Ba-133放射源置于所述铅皮中，并与所述半导体探測器一起置于稀土萃取槽的同侧，所述铅皮上留有放射孔并正对稀土萃取槽，所述半导体探測器通过电缆与所述エ控机连接。
2.根据权利要求I所述的稀土浓度分析仪，其特征在于，所述Ba-133放射源与所述半导体探測器轴线夹角调整范围是0° 90°，所述Ba-133放射源和所述半导体探测器距所述稀土萃取槽的距离调整范围均为30 300mm。
专利摘要稀土浓度分析仪，包含Ba-133放射源、铅皮、半导体探测器和工控机，所述Ba-133放射源置于所述铅皮中，并与所述半导体探测器一起置于稀土萃取槽的同侧，所述铅皮上留有放射孔并正对稀土萃取槽，所述半导体探测器通过电缆与所述工控机连接。本实用新型采用在线分析，给工艺人员提供了及时的槽体信息，充分发挥萃取槽对稀土分离能力，提高产品产量和合格率。
文档编号G01N23/06GK202599872SQ20122009117
公开日2012年12月12日 申请日期2012年3月13日 优先权日2012年3月13日
发明者张忠, 林斌, 郭爱成 申请人:全南包钢晶环稀土有限公司