专利名称：一种低阻尼位移测量机构的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种低阻尼位移测量机构。
背景技术：
位移传感器是一种常用的元器件，当前市场上常见的位移传感器，或者当有位移量时需要克服很大阻尼，不能自由移动；或者价格昂贵，使用成本高；或者结构复杂，安装适应性差。
发明内容本实用新型的目的是为克服上述现有技术的不足，提供一种低阻尼位移测量机构，替代市场上常见的位移传感器，实现位移测量功能。为实现上述目的，本实用新型采用下述技术方案一种低阻尼位移测量机构，它包括编码器、轮、位移轴；所述编码器固定于座I上，编码器连接有编码器轴，编码器轴亦作为轮的旋转轴，所述位移轴水平设置，位移轴的一端搭接在轮上。所述位移轴的另一端与套间隙配合，所述套固定在座II上。所述轮的圆周上设有凹槽，所述凹槽内放置两个相接触的O形圈，两O形圈上部之间形成V形槽。所述位移轴置于两O形圈上部之间的V形槽上。所述编码器轴与座I无接触。本实用新型的工作原理本实用新型包括编码器、轮、位移轴。编码器固定于座I上，编码器连接有编码器轴；轮安装在编码器轴上，并以编码器轴作为轮的旋转轴，在轮的圆周上设有凹槽，凹槽内放置两个O形圈，两O形圈之间形成V形槽，位移轴置于轮上方的V形槽内；套固定到座II上，位移轴与套之间为间隙配合。位移轴移动时，依靠与两O形圈之间的摩擦力，驱动轮及编码器轴同步旋转，编码器测量到轮的角位移变化。通过计算即可得到位移轴的位移量。本实用新型的有益效果是，1、结构简单。2、成本低。3、测量精度高。

图1是本实用新型的结构示意图；图2是本实用新型的左视图；图3是图1的局部放大图；其中，1. O形圈，2.位移轴，3.轮，4.编码器轴，5.座Ι，6·编码器，7.套，8.座II。
具体实施方式

以下结合附图和实施例对本实用新型进行进一步的阐述，应该说明的是，下述说明仅是为了解释本实用新型，并不对其内容进行限定。如图1和图2所示，本实用新型包括编码器6、轮3、位移轴2、座15和座118。编码器6固定于座15上，编码器6连接有编码器轴4，编码器轴4与座15无接触；轮3安装在编码器轴4上，编码器轴4作为轮3的旋转轴；在轮3的圆周上设有凹槽，凹槽内放置两个O形圈1，两O形圈I上部之间形成V形槽，位移轴2水平设置，位移轴2的一端置于轮3上方两O形圈I上部之间的V形槽上；座118上固定有套7，套7与位移轴2的另一端间隙配合。试验过程中，当位移轴2移动时，依靠与两O形圈I之间的摩擦力，驱动轮3及编码器轴4同步旋转，编码器6测量到轮3的角位移变化，通过计算即可得到位移轴2的位移量。上述虽然结合附图对本实用新型的具体实施方式
进行了描述，但并非对本实用新型保护范围的限制，在本实用新型的技术方案的基础上，本领域技术人员不需要付出创造性劳动即可做出的各种修改或变形仍在本实用新型的保护范围以内。
权利要求1.一种低阻尼位移测量机构，其特征是，它包括编码器、轮、位移轴；所述编码器固定于座I上，编码器连接有编码器轴，编码器轴亦作为轮的旋转轴，所述位移轴水平设置，位移轴的一端搭接在轮上。
2.如权利要求1所述的一种低阻尼位移测量机构，其特征是，所述位移轴的另一端与套间隙配合，所述套固定在座II上。
3.如权利要求1所述的一种低阻尼位移测量机构，其特征是，所述轮的圆周上设有凹槽，所述凹槽内放置两个相接触的O形圈，两O形圈上部之间形成V形槽。
4.如权利要求1或3所述的一种低阻尼位移测量机构，其特征是，所述位移轴置于两O形圈上部之间的V形槽上。
5.如权利要求1所述的一种低阻尼位移测量机构，其特征是，所述编码器轴与座I无接触。
专利摘要本实用新型公开了一种低阻尼位移测量机构，它包括编码器、轮、位移轴；编码器固定于座I上，编码器连接有编码器轴，编码器轴亦作为轮的旋转轴，位移轴水平设置，位移轴的一端搭接在轮上，位移轴的另一端与套间隙配合，套固定到座II上。当位移轴移动时，驱动轮及编码器轴同步旋转，编码器测量到角位移的变化。通过计算即可得到位移轴的位移量。本实用新型结构简单，成本低，测量精度高。
文档编号G01B21/22GK202903162SQ20122058613
公开日2013年4月24日 申请日期2012年11月8日 优先权日2012年11月8日
发明者姜允中, 王元明, 王连佳 申请人:济南兰光机电技术有限公司