专利名称：一种复合测试治具的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种复合测试治具。
背景技术：
电路板在生产完成后需要进行测试，因此就产生了测试治具。现有的测试治具的一般结构是包括用于放置待测试电路板的测试平台以及位于测试平台上的升降台，升降台与升降装置连接，测试平台与所述的升降台之间通过导柱串接；还包括设于升降台上的测试探针，测试探针连接测试线。在进行测试时，先将升降台升起，将需要测试的电路板放在测试平台上，然后升降台再下降，使得测试探针接触电路板的测试点进行测试，再通过测试线将信号传输至测试机。其还存在的缺点在于在将电路板放置到测试平台上时，难以进行预定位。
发明内容为了克服现有测试治具的上述不足，本实用新型提供一种可进行预定位的复合测试治具。本实用新型解决其技术问题的技术方案是一种复合测试治具，包括用于放置待测试电路板的测试平台以及位于所述测试平台上的升降台，所述的升降台与升降装置连接，所述的测试平台与所述的升降台之间通过导柱串接；还包括设于升降台上的测试探针， 所述的测试探针连接测试线，所述的测试平台内还穿设有对位柱，所述对位柱的上端露出在所述的测试平台上。进一步，所述的测试探针穿设在所述的升降台内，所述测试探针外还套设有弹簧。本实用新型的使用方法与现有的测试治具的使用方法相同，在此不再赘述。本实用新型的有益效果在于1.在测试平台内穿设对位柱，可采用对位柱的上端对电路板进行预定位。2.在测试探针上套设有弹簧，在测试探针下压和回升时起到缓冲作用。

图1是本实用新型的结构示意图。
具体实施方式

以下结合附图和具体实施方式
对本实用新型作进一步详细说明。参照图1，一种复合测试治具，包括用于放置待测试电路板的测试平台1以及位于所述测试平台1上的升降台2，所述的升降台2与升降装置连接，所述的测试平台1与所述的升降台2之间通过导柱3串接；还包括设于升降台2上的测试探针4，所述的测试探针4 连接测试线5，所述的测试平台1内还穿设有对位柱6，所述对位柱6的上端露出在所述的测试平台1上。本实施例中，所述的测试探针4穿设在所述的升降台2内，所述测试探针4外还套设有弹簧7。 本实用新型的使用方法与现有的测试治具的使用方法相同，在此不再赘述。本实用新型在测试平台内穿设对位柱6，可采用对位柱6的上端对电路板进行预定位。在测试探针4上套设有弹簧7，在测试探针4下压和回升时起到缓冲作用。
权利要求1.一种复合测试治具，包括用于放置待测试电路板的测试平台以及位于所述测试平台上的升降台，所述的升降台与升降装置连接，所述的测试平台与所述的升降台之间通过导柱串接；还包括设于升降台上的测试探针，所述的测试探针连接测试线，其特征在于所述的测试平台内还穿设有对位柱，所述对位柱的上端露出在所述的测试平台上。
2.如权利要求1所述的复合测试治具，其特征在于所述的测试探针穿设在所述的升降台内，所述测试探针外还套设有弹簧。
专利摘要一种复合测试治具，包括用于放置待测试电路板的测试平台以及位于所述测试平台上的升降台，所述的升降台与升降装置连接，所述的测试平台与所述的升降台之间通过导柱串接；还包括设于升降台上的测试探针，所述的测试探针连接测试线，所述的测试平台内还穿设有对位柱，所述对位柱的上端露出在所述的测试平台上。本实用新型在测试平台内穿设对位柱，可采用对位柱的上端对电路板进行预定位。
文档编号G01R1/02GK202330462SQ20112047387
公开日2012年7月11日 申请日期2011年11月25日 优先权日2011年11月25日
发明者舒明超 申请人:宁波赛特信息科技发展有限公司