专利名称：发光二极管平均发光强度的测量装置的制作方法
技术领域：
本发明涉及发光二极管平均发光强度的测量装置。
背景技术：
在本发明前，测量发光二极管(LED)发光强度的测试仪，通常是将LED看作点光源，运用距离平方反比定律，在离被测量器件半径10-14倍距离处测量所产生的照度，再换算(定标)成发光强度的数值。这种光强测试仪只能测量光强分布近似余弦辐射体的被测LED，对于不是余弦辐射体的LED、指向性很强、光强空间分布不均匀和不对称的LED，用光度探测器测量得到的发光强度与被测面的照度之间不存在距离平方反比定律。另外，发光二极管管壳复杂图形实际上延伸了器件面积，因而在一定的距离范围内被测LED不能被看作点光源。
按现有各种发光二极管光强测试仪得到的数值存在着很大的不确定性，这在全世界范围内均产生了不同程度的混乱。这些都引起了CIE(国际照明委员会)和各国工业协会的关注。近年来CIE推荐采用一个新术语“平均LED强度”，同时规定了两种LED测量的CIE标准，见表1表1

发明内容本发明的目的是提供一种发光二极管平均发光强度的测量装置，它符合CIE规定的“平均LED强度”测试标准。
本发明的发光二极管平均发光强度的测量装置，包括具有水平底板和竖向支架的基座，基座的水平底板上装置有在水平面内转动正、负90°的水平度盘，竖向支架具有水平孔，在水平度盘上固定有测试台，测试台与竖向支架彼此相隔，在测试台面对水平孔并与水平孔同轴线处设有插置被测件的插座和调节插座360°旋转的垂直度盘，光度探测器置于水平孔中，光度探测器入射孔径的平面与被测件顶端的距离为100mm，其输出端与将光电流信号转换成电压信号的数显仪相连。
为了使一台发光二极管平均发光强度的测量装置能同时实现两种标准的测量，通常可另配置镜筒，将镜筒的一端置于水平孔，另一端装置光度探测器，这时，光度探测器的入射孔径平面与被测件顶端的距离为316mm。
测试时，将被测器件插入基座，接通恒流源使被测器件发光，光度探测器按被测器件发射半强度角的大小，分别安装在两个合适的位置，对于半强度角大于60°的器件，可以将光度探测器固定水平孔上，即在离被测器件顶端100mm处进行测量；对于半强度角小于60°的器件，可以在光度探测器与水平孔间接入镜筒，即在离被测器件顶端316mm处进行测量；分别旋转水平或垂直度盘，当转动水平度盘2时，可使被测器件在水平面内转动正、负90°，转动垂直度盘3可使被测器件在垂直平面内360°转动，因此光度探测器5可以测得任何角度的发光二极管平均发光强度，在数显仪直接显示测量数值。
本发明的测试仪结构简单，能按CIE规定的两种标准测试发光二极管平均发光强度；可以使LED测试标准化，消除各种测量不确定性，有利于与国际接轨。


附图是本发明一种具体实例结构示意图。
具体实施例方式
参照图1，本发明的发光二极管平均发光强度的测量装置包括具有水平底板和竖向支架的基座6，基座的水平底板上装置有在水平面内转动正、负90°的水平度盘2，竖向支架具有水平孔6’，在水平度盘2上固定有测试台1，测试台1与竖向支架彼此相隔，在测试台面对水平孔6’并与水平孔同轴线处设有插置被测发光二极管4的插座和调节插座360°旋转的垂直度盘3。图示具体实例中，还配置有镜筒7，镜筒的一端置于水平孔6’，另一端装置光度探测器5，这时，光度探测器5的入射孔径平面与被测件顶端的距离为316mm。当光度探测器5直接装置于水平孔6’时，光度探测器5的入射孔径平面与被测件顶端的距离为100mm。光度探测器5的输出端与将光电流信号转换成电压信号的数显仪8相连。
本例中，数显仪8包括放大器、A/D变换器、数据显示器。光度探测器输出的光电流信号经放大器放大及A/D变换，转换成反映发光二极管平均发光强度的电压信号在数据显示器显示。
权利要求
1.发光二极管平均发光强度的测量装置，其特征是它包括具有水平底板和竖向支架的基座(6)，基座的水平底板上装置有在水平面内转动正、负90°的水平度盘(2)，竖向支架具有水平孔(6’)，在水平度盘(2)上固定有测试台(1)，测试台(1)与竖向支架彼此相隔，在测试台面对水平孔(6’)并与水平孔同轴线处设有插置被测件(4)的插座和调节插座360°旋转的垂直度盘(3)，光度探测器(5)置于水平孔(6’)中，光度探测器(5)的入射孔径平面与被测件顶端的距离为100mm，其输出端与将光电流信号转换成电压信号的数显仪(8)相连。
2.按权利要求1所述的发光二极管平均发光强度的测量装置，其特征是还包括镜筒(7)，镜筒的一端置于水平孔(6’)，另一端装置光度探测器(5)，这时，光度探测器(5)的入射孔径平面与被测件顶端的距离为316mm。
全文摘要
本发明的发光二极管平均发光强度的测量装置，包括具有水平底板和竖向支架的基座，基座的水平底板上装置有在水平面内转动正、负90°的水平度盘，竖向支架具有水平孔，在水平度盘上固定有测试台，测试台与竖向支架彼此相隔，在测试台面对水平孔并与水平孔同轴线处设有插置被测件的插座和调节插座360°旋转的垂直度盘，光度探测器置于水平孔中，或通过镜筒置于水平孔中，其输出端与将光电流信号转换成电压信号的数显仪相连。本发明的测试仪结构简单，能按CIE规定的两种标准测试发光二极管平均发光强度；可以使LED测试标准化，消除各种测量不确定性，有利于与国际接轨。
文档编号G01J1/00GK1395086SQ02136269
公开日2003年2月5日 申请日期2002年7月25日 优先权日2002年7月25日
发明者鲍超 申请人:浙江大学