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电容器老化实验台的制作方法

时间:2025-05-01    作者: 管理员

专利名称:电容器老化实验台的制作方法
技术领域
本实用新型涉及一种电容器老化实验装置,尤其是一种防护等级高的电容器老化实验台。
背景技术
随着电网输送容量的增大,电力电容器组的安装容量的要求也随之增大,对电力电容器单元的质量要求也越来越高。电容器老化实验装置是用于检测电容器性能、提高电容器产品质量的一种装置。目前,在现有技术中,用于做老化实验的装置较为简单,通常将测量设备、连接线、负载(电抗器)等安装于裸露的钢结构构成的框架上。对于这种裸露的电容器老化实验台,由于测量和负载设备以及带电导体完全裸露,存在触电隐患,同时还需另增设网栏等防护设备,实验台防护等级低、且不具备防灰尘功能,增加现场的维护工作量。如,中国专利局于2011年8月10日公告了一份CN201927496U号专利,名称为电容器内芯老化试验夹具,该夹具包括上支架板,在上支架板下方设有多个导电上极板,导电上极板和上支架板之间分别设有柱形弹簧,柱形弹簧内设电容器内芯定位杆,下电极导电板上设有凸出下电极导电板的下电极,下电极向上凸出下电极导电板的高度值大于电容器内芯端面处的定位芯孔凸出高度。将电容器内芯准确定位,将老化电源压接到电容器的内芯端面处,利于对电容器内芯的保护,快速、高效且利于提高老化质量。但此老化试验夹具仅限于对电容器内芯进行老化试验,而在电容器封装完成后就不具备试验应用条件。
发明内容本实用新型解决了现有技术中只能对电容器内芯进行老化实验,而不能对封装后的电容器进行老化实验的缺陷,提供一种可对封装完成后的电容器进行老化实验的电容器老化实验台。
本实用新型解决其技术问题所采用的技术方案是一种电容器老化实验台,包括骨架,骨架内设置有实验设备,实验设备包括一台中间变压器、与中间变压器相并联的两台电抗器,实验设备还包括一台电压互感器,电压互感器与中间变压器的出线端相连接,中间变压器的出线端连接有两排分层的母线排,上层母线排连接到骨架外作为电容器引线端,下层母线排连接电抗器。通过在电源进线端引入电源,电源通过中间变压器变压,输出实验电压,再通过双层母线排分别引致电抗器和电容器接线端,电容器引线端连接待实验的电容器,对封装电容器进行通电老化实验。作为优选,骨架的底部处槽钢相互平行连接,每两对槽钢为一组共三组,同一组的槽钢的槽口相对。骨架底部由槽钢拼接,提高骨架的稳定性,同时槽钢也是实验设备的支撑部件。作为优选,中间变压器的底部由支撑梁固定到骨架底部,电抗器的底部由支撑梁固定到骨架底部。支撑梁将实验设备与骨架底部相隔离,可以将实验设备垫高,提高实验设备的安全性。[0008]作为优选,支撑梁为槽钢,支撑梁与骨架底部的槽钢相垂直固定。槽钢与槽钢垂直固定支撑平稳。作为优选,中间变压器的上端部位固定有进线端,进线端连接电源进线。作为优选,上层母线排上连接有测量电容电流互感器,下层母线排上连接有测量并联电抗电流互感器,测量并联电抗电流互感器处于中间变压器和相邻的电抗器之间。母线排分层,布局结构比较合理,测量电容电流互感器对待测量的电容器进行保护,测量并联电抗电流互感器对电抗器进行保护。作为优选,两排母线排相互平行,上层母线排与下层母线排之间连接有绝缘子,上层母线排与骨架的顶部之间连接有绝缘子。绝缘子将上侧母线排与下层母线排相隔开,防止两母线排发生短路。作为优选,骨架上设置有前门板、后门板、侧封板及顶封板,前门板和后门板均通过铰链连接到骨架上。前门板和后门板均可以绕着铰链旋转,同时可以通过锁进行锁紧。 作为优选,前门板的上部位置设置有照明灯、电流表、电压表和观察窗,电流表与测量电容电流互感器和测量并联电抗器电流互感器相连,电压表与电压互感器相连,前门板和后门板的下部均设置有百叶散热窗,侧封板的上部设置有进出引线孔,侧封板的下部设置有百叶散热窗,顶封板的表面设置有向上的拉伸孔。百叶散热窗和拉伸孔可以提高实验台内部的散热效果,通过观察窗方便工作人员观察实验台内各设备的运行情况及工作状态。本实用新型的有益效果是通过在电源进线端引入电源,电源通过中间变压器变压,输出实验电压,通过双层母线排分别引致负载(电抗器)和电容器接线端,电容器接于电容器引线端,由此可以对封装电容器进行通电老化实验。

图I是本实用新型一种透视结构示意图;图2是本实用新型一种侧向透视图;图3是本实用新型一种正面示意图;图4是本实用新型一种俯视图;图5是本实用新型一种侧视图;图6是本实用新型一种侧封板结构示意图;图7是本实用新型一种顶封板结构示意图;图中1、骨架,2、测量电容电流互感器,3、测量并联电抗电流互感器,4、上层母线排,5、下层母线排,6、绝缘子,7、电容器引线端,8、电抗器,9、支撑梁,10、电压互感器,11、出线端,12、槽钢,13、中间变压器,14、进线端,15、电源进线,16、前门板,17、电流表,18、观察窗,19、百叶散热窗,20、锁,21、照明灯,22电压表,23、拉伸孔,24、顶封板,25、侧封板,26、引线孔。
具体实施方式
下面通过具体实施例,并结合附图,对本实用新型的技术方案作进一步具体的说明。[0024]实施例一种电容器老化实验台(参加附图I附图2),包括骨架I,骨架呈长方体结构,骨架的正面铰接有前门板16,骨架的后面铰接有后门板,前门板与后门板均通过锁20与骨架锁紧。前门板上部设置有照明灯21、电流表17、电压表22和观察窗18,前门板和后门板的下部均设置有百叶散热窗19 (参见附图3)。骨架的侧部设置有侧封板25 (参见附图5),侧封板的上部设置有圆形的引线孔26,侧封板的下部设置有百叶散热窗19 (参见附图6)。骨架的顶部固定有顶封板24(参见附图7),顶封板上设置有若干向上凸起的拉伸孔23。骨架的底部固定有6根槽钢12,每两根槽钢为一组,同一组槽钢的槽口相对。骨架内固定有一台中间变压器13和两台电抗器8,骨架的底部固定有电压互感器10。中间变压器的底部固定有支撑梁9,电抗器的底部固定有支撑梁9。中间变压器处于一组槽钢上方,支撑梁与槽钢相垂直,两电抗器各处于一组槽钢上方,支撑梁与槽钢相垂直。中间变压器的上端部位延伸有进线端14和出线端11,其中进线端连接有电源进线15,出线端连接有母线排,电压互感器一次接线端通过绝缘导线与出线端相连、二次接线端通过绝缘导线与电压表相连。母线排分成相互平行的两层,上层母线排4的端部形成电容器引线端,下层母线排5连接两电抗器,两电抗器相互并联。上层母线排上连接有测量电 容电流互感器2,下层母线排上在中间变压器与相邻的电抗器之间连接有测量并联电抗电流互感器3。上层母线排与下层母线排之间隔有绝缘子6,上层母线排与顶封板之间隔有绝缘子。电流表与测量电容电流互感器及测量并联电抗器电流互感器相连。电源进线对应侧封板上的引线孔,电容器引线端对应侧封板上的引线孔。实验台通过在电源进线端引入电源,电源通过中间变压器变压,输出实验电压,通过上层母线排引出电容器引线端,通过下层母线排引致电抗器,将待实验的电容器接于电容器引线端,由此可以对封装电容器进行通电老化实验。以上所述的实施例只是本实用新型的一种较佳方案,并非对本实用新型作任何形式上的限制,在不超出权利要求所记载的技术方案的前提下还有其它的变体及改型。
权利要求1.一种电容器老化实验台,包括骨架,骨架内设置有实验设备,其特征在于实验设备包括一台中间变压器、与中间变压器相并联的两台电抗器,实验设备还包括一台电压互感器,电压互感器与中间变压器的出线端相连接,中间变压器的出线端连接有两排分层的母线排,上层母线排连接到骨架外作为电容器引线端,下层母线排连接电抗器。
2.根据权利要求I所述的电容器老化实验台,其特征在于骨架的底部处槽钢相互平行连接,每两对槽钢为一组共三组,同一组的槽钢的槽口相对。
3.根据权利要求I或2所述的电容器老化实验台,其特征在于中间变压器的底部由支撑梁固定到骨架底部,电抗器的底部由支撑梁固定到骨架底部。
4.根据权利要求3所述的电容器老化实验台,其特征在于支撑梁为槽钢,支撑梁与骨架底部的槽钢相垂直固定。
5.根据权利要求I所述的电容器老化实验台,其特征在于中间变压器的上端部位固定有进线端,进线端连接电源进线。
6.根据权利要求I或2或5所述的电容器老化实验台,其特征在于上层母线排上连接有测量电容电流互感器,下层母线排上连接有测量并联电抗电流互感器,测量并联电抗电流互感器处于中间变压器和相邻的电抗器之间。
7.根据权利要求I或2或5所述的电容器老化实验台,其特征在于两排母线排相互平行,上层母线排与下层母线排之间连接有绝缘子,上层母线排与骨架的顶部之间连接有绝缘子。
8.根据权利要求I或2或5所述的电容器老化实验台,其特征在于骨架上设置有前门板、后门板、侧封板及顶封板,前门板和后门板均通过铰链连接到骨架上。
9.根据权利要求8所述的电容器老化实验台,其特征在于前门板的上部位置设置有照明灯、电流表、电压表和观察窗,电流表与测量电容电流互感器和测量并联电抗器电流互感器相连,电压表与电压互感器相连,前门板和后门板的下部均设置有百叶散热窗,侧封板的上部设置有进出引线孔,侧封板的下部设置有百叶散热窗,顶封板的表面设置有向上的拉伸孔。
专利摘要本实用新型涉及一种电容器老化实验台。解决了现有技术中只能对电容器内芯进行老化试验,而不能对封装后的电容器进行老化试验的缺陷,包括骨架,骨架内设置有试验设备,试验设备包括一台中间变压器、与中间变压器相并联的两台电抗器,试验设备还包括一台电压互感器,电压互感器与中间变压器的出线端相连接,中间变压器的出线端连接有两排分层的母线排,上层母线排连接到骨架外作为电容器引线端,下层母线排连接电抗器。通过在电源进线端引入电源,电源通过中间变压器变压,输出试验电压,通过双层母线排分别引致负载和电容器接线端,电容器接于电容器引线端,由此可以对封装电容器进行通电老化试验。
文档编号G01R1/04GK202583258SQ20122021446
公开日2012年12月5日 申请日期2012年5月14日 优先权日2012年5月14日
发明者刘新根, 李支海, 喻斌斌, 杨圣利, 何建伟 申请人:杭州银湖电气设备有限公司

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