专利名称：三极管测试分选机上的测试推管机构的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及三极管检测设备技术领域，尤其是三极管测试分选机上的测试机构。
背景技术：
图1所示，目前，测试分选机上测试部分的测试方法是采用测试爪100，对三极管 101的三个脚进行测试，以测试得到的数据来分类合格与否。但，旧式的测试方式，对于像 Τ0-252/Τ0463的三极管，中间的脚很短，按常规测试时容易出现测试中间的脚有接触不到位，造成测试结果与实际不符，使废品增多，这样子就失去了测试的意义。
发明内容本实用新型的目的在于提供一种结构简单，利用压紧片顶压三极管的散热片，由于三极管中间的管脚与散热板是相连的，因此压紧片在压紧三极管的同时还可以对三极管进行测试，以提升测试质量和准确性的三极管测试分选机上的测试推管机构。为达到上述目的，本实用新型采用如下技术方案三极管测试分选机上的测试推管机构，包括有测试爪、测试轨道，三极管放置在测试轨道上，测试爪对应三极管的管脚触接测试，于三极管之散热板的一端设有压紧片，压紧片顶压三极管的散热板，压紧片由气缸驱动。所述气缸之活塞轴的伸出端推动一推管座，推管座安装在导轨上，推管座驱动若干组压紧片顶压不同的三极管。所述推管座的外端形成有两支平行的前伸臂，前伸臂连接一横杆，横杆与测试轨道平行；若干组压紧片分别通过连接块衔接横杆，横杆上设有轴孔，轴孔套接于推管轴，推管轴还穿设安装于连接块的通孔中，于横杆与连接块之间设有推管轴套支顶，推管轴套套设在推管轴上。采用上述结构后，本实用新型获得的有益效果是三极管在测试时，测试爪对三个脚测试的同时，还采用压紧片对与中间管脚同极的散热板进行接触测试，使测试更准确，从而减少废品率。本实用新型再一优点是结构简单，科学合理，制作容易，成本低，压紧片由气缸控制伸缩，操作简便，灵活性好，维护也相当方便，大大提升了三极管测试分选机上的测试推管机构的运行率和可操作性。


附图1为现有技术的测试结构示意图；附图2为本实用新型的立体结构示意图；附图3为本实用新型结构分解示意图；附图4为图2之工作时正面示意图。
具体实施方式
[0016]
以下结合附图对本实用新型进一步说明参阅图2、3、4所示，是为本实用新型的较佳实施例结构示意图，本实用新型有关三极管测试分选机上的测试推管机构，包括有测试爪1、测试轨道2，三极管3放置在测试轨道2上，测试爪1对应三极管3的管脚触接测试，于三极管3之散热板的一端设有压紧片4， 压紧片4顶压三极管3的散热板，压紧片4由气缸5驱动。当三极管3进去测试轨道2时，由顶针挡住，测试爪1开始对三极管3的三个脚进行测试，同时压紧片4由气缸提供的动力使压紧片2压紧三极管之散热板的一端，使压紧片对与中间管脚同极的散热板进行接触测试，达到对中间脚同极的管脚进行测试，从而减少测试爪在传统方式上接触不到的弊端，使测试更准确，从而减少废品率，提高检测的质量。图2、3、4所示，本实施例中，气缸5之活塞轴的伸出端推动一推管座6，图中，推管座6后端设有连接部与气缸5之活塞轴连接，气缸5之活塞轴上套设有可滑动的滑套51，滑套51上配合螺母锁接而形成环槽来夹持推管座6的连接部，达到固定连接在一起；在滑套 51的前后方设有相应的限位缓冲件，实际工作时，由于三极管的外形尺寸的不同，所以，整个推管测试机构装配好以后，可以根据不同三极管来调节限位缓冲件，进而达到气缸5之活塞轴的伸出幅度，从而实现调节压紧片压住三极管的终点位置，这样使得整个推管机构通用性更强。图2、3、4所示，推管座6安装在导轨7上，移动更平稳，推管座6的外端形成有两支平行的前伸臂61，前伸臂61连接一横杆8，横杆8与测试轨道2平行；若干组压紧片 4分别通过连接块41衔接横杆8，横杆8上设有轴孔81，轴孔81套接于推管轴9，推管轴9 还穿设安装于连接块41的通孔中，于横杆8与连接块41之间设有推管轴套91支顶，推管轴套91套设在推管轴9上，推管轴9起到导柱作用，使横杆8直线移动，通过推管轴套91 来推顶连接块41，从而达到驱动若干组压紧片4顶压不同的三极管3。本实用新型获得的有益效果是结构简单，科学合理，制作容易，成本低，压紧片由气缸控制伸缩，操作简便，灵活性好，维护也相当方便；三极管在测试时，测试爪对三个脚测试的同时，还采用压紧片对中间管脚同极的散热板进行接触测试，使测试更准确，从而减少废品率。前述是对本实用新型构造作较佳实施例的说明，而依本实用新型的设计精神是可作多种变化或修饰实施例。所以，对于熟悉本领域的技术人士可作之明显替换与修饰，仍将并入于本实用新型所主张的专利范围之内。
权利要求1.三极管测试分选机上的测试推管机构，包括有测试爪(1)、测试轨道(2)，三极管(3) 放置在测试轨道(2)上，测试爪(1)对应三极管(3)的管脚触接测试，其特征在于于三极管 (3)之散热板的一端设有压紧片(4)，压紧片(4)顶压三极管(3)的散热板，压紧片(4)由气缸(5)驱动。
2.根据权利要求1所述的三极管测试分选机上的测试推管机构，其特征在于气缸(5) 之活塞轴的伸出端推动一推管座(6 )，推管座(6 )安装在导轨(7 )上，推管座(6 )驱动若干组压紧片(4 )顶压不同的三极管(3 )。
3.根据权利要求2所述的三极管测试分选机上的测试推管机构，其特征在于推管座 (6)的外端形成有两支平行的前伸臂(61)，前伸臂(61)连接一横杆(8)，横杆(8)与测试轨道(2)平行；若干组压紧片(4)分别通过连接块(41)衔接横杆(8)，横杆(8)上设有轴孔 (81)，轴孔(81)套接于推管轴(9)，推管轴(9)还穿设安装于连接块(41)的通孔中，于横杆 (8)与连接块(41)之间设有推管轴套(91)支顶，推管轴套(91)套设在推管轴(9)上。
专利摘要本实用新型涉及三极管检测设备技术领域，尤其是三极管测试分选机上的测试推管机构，它包括有测试爪、测试轨道，三极管放置在测试轨道上，测试爪对应三极管的管脚触接测试，于三极管之散热板的一端设有压紧片，压紧片顶压三极管的散热板，压紧片由气缸驱动。本实用新型获得的有益效果是三极管在测试时，测试爪对三个脚测试的同时，还采用压紧片对与中间管脚同极的散热板进行接触测试，使测试更准确，从而减少废品率。
文档编号G01R1/04GK202189119SQ20112033764
公开日2012年4月11日 申请日期2011年9月9日 优先权日2011年9月9日
发明者吴州春, 李伟民, 陈新鹏, 马利年, 马喜平 申请人:汕头市宇信科技有限公司