专利名称:真空灭弧室瓷筒机械寿命等效试验装置的制作方法
技术领域:
本实用新型属于真空灭弧室瓷筒机械性能测试技术领域,具体涉及ー种真空灭弧室瓷筒机械寿命等效试验装置。
背景技术:
影响真空灭弧室瓷筒产品性能和质量的因素很多,从エ艺上来讲,主要是钎焊、氩弧焊,从零件质量上来讲,主要是触头、波纹管、瓷筒。钎焊由于采用进ロ器件制作的大型高真空钎焊设备和一次封排エ艺,已经能够保证产品的性能和质量;通过瓷筒的结构改变,氩弧焊エ艺逐步被取消,所以氩弧焊エ艺影响产品性能和质量的因素也逐步会消失;当前真空灭弧室瓷筒产品性能和质量的因素主要是零件质量触头由于采用先进的熔铸エ艺,触头的质量也相对稳定可靠;波纹管是由不锈钢材料采用自动设备和模具制作,一致性好,质量稳定;真正影响瓷筒性能和质量的主要因素是瓷筒的质量,瓷筒是由瓷粉合成瓷膏压制 后烧结而成,由于瓷粉的颗粒大小、搅拌均匀程度、在加工过程中容易混进灰尘和有机物、压制致密性、烧结温度的均匀性等等殊多因素的影响,造成瓷筒质量难以控制,一致性也很差,所以必须对瓷筒的强度进行试验。传统的试验方法采用的是特制的零件与瓷筒焊接后进行拉力试验。虽然特制的零件可以使用多次,但无法反映出瓷筒真实使用情况下的机械寿命。因而,需要ー个新的试验方法来反映瓷筒真实使用情况下的机械寿命。
发明内容本实用新型的目的就是针对真空灭弧室瓷筒机械寿命试验采用特制的零件与瓷筒焊接后进行拉カ试验所存在的问题和不足之处,而提供ー种反映瓷筒真实使用情况下的机械寿命试验的装置。本实用新型的技术解决方案是ー种真空灭弧室瓷筒机械寿命等效试验装置,由机架、锁紧螺母、静端盖、下连接螺杆、瓷筒、封接环、动端盖、上连接螺杆、拉カ传感器、蜗轮蜗杆结构、減速器、电机、控制部分组成,装置各部分固定在机架上,真空灭弧室的瓷筒先钎焊封接好封接环、动端盖、静端盖,通过下连接杆、锁紧螺母固定在机架上,控制部分包括电源开关、压カ表、继电器,通过电线与运动机构部分和计量部分进行连接,其特征是控制部分控制电动机通过减速器減速后带动蜗轮蜗杆结构、拉カ传感器、上连接螺杆拉动已经按正常装配要求下钎焊好封接环、动端盖、静端盖的瓷筒,按正常装配要求下钎焊好封接环、动端盖、静端盖的瓷筒通过下连接螺杆、锁紧螺母固定在机架上。本实用新型的技术解决方案中所述的控制部分包括电源开关换向开关、继电器,通过电线与运动机构部分和计量部分进行连接。本实用新型的技术解决方案中所述的运动机构部分包含包括电机、減速器、蜗轮蜗杆结构由计量部分、连接件与所要进行试验的瓷筒相连接,电机经过减速后带动蜗轮蜗杆结构、拉カ传感器、上连接螺杆、动端盖、封接环、向上用カ拉瓷筒。本实用新型的技术解决方案中所述的计量部分包括压カ表和拉カ传感器,压カ表计量瓷筒在拉カ过程中所受到的拉力,在瓷筒拉断瞬间压カ表所显示的数值为所试验瓷筒的极限拉力。本实用新型的技术解决方案中所述的机架部分为其它部分提供固定。本实用新型的有益效果是瓷筒由同型号产品的封接环、动端盖、静端盖在装好上、下连接杆后进行钎焊,试验受カ情况完全等同正常产品在使用过程中的受カ情況。
图I是本实用新型的结构示意图。图中I、机架,2、锁紧螺母,3、静端盖,4、封接环,5、下连接杆,6、瓷筒,7、封接环,8、动端盖,9、上连接杆,10、拉カ传感器,11、蜗轮蜗杆结构,12、减速器,13、电机、14控制部分。下面,结合附图对本实用新型作进ー步说明。
具体实施方式如图I所示,瓷筒(6)由同型号产品的封接环⑷和(7)、动端盖⑶、静端盖(8)在装好上连接杆(9)、下连接杆(5)后进行钎焊,并用锁紧螺母(2)安装固定在机架(I)上,电机(13)经减速器(12)后带动蜗轮蜗杆结构(11)、拉カ传感器(10)、上连接杆(9)、动端盖(8)、封接环(7)向上拉瓷筒,至拉断为止,控制部分(14)显示器显示的拉カ值为所试验瓷筒的极限拉力。
权利要求1. ー种真空灭弧室瓷筒机械寿命等效试验装置,由机架、锁紧螺母、静端盖、下连接螺杆、瓷筒、封接环、动端盖、上连接螺杆、拉カ传感器、蜗轮蜗杆结构、減速器、电机、控制部分组成,装置各部分固定在机架上,真空灭弧室的瓷筒先钎焊封接好封接环、动端盖、静端盖,通过下连接杆、锁紧螺母固定在机架上,控制部分包括电源开关、压カ表、继电器,通过电线与运动机构部分和计量部分进行连接,其特征是控制部分控制电动机通过减速器減速后带动蜗轮蜗杆结构、拉カ传感器、上连接螺杆拉动已经按正常装配要求下钎焊好封接环、动端盖、静端盖的瓷筒,按正常装配要求下钎焊好封接环、动端盖、静端盖的瓷筒通过下连接螺杆、锁紧螺母固定在机架上。
专利摘要本实用新型涉及一种真空灭弧室瓷筒机械寿命等效试验装置,由机架、控制部分、运动机构部分、计量部分、连接件组成,其特征是瓷筒由同型号产品的封接环、动端盖、静端盖在装好上、下连接杆后进行钎焊,试验受力情况完全等同正常产品在使用过程中的受力情况,是一种特别适用于真空灭弧室瓷筒真实使用情况下的机械寿命试验的装置。
文档编号G01N3/08GK202393652SQ20112040269
公开日2012年8月22日 申请日期2011年10月21日 优先权日2011年10月21日
发明者张国祥, 张洁琼 申请人:湖北大禹汉光真空电器有限公司