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电容膜膜面检测平台的制作方法

时间:2025-05-04    作者: 管理员

专利名称:电容膜膜面检测平台的制作方法
技术领域
本实用新型涉及一种电容膜膜面检测平台。
背景技术
目前,现有技术的电容膜膜面检测平台没有发光装置,则在检查完电容膜表面的缺陷后,还检查电容膜是否有内部的缺陷,这就需要将电容膜举起来,对着光源来检查,但由于电容膜较大不易举起来,且举起时容易将电容膜折弯,而留下折痕,从而导致电容膜报废,故现有技术的电容膜膜面检测平台使用较麻烦,且容易出现电容膜报废的问题。

实用新型内容本实用新型所要解决的技术问题是针对以上现有技术的不足,提供一种使用较简单及不易导致电容膜报废的电容膜膜面检测平台。为解决上述问题,本实用新型提供一种电容膜膜面检测平台,它包括工作台,所述的工作台上设有发光装置。采用以上结构后,本实用新型与现有技术相比,由于在工作台上设置了发光装置, 则在检查完电容膜表面的缺陷后,无需在将电容膜举起,只需打开发光装置的开关,使发光装置发光即可检查电容膜内部是否有内部缺陷,也就不易使电容膜折弯,而发生电容膜出现折痕而报废的情况。因此本实用新型具有使用较简单及不易导致电容膜报废的特点。作为改进,所述的发光装置位于工作台的一端,则将电容膜圈转动连接在工作台的另一端,而在工作台发光装置端放置收卷装置即可,电容膜经过工作台台面时进行膜面检查,而经过发光装置上方时,可进行电容膜内部情况的检查,故本实用新型使用更加方便,也更不易损失电容膜。作为进一步改进,所述的发光装置位于工作台内,则电容膜经过发光装置前一段的台面进行膜面检查后,再经过发光装置对电容膜内部情况的检查后,检查人员还可根据电容膜内部检查的情况,对特定区域的电容膜膜面再次进行检查,使得本实用新型的检查效率更高,更易发现缺陷。发光装置的长度等于工作台的宽度。发光装置为日光灯或LED灯或白炽灯。

图1为本实用新型电容膜膜面检测平台实施例一的结构示意图。图2为本实用新型电容膜膜面检测平台实施例二的结构示意图。如图所示1、工作台,2、发光装置。
具体实施方式
以下结合附图和具体实施例对本实用新型作进一步详述。[0014]实施例一如图1所示,一种电容膜膜面检测平台,它包括工作台1,所述的工作台1上设有发光装置2。发光装置2为日光灯。所述的发光装置2位于工作台1的一端。一般发光装置2的最高点不高于工作台 1的台面。发光装置的长度等于工作台的宽度。实施例二如图2所示,所述的发光装置2位于工作台1内。一般发光装置2在工作台1上为嵌入式的,且发光装置2的最高点与工作台1的台面平齐。当然也可在工作台1上设置弧形凸起式的发光装置2。发光装置的长度等于工作台的宽度。发光装置2为LED灯。以上实施例是对本实用新型的说明和进一步解释,而不是对本实用新型的限制, 在本实用新型的独立权利范围内所作的任何修改,都落入本实用新型的保护范围。
权利要求1.一种电容膜膜面检测平台,它包括工作台(1),其特征在于所述的工作台(1)上设有发光装置(2)。
2.根据权利要求1所述的电容膜膜面检测平台,其特征在于所述的发光装置(2)位于工作台(1)的一端。
3.根据权利要求1所述的电容膜膜面检测平台,其特征在于所述的发光装置(2)位于工作台(1)内。
4.根据权利要求1所述的电容膜膜面检测平台,其特征在于发光装置(2)的长度等于工作台(1)的宽度。
5.根据权利要求1所述的电容膜膜面检测平台,其特征在于发光装置(2)为日光灯或 LED灯或白炽灯。
专利摘要一种电容膜膜面检测平台,它包括工作台(1),所述的工作台(1)上设有发光装置(2);与现有技术相比,本实用新型由于在工作台上设置了发光装置,则在检查完电容膜表面的缺陷后,无需在将电容膜举起,只需打开发光装置的开关,使发光装置发光即可检查电容膜内部是否有内部缺陷,也就不易使电容膜折弯,而发生电容膜出现折痕而报废的情况。因此本实用新型具有使用较简单及不易导致电容膜报废的特点。
文档编号G01N21/95GK202166622SQ20112026047
公开日2012年3月14日 申请日期2011年7月22日 优先权日2011年7月22日
发明者吕虎, 黄剑鹏 申请人:宁波大东南万象科技有限公司

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