专利名称：高精度回路电阻测试仪的制作方法
技术领域：
本实用新型属于测试设备技术领域，尤其是涉及一种高精度回路电阻测试仪。
背景技术：
回路电阻测试仪主要用于测量开关、断路器和变压器等设备的接触电阻。接触电阻值比较小，测试电流大于100A。一般用4线制测量法。电流通过被测设备的接触点，从接触点测出电压，R = U/I。主要有直流恒流源、控制主板和IXD显示屏等组成。以上电路有以下缺点1.电压和电流回路误差较大。2.电压和电流回路线性度差。3.温度漂移大。为此，人们进行了长期的探索，提出了各种各样的解决方案，但是均未获得较为理想的改进。
发明内容本实用新型的目的是针对上述问题，提供一种设计合理，结构简单，能够有效降低整个电路的温漂误差，操作使用方便的高精度回路电阻测试仪。为达到上述目的，本实用新型采用了下列技术方案本高精度回路电阻测试仪，包括CPU，在CPU上连接有电压采样回路和电流采样回路，其特征在于，所述的有电压采样回路上连接有电压校正单元，所述的电流采样回路上连接有电流校正单元。在上述的高精度回路电阻测试仪中，所述的电压校正单元和电流校正单元通过第一切换结构与电压采样回路和电流采样回路相连；所述的电压校正单元和电流校正单元通过第二切换结构与电压采样回路和电流采样回路相连。在上述的高精度回路电阻测试仪中，所述的电压采样回路包括依次串联的电压输入端口、第一放大电路、第一 A/D转换电路、第一隔离模块,所述的第一隔离模块与CPU相连；所述的电流采样回路包括依次串联的电流输入端口、第二放大电路、第二 A/D转换电路、第二隔离模块，所述的第二隔离模块与CPU相连。在上述的高精度回路电阻测试仪中，所述的第一放大电路和第二放大电路的放大倍数为20倍。在上述的高精度回路电阻测试仪中，所述的第一切换结构包括连接在CPU上的第一驱动模块，所述的第一驱动模块与第一开关相连，所述的第一开关连接在电压采样回路和电流采样回路之间；第二切换结构包括连接在CPU上的第二驱动模块，所述的第二驱动模块与第二开关相连，所述的第二开关连接在电压采样回路和电流采样回路之间。在上述的高精度回路电阻测试仪中，所述的第一开关和第二开关均为双刀双掷开关。与现有的技术相比，本高精度回路电阻测试仪的优点在于设计合理，结构简单， 能够有效降低整个电路的温漂误差，操作使用方便。

图I是本实用新型提供的结构示意图。[0012]图中，电压采样回路I、电压输入端口 11、第一放大电路12、第一 A/D转换电路13、 第一隔离模块14、电流采样回路2、电流输入端口 21、第二放大电路22、第二 A/D转换电路 23、第二隔离模块24、电压校正单元3、电流校正单元4、第一驱动模块6、第一开关7、第二驱动模块8、第二开关9。
具体实施方式
如图I所示，本高精度回路电阻测试仪包括CPU，在CPU上连接有电压采样回路I 和电流采样回路2，电压采样回路I上连接有电压校正单元3，电流采样回路2上连接有电流校正单元4。电压校正单元3和电流校正单元4通过第一切换结构与电压采样回路I和电流采样回路2相连；电压校正单元3和电流校正单元4通过第二切换结构与电压采样回路I和电流采样回路2相连。电压采样回路I包括依次串联的电压输入端口 11、第一放大电路12、第一 A/D转换电路13、第一隔离模块14，第一隔离模块14与CPU相连。电流采样回路2包括依次串联的电流输入端口 21、第二放大电路22、第二 A/D转换电路23、第二隔离模块24，第二隔离模块24与CPU相连。第一放大电路12和第二放大电路22的放大倍数为20倍。第一切换结构包括连接在CPU上的第一驱动模块6，第一驱动模块6与第一开关7 相连，第一开关7连接在电压采样回路I和电流采样回路2之间。第二切换结构包括连接在CPU上的第二驱动模块8，第二驱动模块8与第二开关9相连，第二开关9连接在电压采样回路I和电流采样回路2之间。第一开关7和第二开关9均为双刀双掷开关。本文中所描述的具体实施例仅仅是对本实用新型精神作举例说明。本实用新型所属技术领域的技术人员可以对所描述的具体实施例做各种各样的修改或补充或采用类似的方式替代，但并不会偏离本实用新型的精神或者超越所附权利要求书所定义的范围。尽管本文较多地使用了电压采样回路I、电压输入端口 11、第一放大电路12、第一 A/D转换电路13、第一隔离模块14、电流采样回路2、电流输入端口 21、第二放大电路22、第二 A/D转换电路23、第二隔离模块24、电压校正单元3、电流校正单元4、第一驱动模块6、第一开关7、第二驱动模块8、第二开关9等术语，但并不排除使用其它术语的可能性。使用这些术语仅仅是为了更方便地描述和解释本实用新型的本质；把它们解释成任何一种附加的限制都是与本实用新型精神相违背的。
权利要求1.一种高精度回路电阻测试仪，包括CPU，在CPU上连接有电压采样回路(I)和电流采样回路(2)，其特征在于，所述的有电压采样回路(I)上连接有电压校正单元(3)，所述的电流采样回路(2)上连接有电流校正单元(4)。
2.根据权利要求I所述的高精度回路电阻测试仪，其特征在于，所述的电压校正单元 ⑶和电流校正单元⑷通过第一切换结构与电压采样回路⑴和电流采样回路⑵相连; 所述的电压校正单元(3)和电流校正单元(4)通过第二切换结构与电压采样回路(I)和电流采样回路⑵相连。
3.根据权利要求I或2所述的高精度回路电阻测试仪，其特征在于，所述的电压采样回路(I)包括依次串联的电压输入端口(11)、第一放大电路(12)、第一A/D转换电路(13)、 第一隔离模块(14)，所述的第一隔离模块(14)与CPU相连；所述的电流采样回路(2)包括依次串联的电流输入端口(21)、第二放大电路(22)、第二A/D转换电路(23)、第二隔离模块 (24)，所述的第二隔离模块(24)与CPU相连。
4.根据权利要求3所述的高精度回路电阻测试仪，其特征在于，所述的第一放大电路(12)和第二放大电路(22)的放大倍数为20倍。
5.根据权利要求2所述的高精度回路电阻测试仪，其特征在于，所述的第一切换结构包括连接在CPU上的第一驱动模块￠)，所述的第一驱动模块￠)与第一开关(7)相连，所述的第一开关(7)连接在电压采样回路(I)和电流采样回路(2)之间；所述的第二切换结构包括连接在CPU上的第二驱动模块(8)，所述的第二驱动模块(8)与第二开关(9)相连， 所述的第二开关(9)连接在电压采样回路⑴和电流采样回路⑵之间。
6.根据权利要求5所述的高精度回路电阻测试仪，其特征在于，所述的第一开关(7)和第二开关(9)均为双刀双掷开关。
专利摘要本实用新型属于测试设备技术领域，尤其是涉及一种高精度回路电阻测试仪。它解决了现有技术设计不够合理等技术问题。包括CPU，在CPU上连接有电压采样回路和电流采样回路，其特征在于，所述的有电压采样回路上连接有电压校正单元，所述的电流采样回路上连接有电流校正单元。与现有的技术相比，本高精度回路电阻测试仪的优点在于设计合理，结构简单，能够有效降低整个电路的温漂误差，操作使用方便。
文档编号G01R27/08GK202351327SQ201120433540
公开日2012年7月25日 申请日期2011年11月3日 优先权日2011年11月3日
发明者张韬, 郑玲龙 申请人:杭州高电科技有限公司