专利名称：集成式光纤环圈测试系统的制作方法
技术领域：
本发明涉及光纤环圈测试领域，尤其涉及一种集成式光纤环圈测试系统。
背景技术：
光纤环圈是光纤陀螺中最关键的组件，它性能的好坏直接决定了光纤陀螺的性能，因此对光纤环圈的检测是光纤陀螺研制过程中必不可少的环节之一。通常检测光纤环圈都需要搭建一套分离的光纤陀螺系统。如图1所示，现有光纤环圈测试系统10是将各光学元器件和调制解调电路板分散安置在一个测试平板上，第一部分为光纤环圈测试系统，它主要包含光纤陀螺中的光源2、耦合器9、Y波导8、探测器16和调制解调电路板5，另一部分即为需要检测的光纤环圈，这两部分通过Y波导8的输出尾纤和光纤环圈输入尾纤进行衔接从而构成一套完整的光纤陀螺系统接着又将此测试平板封装在一个仪器机箱中，再配上其他的电源模块11、测试系统控制电路板12等装置就组成了一个完整的光纤环圈测试系统。这样分散组装的方式虽然简单但对检测环路中的光路和电路部分没有进行封闭保护，易引入周围环境中温度和电磁辐射等干扰，从而降低光纤环圈测试系统的测试精度。

发明内容
为了克服上述现有技术的不足，本发明的目的是提供一种集成式光纤环圈测试系统，其能够实现对检测环路中光路和调制解调电路的屏蔽保护。为了实现上述目的，本发明采用如下装置集成式光纤环圈测试系统，其特征在于包括底座、骨架、外罩，所述骨架设于所述底座上，所述外罩罩于所述底座与骨架之上，所述底座、骨架、外罩围成的空间形成密闭的上下分体层叠的电路腔和光路腔，所述电路腔内设调制解调电路，所述光路腔内设光路。所述电路腔和光路腔之间具有分隔元件，所述光路的一部分设置于所述分隔元件上。优选地，底座包括外底座和内底座，所述外底座由第一空心圆柱体与外接于所述空心圆柱体下端的外盘面一体成型，所述内底座包括内盘面及设于所述内盘面上的第二空心圆柱体，所述内盘面的外边缘内嵌于所述外盘面的底部环形凹槽内。优选地，骨架由第三空心圆柱体以及外接于所述第三空心圆柱体两端的环形盘面一体成型。优选地，第三空心圆柱体内侧具有环形凸台，所述环形凸台上端面设置有所述分隔元件，下端面与所述第一空心圆柱体固定连接，所述分隔元件、所述第一空心圆柱体，所述内盘面共同构成所述光路腔。优选地，外罩固定于所述底座的外边缘，所述分隔元件、所述外罩、所述骨架、所述底座围成所述电路腔。优选地，光路包括探测器，所述探测器的电管脚通过所述分隔元件的槽孔与所述调制解调电路连接。
优选地，光路包括Y波导，所述Y波导输出的尾纤从所述底座下面的凹槽中弓I出。优选地，光路包括光源，所述光源设置于所述第二空心圆柱体包围的所述内盘面上，所述光源的光通过光纤沿着所述第一空心圆柱体的内侧面与所述分隔元件的光路连接。优选地，分隔元件是光学元件板。本发明的有益效果是通过集成式的上下分体层叠式的密闭封装结构，很好地将检测环路中的光路和电路布置在一个密闭腔体中，从而实现对检测环路中光路和调制解调电路的屏蔽保护。


图1为现有光纤环圈测试系统的结构示意图。图2为本发明的正面结构示意图。图3为本发明的拆解示意图。图4为本发明的光纤环圈测试系统的安装示意图。图中，1、底座1.1、外底座1. 2、内底座2、光源3、骨架4、光学元件板5、调制解调电路板6、外罩7、输出尾纤8，Y波导9、耦合器10、现有测试系统分布结构11、电源模块12测试系统控制电路板13、增益平坦滤波器14、凹槽15、环形凸台16、集成式光纤环圈测试系统
具体实施例方式下面结合附图对本发明的一种具体实施方式
做出说明。参见图2-4，本发明的集成式光纤环圈测试系统16是一种对原有分散式的光纤环圈测试系统检测环路中的光路和调制解调电路进行集成式封装改进的系统。其包括上下分体层叠式的密闭封装结构，形成密闭的电路腔和光学腔。如图2和3所示，底座I是集成式光纤环圈测试系统16的基座，其包括外底座1.1和内底座1. 2，其中外底座1.1由空心的圆柱体以及外接于该圆柱体下端的盘面一体成型，内底座1. 2包括圆形盘面以及设置于圆形盘面上的空心圆柱体构成，圆形盘面的外边缘内嵌于外底座1.1的下底面的环形凹槽内，两者通过螺钉固定连接，或者通过其他方式连接，在内底座1. 2的被空心圆柱体包围的盘面上，设置有光源2，该光源2可以是ASE光源，也可以是其他用来测试的公知光源，光源2的各个组成部件可以通过销钉螺钉固定于内底座1.2的盘面上，也可以是其他的固定方式。骨架3位于底座I之上，呈线盘状，即颈部是一空心圆柱体，两端是外接于空心圆柱体的盘面，在空心圆柱体的内侧中间部位具有环状的凸台15，骨架3的空心圆柱体依靠在外底座1. 2的圆柱体的外侧，凸台15的下表面与外底座1. 2的圆柱体的上端面固定连接，可通过螺钉或者其他固定方式连接。在凸台15的上表面上承载有光学元件板4，光学元件板4的形状是内凹的盘状结构，盘状边缘通过螺钉或者其他方式与凸台15固定连接，光学元件板4的下表面上布置有光路系统，包括增益平坦滤波器13，Y波导8，耦合器9，光电探测器16等，光源2输出的光波通过一段光纤尾纤沿着底座的内侧壁蜿蜒而上到达光学元件板4，与光学元件板4上的光学元件组成了光纤环圈测试系统的第一部分中的光路检测环路，而从Y波导输出尾纤7又通过底座I的内侧壁蜿蜒而下，最后从底座I的下表面上的凹槽14中引出。在光学元件板4上承载有调制解调电路板5，其上设置有调制解调电路，调制解调电路板5的边缘通过螺钉或者其他方式与光学元件板的边缘固定连接，光学元件板4下表面的光电探测器16的电管脚通过光学元件板4的板面上的槽孔从光学元件板4的上表面穿出，与调制解调电路连接，实现光电转换以及信号的传输。外罩6的下边缘与外底座1.1的外边缘固定连接，将骨架3、光学元件板4、调制解调电路板5以及各种光学元件以及电路元件全部密封于其内，实现整个系统的外部密封。图4是安装示意图，本发明的集成式光纤环圈测试系统16通过底座I上的固定孔固定于机箱平面上，由于集成式的设计，相比较于图1的现有的分散布局，从外观上更整齐，有序，从实现的效果上来看，节省了安装面积，并且由于密封式的设计，极大地减小了外界温度、电磁等对检测的干扰，从而有效地提高了检测的稳定性以及精度。以上对本发明的一个实例进行了详细说明，但所述内容仅为本发明的较佳实施例，不能被认为用于限定本发明的实施范围。凡依本发明申请范围所作的均等变化与改进等，均应仍归属于本发明的专利涵盖范围之内。
权利要求
1.集成式光纤环圈测试系统，其特征在于包括底座、骨架、外罩，所述骨架设于所述底座上，所述外罩罩于所述底座与骨架之上，所述底座、骨架、外罩围成的空间形成密闭的上下分体层叠的电路腔和光路腔，所述电路腔内设调制解调电路，所述光路腔内设光路。
2.如权利要求1所述的测试系统，其特征在于所述电路腔和光路腔之间具有分隔元件，所述光路的一部分设置于所述分隔元件上。
3.如权利要求2所述的测试系统，其特征在于所述底座包括外底座和内底座，所述外底座由第一空心圆柱体与外接于所述空心圆柱体下端的外盘面一体成型，所述内底座包括内盘面及设于所述内盘面上的第二空心圆柱体，所述内盘面的外边缘内嵌于所述外盘面的底部环形凹槽内。
4.如权利要求3所述的测试系统，其特征在于所述骨架由第三空心圆柱体以及外接于所述第三空心圆柱体两端的环形盘面一体成型。
5.如权利要求4所述的测试系统，其特征在于所述第三空心圆柱体内侧具有环形凸台，所述环形凸台上端面设置有所述分隔元件，下端面与所述第一空心圆柱体固定连接，所述分隔元件、所述第一空心圆柱体，所述内盘面共同构成所述光路腔。
6.如权利要求2所述的测试系统，其特征在于所述外罩固定于所述底座的外边缘，所述分隔元件、所述外罩、所述骨架、所述底座围成所述电路腔。
7.如权利要求2所述的测试系统，其特征在于所述光路包括探测器，所述探测器的电管脚通过所述分隔元件的槽孔与所述调制解调电路连接。
8.如权利要求1所述的测试系统，其特征在于所述光路包括Y波导，所述Y波导输出的尾纤从所述底座下面的凹槽中引出。
9.如权利要求3所述的测试系统，其特征在于所述光路包括光源，所述光源设置于所述第二空心圆柱体包围的所述内盘面上，所述光源的光通过光纤沿着所述第一空心圆柱体的内侧面与所述分隔元件的光路连接。
10.如权利要求2-9任一项所述的测试系统，其特征在于所述分隔元件是光学元件板。
全文摘要
本发明提供一种集成式光纤环圈测试系统，包括底座、骨架、外罩，所述骨架设于所述底座上，所述外罩罩于所述底座与骨架之上，所述底座、骨架、外罩围成的空间形成密闭的上下分体层叠的电路腔和光路腔，所述电路腔内设调制解调电路，所述光路腔内设光路。采用上述集成式的光纤环圈测试系统，极大地减小了外界温度、电磁等对检测的干扰，从而有效地提高了检测的稳定性以及精度。
文档编号G01M11/00GK103063408SQ20121057500
公开日2013年4月24日 申请日期2012年12月21日 优先权日2012年12月21日
发明者杨冬霞, 李伟俊, 王嘉宁 申请人:天津光拓科技有限公司