专利名称：一种直线电机驱动的五轴光学非球面检测装置的制作方法
技术领域：
本发明涉及一种光学非球面元件面形检测装置，尤其是涉及一种针对不同曲率的直线电机驱动的五轴光学非球面检测装置。
背景技术：
非球面光学元件在应用方面有诸多优点，例如可校正高分辨率透镜的像差，从而提高光学系统成像质量，而且一个或几个非球面元件可代替多个球面元件，从而简化仪器结构，降低成本并有效地减轻仪器质量。(参见文献张云庆.日益增长的需求和面临的工艺挑战。光机电信息，2005，11 :14-21)。特别是近年来，新材料的出现和新的制造技术的发展使得非球面的加工技术有了突飞猛进的发展，现在，可以使用一些新的流程像离子束修整、计算机控制抛光以及磁流变成形来制造非球面元件，而且这样的新方法可以达到很高的制造精度。但是非球面元件的制造必须与精确的非球面元件的检测技术相结合才能得到合格的非球面。所以非球面光学元件的检测已经成为现代光学测量技术研究的前沿领域。目前，检测非球面的方法大多采用的是接触式和非接触式两种测量方法，但是在非接触式测量时通常会遇到一些麻烦。在非接触式测量中，由于不是直接测量非球面本身的几何形状，而是用光感传感器对非球面的反射光进行探测，因此对测头和被测工件表面的相对位置要求很高。在对非球面光学元件进行检测时，若碰到测量较大倾斜角的轮廓表面或者高曲率的表面时，则会造成信号畸变和失真，还有照明情况和表面状态反射情况等。 因此要求在进行非接触式测量时，测头与被测表面要基本保持垂直，或者只能存在很小的倾角。这就要求有一种能实现测头与工件表面相对位置调整的检测平台。

发明内容
本发明的目的是针对现有的检测平台在对非球面光学元件测量时无法调整测头与工件表面到垂直的位置，无法对非球面光学元件实现准确测量的问题，提供一种能够通过五轴的联动调整测头与工件表面的相对位置，保证测头与工件表面垂直的直线电机驱动的五轴光学非球面检测装置。本发明设有计算机、运动控制卡、驱动器、X轴直线电机、X轴直线导轨、底座、X轴工作台、支柱、横梁、Y轴直线电机、Y轴直线导轨、Y轴工作台、Z轴直线导轨、Z轴直线电机、 Z轴工作台、A轴工作台、测头固定座、测头、C轴工作台、C轴DD马达(直接驱动马达)、X 轴直线导轨滑块、Y轴直线导轨滑块、ζ轴直线导轨滑块和A轴DD马达(直接驱动马达)。驱动器与运动控制卡相连，驱动器受运动控制卡控制；X轴工作台位于底座上，由 X轴平板型直线电机驱动，Y轴工作台由Y轴直线电机驱动，Z轴工作台由Z轴直线电机驱动；A轴工作台的旋转运动由A轴DD马达驱动，C轴工作台的旋转运动由C轴DD马达驱动， C轴DD马达位于X轴工作台上，C轴DD马达可随X轴工作台做前后方向的移动；Z轴工作台位于Y轴工作台上，A轴DD马达位于Z轴工作台上，A轴DD马达可随Y轴工作台和Z轴工作台做左右和上下运动。
所述X轴直线电机可采用X轴平板型直线电机，所述Y轴直线电机可采用Y轴平板型直线电机，所述Z轴直线电机可采用Z轴平板型直线电机。在实际测量过程中，首先通过X/Y/Z 3个方向的运动机构可以调整工件与测头在 X/Y/Z 3个方向上的相对位置，把工件调整到测头的下方。然后再通过位于X轴工作台上的 C轴DD马达，把工件要测部位旋转到测头的正下方。再根据预先拟合出来的模型中被测位置的曲率，通过控制卡给驱动器发送指令，驱动Y/Z/A三轴的联动，调整测头的位置，并根据测头所获得反射光的强度来确定最优位置，实现测头与被测工作表面的垂直，以获得真实的面形数据。平台的主体可采用花岗石材料，具有变形小、稳定性好、强度大、硬度高等优点，能在重负荷及一般温度下保持高精度。X/Y/Z轴运动模块采用平板型直线电机驱动，具有响应速度快、运行平稳、负载大、 对工作环境要求低等特点。最主要的特点是省去了中间的运动转换装置，克服了传统电机存在运动间隙的问题，满足了作为一个高精度检测平台的要求。其中A轴和C轴都采用的是DD马达直接驱动，省去了中间的连接机构，减少了由于机械结构产生的定位误差。并且配备了高解析度的编码器，使得DD马达比普通的伺服高一个等级精度，再配上磁光栅作为位置反馈，可以使定位精度达到微秒级。本发明提供的五轴非球面光学元件检测平台，能够实现5个方向的运动，包括X/ Y/Z 3个方向的直线运动和A/C轴两个方向上的旋转运动。可以精确的实现对测头和工件相对位置的调整，保证测头与工件表面的垂直，从而获得精确的面形数据。同时还可以结合控制系统，实现对各种工件的表面面形检测。因此利用本发明的检测平台具有运动平稳，刚性好，精度高等特点，应用前景广阔。


图1为本发明实施例的结构组成主视示意图。图2为本发明实施例的结构组成侧视示意图。
具体实施例方式以下通过实施例并结合附图对本发明作进一步说明。参见图1和2，本发明实施例设有计算机、运动控制卡、驱动器、X轴平板型直线电机l、x轴直线导轨2、底座3、X轴工作台4、支柱5、横梁6、Y轴平板型直线电机7、Υ轴直线导轨8、Υ轴工作台9、Ζ轴直线导轨10、Ζ轴平板型直线电机11、Ζ轴工作台12、Α轴工作台 13、测头固定座14、测头15、工件16、C轴工作台17、C轴DD马达(直接驱动马达)18、X轴直线导轨滑块19、Y轴直线导轨滑块20、Ζ轴直线导轨滑块21和A轴DD马达(直接驱动马达)22。驱动器与运动控制卡相连，驱动器受运动控制卡控制；X轴工作台4位于底座3 上，由X轴平板型直线电机1驱动，Y轴工作台9由Y轴平板型直线电机7驱动，Z轴工作台12由Z轴平板型直线电机11驱动；A轴工作台13的旋转运动由A轴DD马达22驱动， C轴工作台17的旋转运动由C轴DD马达18驱动，C轴DD马达18位于X轴工作台4上，C 轴DD马达18可随X轴工作台4做前后方向的移动；Z轴工作台12位于Y轴工作台9上，A轴DD马达22位于Z轴工作台12上，A轴DD马达22可随Y轴工作台9和Z轴工作台12 做左右和上下运动。X、Y、Z三轴的运动分别通过三轴的平板型直线电机1、7、11的驱动来实现。平板型直线电机具有响应速度快，运行平稳，负载大，不需要中间运动转换装置的特点，定位精度高。再配上直尺光栅尺作为位置反馈，整体定位精度能够达到纳米级。X轴工作台4与底座3，Y轴工作台9与横梁6，Z轴工作台12与Y轴工作台9都采用滚动直线导轨来连接，具有运动平稳，灵敏度高，定位精度高，寿命长等特点，能够减小系统自身的误差，提高整个平台的检测精度。其中C轴DD马达18位于X轴工作台4上，可以随之实现前后方向的移动，能够调整工件16在前后方向上的相对位置。C轴DD马达18位于Z运动机构上，可以实现在Y、Z 两个方向上的位移。工件16位于C轴工作台17上，C轴工作台17在C轴DD马达18的驱动下实现水平面内的360°转动。测头15位于A轴工作台上，能在A轴DD马达作用下带动测头15在竖直平面内实现360°转动。在测量的过程中，首先通过XYZ三轴的平板型直线电机的驱动各自的工作平台， 调整测头15跟工件16在XYZ三个方向上的位移，使工件位于测头的下方。然后再根据测量的需要，利用C轴DD马达驱动C轴工作台旋转，将工件要测部位旋转到测头的正下方。 再根据预先拟合出来的模型中被测位置的曲率，通过控制卡给驱动器发送指令，驱动Y/Z/A 三轴的联动，调整测头的位置，并根据测头所获得反射光的强度来确定最优位置，实现测头与被测工作表面的垂直，以获得真实的面形数据。
权利要求
1.一种直线电机驱动的五轴光学非球面检测装置，其特征在于设有计算机、运动控制卡、驱动器、X轴直线电机、X轴直线导轨、底座、X轴工作台、支柱、横梁、Y轴直线电机、Y轴直线导轨、Y轴工作台、Z轴直线导轨、Z轴直线电机、Z轴工作台、A轴工作台、测头固定座、 测头、C轴工作台、C轴DD马达、X轴直线导轨滑块、Y轴直线导轨滑块、Z轴直线导轨滑块和A轴DD马达；驱动器与运动控制卡相连，驱动器受运动控制卡控制；X轴工作台位于底座上，由X轴平板型直线电机驱动，Y轴工作台由Y轴直线电机驱动，Z轴工作台由Z轴直线电机驱动；A 轴工作台的旋转运动由A轴DD马达驱动，C轴工作台的旋转运动由C轴DD马达驱动，C轴 DD马达位于X轴工作台上，C轴DD马达可随X轴工作台做前后方向的移动；Z轴工作台位于Y轴工作台上，A轴DD马达位于Z轴工作台上，A轴DD马达可随Y轴工作台和Z轴工作台做左右和上下运动。
2.如权利要求1所述的一种直线电机驱动的五轴光学非球面检测装置，其特征在于所述X轴直线电机为X轴平板型直线电机，所述Y轴直线电机为Y轴平板型直线电机，所述Z 轴直线电机为Z轴平板型直线电机。
全文摘要
一种直线电机驱动的五轴光学非球面检测装置，涉及一种光学非球面元件面形检测装置。设X/Y/Z轴直线电机、X/Y/Z轴直线导轨、底座、X/Y/Z轴工作台、支柱、横梁、A/C轴工作台、测头固定座、测头和A/C轴DD马达。X/Y/Z轴工作台由X/Y/Z轴直线电机驱动，X轴工作台位于底座上；A轴工作台由A轴DD马达驱动，C轴工作台由C轴DD马达驱动，C轴DD马达位于X轴工作台上，C轴DD马达可随X轴工作台做前后方向的移动；Z轴工作台位于Y轴工作台上，A轴DD马达位于Z轴工作台上，A轴DD马达可随Y轴工作台和Z轴工作台做左右和上下运动。能通过五轴的联动调整测头与工件表面的相对位置，保证测头与工件表面垂直。
文档编号G01B11/24GK102175177SQ20111003875
公开日2011年9月7日 申请日期2011年2月16日 优先权日2011年2月16日
发明者彭云峰, 柯晓龙, 潘昆, 郭隐彪, 陈露霜 申请人:厦门大学