专利名称：电池测试设备大功率恒流装置的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及电池测试领域，具体来说是电池测试设备大功率恒流设备。
背景技术：
电池测试中的恒流装置大多数是由晶体管并联构成的，随着电流的增大晶体管的并联数量增加。一般晶体管选用BJT(双极型的晶体管)，利用BJT并联作为恒流装置，驱动设计麻烦，但是多路并联不容易产生震荡。现市场的电池测试设备中的恒流装置大部分采用的是BJT —路驱动，控制多个并联的BJT组成大功率的恒流装置，这种设计对BJT个体的参数要求比较严格，要求型号和批次必须一致，如果同一路驱动并联的BJT个体损坏一般需要全部更换同一批次的个体，造成维修成本高。如果设计成个体驱动独立，由于此晶体管为电流控制型,驱动成本大。

实用新型内容本实用新型解决的技术问题是，提供一种稳定的电池测试设备大功率恒流装置，其结构简单、使用寿命有效延长。为了解决上述技术问题，本实用新型提供的技术方案是一种电池测试设备大功率恒流装置，包括MCU控制模块、DA输出模块和MOSFET驱动模块，它们互相电连接；优选的，所述MOSFET驱动模块包括两个以上并联的MOSFET恒流电路；优选的，所述电连接是通过导线连接；优选的，所述电连接是通过印刷电路板连接。和现有技术相比，本实用新型产生的技术效果是，结构简单，成本低；单个MOSFET个体的损坏不需要更换其同一驱动并联的其他个体；延长工作寿命。

图1是本实用新型所述电池测试设备大功率恒流装置的电路原理示意图。图中，1. MCU控制模块；2. DA输出模块；3. MOSFET驱动模块。
具体实施方式
以下结合附图和实施例，对本实用新型做详细说明。如图1所示，本实施例中，所述电池测试设备大功率恒流装置包括MCU控制模块1、DA输出模块2和MOSFET驱动模块3，它们相互电连接，优选通过印刷电路板连接，提高了控制精度，改善了群体并联带来的问题，便于日后的维修，也可以选择导线连接，结构较为简单，成本较低。利用MOSFET作为电压型驱动器件，驱动比较简单，将并联的MOSFET设计独立驱动短路，控制方便，操控性能好，可以实现每一个MOSFET在均流下和恒流状态下工作，延长MOSFET的使用寿命。工作原理是，MCU控制模块I控制DA输出模块2，将设定相对应的DA值作为给定值，与MOSFET的驱动单元中的采样值相比较，将比较后的输出值给所要控制的M0SFET，完成设定电流的限定。
权利要求1.一种电池测试设备大功率恒流装置，其特征在于包括MCU控制模块、DA输出模块和MOSFET驱动模块，它们互相电连接。
2.根据权利要求1所述电池测试设备大功率恒流装置，其特征在于所述MOSFET驱动模块包括两个以上并联的MOSFET恒流电路。
3.根据权利要求1所述电池测试设备大功率恒流装置，其特征在于所述电连接是通过导线连接。
4.根据权利要求1所述电池测试设备大功率恒流装置，其特征在于所述电连接是通过印刷电路板连接。
专利摘要本实用新型公开一种电池测试设备大功率恒流装置，包括MCU控制模块、DA输出模块和MOSFET驱动模块，它们互相电连接，结构简单，成本低；单个MOSFET个体的损坏不需要更换其同一驱动并联的其他个体；延长工作寿命。
文档编号G01R1/28GK202870130SQ20122045532
公开日2013年4月10日 申请日期2012年9月3日 优先权日2012年9月3日
发明者张建国, 杜学平 申请人:青岛美凯麟科技有限公司