专利名称：磁粉探伤试块及其制作方法
技术领域：
本发明涉及探伤领域，特别是一种磁粉探伤试块及其制作方法。
背景技术：
磁粉探伤是一种借助于磁粉显不出铁磁性材料漏磁场的分布,从而发现材料表面或近表面缺陷的一种无损探伤。磁粉探伤试块是磁粉探伤时需要的重要工具之一，现有的磁粉探伤试块其只具有单一裂纹，无法同时完成对多种裂纹的试测。

发明内容
本发明的目的是提供一种磁粉探伤试块及其制作方法。为解决上述技术问题，本发明采用如下技术方案一种磁粉探伤试块,其包括圆柱形的试块本体、开设在试块本体上且与试块本体相同轴设置的中心孔，所述的试块本体的其中一个端面上有粗线条裂纹以及细微裂纹。所述的本体高为9. 65 9. 75mm,本体直径为49. 95 50. 05mm,中心孔直径为10. 45 10. 55mm。试块本体每表面的递进量为O. 045 O. 055mm，位移为I. 95 2. 05mm。本发明还提供了一种制作上述磁粉探伤试块的方法，其包括以下步骤一采用钢90MnCrV8加工成试块本体；(二)将试块本体表面磨平至9. 8mm±0. 05mm ；(三)在850 870°C下硬化2h ;(四)油淬，使试块本体表面硬度达到63 70HRC ；(五)用尺寸为46J7的砂粒，以35m/s的速度打磨；(六)在145 150°C温度下黑化I. 5h ；(七)采用1000A (峰值)的直流电的中心导体经行磁化。本发明的有益效果在于本磁粉探伤试块的端面具有两种裂纹能，因此能同时试测两种裂纹操作简单，提高了工作效率。


附图I为本发明的结构示意 其中1、试块本体；2、中心孔；3、粗线条裂纹；4、细微裂纹。
具体实施例方式下面结合附图所示的实施例对本发明作以下详细描述 如图I所示，本磁粉探伤试块，其包括圆柱形的试块本体I、开设在试块本体I上且与试块本体I相同轴设置的中心孔2，所述的试块本体I的其中一个端面上有粗线条裂纹3以及细微裂纹4。所述的试块本体I的高为9. 7mm,试块本体I的直径为50mm，中心孔2的直径为10. 5mm，试块本体I每表面的递进量为O. 05mm，位移为2mm。本发明还提供了一种制作上述磁粉探伤试块的方法，其包括以下步骤一采用钢90MnCrV8加工成试块本体I ; (二)将试块本体(I)表面磨平至9. 8mm±0. 05mm ;(三)在850 870°C下硬化2h ;(四)油淬，使试块本体(I)表面硬度达到63 70HRC ;(五)用尺寸为46J7的砂粒，以35m/s的速度打磨；(六)在145 150°C温度下黑化I. 5h ；(七)采用1000A (峰值)的直流电的中心导体经行磁化。上述实施例只为说明本发明的技术构思及特点，其目的在于让熟悉此项技术的人士能够了解本发明的内容并据以实施，并不能以此限制本发明的保护范围。凡根据本发明精神所作的等效变化或修饰，都应涵盖在本发明的保护范围之内。权利要求
1.ー种磁粉探伤试块，其包括圆柱形的试块本体(I)、开设在试块本体(I)上且与试块本体(I)相同轴设置的中心孔(2)，其特征在于所述的试块本体(I)的其中一个端面上有粗线条裂纹(3)以及细微裂纹(4)。
2.根据权利要求I所述的磁粉探伤试块，其特征在于所述的试块本体(I)高为9.65 9. 75mm，试块本体(I)的直径为49. 95 50. 05mm,中心孔(2)的直径为10. 45 10.55mm0
3.根据权利要求I所述的磁粉探伤试块,其特征在于试块本体(I)每表面的递进量为0.045 0. 055mm,位移为 I. 95 2. 05mm。
4.ー种制作I 3中任一种磁粉探伤试块的方法，其特征在于，其包括以下步骤(一)采用钢(90MnCrV8)加工成试块本体(I); (ニ)将试块本体(I)表面磨平至9. 8mm±0. 05mm ；(三)在850 870°C下硬化2h ；(四)油淬，使试块本体(I)表面硬度达到63 70HRC ；(五)用尺寸为46J7的砂粒，以35m/s的速度打磨；(六)在145 150°C温度下黑化I. 5h ；(七)采用1000A (峰值)的直流电的中心导体经行磁化。
全文摘要
本发明公开一种磁粉探伤试块及其制作方法，其包括圆柱形的试块本体、开设在试块本体上且与试块本体相同轴设置的中心孔，所述的试块本体的其中一个端面上有粗线条裂纹以及细微裂纹。其制作步骤包括加工成型、打磨、硬化、打磨、黑化、磁化。本磁粉探伤试块的端面具有两种裂纹能，因此能同时试测两种裂纹操作简单，提高了工作效率。
文档编号G01N27/84GK102735749SQ201210216608
公开日2012年10月17日 申请日期2012年6月28日 优先权日2012年6月28日
发明者沈明奎 申请人:吴江市宏达探伤器材有限公司