专利名称：电容式触摸屏的测试设备的制作方法
技术领域：
本实用新型属于显示触摸屏领域，具体涉及一种显示触摸屏的测试设备。
背景技术：
在现阶段，触摸屏上的ITO在蚀刻后一般仅仅能测试出其导通和阻抗，通过手指的操作流畅度来判断是否是合格产品，即现在的电容式触摸屏测试主要依靠IC生产商配合TP制造商进行IC功能上的测试，而短路、开路及功耗等参数及电路连接情况并无集合于一起进行测试。目前，对于开路、短路等手机触摸屏测试方法通常有四种1.两点模拟测试；2.采用线路板芯片测试；3.装机测试；4.产品线性测试。采用装机测试，虽然其测试效果较好，但是装机测试如有不良品，需拆机换件，增加工时，影响生产进度；采用线路板芯片测试的方法不适宜批量生产；而采用两点模拟测试的方法，其测试位置不能覆盖整个触摸范围，只是对关键两点进行模拟测试，不能保证完整地对所有ITO膜的图案及银线进行全面检测；采用产品线性测试的测试速度较慢，批量产品如需全部测试，采取此方法的测试效率则较低。
发明内容本实用新型要解决的技术问题是提供一种方便、高效测试电容屏线路状况及IC功能的设备，其可测试电容屏多项数据及高效检测线路的异常。本新型所述的一种实现上述电容式触摸屏的测试方法的测试设备，包括屏幕测试板块及电路检测板块，所述的屏幕测试板块包括金属圆棒和屏幕定位槽，所述的金属圆棒紧贴屏幕测试板且金属圆棒的两端分别位于屏幕定位槽两侧；所述的电路检测板块包括供电模块、LCD显示模块、功耗检测模块、测试板块连接端、MCU控制模块和IC芯片模块，所述的测试板块连接端与屏幕测试板块上的测试接口连接。本新型的有益效果是集合短路测试、开路测试、IC功能测试和功耗测试于一体，可对电容触摸屏多项性能及线路进行检测。而利用金属圆棒可同时对同一行的传感器进行一次性逐行检测而不是点对点检测，大大提高检测效率。

图I为本新型的屏幕测试板块结构图；图2为电路检测板块的模块连接结构图。
具体实施方式
本新型所述的一种电容式触摸屏的测试设备，如图I所示，包括屏幕测试板块I及电路检测板块2，所述的屏幕测试板块I包括金属圆棒11、屏幕定位槽12和推动把手13，所述推动把手13连接金属圆棒的两端，所述的金属圆棒紧贴屏幕测试板且金属圆棒的两端分别位于屏幕定位槽12两侧，可在屏幕定位槽上方滚动，屏幕定位槽内用以放置待测试屏幕；所述的电路检测板块2包括供电模块、LCD显示模块、功耗检测模块、测试板块连接端、MCU控制模块和IC芯片模块，所述的测试板块连接端与屏幕测试板块上的测试接口连接。以上所述并非对本新型的技术范围作任何限制，凡依据本新型技术实质对以上的实施例所作的任何修改、等同变化与修饰，均仍属于本新型技术方案的范围内。
权利要求1.一种电容式触摸屏的测试设备，包括屏幕测试板块及电路检测板块，其特征在于所述的屏幕测试板块包括金属圆棒和屏幕定位槽，所述的金属圆棒紧贴屏幕测试板且金属圆棒的两端分别位于屏幕定位槽两侧；所述的电路检测板块包括供电模块、LCD显示模块、功耗检测模块、测试板块连接端、MCU控制模块和IC芯片模块，所述的测试板块连接端与屏幕测试板块上的测试接口连接。
2.根据权利要求I所述的电容式触摸屏的测试设备，其特征在于所述的屏幕测试板块还包括推动把手，所述推动把手连接金属圆棒的两端。
专利摘要本实用新型提供了一种电容式触摸屏的测试设备，包括屏幕测试板块及电路检测板块，所述的屏幕测试板包括金属圆棒和屏幕定位槽，所述的金属圆棒紧贴屏幕测试板且金属圆棒的两端分别位于屏幕定位槽两侧；所述的电路检测板块包括供电模块、LCD显示模块、功耗检测模块、测试板块连接端、MCU控制模块和IC芯片模块，所述的测试板块连接端与屏幕测试板块上的测试接口连接。本实用新型集合短路测试、开路测试、IC功能测试和功耗测试于一体，可对电容触摸屏多项性能及线路进行检测，利用金属圆棒同时对一行传感器进行一次性检测，大大提高检测效率。
文档编号G01R31/28GK202815126SQ201220231948
公开日2013年3月20日 申请日期2012年5月23日 优先权日2012年5月23日
发明者潘翼辉 申请人:东莞通华液晶有限公司