专利名称：便携式中文界面数字集成电路功能测试仪的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种便携式中文界面数字集成电路功能测试仪，属检测仪器仪表的技术领域。
背景技术：
集成电路测试仪是对集成电路进行测试的专用仪器设备。当前，市场上集成电路测试仪种类很多，集成电路参数测试仪是对集成电路的各项参数进行测试，是专业级的集成电路测试仪，功能齐全、价格昂贵、体积较大、操作复杂。集成电路功能测试仪是对集成电路的功能进行判定，看是否功能失效是通用级的集成电路测试仪，价格较高，多为英文界
面，操作界面不友好，用户特殊芯片无法检测，对被检测芯片及检测电路无保护报警，易导致死机等实际问题。

实用新型内容针对以上通用集成电路功能测试仪中存在的问题，本实用新型提出一种新型便携式中文界面数字集成电路功能测试仪，不仅能检测通用一般芯片，还增加了特殊芯片的检测和被检芯片和检测电路的保护报警设计，并且操作界面为中文菜单界面，操作简单，结构简单、降低成本。本实用新型采用的技术方案集成电路功能测试仪由单片机I、键盘2、串行接口
3、芯片测试接口 4、中文液晶显示器6和报警电路7组成，单片机I通过I/O端口分别与键盘2、芯片测试接口 4和中文液晶显示器6连接，单片机I通过串行接口 3与上位机5连接，报警电路7与芯片测试接口连接。所述的单片机I采STC89C516RD+单片机，键盘2的接口芯片采用CH450芯片；串行接口 3采用串行接口芯片MAX232，中文液晶显示器6采用MZLH03-12864中文IXD显示器。本实用新型的有益效果实现了中文菜单的人机对话，使操作过程简单易学；增加了保护报警功能，使得被检测芯片在检测过程中，避免了人为的操作错误的损坏；增加了一些特殊芯片的检测，提高了设备的可靠性和实用性，同时降低了成本。

图I为本实用新型结构连接示意图；图2为本实用新型单片机芯片检测接口电路连接图；图3为本实用新型电源和芯片检测保护报警电路连接图；图4为本实用新型工作流程框图。图中1_单片机、2-键盘、3-串行接口、4-芯片测试接口、5-上位机、6-中文液晶显示器、7-报警电路。
具体实施方式

以下结合附图对本实用新型做进一步说明，以方便技术人员理解。如图I所示集成电路功能测试仪由单片机I、键盘2、串行接口 3、芯片测试接口
4、中文液晶显示器6和报警电路7组成，单片机I通过I/O端口分别与键盘2、芯片测试接口 4和中文液晶显示器6连接，单片机I通过串行接口 3与上位机5连接，报警电路7与芯片测试接口 4连接。键盘2的接口芯片采用CH450芯片；串行接口 3采用串行接口芯片MAX232，将上位机和测试仪连接起来，通过上位机上实现单片机程序调试和系统程序烧写；中文液晶显
示器6采用MZLH03-12864中文IXD显示器。如图2所示所述的单片机I采STC89C516RD+单片机，单片机的Pl 口和P2 口作为芯片检测接口连接被检测芯片，P3 口中的P3. 6脚用于控制14/16管脚芯片地的转换，P3. 7脚用于控制16/20管脚芯片地的转换，8脚芯片和特殊芯片74LS73芯片的检测接口使用特殊连接实现，单片机I与被检测芯片之间需串接470 Ω电阻，串接电阻对单片机的I/O 口起限流保护的作用。键盘2通过PO 口的PO. 3、P0. 2和PO. I与单片机I连接，串行接口 3通过P3 口的P3. I和P3. O与单片机I连接，中文液晶显示器6通过PO 口的PO. 7、PO. 6、PO. 5、PO. 4和PO. 3与单片机I连接。实际操作中，操作者经常会把芯片插反，或者把已经有问题的芯片拿来检测，接入检测电路后，芯片可能会过流发热烧毁，或者烧毁检测接口电路，造成损失或单片机检测系统死机，本实用新型增加了保护报警电路，如图3所示保护报警电路示意图；单片机系统的电源和被检测芯片电源分开，分别用两个7805三端稳压电源来实现，被检测芯片电源的故障不会影响单片机系统的正常工作，而且被检测芯片电源设计了保护报警电路，由LS2蜂鸣器，Q4和DL1发光二极管实现声光电报警，由D3, R40, Dff1, R41, R42, U7, Rff1和Q3实现限流保护控制，其中调节RW1可以改变限流值的大小，限流值从25mTl. 5A，超过限流值，电路自动切断测试芯片电源，保护了测试芯片，并通过红色发光二极管发光和蜂鸣器发声报警，提醒操作者改正。如图4所示本实用新型工作流程框图，系统内部软件部分主要由主程序和若干子程序构成，子程序有中文显示子程序、键盘矩阵扫描子程序、按键键值处理子程序和判别子程序组成，主要功能是对芯片好坏判别和对芯片型号判别。开机后，先执行主程序的系统初始化工作，然后调用中文显示子程序，显示出请输入型号的提示，操作者可通过中文液晶显示器6输入芯片型号，进行芯片好坏判别，并用中文液晶显示器6显示测试结果。操作者还可通过中文液晶显示器6输入芯片的管脚数，执行型号判别，如果输入芯片型号，中文液晶显示器6显示“芯片型号”，说明芯片型号检测完称，显示“无匹配芯片”，说明芯片型号不在检测范围内。本实用新型还可以对8脚、14脚、16脚和20脚芯片进行好坏判别和型号判别，还可以判别如74LS73和NE555非标准芯片；如果没有该型号芯片或芯片已损坏，系统将提示重新输入。本实用新型通过具体实施过程进行说明的，在不脱离本实用新型范围的情况下，还可以对本实用新型专利进行各种变换及等同代替，因此，本实用新型专利不局限于所公开的具体实施过程，而应当包括落入本实用新型专利权利要求范 围内的全部实施方案。
权利要求1.一种便携式中文界面数字集成电路功能测试仪，其特征在于集成电路功能测试仪由单片机、键盘、串行接口、芯片测试接口、中文液晶显示器和报警电路组成，单片机通过I/O端口分别与键盘、芯片测试接口和中文液晶显示器连接，单片机通过串行接口与上位机连接，报警电路与芯片测试接口连接。
2.根据权利要求I所述的一种便携式中文界面数字集成电路功能测试仪，其特征在于所述的单片机采STC89C516RD+单片机。
3.根据权利要求I所述的一种便携式中文界面数字集成电路功能测试仪，其特征在于键盘的接口芯片采用CH450芯片。
4.根据权利要求I所述的一种便携式中文界面数字集成电路功能测试仪，其特征在于串行接口采用串行接口芯片MAX232。
5.根据权利要求I所述的一种便携式中文界面数字集成电路功能测试仪，其特征在于中文液晶显示器采用MZLH03-12864中文IXD显示器。
专利摘要本实用新型涉及一种新型便携式中文界面数字集成电路功能测试仪，属检测仪器仪表的技术领域，集成电路功能测试仪由单片机、键盘、串行接口、芯片测试接口、中文液晶显示器和报警电路组成，单片机通过I/O端口分别与键盘、芯片测试接口和中文液晶显示器连接，单片机通过串行接口与上位机连接，报警电路与芯片测试接口的电源电路连接。本实用新型实现了中文菜单的人机对话，使操作过程简单易学；增加了保护报警功能，使得被检测芯片在检测过程中，避免了人为的操作错误的损坏；增加了一些特殊芯片的检测，提高了设备的可靠性和实用性，同时降低了成本。
文档编号G01R31/28GK202583410SQ201220251340
公开日2012年12月5日 申请日期2012年5月31日 优先权日2012年5月31日
发明者金建辉, 卢诚 申请人:昆明理工大学