专利名称：一种利用继电器的芯片烧录测试装置的制作方法
技术领域：
[0001]本实用新型属于芯片烧录领域，尤其涉及ー种利用继电器的芯片烧录测试装置。
背景技术：
目前，现有的芯片烧录装置一般包括小型烧录机和大型烧录机。在利用小型烧录机烧录芯片的过程中，通常需要人工让芯片进出烧录装置。这样，不仅芯片烧录速度较慢，而且容易出现错误操作。而大型自动烧录机一般采用机械手，从而不仅使成本较高，而且体积也过大。

实用新型内容为了解决上述技术问题，本实用新型实施例的目的在于提供ー种利用继电器的芯片烧录测试装置。本实用新型实施例是这样实现的，ー种利用继电器的芯片烧录测试装置，包括使芯片向下滑动的滑动导轨，按滑动导轨方向依次设置的第一顶针、第一光耦、第二顶针，第ニ光耦、第三顶针，所述第一顶针、第二顶针、第三顶针分别对应电连接有第一继电器、第二继电器、第三继电器，在所述第二顶针与第二光耦之间，在滑动导轨两侧分别设置有左烧录夹具以及右烧录夹具，所述左、右烧录夹具分别连接左、右滑动块，所述左滑动块电连接有第四继电器，所述右滑动块电连接有第五继电器，所述滑动导轨为一斜面结构，其芯片入口设置在斜面顶端。进ー步地，所述滑动导轨的斜面与水平面的角度为30-50度。在本实用新型中，本芯片烧录装置通过滑动导轨以及各器件的配合自动完成烧录，从而避免了芯片烧录过程中的人工操作，不仅提高了芯片烧录速度，而且避免出现错误操作。相比大型自动烧录机而言，其成本较低，体积较小，结构简单。

图I是本实用新型实施例提供的利用继电器的芯片烧录测试装置的结构。
具体实施方式
为了使本实用新型的目的、技术方案及优点更加清楚明白，
以下结合附图及实施例，对本实用新型进行进一歩详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本实用新型，并不用于限定本实用新型。图I示出了本实用新型实施例提供的利用继电器的芯片烧录测试装置的结构，包括使芯片向下滑动的滑动导轨(该芯片滑动导轨采用一斜面结构，其芯片入口 10设置在斜面顶端，由于采用斜面结构，充分利用了芯片的重力作用滑动，这样就可以避免机械传动方式所需的动能)，按滑动导轨方向依次设置的第一顶针16、第一光耦17、第二顶针18，第ニ光耦19、第三顶针20，所述第一顶针16、第二顶针18、第三顶针20分别电连接有第一继电器11、第二继电器12、第三继电器13。在所述第二顶针18与第二光耦19之间，在滑动导轨两侧分别设置有左烧录夹具28以及右烧录夹具23，所述左、右烧录夹具28、23分别连接左、右滑动块27、21，所述左滑动块27电连接有第四继电器14，所述右滑动块21电连接有第五继电器15，所述滑动导轨为一斜面结构，其芯片入口 10设置在斜面顶端。所述第一顶针16电连接有第一继电器11，当所述第一继电器11闭合时，第一顶针16横档在芯片滑动导轨中间，使芯片停止滑动，当所述第一继电器11打开时，第一顶针16从滑动导轨中间移开，使芯片可以沿滑动导轨向下滑动。类似地，所述第二顶针18电连接有第二继电器12，当所述第二继电器12闭合时，第 二顶针18横档在芯片滑动导轨中间，使芯片停止滑动，当所述第二继电器12打开时，第二顶针18从滑动导轨中间移开，使芯片可以沿滑动导轨向下滑动。所述第三顶针20电连接有第三继电器13，当所述第三继电器13闭合时，第三顶针20横档在芯片滑动导轨中间，使芯片停止滑动，当所述第三继电器13打开时，第三顶针20从滑动导轨中间移开，使芯片可以沿滑动导轨向下滑动。倒入芯片后，芯片自动顺着滑动导轨向下滑落。开始时，第二继电器12和第三继电器13处于闭合状态,第一继电器11处于放开状态。当第一光稱感17应到有芯片通过时，第一继电器11闭合，第一顶针16阻挡后面的芯片继续向下滑动；第二继电器12打开，第二顶针18移开，让通过第一光耦17的芯片通过后，芯片被第三继电器13所连接的第三顶针20挡住的同时，第二光耦19感应到有芯片时发出触发信号给第四、第五继电器14、15，第四和第五继电器14、15分别推动左、右滑动块27、21上的左烧录夹具28、右烧录夹具23，使其夹住芯片开始烧录。烧录期间，第一和第二继电器11、12分别处于放开、闭合状态以便等待烧录完毕后放下一片芯片。当芯片烧录完后，第三继电器13打开，第三顶针20移开，使芯片滑落到出口，而第二光耦19感应不到芯片时，发出信号使第一、第二和第三继电器11、12、13分别处于闭合、放开和闭合的状态，处于第二顶针18处的芯片又会继续往下滑落并重复之前的烧录动作。只要一直重复整个流程循环操作就可以进行多次烧录动作。综上所述，本芯片烧录装置通过滑动导轨以及各器件的配合自动完成烧录，从而避免了芯片烧录过程中的人工操作，不仅提高了芯片烧录速度，而且避免出现错误操作。相比大型自动烧录机而言，其成本较低，体积较小，结构简単。而且，该设计方案可以烧录不同厂家的DIP、SOP封装的芯片，也可避免因为不同厂家的芯片的差异而购买多种机械，从成本上也符合生产工具成本的控制要求。以上所述仅为本实用新型的较佳实施例而已，并不用以限制本实用新型，凡在本实用新型的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。
权利要求1.ー种利用继电器的芯片烧录测试装置，其特征在于，包括使芯片向下滑动的滑动导轨，按滑动导轨方向依次设置的第一顶针、第一光耦、第二顶针，第二光耦、第三顶针，所述第一顶针、第二顶针、第三顶针分别对应电连接有第一继电器、第二继电器、第三继电器，在所述第二顶针与第二光耦之间，在滑动导轨两侧分别设置有左烧录夹具以及右烧录夹具，所述左、右烧录夹具分别连接左、右滑动块，所述左滑动块电连接有第四继电器，所述右滑动块电连接有第五继电器，所述滑动导轨为一斜面结构，其芯片入口设置在斜面顶端。
2.根据权利要求I所述的利用继电器的芯片烧录测试装置，其特征在于，所述滑动导轨的斜面与水平面的角度为30-50度。
专利摘要本实用新型适用于芯片烧录领域，提供了一种利用继电器的芯片烧录测试装置，包括使芯片向下滑动的滑动导轨，按滑动导轨方向依次设置的第一顶针、第一光耦、第二顶针，第二光耦、第三顶针，所述第一顶针、第二顶针、第三顶针分别对应电连接有第一继电器、第二继电器、第三继电器，在所述第二顶针与第二光耦之间，在滑动导轨两侧分别设置有左烧录夹具以及右烧录夹具，所述左、右烧录夹具分别连接左、右滑动块，所述左滑动块电连接有第四继电器，所述右滑动块电连接有第五继电器，所述滑动导轨为一斜面结构，其芯片入口设置在斜面顶端。本烧录测试装置自动完成烧录，从而避免了芯片烧录过程中的人工操作，不仅提高了芯片烧录速度，而且避免出现错误操作。
文档编号G01R1/04GK202393879SQ20112056747
公开日2012年8月22日 申请日期2011年12月30日 优先权日2011年12月30日
发明者张臻哲 申请人:深圳市隆芯微电子有限公司