专利名称：一种测试头的制作方法
技术领域：
本发明涉及一种用于检测射频同轴连接器性能的测试头。
背景技术：
通讯设备中使用的射频同轴连接器，在产品出厂和使用时需要对其实际技术性能参数进行检测，检测时，射频同轴连接器需要与检测设备进行连接。如果直接将射频同轴连接器连在检测设备上，屏蔽性较差，检测过程易受干扰产生较大误差，因而需要使用专用的检测连接器进行连接。现有的检测用连接器大多结构复杂，连接环节多，体积较大，成本高，同时由于在一定程度上改变了射频同轴连接器的实际工作条件，使得测试结果并不能真实完全地反映被测连接器的实际技术参数。

发明内容
1、所要解决的技术问题:
现有检测连接器结构复杂，连接环节多，体积较多，成本高等技术问题。2、技术方案:
本发明一种测试头包括一个外壳4，外壳4内腔中设置两个绝缘子(2，3)，两个绝缘子中间有同心的通孔，通孔中有一根双头的插针1，插针一头与被测试射频同轴连接器连接，另一头与检测设备连接；外壳4外壁套有一个螺套5,外壳4外壁设有一环形凹槽,与之对应螺套5内壁设有一环形凹槽，在此内外凹槽间设置一个卡环6。3、有益效果:
本发明结构简单、连接环节少、使用方便，同时由于其对检测过程影响较小，在对射频同轴连接器技术性能进行检测时得到的测试结果与其实际工作技术参数最接近，误差最小。


图1本发明的结构示意图。
具体实施例方式一种测试头包括一个外壳4，外壳4内腔中设置两个绝缘子(2，3)，两个绝缘子中间有同心的通孔，通孔中有一根双头的插针1，插针一头与被测试射频同轴连接器连接，另一头与检测设备连接；外壳4外壁套有一个螺套5,外壳4外壁设有一环形凹槽,与之对应螺套5内壁设有一环形凹槽，在此内外凹槽间设置一个卡环6。如图1所示:一种测试头,包括:插针1、绝缘子2、绝缘子3、外壳4、螺套5、卡环6根据插针I两端外径的大小，依次将其压入绝缘子2，绝缘子3，插针I较细的一端居中位置设有滚花或倒刺，防止插针I的轴向和纵向运动；将前面装好的部件从右端压入外壳4，外壳4内壁设有倒刺，防止绝缘子3和外壳4之间松动；将卡环6套在外壳4的外壁的环形凹槽内，并压入螺套5，卡环6在外壳4和螺套5之间的凹槽内，螺套5可以绕着外壳4转动而不会脱落。虽然本发明已以较佳实施例公开如上，但它们并不是用来限定本发明的，任何熟习此技艺者，在不脱离本发明之精神和范围内，自当可作各种变化或润饰，因此本发明的保护范围应当以本申请的权利要求保护范围所界定的为准。
权利要求
1.一种测试头，其特征在于:包括一个外壳(4),外壳(4)内腔中设置两个绝缘子(2，3)，两个绝缘子中间有同心的通孔，通孔中有一根双头的插针(1)，插针(I) 一头与被测试射频同轴连接器连接，另一头与检测设备连接；外壳(4)外壁套有一个螺套(5)，外壳(4)外壁设有一环形凹槽，与之对应螺套(5)内壁设有一环形凹槽，在此内外凹槽间设置一个卡环(6)。
2.如权利要求1所述的测试头，其特征在于:插针(I)较细的一端居中位置设有滚花或倒刺。
3.如权利要求1所述的测试头，其特征在于:外壳(4)内壁设有倒刺。
全文摘要
本发明涉及一种用于检测射频同轴连接器性能的测试头。现有检测连接器结构复杂，连接环节多，体积较多，成本高等技术问题。本发明一种测试头，其特征在于包括一个外壳(4)，外壳(4)内腔中设置两个绝缘子(2,3)，两个绝缘子中间有同心的通孔，通孔中有一根双头的插针(1)，插针(1)一头与被测试射频同轴连接器连接，另一头与检测设备连接；外壳(4)外壁套有一个螺套(5)，外壳(4)外壁设有一环形凹槽，与之对应螺套(5)内壁设有一环形凹槽，在此内外凹槽间设置一个卡环(6)。本发明结构简单、连接环节少、使用方便，同时由于其对检测过程影响较小，在对射频同轴连接器技术性能进行检测时得到的测试结果与其实际工作技术参数最接近，误差最小。
文档编号G01R31/00GK103197165SQ20121000526
公开日2013年7月10日 申请日期2012年1月10日 优先权日2012年1月10日
发明者戴志坚, 冯良平, 宗秋萍 申请人:镇江华坚电子有限公司