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测试夹具的制作方法

时间:2025-05-09    作者: 管理员

专利名称:测试夹具的制作方法
技术领域
本发明涉及印刷电路板测试技术领域,尤其涉及一种测试夹具。
背景技术
印刷电路板在生产过程中需要经历很多的环节,每一环节都需要有相应的测试仪器来检测产品的好坏。测试夹具是一个测试印刷电路板的平台,其工作原理是利用测试针将印刷电路板上的待测点与测试机器中的对应点导通,进而测试机器可以通过调用相应的程序来实现对印刷电路板的测试。目前,印刷电路板已完全采用无铅处理工艺,即对印刷电路板的表面进行有机焊料防护剂(Organic Solderability Preservatives, 0SP)工艺处理,经过 OSP 工艺处理的印刷电路板上会形成一层保护膜。在使用现有的测试夹具对经过OSP工艺处理的印刷电路板进行测试时,印刷电路板表面的保护膜很难被测试针刺穿,进而影响到测试针与印刷电路板上的测试点的接触,导致该种经过OSP工艺处理的印刷电路板在进行在线测试 (In-Circuit Test, ICT)或功能测试(Functional Circuit Test,FCT)的过程中存在较多误测的问题,使测试效率降低,增加了测试成本。

发明内容
本发明的实施例提供一种测试夹具,实现印刷电路板上的测试点与测试夹具的测试针之间的两次接触,提高了测试点与测试针之间的接触稳定性,减少了印刷电路板测试过程中的误测,提高了测试效率。为达到上述目的,本发明的实施例采用如下技术方案一种测试夹具,包括一次接触装置,设置在所述一次接触装置下的载板,位于所述载板下的测试针,所述一次接触装置下压压迫载板上的待测板与所述测试针接触,所述测试夹具还包括二次接触装置,所述二次接触装置设置在所述载板下,与所述一次接触装置连接,所述一次接触装置下压过程中,在所述待测板与所述测试针接触后,所述二次接触装置带动所述测试针离开所述待测板,并随后带动所述测试针再次与所述待测板接触。本发明实施例提供的测试夹具,在传统的测试夹具结构中加入二次接触装置,实现了测试夹具中的测试针与待测板的两次接触,相对于现有测试夹具只具备的测试针与待测板的一次接触功能,本发明实施例提供的测试夹具在一次下压的过程中,即可使测试针与待测板完成两次接触,保证了测试针与待测板的接触稳定性,减少了印刷电路板测试过程中的误测,提高了测试效率。


为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动性的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。图1为本发明实施例中测试夹具的结构示意图;图2为本发明实施例中测试夹具初始状态的结构示意图;图3为本发明实施例中测试夹具开始下压时的结构示意图;图4为本发明实施例中测试夹具下压过程中的结构示意图;图5为本发明实施例中测试夹具完全下压后的结构示意图。附图标记说明1、载板2、压板21、弹性压棒3、第一导柱31、第二弹簧32、第三弹簧4、 快速夹 5、下压固定块 6、测试针 7、底板 8、侧边板 9、上压固定块 10、上压臂 11、摇杆12、导柱固定块13、限位块14、固定弹簧15、针块16、针板17、第二导柱 18、固定轴19、第四弹簧20、第一弹簧
具体实施例方式下面将结合本发明实施例中的附图,对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例,本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本发明保护的范围。本发明实施例提供了一种测试夹具,如图1所示,该测试夹具包括一次接触装置,包括设置在一次接触装置下的载板1,位于所述载板1下的测试针6,一次接触装置下压压迫载板1上的待测板与测试针6接触,一次接触装置包括压板 2,压板2下表面设置有弹性压棒21,在压板2的两侧下方各设置有至少两个第一导柱3,第一导柱3穿过位于压板2下方的载板1,载板1上设置有镂空区域,压板2上方设置有快速夹4,快速夹固定在下压固定块5上,下压固定块5底部设置在所述载板1上。二次接触装置,二次接触装置设置在载板1下,与一次接触装置连接,一次接触装置下压过程中,在待测板与所述测试针6接触后,二次接触装置带动测试针6离开所述待测板,并随后带动测试针6再次与待测板接触。二次接触装置包括位于载板1下方的针板16,第一导柱3穿过针板16,针板16 上下表面各带有镂空区域且内部设置有针块,测试针6设置在针块上,针块边缘上方与针板16上表面下方之间设置有第一弹簧,针板16下设置有带有镂空区域的限位装置,限位装置的镂空区域与针板16底部的镂空区域对应设置,第一导柱3穿过限位装置,限位装置与载板1连接固定,在压板2和针板16之间的第一导柱上设置有第二弹簧31,在针板16与限位装置之间的第一导柱上设置有第三弹簧32,限位装置与针板16之间设置有第二导柱,第二导柱上设置有第四弹簧,限位装置下设置有上压装置,上压装置顶端穿过限位装置的镂空区域和针板16下表面的镂空区域,位于针块下表面下方,第一导柱3下端设置有下压块。一次接触装置下压使所述第二弹簧31收缩,第二弹簧31向下压动针板16,使针板 16带动其内部的针块一同延第一导柱3向下移动,直至针板16与限位装置接触,使针块上的测试针6离开位于载板1上的待测板,一次接触装置完全下压后,第一导柱3下端下压块压动上压装置使上压装置向上顶起针块,使针块上的测试针6再次与载板上1的待测板接触。
本发明实施例中,限位装置包括设置有镂空区域的底板7,第一导柱3穿过底板 7,在针板16与底板7之间的第一导柱上设置有第三弹簧32,底板7镂空区域与针板16底部镂空区域对应设置,在底板7两侧设置有两个侧边板8,侧边板8上端连接载板1,下端与底板7连接,在底板7上设置有两个限位块13,两个限位块13分别位于底板7镂空区域的两侧,在每个限位块13与针板16之间设置有至少两个第二导柱,第二导柱上设置有第四弹
ο本发明实施例中,上压装置包括两个分别位于限位装置镂空区域两侧下方的上压固定块9,上压固定块9上设置有轴孔,轴孔中设置有固定轴,上压固定块9外侧设置有摇杆11,上压固定块9内侧设置有上压臂10,摇杆11上端与固定轴外侧连接,上压臂10下端与固定轴内侧连接,上压臂10穿过限位装置的镂空区域和针板16下表面的镂空区域,上压臂10与上压固定块9之间连接有固定弹簧14,固定弹簧14维持上压臂10的静态位置,上压臂10上端设置有上压轴承,上压轴承位于针块下表面下方。本发明实施例中,下压块包括与压板2—侧的至少两个第一导柱3底端连接的导柱固定块12,在导柱固定块12靠近上压装置一端设置有下压轴承。本发明实施例中测试夹具的初始状态,如图2所示压板2下表面设置有弹性压棒21,弹性压棒21内设置有弹簧,压板的两侧下方各设置有两个第一导柱3,第一导柱3穿过位于压板2下方的载板1,载板1上设置有镂空区域,载板1上的镂空区域设置位置与测试针位置相对应,压板2上方设置有快速夹4,快速夹 4固定在下压固定块5上,下压固定块5底部设置在载板1上。载板1下方设置有针板16,第一导柱3穿过针板16,针板16上下表面各带有镂空区域且内部设置有针块15,测试针设置在针块15上,针块15边缘上方与针板16上表面下方之间设置有第一弹簧,针板16下设置有带有镂空区域的底板7,第一导柱3穿过底板7, 在针板16与底板7之间的第一导柱上设置有第三弹簧31,底板7镂空区域与针板16底部镂空区域对应设置,在底板7两侧设置有两个侧边板8,所述侧边板8上端连接载板1,下端与底板7连接,在底板7上设置有两个限位块13,两个限位块13分别位于底板7镂空区域的两侧,在限位块13与针板16之间设置有两个第二导柱17,第二导柱17上设置有第四弹
ο底板7镂空区域两侧下方设置有两个上压固定块9,上压固定块9上设置有轴孔, 轴孔中设置有固定轴18,上压固定块9外侧设置有摇杆11,上压固定块内侧设置有上压臂 10,摇杆11上端与所述固定轴18外侧连接,上压臂10下端与固定轴18内侧连接,上压臂 10穿过底板7的镂空区域和针板16下表面的镂空区域,上压臂10与上压固定块9之间连接有固定弹簧,固定弹簧维持上压臂的静态位置,上压臂10上端设置有上压轴承,上压轴承位于针块15下表面下方,压板2 —侧的两个第一导柱3底端连接有导柱固定块12,在导柱固定块12靠近摇杆11 一端设置有下压轴承。如图3所示,快速夹4开始下压时,压板2向下移动,压板2下方的弹性压棒21压迫载板1上的待测板与针块上的测试针6接触,即测试针与待测板的第一次接触完成;如图4所示,快速夹4继续下压,压板2继续向下移动,弹性压棒21收缩,压板2 压迫第二弹簧31,第二弹簧31收缩向下压迫针板16,使针板16向下移动至限位块13上, 第四弹簧19收缩,位于针板16中针块上的测试针6离开待测板;
如图5所示,快速夹4完全下压后,第一导柱3带动导柱固定块12向下运动,导柱固定块12 —端的下压轴承向下压迫摇杆11,摇杆11受力以固定轴18为轴向下转动,带动与摇杆11连接的上压臂10以固定轴18为轴向上转动,上压臂10顶端的上压轴承向上顶起针块15,针块15与针板16之间的第四弹簧20收缩,使得针块15上的测试针6再次与载板1上的待测板接触,测试针与待测板的第二次接触完成。本发明实施例提供的测试夹具,在传统的测试夹具结构中加入二次接触装置,实现了测试夹具中的测试针与待测板的两次接触,相对于现有测试夹具只具备的测试针与待测板的一次接触功能,本发明实施例提供的测试夹具在一次下压的过程中,即可使测试针与待测板完成两次接触,保证了测试针与待测板的接触稳定性,减少了印刷电路板测试过程中的误测,提高了测试效率。以上所述,仅为本发明的具体实施方式
,但本发明的保护范围并不局限于此,任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内,可轻易想到变化或替换,都应涵盖在本发明的保护范围之内。因此,本发明的保护范围应所述以权利要求的保护范围为准。
权利要求
1.一种测试夹具,包括一次接触装置,设置在所述一次接触装置下的载板,位于所述载板下的测试针,所述一次接触装置下压压迫载板上的待测板与所述测试针接触,所述测试夹具还包括二次接触装置,所述二次接触装置设置在所述载板下,与所述一次接触装置连接,所述一次接触装置下压过程中,在所述待测板与所述测试针接触后,所述二次接触装置带动所述测试针离开所述待测板,并随后带动所述测试针再次与所述待测板接触。
2.根据权利要求1所述的测试夹具,其特征在于,所述一次接触装置包括压板,所述压板下表面设置有弹性压棒,在所述压板的两侧下方各设置有至少两个第一导柱,所述第一导柱穿过位于压板下方的所述载板,所述载板上设置有镂空区域,所述压板上方设置有快速夹,所述快速夹固定在下压固定块上,所述下压固定块底部设置在所述载板上。
3.根据权利要求1或2所述的测试夹具,其特征在于,所述二次接触装置包括位于所述载板下方的针板,所述第一导柱穿过所述针板,所述针板上下表面各带有镂空区域且内部设置有针块,所述测试针设置在所述针块上,所述针块边缘上方与所述针板上表面下方之间设置有第一弹簧,所述针板下设置有带有镂空区域的限位装置,所述限位装置的镂空区域与所述针板底部的镂空区域对应设置,所述第一导柱穿过所述限位装置,所述限位装置与所述载板连接固定,在所述压板和所述针板之间的第一导柱上设置有第二弹簧,在所述针板与所述限位装置之间的第一导柱上设置有第三弹簧,所述限位装置与所述针板之间设置有第二导柱,所述第二导柱上设置有第四弹簧,所述限位装置下设置有上压装置,所述上压装置顶端穿过所述限位装置的镂空区域和所述针板下表面的镂空区域,位于所述针块下表面下方,所述第一导柱下端设置有下压块;所述一次接触装置下压使所述第二弹簧收缩,第二弹簧向下压动针板,使所述针板带动其内部的所述针块一同延第一导柱向下移动,直至所述针板与所述限位装置接触,使针块上的测试针离开位于载板上的待测板,所述一次接触装置完全下压后,第一导柱下端下压块压动所述上压装置使所述上压装置向上顶起所述针块,使所述针块上的测试针再次与载板上的待测板接触。
4.根据权利要求3所述的测试夹具,其特征在于,所述限位装置包括设置有镂空区域的底板,所述第一导柱穿过所述底板,在所述针板与所述底板之间的第一导柱上设置有第三弹簧,所述底板镂空区域与所述针板底部镂空区域对应设置,在底板两侧设置有两个侧边板,所述侧边板上端连接所述载板,下端与所述底板连接,在所述底板上设置有两个限位块,所述两个限位块分别位于所述底板镂空区域的两侧,在每个所述限位块与所述针板之间设置有至少两个第二导柱,所述第二导柱上设置有第四弹簧。
5.根据权利要求3所述的测试夹具,其特征在于,所述上压装置包括两个分别位于限位装置镂空区域两侧下方的上压固定块,所述上压固定块上设置有轴孔,所述轴孔中设置有固定轴,所述上压固定块外侧设置有摇杆,所述上压固定块内侧设置有上压臂,所述摇杆上端与所述固定轴外侧连接,所述上压臂下端与所述固定轴内侧连接,所述上压臂穿过所述限位装置的镂空区域和所述针板下表面的镂空区域,所述上压臂与所述上压固定块之间连接有固定弹簧,所述固定弹簧维持上压臂的静态位置,所述上压臂上端设置有上压轴承, 所述上压轴承位于所述针块下表面下方。
6.根据权利要求4所述的测试夹具,其特征在于,所述上压装置包括两个分别位于限位装置镂空区域两侧下方的上压固定块,所述上压固定块上设置有轴孔,所述轴孔中设置有固定轴,所述上压固定块外侧设置有摇杆,所述上压固定块内侧设置有上压臂,所述摇杆上端与所述固定轴外侧连接,所述上压臂下端与所述固定轴内侧连接,所述上压臂穿过所述限位装置的镂空区域和所述针板下表面的镂空区域,所述上压臂与所述上压固定块之间连接有固定弹簧,所述固定弹簧维持上压臂的静态位置,所述上压臂上端设置有上压轴承, 所述上压轴承位于所述针块下表面下方。
7.根据权利要求3所述的测试夹具,其特征在于,所述下压块包括与所述压板一侧的至少两个第一导柱底端连接的导柱固定块,在导柱固定块靠近上压装置一端设置有下压轴承。
8.根据权利要求4所述的测试夹具,其特征在于,所述下压块包括与所述压板一侧的至少两个第一导柱底端连接的导柱固定块,在导柱固定块靠近上压装置一端设置有下压轴承。
9.根据权利要求5所述的测试夹具,其特征在于,所述下压块包括与所述压板一侧的至少两个第一导柱底端连接的导柱固定块,在导柱固定块靠近上压装置一端设置有下压轴承。
10.根据权利要求6所述的测试夹具,其特征在于,所述下压块包括与所述压板一侧的至少两个第一导柱底端连接的导柱固定块,在导柱固定块靠近上压装置一端设置有下压轴承。
全文摘要
本发明实施例公开了一种测试夹具,涉及印刷电路板测试技术领域,减少了印刷电路板测试过程中的误测,提高了测试效率。该测试夹具包括一次接触装置,设置在所述一次接触装置下的载板,位于所述载板下的测试针,所述一次接触装置下压压迫载板上的待测板与所述测试针接触,所述测试夹具还包括二次接触装置,所述二次接触装置设置在所述载板下,与所述一次接触装置连接,所述一次接触装置下压过程中,在所述待测板与所述测试针接触后,所述二次接触装置带动所述测试针离开所述待测板,并随后带动所述测试针再次与所述待测板接触。
文档编号G01R1/04GK102288792SQ201110208509
公开日2011年12月21日 申请日期2011年7月22日 优先权日2011年7月22日
发明者郭钜添, 颜禄兴 申请人:华为终端有限公司

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