专利名称：一种抗浪涌性能测试电路的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及电子及通信领域的测试技术，具体涉及一种抗浪涌性能测试电路。
背景技术：
在电子设备或通信设备的过程中，通常有电流或电压突然增大的情况，即所谓的浪涌。由于浪涌通常会对电子设备或通信系统的正常稳定运行产生影响或使电子设备或通信系统的性能降低，所以在电子及通信领域，为保证设备能在浪涌出现的情况下能正常稳定地工作，都需要对设备、装置、系统的端口进行端口浪涌保护电路设计和进行抗浪涌性能测试。
一般来讲，抗浪涌性能测试分为差模测试和共模测试，所谓差模测试即是在线间(比如L-火线和N-零线间)施加浪涌，以测验设备的抗浪涌性能，这种方式在实际应用中较少；共模测试即是在双线对地(在L线+N线与地线(Protect Earth线PE线)间施加浪涌，以测试设备抗浪涌性能，具体组网如图1所示，考虑到通常冲击电流发生器仅有两个输出端子，而共模测试受试设备有三个输入端子，所以在对受试设备进行共模测试时候必须使用耦合网络，该耦合网络能将能量从一个回路传送到另一个回路，作用有如下三点1、不影响冲击电流对受试设备施加浪涌；2、不会使得给受试设备供电电源的L线及N线出现短路；3、耦合网络自身可以满足承载冲击电流流过，并不发生损坏。
在现有技术的共模测试中，因耦合网络的不同而常见的共模测试方案有如下两种方案一、电容耦合方案，具体参考图2，可见耦合网络是由串联在L线上的一个电容和串联在N线上的另一个电容构成。其中，L线和N线都是与冲击电流发生器输出端子的A端子相连，而PE线则与冲击电流发生器输出端子的B端子相连。由于电容具有通高频阻低频的特性，所以采用电容耦合方案一方面电容可以保证承载冲击电流流过，另一方面保证220V供电电源正常，不发生短路，可以满足小量级的冲击电流试验要求。但是，该种方案却存在如下缺点1、由于电容上需要承载冲击电流流过且电容是依靠充/放电实现承载高频电流的，所以在大量级冲击电流流过电容时，电容会因为充电产生在电容上一个高压，进而导致在采用该方案时需要选择10KV或者更高的电容，而这种电容具有体积大、价格高的缺点。
2、由于电容和受试设备成了冲击电流发生器的负载，所以整个回路的阻抗特性参数发生了很大的变化，冲击电流发生器的输出波形将发生畸变，违背耦合网络的设计目的。
方案二、间隙耦合方案，具体参考图3，该种方案和方案一的区别点仅在于将方案一中的电容替换成了间隙。由于间隙具有通高压阻低压的特性，在低压时候处于关断开路状态，在高压时候处于击穿导通短路状态。所以该种方案一方面可以保证施加冲击的时候承载冲击电流流过，另一方面保证正常情况下间隙寄生电容很小，不会产生漏电流，可以满足信号口的冲击电流测试要求。但是，这种方案仍然存在如下缺点1、通过间隙承载大量级的冲击电流试验时，由于间隙属于性能劣化速度较快型器件，所以需要更换间隙。
2、由于在电源口冲击电流试验中，间隙导通动作满足承载冲击电流流过；当冲击电流发生器停止输出时，此时由于220V交流电源(或者其他直流电源)仍然施加在间隙两端，该电压足以使间隙维持导通续流状态，这样将出现供电网络或者电源的短路，出现安全隐患并且导致试验中断。所以该方案耦合网络不能适用于电源口冲击电流测试。

发明内容
本实用新型提供一种抗浪涌性能测试电路，以解决现有技术不能同时既适用于大多数端口测试又成本低的问题。
为解决上述问题，本实用新型提供如下的技术方案一种抗浪涌性能测试电路，包括冲击电流发生器，有输出端口A及B，作用为产生冲击电流；耦合网络，所述的耦合网络通过所述冲击电流发生器的输出端口A及B与冲击电路流发生器相连；受试设备，其包括有受试设备电源，接入该受试设备电源有三条线，即L线、N线和PE线，所述的耦合网络通过所述的三条线与所述的受试电源设备相连；退耦网络，所述的退耦网络并联在L线和N线间，受试设备的电源输入是通过退耦网络后才输入的，所述的退耦网络的作用是防止施加到受试设备上的冲击影响到其他给受试设备供电的供电网络或者电源的电路，其中，所述的耦合网络由串联在L线上的压敏电阻组和串联在N线上的另一个压敏电阻组构成，另外，L线和N线都是与冲击电流发生器输出端子的A端口相连，而PE线则与冲击电流发生器输出端子的B端口相连。
所述串联在L线上的压敏电阻组可以是一个压敏电阻或串联起来的至少两个压敏电阻或并联起来的至少两个压敏电阻。
所述串联在N线上的另一个压敏电阻组可以是一个压敏电阻或串联起来的至少两个压敏电阻或并联起来的至少两个压敏电阻。
所述串联在L线上的压敏电阻组和串联在N线上的另一个压敏电阻组的前面还分别串联有间隙。
所述串联在L线上的压敏电阻组和串联在N线上的另一个压敏电阻组上还分别并联有电容。
采用上述的技术方案后，本实用新型具有如下优点1、采用该方案选择压敏电阻需要满足可以承载多次最大冲击电流流过，通常满足承载大量级的冲击电流流过的压敏电阻，体积比较小，价格比较低，可以满足方案成本低的要求。
2、通过选取通流能力量级偏高的压敏电阻，使压敏电阻更换周期很长；3、采用该方案，不存在类似间隙续流的故障隐患，可靠性高；4、采用该方案，由于压敏电阻在泻放冲击电流时候处于低阻状态，所以基本不影响冲击电流发生器输出波形，保证测试精度，并且静态状态下，处于高阻，满足对受试设备正常上电要求。


图1现有共模测试中耦合网络的位置示意图；图2为现有电容耦合方案的电路图；图3为现有间隙耦合方案的电路图；图4为本实用新型抗浪涌性能测试电路的电路示意图；图5为本实用新型的第二实施例电路示意图；图6为本实用新型的第三实施例电路示意图。
具体实施方式
请参考图4，为本实用新型提供的抗浪涌性能测试电路，包括冲击电流发生器，有输出端口A及B，作用为产生冲击电流；耦合网络，所述的耦合网络通过所述冲击电流发生器的输出端口A及B与冲击电路流发生器相连；受试设备，其包括有受试设备电源，接入该受试设备电源有三条线，即L线、N线和PE线，所述的耦合网络通过所述的三条线与所述的受试电源设备相连；退耦网络，所述的退耦网络并联在L线和N线间，受试设备的电源输入是通过退耦网络后才输入的，所述的退耦网络的作用是防止施加到受试设备上的冲击影响到其他给受试设备供电的供电网络或者电源的电路。
其中，所述的耦合网络由串联在L线上的一个压敏电阻和串联在N线上的另一个压敏电阻构成。其中，L线和N线都是与冲击电流发生器输出端子的A端子相连，而PE线则与冲击电流发生器输出端子的B端子相连。
由于压敏电阻具有通高压、阻低压的特性，所述的压敏电阻在低压时处于高阻状态，甚至高达100M欧姆数量级；在高压时候处于嵌位保护状态，电压随电流的增大而缓慢上升，在嵌位保护状态时的压敏电阻的阻值仅为几个欧姆甚至更小。所以压敏电阻一方面可以保证施加冲击电流的时候承载冲击电流流过，另一方面能在保证受试设备正常情况下，L线和N线间的漏电流仅为向个微安甚至更小，可以满足大量级的电源口冲击电流测试要求。
另外，所述的耦合网络中，可将两个或多个压敏电阻串联在L线上或N线上，也可将两个或多个压敏电阻并联在L线上或N线上；所述的耦合网络也可应用在三相系统中，在三相系统中有三条L线，一条N线及一条PE线，即分别在三条L线及一条N线上串联一个或多个压敏电阻后，将三条L线及N线与冲击电流发生器的输出端口A相连，将PE线与冲击电流发生器的输出端口B相连。同样地，在应用于三相系统中时，也可将两个或多个压敏电阻串联在每条L线上或N线上，也可将两个或多个压敏电阻并联在每条L线上或N线上。
采用上述的技术方案后，本实用新型具有如下优点1、采用该方案选择压敏电阻需要满足可以承载多次最大冲击电流流过，通常满足承载大量级的冲击电流流过的压敏电阻，体积比较小，价格比较低，可以满足方案成本低的要求。
2、通过选取通流能力量级偏高的压敏电阻，使压敏电阻更换周期很长；3、采用该方案，不存在类似间隙续流的故障隐患，可靠性高；4、采用该方案，由于压敏电阻在泻放冲击电流时候处于低阻状态，所以基本不影响冲击电流发生器输出波形，保证测试精度，并且静态状态下，处于高阻，满足对受试设备正常上电要求。
请参考图5，为本实用新型的第二实施例，该实施例和现有技术中方案二相比，区别点在于在每个间隙后面串联一个压敏电阻。
请参考图6，为本实用新型的第三实施例，该实施例和现有技术中方案一相比，区别点在于在每个电容上并联一个压敏电阻。
权利要求1.一种抗浪涌性能测试电路，包括冲击电流发生器，有输出端口A及B，作用为产生冲击电流；耦合网络，所述的耦合网络通过所述冲击电流发生器的输出端口A及B与冲击电路流发生器相连；受试设备，其包括有受试设备电源，接入该受试设备电源有火线(L线)、零线(N线)和地线(PE线)三条线，所述的耦合网络通过所述的三条线与所述的受试电源设备相连；退耦网络，所述的退耦网络并联在L线和N线间，受试设备的电源输入是通过退耦网络后才输入的，所述的退耦网络的作用是防止施加到受试设备上的冲击影响到其他给受试设备供电的供电网络或者电源的电路；其特征在于，所述的耦合网络由串联在L线上的压敏电阻组和串联在N线上的另一个压敏电阻组构成，另外，L线和N线都是与冲击电流发生器输出端子的A端口相连，而PE线则与冲击电流发生器输出端子的B端口相连。
2.如权利要求1所述的电路，其特征在于串联在L线上的压敏电阻组可以是一个压敏电阻或串联起来的至少两个压敏电阻或并联起来的至少两个压敏电阻。
3.如权利要求1所述的电路，其特征在于，串联在N线上的另一个压敏电阻组可以是一个压敏电阻或串联起来的至少两个压敏电阻或并联起来的至少两个压敏电阻。
4.如权利要求1所述的电路，其特征在于，串联在L线上的压敏电阻组和串联在N线上的另一个压敏电阻组的前面还分别串联有间隙。
5.如权利要求4所述的电路，其特征在于，所述的串联在L线上的压敏电阻组和串联在N线上的另一个压敏电阻组都可以是一个压敏电阻或串联起来的至少两个压敏电阻或并联起来的至少两个压敏电阻。
6.如权利要求1所述的电路，其特征在于，串联在L线上的压敏电阻组和串联在N线上的另一个压敏电阻组上还分别并联有电容。
7.如权利要求6所述的电路，其特征在于，所述的串联在L线上的压敏电阻组和串联在N线上的另一个压敏电阻组都可以是一个压敏电阻或串联起来的至少两个压敏电阻或并联起来的至少两个压敏电阻。
专利摘要一种抗浪涌性能测试电路，包括冲击电流发生器，有输出端口A及B，作用为产生冲击电流；耦合网络，所述的耦合网络通过所述冲击电流发生器的输出端口A及B与冲击电路流发生器相连；受试设备，其包括有受试设备电源，接入该受试设备电源有三条线，即L线、N线和PE线，所述的耦合网络通过所述的三条线与所述的受试电源设备相连；退耦网络，所述的退耦网络并联在L线和N线间，受试设备的电源通过退耦网络后输入，其中，所述的耦合网络由串联在L线上的压敏电阻组和串联在N线上的另一个压敏电阻组构成，另外，L线和N线都是与冲击电流发生器输出端子的A端口相连，而PE线则与冲击电流发生器输出端子的B端口相连。
文档编号G01R31/00GK2672666SQ200320126088
公开日2005年1月19日 申请日期2003年11月21日 优先权日2003年11月21日
发明者陈松柏 申请人:华为技术有限公司