专利名称：千分尺量面平行度检查仪的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种千分尺量面平行度检查仪。
背景技术：
千分尺量面平行度要求非常高，检测十分不便。对量程较小的千分尺，目前是使用平行平晶检测，对于大量程的千分尺，由于两测量面距离较大，无法用平晶检查，必需制作相当复杂的检具，用测微表进行检查，测量效率低，适用范围小，检查结果的可信度也不高，限制了大规格千分尺质量的进一步提高。

发明内容
本实用新型的目的是提供一种千分尺量面平行度检查仪。
上述的目的通过以下的技术方案实现千分尺量面平行度检查仪，其组成包括平行平板和架体，所述的架体上具有导轨，所述的导轨上装有左V型定位块和右V型定位块，所述的左V型定位块和右V型定位块上装有被测千分尺，所述的架体上装有X轴调整手轮和Y轴调整手轮。
这个技术方案有以下有益效果1.本实用新型利用光学自准直原理，测量精度高。
2.分划板上的刻值按测量面大小换算成线值，方便读数。
3.光学成像的方法进行非接触测量，对被测千分尺的影响小。
4.利用直角棱镜和直角屋脊棱镜做反射面，可同时反映被测面两个方向上的角度偏差，而且可以在转动千分螺丝的同时进行测量。
5.提供标准平行平板，可以随时校准仪器。


附图1是本产品的结构示意图。
附图2是本产品的测量原理图。
附图3是附图2的F-F剖视图。
附图4是被测表面平行时的成像图。
附图5是被测表面不平行时的成像图。
附图6是十字分划板的十字位置示意图。
附图7是十字分划板的十字位置示意图。
具体实施方式
实施例1千分尺量面平行度检查仪，其组成包括平行平板6和架体22，所述的架体22上具有导轨2，所述的导轨2上装有左V型定位块3和右V型定位块5，所述的左V型定位块3和右V型定位块5上具有被测千分尺4，所述的架体22上装有X轴调整手轮1和Y轴调整手轮7。
上述的千分尺量面平行度检查仪，使用时，将被测量千分尺4放在两V型定位块3和5上，两测量面对着位置21处(位置21为直角棱镜13和直角屋脊棱镜14的安装位置)，通过调整手轮1和7，可以在仪器分划板上找到同一分划板9通过千分尺两测量面反射回来的两个自准直像，这两个像相互偏离的位置差就反映了千分尺两个测量面的平行度。
上述的千分尺量面平行度检查仪，其测量原理灯泡18发出的光通过毛玻璃17照亮十字分划板16，分划板16上的十字像通过分光棱镜10、反光镜11和反光镜15后，通过物镜组12以平行光出射，平行光通过直角棱镜13和直角屋脊棱镜14分别到达被测平面19和被测平面20(如图4)，当两被测平面平行时，两束光ABCDE和A′B′C′D′E′平行返回，再通过物镜、反光镜、分光棱镜，使十字分划板16上的十字像成在目镜分划板2的同一位置上，即通过目镜组8观察时，分划板16上的十字像是重合的。反之，当被测面19和20不平行时，通过直角棱镜13和直角屋脊棱镜14反射回来的光线就不再平行而是成一与两待测面相关的角度(如图5中α)，其结果是通过两棱镜后成在分划板16上的两个十字像偏离一定的距离，它反映了两被测平面的平行度误差大小和方向，为测量读数方便，分划板刻成图6、图7的样子，使用时通过转动分划板，不用计算就可以通过分划板上两十字线间的格值数直接读出测量值。
上述的千分尺量面平行度检查仪，当待测面表面粗糙度较低，不能反射光线时，可以在量面上粘附两片平行平晶的方法来测量，只是限于两棱镜的外形尺寸，可测量平面的最小距离受到限制。
权利要求1.一种千分尺量面平行度检查仪，其组成包括平行平板和架体，其特征是所述的架体上具有导轨，所述的导轨上装有左V型定位块和右V型定位块，所述的左V型定位块和右V型定位块上装有被测千分尺，所述的架体上装有X轴调整手轮和Y轴调整手轮。
专利摘要千分尺量面平行度检查仪。千分尺量面平行度要求非常高，检测十分不便。对量程较小的千分尺，目前是使用平行平晶检测，对于大量程的千分尺，由于两测量面距离较大，无法用平晶检查，必需制作相当复杂的检具，用测微表进行检查，测量效率低，适用范围小，检查结果的可信度也不高，限制了大规格千分尺质量的进一步提高。千分尺量面平行度检查仪，其组成包括平行平板6和架体22，所述的架体22上具有导轨2，所述的导轨2上装有左V型定位块3和右V型定位块5，所述的左V型定位块3和右V型定位块5上装有被测千分尺4，所述的架体22上装有X轴调整手轮1和Y轴调整手轮7。该产品用于检测千分尺。
文档编号G01B3/18GK2767952SQ20042005404
公开日2006年3月29日 申请日期2004年12月23日 优先权日2004年12月23日
发明者李文义, 崔洪烈, 闫爽, 刘世滨, 李淑英 申请人:哈尔滨量具刃具集团有限责任公司