专利名称：恒温老化装置的制作方法
技术领域：
恒温老化装置
技术领域：
本实用新型涉及一种恒温老化装置，特别是涉及一种待测物品受热均勻的恒温老
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背景技术：
随着科技的发展进步，电子产品越来越广泛的应用于家庭和办公场合。而一些电子产品(如笔记本电脑)在出厂前需要经过老化测试，老化测试的目的是使产品的缺陷在出厂前暴露出来，如焊点连接的可靠性，产品在设计、材料和工艺等方面的各种缺陷，以便提高产品的稳定性，在出厂前发现一些缺陷并进行弥补，减少产品的返修率。目前的恒温老化装置，包括恒老化架，待测物品放入老化架中，老化架内设有灯泡，通过打开所述灯泡加热使得所述老化架内达到预设温度(例如40°C)，所述老化架内还设有温控探头，当所述老化架内的温度超过预设温度后，控制所述灯泡关闭，使得所述老化架内自然降温，或者所述老化架一侧还可以包括风扇，于此同时启动风扇加速降温。然而，采用以上恒温老化装置，由于采用灯泡对老化架内直接加热，一方面会造成靠近灯泡的待测物品被烤坏的情形；另一方面会导致老化架内温度不均，使得放置在老化架内的各待测物品的环境会存在差异，温控探头只探测到某个点的温度，进而判断进行加热或者降温也不准确，因此会造成测试结果不准确。PTC(positive temperature coefficient)为正温度系数热敏材料，它具有电阻率随温度升高而增大的特性。PTC材料的理论日趋成熟，应用范围也不断扩大。有鉴于此，实有必要开发一种恒温老化装置，以解决上述问题。

发明内容因此，本实用新型的目的在于提供一种恒温老化装置，可以提供较为准确的测试环境，且待测物品受热均勻，避免烤坏。为了达到上述目的，本实用新型提供的恒温老化装置，包括老化架，其一侧设有开门，所述开门关闭状态，所述老化架内形成封闭空间，所述老化架的一面上设有开口，所述开口在所述老化架的外壁上的两侧凸设有滑槽，所述滑槽内插设有插板，所述插板遮覆所述开口 ；温控探头，其设于所述老化架内，检测所述老化架内的环境温度；继电器，其与所述温控探头连接，获取所述温控探头检测到的环境温度，并与一预设温度比较；电磁阀，其与所述继电器连接，受控于所述继电器；汽缸，其与所述电磁阀连接，所述汽缸具有一伸缩杆，所述伸缩杆的一端连接于所述老化架的插板的一端，所述汽缸受控于所述电磁阀；PTC加热器，其设于所述老化架内靠近底部位置，并与所述继电器连接，当所述继电器判断所述老化架内的环境温度小于所述预设温度时，所述PTC加热器启动加热。[0015]可选的，所述继电器判断所述老化架内的环境温度大于所述预设温度时，所述电磁阀控制所述汽缸的伸缩杆收缩，所述插板从所述滑槽内滑出，所述继电器判断所述老化架内的环境温度小于所述预设温度时，所述电磁阀控制所述汽缸的伸缩杆伸长，所述插板插入所述滑槽。可选的，所述老化架内设有若干个隔板，所述隔板上用以承载待测物品。可选的，所述开口设于所述老化架顶部。可选的，所述恒温老化装置还包括风扇，其设于所述老化架底部，并于所述PTC加热器的下方。可选的，所述老化架内部后方还设有一散热腔，所述PTC加热器及所述风扇设于所述散热腔内。相较于现有技术，利用本实用新型的恒温老化装置，由于采用PTC加热器进行加热，可以提供较为准确的测试环境。同时，由于采用风扇进行均温以及设置散热腔，可以达到增强上述均温的效果。从而亦可以使得待测物品受热均勻，避免烤坏。

图1绘示为本实用新型的恒温老化装置一较佳实施例的第一状态结构示意图。图2绘示为图1的局部放大结构示意图。图3绘示为图2的第二状态示意图。图4绘示为图1中开门隐藏后的结构示意图。
具体实施方式请共同参阅图1、图2、图3、图4，图1绘示为本实用新型的恒温老化装置一较佳实施例的第一状态结构示意图、图2绘示为图1的局部放大结构示意图、图3绘示为图2的第二状态示意图、图4绘示为图1中开门隐藏后的结构示意图。需要说明的是，各示意图中并未显示各元件间的线路连接。为了达到上述目的，本实用新型提供的恒温老化装置，于本实施例，包括老化架100，其一侧设有开门101，所述开门101关闭状态，所述老化架100内形成封闭空间，所述老化架100的一面上设有开口 102，所述开口 102在所述老化架100的外壁上的两侧凸设有滑槽103，所述滑槽103内插设有插板104，所述插板104遮覆所述开口 102 ；温控探头200，其设于所述老化架100内，检测所述老化架100内的环境温度；继电器300，其与所述温控探头200连接，获取所述温控探头200检测到的环境温
度，并与一预设温度比较；电磁阀400，其与所述继电器300连接，受控于所述继电器300 ；汽缸500，其与所述电磁阀400连接，所述汽缸500具有一伸缩杆501，所述伸缩杆501的一端连接于所述老化架100的插板104的一端，所述汽缸500受控于所述电磁阀 400 ；PTC加热器600，其设于所述老化架100内靠近底部位置，并与所述继电器300连接，当所述继电器300判断所述老化架100内温度小于所述预设温度时，所述PTC加热器600启动加热。其中，所述老化架100内设有若干个隔板105，所述隔板105上用以承载待测物品 (图未示)。其中，所述开口 102设于所述老化架100顶部，以方便打开后向外散发热量。其中，较佳的，所述恒温老化装置还包括风扇700，其设于所述老化架100底部，并于所述PTC加热器600的下方。如此可以达到更快更均勻地使所述老化架100内部的环境
温度升高。其中，较佳的，所述老化架100内部后方还设有一散热腔800，所述PTC加热器600 及所述风扇700设于所述散热腔内，通过所述散热腔800将所述PTC加热器600所散发出来的热量向前方传导，如此可以达到更好的均温效果。请再结合参阅图2、图3。其中，所述继电器300判断所述老化架100内温度大于所述预设温度时，所述电磁阀400控制所述汽缸500的伸缩杆501收缩，所述插板104从所述滑槽103内滑出，所述继电器300判断所述老化架100内的环境温度小于所述预设温度时，所述电磁阀400控制所述汽缸500的伸缩杆501伸长，所述插板104插入所述滑槽103。 从而可以通过对开口 102的关闭与打开，实现保温与散热。综上，利用本实用新型的恒温老化装置，由于采用PTC加热器600进行加热，可以提供较为准确的测试环境。同时，由于采用风扇700进行均温以及设置散热腔800，可以达到增强上述均温的效果。从而亦可以使得待测物品受热均勻，避免烤坏。
权利要求1.一种恒温老化装置，其特征在于，包括老化架，其一侧设有开门，所述开门关闭状态，所述老化架内形成封闭空间，所述老化架的一面上设有开口，所述开口在所述老化架的外壁上的两侧凸设有滑槽，所述滑槽内插设有插板，所述插板遮覆所述开口 ；温控探头，其设于所述老化架内，检测所述老化架内的环境温度； 继电器，其与所述温控探头连接，获取所述温控探头检测到的环境温度，并与一预设温度比较；电磁阀，其与所述继电器连接，受控于所述继电器；汽缸，其与所述电磁阀连接，所述汽缸具有一伸缩杆，所述伸缩杆的一端连接于所述老化架的插板的一端，所述汽缸受控于所述电磁阀；PTC加热器，其设于所述老化架内靠近底部位置，并与所述继电器连接，当所述继电器判断所述老化架内的环境温度小于所述预设温度时，所述PTC加热器启动加热。
2.如权利要求1所述的恒温老化装置，其特征在于，所述继电器判断所述老化架内的环境温度大于所述预设温度时，所述电磁阀控制所述汽缸的伸缩杆收缩，所述插板从所述滑槽内滑出，所述继电器判断所述老化架内的环境温度小于所述预设温度时，所述电磁阀控制所述汽缸的伸缩杆伸长，所述插板插入所述滑槽。
3.如权利要求1或2所述的恒温老化装置，其特征在于，所述老化架内设有若干个隔板，所述隔板上用以承载待测物品。
4.如权利要求1或2所述的恒温老化装置，其特征在于，所述开口设于所述老化架顶部。
5.如权利要求1或2所述的恒温老化装置，其特征在于，所述恒温老化装置还包括风扇，其设于所述老化架底部，并于所述PTC加热器的下方。
6.如权利要求5所述的恒温老化装置，其特征在于，所述老化架内部后方还设有一散热腔，所述PTC加热器及所述风扇设于所述散热腔内。
专利摘要本实用新型揭示一种恒温老化装置，包括老化架，其一侧设有开门，所述老化架的一面上设有开口，所述开口在所述老化架的外壁上的两侧凸设有滑槽，所述滑槽内插设有插板；温控探头，其设于所述老化架内，检测所述老化架内的环境温度；继电器，其与所述温控探头连接，获取所述温控探头检测到的环境温度，并与一预设温度比较；电磁阀，其与所述继电器连接，受控于所述继电器；汽缸，其与所述电磁阀连接，且受控于所述电磁阀；PTC加热器，其设于所述老化架内靠近底部位置，并与所述继电器连接，当所述所述老化架内的环境温度小于所述预设温度时，所述PTC加热器启动加热。从而可以提供较为准确的测试环境，且待测物品受热均匀，避免烤坏。
文档编号G01R31/00GK202166704SQ20112025177
公开日2012年3月14日 申请日期2011年7月18日 优先权日2011年7月18日
发明者王忠斌 申请人:神讯电脑(昆山)有限公司