专利名称：三相电相序和缺相检测电路的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种检测电路，尤其涉及一种三相电相序和缺相检测电路。
背景技术：
电力的应用在工业生产和日常生活中已经占据不可缺少的地位，设备依靠三相电工作时往往要求三相电源接入的相序正确性和完整性，在很多实际应用中，人们会在使用设备前进行人工测试相序以及检查是否缺相，现有的电路复杂而且不稳定，成本高，不适宜推广应用。
发明内容为了克服上述缺陷，本实用新型的目的在于提供一种电路简单，制作方便、并可以实现本电路自检的三相电相序和缺相检测电路。为了实现上述目的，本实用新型采用如下技术方案一种三相电相序和缺相检测电路，它包括三组二极管、电阻、光耦串联而成，光耦的输出端接至微处理器。微处理器通过对光耦端的输出波形分析即可完成相序和缺相的检测。本实用新型的有益效果是，本实用新型可以实现三相电的相序和缺相的检测，并可以实现本电路的自检，电路结构简单，制造方便。

图1为本实用新型的电路原理图。
具体实施方式
如图1所示，一种三相电相序和缺相检测电路，它包括三组二极管1、电阻2、光耦 3串联而成，光耦3的输出端接至微处理器4。三相电相序检测电路由于三相电的特性，三相电接入正确后，会在光耦输出端产生有规律的方波，根据三组方波的相位差，即可判断出此时的相序；如果三相电缺相或电路中元件故障时，光耦输出端将会出现持续的高电平，而不会出现有规律的方波，微处器通过对波形的分析即可完成对三相电相序和缺相的检测。
权利要求1. 一种三相电相序和缺相检测电路，其特征在于它包括三组二极管(1)、电阻(2)、光耦(3)串联而成，光耦(3)的输出端接至微处理器(4)。
专利摘要本实用新型涉及一种检测电路，尤其涉及一种三相电相序和缺相检测电路。它包括三组二极管、电阻、光耦串联而成，光耦的输出端接至微处理器。微处理器通过对光耦端的输出波形分析即可完成相序和缺相的检测。本实用新型的有益效果是，本实用新型可以实现三相电的相序和缺相的检测，并可以实现本电路的自检，电路结构简单，制造方便。
文档编号G01R25/00GK202189095SQ20112031285
公开日2012年4月11日 申请日期2011年8月25日 优先权日2011年8月25日
发明者张暑冰, 张艳军 申请人:江西三星阿兰德电器有限公司