专利名称：非接触影像测量装置的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种显微镜测量装置，尤其涉及一种可测量大型工 件的显微镜测量装置。
背景技术：
如图6所示，为现有的显微镜测量装置，由图中可见，该装置设有 一平台9 0,此平台9 0是由操作滚轮9 1而进行X轴与Y轴水平方向 的位移，而显微镜9 2则位于平台上方以滚轮9 1控制Z轴方向的垂直 位移。
然而，现有的显微镜测量装置因平台9 0尺寸较小，因此对于大型 的工件，则无法测量，且现有的显微镜测量装置在调整显微镜倍率及光 源等，皆需手动调整，在操作上非常不方便。
再者，待测量物9 3需以非接触影像测量装置测量，尺寸是相当的 微小，而测量仪器利用显微镜头，其所需的精确度则更为严谨，因此测 量的精准度除装置本身的测量器具精密度外，待测量物9 3于平台9 0 上的定位亦会影响测量，亦即， 一般的待测量物9 3通常放置在平台9 0上，而当操作滚轮9 1使平台进行X轴与Y轴的位移时，待测量物9 3易在位移时造成移位现象(如图7所示)，因此让待测量物9 3于测量 的基准点偏移。
因此，如何解决上述现有的显微镜测量装置，无法测量大型工件及 操作不易与测量精准度失准的问题，即为本实用新型的重点所在。
实用新型内容
本实用新型所要解决的主要技术问题在于，克服现有技术存在的上 述缺陷，而提供一种非接触影像测量装置，其以非接触的方式对大型工 件进行更精细的测量，在操作上非常方便，并在测量时被测物是固定不 动，不易有误差产生。
本实用新型解决其技术问题所采用的技术方案是-一种非接触影像测量装置，其特征在于 一基座，该基座上设有一 大型的平台，供放置大型尺寸的被测物，该基座于该平台两相对侧分别 设有一立柱，且于二立柱间连结一横柱，该横柱由二立柱带动于该平台 上滑移，而该横柱设有一滑座，该滑座是沿该横柱轴向滑移，且该滑座 与该横柱的滑移方向相互垂直，另，该滑座设有一显微镜组，该显微镜组 是沿该滑座轴向移动，供于该平台上方垂直上下位移，且该显微镜组包 括一可旋转的鼻轮及一同轴光源，该鼻轮设有数个不同倍率且朝平台方 向设置的显微镜头，该同轴光源是作为该显微镜头测量时的光源。
前述的非接触影像测量装置，其中更包括有一电脑及一轴控卡，以 全自动方式来控制横柱、滑座以及显微镜组位移，使该显微镜组可相对 该平台进行X、 Y以及Z轴方向的位移，并可控制显微镜组的显微镜头
撷取影像以及自动控制鼻轮旋转调整不同倍率的显微镜头来变倍。
前述的非接触影像测量装置，其中显微镜组是搭载高解析彩色摄影
机以及高速处理影像撷取卡，且以自动对焦控制器自动对焦。
前述的非接触影像测量装置，其中显微镜头是利用同轴光源，于影
像撷取时借由电脑控制其光源亮度。
前述的非接触影像测量装置，其中基座上的平台是以高精度铝合金
或玻璃制成。
本实用新型的有益效果是，其以非接触的方式对大型工件进行更精 细的测量，在操作上非常方便，并在测量时被测物是固定不动，不易有 误差产生。以下结合附图和实施例对本实用新型进一步说明。


图1是本实用新型的立体外观示意图
图2是本实用新型的滑座沿X轴滑动的示意图
图3是本实用新型的立柱带动横柱沿Y轴滑动的示意图
图4是本实用新型采同轴光的显微镜头以及显微镜沿Z轴滑动的示
意图
图5是本实用新型的待测量物于平台定位的示意图 图6是现有的非接触影像测量装置的立体外观示意图图7是现有的非接触影像测量装置的平台滑移导致待测量物位移的 示意图
具体实施方式
请参阅图1至图5 ，图中所示为本实用新型所选用的实施例结构。
本实施例提供一种非接触影像测量装置，其包括
一基座1 ，该基座1上设有一大型的平台1 1 ，供放置大型尺寸的 被测物，该基座l于该平台l 1两相对侧分别设有一立柱3，且于二立 柱3间连结一横柱4，该横柱4由二立柱3带动于该平台1 l上滑移， 而该横柱4设有一滑座5，该滑座5是沿该横柱4轴向滑移，且该滑座
5与该横柱4的滑移方向相互垂直，另该滑座5设有一显微镜组6，该 显微镜组6是沿该滑座5轴向移动，供于该平台1 1上方垂直上下位移， 且该显微镜组6包括一可旋转的鼻轮6 l及一同轴光源6 3，该鼻轮6
1设有数个不同倍率且朝平台方向设置的显微镜头6 2 ，该同轴光源6
3是作为该显微镜头6 2测量时的光源。
在本实施例中，是通过电脑及轴控卡，以全自动方式来控制横柱、 滑座以及显微镜组位移，使该显微镜组可相对该平台进行X、 Y以及Z 轴方向的位移，并可控制显微镜组6的显微镜头6 2撷取影像以及自动 控制鼻轮6 l旋转调整不同倍率的显微镜头6 2来变倍，以进行测量。
再者，在本实施例中，该基座l上的平台l l是以高精度铝合金或 玻璃制成，而该显微镜组6是搭载高解析彩色摄影机以及高速处理影像 撷取卡，且以自动对焦控制器自动对焦，该显微镜头6 l是利用同轴光 源6 3，在影像撷取时借由控制电脑控制其光源亮度。
请参阅图2至图4所示，借由电脑操控该立柱3、滑座5以及显微 镜组6进行X、 Y以及Z轴的位移，并选择所需倍率的显微镜头6 2, 使该显微镜头6 2移动至测量位置后，即可进行非接触方式的测量动作。
由上述的说明不难发现本实用新型的优点，是在于将显微镜组装设 于一大型平台上，且该显微镜组可相对该平台进行X、 Y以及Z轴方向 的位移，以非接触的方式对大型工件进行更精细的测量。
再者，该显微镜组的移动及倍率调整与光源调整皆以电脑自动控制， 在操作上非常方便。另外，由于被测物2是固定于该平台1 l上，而显微镜组6于X、 Y以及Z轴的移动则借由基座1上的立柱3横柱4及滑座5分别执行， 而以被测物的工件不动，以显微镜组移动的方式测量，如图5所示，相 对地被测物2则不会造成于平台1l上滑移的风险，以增加测量时的精度。
权利要求1. 一种非接触影像测量装置，其特征在于一基座，该基座上设有一大型的平台，供放置大型尺寸的被测物，该基座于该平台两相对侧分别设有一立柱，且于二立柱间连结一横柱，该横柱由二立柱带动于该平台上滑移，而该横柱设有一滑座，该滑座是沿该横柱轴向滑移，且该滑座与该横柱的滑移方向相互垂直，另，该滑座设有一显微镜组，该显微镜组是沿该滑座轴向移动，供于该平台上方垂直上下位移，且该显微镜组包括一可旋转的鼻轮及一同轴光源，该鼻轮设有数个不同倍率且朝平台方向设置的显微镜头，该同轴光源是作为该显微镜头测量时的光源。
2. 根据权利要求l所述的非接触影像测量装置，其特征在于更 包括有一电脑及一轴控卡，以全自动方式来控制横柱、滑座以及显微镜 组位移，使该显微镜组可相对该平台进行X、 Y以及Z轴方向的位移， 并可控制显微镜组的显微镜头撷取影像以及自动控制鼻轮旋转调整不同 倍率的显微镜头来变倍。
3. 根据权利要求2所述的非接触影像测量装置，其特征在于所 述显微镜组是搭载高解析彩色摄影机以及高速处理影像撷取卡，且以自 动对焦控制器自动对焦。
4. 根据权利要求2所述的非接触影像测量装置，其特征在于所述显微镜头是利用同轴光源，于影像撷取时借由电脑控制其光源亮度。
5. 根据权利要求l所述的非接触影像测量装置，其特征在于所 述基座上的平台是以高精度铝合金或玻璃制成。
专利摘要一种非接触影像测量装置，一基座，该基座上设有一大型的平台，供放置大型尺寸的被测物，该基座于该平台两相对侧分别设有一立柱，且于二立柱间连结一横柱，该横柱由二立柱带动于该平台上滑移，而该横柱设有一滑座，该滑座是沿该横柱轴向滑移，且该滑座与该横柱的滑移方向相互垂直，另，该滑座设有一显微镜组，该显微镜组是沿该滑座轴向移动，供于该平台上方垂直上下位移，且该显微镜组包括一可旋转的鼻轮及一同轴光源，该鼻轮设有数个不同倍率且朝平台方向设置的显微镜头，该同轴光源是作为该显微镜头测量时的光源。本实用新型以非接触的方式对大型工件进行更精细的测量，在操作上非常方便，并在测量时被测物是固定不动，不易有误差产生。
文档编号G01B9/04GK201273811SQ200820136049
公开日2009年7月15日 申请日期2008年9月27日 优先权日2008年9月27日
发明者杨信杰 申请人:源台精密科技股份有限公司