专利名称：光盘片弯曲试验装置的制作方法
技术领域：
本发明关于一种光盘片弯曲试验装置，特别关于一种通过弯曲试验来检测劣质光盘片的装置。
背景技术：
随着科技的进步，光盘片举凡如CD(Compact Disc)以及DVD(Digital Versatile Disc)等的光学资料储存媒体在市场上的需求量也与日俱增，因此光盘片品质的好坏也成为消费者购买选择时的重要考虑因素。
已知的光盘片的生产过程，包括母板制造、光盘片射出成型、电镀反光层、保护胶形成以及良率检测等数个过程，就最后的良率检测过程来说，其检测范围包括有光盘片是否有金属刮痕、反光层电镀是否均匀、保护胶是否平均黏于光盘片上以及外观是否有刮痕、裂痕、斑点或污点等等，由于光盘片的品质好坏影响光学读写设备读写入资料的成功率，劣质的光盘片在资料读取时会因光学读写设备的高速旋转而造成破片，更甚者，有可能因此而导致光学读写设备的损坏。
造成劣质的光盘片取决于许多因素，例如材质选择不当或不良等，而已知对于检测此类材质差或是具有裂痕的劣质光盘片的方法，通常于生产制程线上采用随机挑选光盘片利用徒手弯曲或是敲击光盘片以进行检测，而由于非机械的检测装置，因此多少因为人为的误差(例如每次使用的力道不同)而造成每次检测的标准不一致，由此，如何能够让检测劣质光盘片的步骤标准化，实乃为当前光盘片检测的重要课题之一。

发明内容
有鉴于上述课题，本发明的目的为提供一种检测劣质光盘片的光盘片弯曲试验装置。
为达上述目的，依本发明的光盘片弯曲试验装置，包括一基座、一施力盖以及至少一第一定位元件。在本发明中，基座具有一凹槽，凹槽自基座的一表面凹设，光盘片放置于凹槽上；施力盖具有一突出部，突出部连接于施力盖的一表面，光盘片通过施力盖的突出部而将其压入凹槽成一弯曲角度；第一定位元件设置于基座的该表面上，第一定位元件与施力盖触接，以使该施力盖的突出部相对位于该凹槽的开口位置。
承上所述，因依本发明的光盘片弯曲试验装置利用一简单的机械结构对待检测光盘片进行弯曲试验，因此能让操作者以均匀施力来检测出劣质的光盘片，更由于操作容易，因此可提供一简易的标准步骤给光盘片生产制造线上检测使用。


图1为一示意图，显示本发明较佳实施例的光盘片弯曲试验装置的爆炸示意图；图2为一示意图，显示依本发明较佳实施例的光盘片弯曲试验装置的组合示意图；图3为一示意图，显示依本发明较佳实施例的光盘片弯曲试验装置进行试验前待测物放置的示意图；图4为一示意图，显示依本发明较佳实施例的光盘片弯曲试验装置的施力盖的示意图；图5为一示意图，显示依本发明较佳实施例的光盘片弯曲试验装置进行试验前待测物放置位置的分解示意图；图6A～6C为一示意图，显示依本发明较佳实施例的光盘片弯曲试验装置进行待测物试验时的剖面示意图。
图中符号说明1 光盘片弯曲装置11 基座111 凹槽1111凹槽的斜面1112斜面的夹角112 基板的表面12 施力盖121 突出部122 施力盖的表面123 通孔124 把手125 缓冲层126 施压面127 施力盖的另一表面13 第一定位元件14 第二定位元件2 待测光盘片具体实施方式
以下将参照相关附图，说明依本发明较佳实施例的光盘片弯曲试验装置，其中相同的元件将以相同的参照符号加以说明。
请参照图1以及图2所示，依本发明较佳实施例的光盘片弯曲试验装置1包括一基座11、一施力盖12、至少一第一定位元件13以及至少一第二定位元件14。
其中，基座11具有一凹槽111，其自基座11的一表面112凹设；施力盖12具有一突出部121，突出部121连接于施力盖12的一表面122，且施力盖12具有至少一通孔123；第一定位元件13设置于基座11的该表面112上，且设于基座11的凹槽111周围；第二定位元件14则设置于凹槽111的开口侧边。
请参照图3所示，在本实施例中，一待测的光盘片2放置于凹槽111上，由第二定位元件14限制光盘片2位于凹槽111的开口上，第一定位元件13与施力盖12触接，以使施力盖12的突出部121相对位于凹槽111的开口位置，光盘片2则通过施力盖12的突出部121将其压入凹槽111成一弯曲角度，以进行弯曲试验。
承上所述，如图4所示，施力盖12更包含一缓冲层125，其贴附于突出部的一施压面126上，此施压面126为施力盖12将光盘片2压入凹槽111时，突出部121与光盘片2的接触面，缓冲层125的材质可以为泡绵或是橡胶，用以缓冲施力盖12对光盘片2施压时的力道，另外，施力盖12包含一把手124，其相对于突出部121连接于施力盖12的另一表面127上，用以方便操作者弯曲试验进行时施力盖12的提取与放入。
如图5所示，在本实施例中，第一定位元件13呈一柱状，当试验进行时，第一定位元件13穿设过施力盖12的通孔123，以使突出部121位于凹槽111开口之上，第二定位元件14呈片状，限制光盘片2于凹槽111的开口上，以利施力盖12将光盘片2压入凹槽111中，在本实施例中，凹槽的底部至少具有两斜面1111，且斜面1111的夹角1112角度约为90度，另外，此凹槽111也可为一方形凹槽，且施力盖的突出部121垂直施压面126的一剖面形状可为三角形或是长条形。
为使本发明的内容更容易理解，以下将参考图6A～6C，并举一实例，以说明利用本发明较佳实施例的光盘片弯曲试验装置1来测试一劣质光盘片2的步骤，其利用机械结构将光盘片2进行弯曲以检测出材质差或是具裂痕的劣质光盘片。
如图6A所示，本发明较佳实施例的光盘片弯曲试验装置1将一待检测的光盘片2放置于基座11的凹槽111开口上，且由凹槽111开口侧边的第二定位元件14限制光盘片2的一表面于凹槽111开口上。
如图6B所示，弯曲试验开始进行前，施力盖12的通孔123与第一定位元件13相对穿设过而触接，使施力盖12的突出部121同时相对位于基座11凹槽111开口之上，且突出部121面向待测光盘片2的中线，如图6C所示，弯曲试验进行时，操作者可利用施力盖12上的把手124，将施力盖12沿第一定位元件13对待测光盘片2施压，此时，施力盖12的突出部121可与凹槽111兼容而沿光盘片2的中线使待测光盘片2受一均匀力道压入凹槽111中成一弯曲角度，由于突出部121与光盘片2的接触面上包含一缓冲层125，因此能够缓冲人为施压的力量。
最后，经由施力盖12的把手124将施力盖12提起，检测施压的后的光盘片2是否因材质太脆或是具有裂痕而发生破片现象，因而可将制程中品质不佳的光盘片检验出而加以处理或报废。
综合上述，本发明的光盘片弯曲试验装置利用一简单的机械结构，对待测光盘片施压后进行弯曲试验，若光盘片的制作材质不佳或是具有裂痕等因素，此光盘片将通过此弯曲试验造成的破片现象而检验出，此光盘片弯曲试验装置将提供了一标准且简易的检测步骤供光盘片生产制造线上使用。
以上所述仅为举例性，而非为限制性者。任何未脱离本发明的精神与范畴，而对其进行的等效修改或变更，均应包含于所述的权利要求范围中。
权利要求
1.一种光盘片弯曲试验装置，其检测一劣质光盘片，其特征在于，包含一基座，其具有一凹槽，该凹槽自该基座的一表面凹设，该光盘片放置于该凹槽上；一施力盖，其具有一突出部，该突出部连接于该施力盖的一表面，该光盘片通过该施力盖的突出部而将其压入该凹槽成一弯曲角度；以及至少一第一定位元件，其设置于该基座的该表面上，该第一定位元件与该施力盖触接，以使该施力盖的突出部相对位于该凹槽的开口位置。
2.如权利要求1所述的光盘片弯曲试验装置，其中该第一定位元件呈一柱状，其设立于该基座的凹槽周围，而该施力盖具有至少一通孔，该第一定位元件穿设该通孔。
3.如权利要求1所述的光盘片弯曲试验装置，其特征在于，更包含一第二定位元件，其呈片状，且该第二定位元件设置于该凹槽的开口侧边。
4.如权利要求1所述的光盘片弯曲试验装置，其中该凹槽的底部至少具有两斜面，该等斜面的夹角角度约为90度。
5.如权利要求1所述的光盘片弯曲试验装置，其中该凹槽为一方形沟槽。
6.如权利要求1所述的光盘片弯曲试验装置，其中该突出部的一剖面形状呈三角形。
7.如权利要求1所述的光盘片弯曲试验装置，其中该突出部的一剖面形状呈长条形。
8.如权利要求1所述的光盘片弯曲试验装置，其中该施力盖包含一缓冲层，该缓冲层贴附于该突出部的一施压面上，该施压面为该施力盖将该光盘片压入凹槽时，该突出部与该光盘片的接触面。
9.如权利要求8所述的光盘片弯曲试验装置，其中该缓冲层的材质为一泡绵、或是为一橡胶。
10.如权利要求1所述的光盘片弯曲试验装置，其中该施力盖具有一把手，该把手相对于该突出部连接于该施力盖的另一表面上。
全文摘要
一种光盘片弯曲试验装置，其检测一劣质光盘片，且包括一基座、一施力盖以及至少一第一定位元件。其中，基座具有一凹槽，凹槽自基座的一表面凹设，光盘片放置于凹槽上；施力盖具有一突出部，突出部连接于施力盖的一表面，光盘片通过施力盖的突出部而将其压入凹槽成一弯曲角度；第一定位元件设置于基座的该表面上，第一定位元件与施力盖触接，以使施力盖的突出部相对位于该凹槽的开口位置。本发明是利用一简单的机械结构对待检测的光盘片进行弯曲试验，可以让操作者以均匀施力来检测出劣质的光盘片。
文档编号G01N3/20GK1724992SQ200410069928
公开日2006年1月25日 申请日期2004年7月19日 优先权日2004年7月19日
发明者赖昭平, 潘亭妤, 王茂贵 申请人:精碟科技股份有限公司