专利名称：连接器连接检查电路及方法、显示装置及其制造方法
技术领域：
本发明涉及连接器连接检查电路、显示装置、连接器连接检查方法以及显示装置的制造方法，更详细地说，涉及用于检测进行多个信号线的电连接的连接器的异常连接的连接器连接检查电路、包括该连接器连接检查电路的显示装置、连接器连接检查方法以及使用了该连接器连接检查方法的显示装置的制造方法。
背景技术：
在以液晶显示装置等的显示装置为首的电子设备中，为了信号的发送接收，使用通过多个信号线来同时连接两个基板之间或部件与基板之间的连接器而进行连接。例如，在显示装置中，从显示面板延伸的FPC (Flexible Printed Circuits,挠性印制电路)与用于中继来自信号发生电路的信号的中继基板经由连接器而连接。由于近年来的电子设备的 小型化和复杂化，这样的连接器存在信号线之间变窄的倾向，存在会发生连接的不可靠的危险。图8 图11是用于说明连接的不可靠的例子的图。第I连接器810和第2连接器820是将基板700和FPC900电连接的连接器，在图8中表示了第I连接器810和第2连接器820正常地连接的情况。基板700侧的第I连接器810具有作为多个端子的多个衬垫(pad) 81，FPC900侧的第2连接器820具有同样地作为多个端子的多个衬垫82。在该图8中，以在衬垫81上载放衬垫82的方式接触，成为了各自的信号线导通的正常的接触状态。图 Γ图11是用于说明第I连接器810和第2连接器820的异常连接的图。图9表示在连接的第I连接器810和第2连接器820中混入了异物950的情况，这里，由于异物950处于相邻的衬垫之间，所以这些衬垫会短路。图10表示第2连接器820与第I连接器810偏离而连接的情况。此时，由于衬垫81和82没有接触，所以成为非导通。图11表示第2连接器820倾斜地插入第I连接器810时的情况。此时，会发生如下情况因不应接触的衬垫81和82之间的接触而产生的短路、相邻的衬垫之间的短路以及应接触的衬垫81和82的非接触而产生的非导通。专利文献I的目的在于，防止对喷墨头连接的挠性电缆的斜差，其公开了经由挠性电缆而施加5V，在确认了该5V的反馈之后，进行36. 5V的施加的方法。现有技术文献专利文献专利文献1:日本特开2006-092868号公报例如，在将从显示装置的显示面板延伸的FPC与中继基板进行连接的连接器中发生了如上所述的异常连接的情况下，不仅会破坏在显示面板上配置的驱动器IC(Integrated Circuit,集成电路),而且还存在会导致发热着火的危险。此外，即使有轻微的损伤而不至于破坏的情况下，也不能否定通过检查、可靠性低下的产品面市的可能性。此外，虽然如专利文献I所示的检查是有效的，但在这个检查中，能够检测连接器中的特定的衬垫的导通/非导通，但难以检测异物的混入或连接器的偏离而产生的相邻端子的接触。

发明内容
本发明是鉴于上述的情况而完成的，其目的在于，提供一种能够有效地检查连接器的连接的连接器连接检查电路、显示装置、连接器连接检查方法以及显示装置的制造方法。本发明的连接器连接检查电路的特征在于，包括第I连接器，具有多个端子；第1信号线，该第I信号线是分别电连接到所述第I连接器的所述多个端子的多个信号线；第2连接器，具有与所述第I连接器的各个端子可插拔地电连接的多个端子；第2信号线，该第2信号线是分别电连接到所述第2连接器的各个端子的多个信号线;第I计测端子，该第I计测端子是在所述第I信号线的多个信号线中、除了连接到所述第I连接器的规定的两个端子的信号线之外的一部分信号线分别经由晶体管的源极和漏极而连接的一个端子；第2计测端子，该第2计测端子是在所述第I信号线的多个信号线中、除了连接到所述第I连接器的所述规定的两个端子的信号线之外的剩余的信号线分别经由晶体管的源极和漏极而连接的一个端子；以及一个栅极信号线，共同连接到所述晶体管的各个栅极，在所述第I信号线中、连接到所述第I连接器的所述规定的两个端子的两个信号线中的一个连接到所述第I计测端子，在所述第2信号线中、连接到与所述第I连接器的所述规定的两个端子对应的所述第2连接器的两个端子的两个信号线相互电连接。此外，也可以在本发明的连接器连接检查电路中，所述一部分信号线的各个信号线与所述剩余的信号线的各个信号线交替地连接到所述第I连接器的多个排列的端子。此外，也可以在本发明的连接器连接检查电路中，在检查时，对在所述第I信号线中、连接到所述第I连接器的所述规定的两个端子的两个信号线中的另一个施加规定的电位，且对所述栅极信号线施加使所述源极和漏极导通的电位。此外，也可以在本发明的连接器连接检查电路中，所述规定的两个端子是所述第I连接器的两端的端子。本发明的显示装置包括显示面板；中继基板，对所述显示面板发送影像信号；挠性印制基板，将所述显示面板和所述中继基板连接；以及上述的连接器连接检查电路中的任一个连接器连接检查电路，用于检查所述中继基板和所述挠性印制基板通过连接器的连接。本发明的连接器连接检查方法进行第I连接器和第2连接器的连接检查，所述第I连接器具有作为多个信号线的第I信号线的各个信号线分别电连接的多个端子，所述第2连接器具有作为多个信号线的第2信号线的各个信号线分别电连接且与所述第I连接器的各个端子可插拔地电连接的多个端子，所述连接器连接检查方法包括端子连接检查步骤，连接到所述第2连接器的规定的两个端子的所述第2信号线中的两个信号线相互电连接，对连接到与所述规定的端子对应的所述第I连接器的两个端子中的一个端子的信号线施加规定的电压，检查在连接到所述第I连接器的两个端子中的另一个端子的信号线中是否计测出所述施加的电压；以及邻接端子短路检查步骤，在所述第I信号线的多个信号线中，在所述第I连接器的端子的排列中、连接到包括所述另一个端子的隔一个的端子的信号线共同连接，对所述一端施加规定的所述电压，检查在所述隔一个的端子之间的各个端子共同电连接的信号线中是否计测出所述施加的电压。此外，也可以在本发明的连接器连接检查方法中，所述端子连接检查步骤和所述邻接端子短路检查步骤并行进行。此外，也可以在本发明的连接器连接检查方法中，对连接到除了所述第I连接器的两个端子之外的端子的信号线进行插入，使得分别连接晶体管的源极和漏极，在所述邻接端子短路检查步骤中，对所述晶体管的栅极施加源极和漏极的导通电压，并计测电压。此外，也可以在本发明的连接器连接检查方法中，所述规定的两个端子是所述第2连接器的两端的端子。本发明的显示装置的制造方法包括显示面板制造步骤，使用形成了薄膜晶体管的玻璃基板来制造显示面板；中继基板准备步骤，准备用于将影像信号发送到所述显示面板的中继基板；连接步骤，将所述显示面板和所述中继基板通过挠性电缆连接；以及使用了上述的连接器连接检查方法中的任一个连接器连接检查方法的检查步骤，检查所述中继基板和所述挠性电缆的连接。


图1是表示本发明的一实施方式的显示装置的图。图2是用于说明在图1的显示装置中影像信号的传递的图。图3是示意性地表示图2的连接器及其周边电路的电连接的图。图4是表示连接器的连接的检查步骤的流程图。图5是表示图4的流程图的变形例的图。图6是表示显示装置的制造步骤的流程图。图7是表示连接器及其周边电路的电连接的其他例子的图。图8是表示第I连接器和第2连接器正常连接的情况的图。图9是表示在连接的第I连接器和第2连接器之中混入了异物的情况的图。图10是表示第2连接器与第I连接器偏离而连接的情况的图。图11是表示第2连接器倾斜地插入到第I连接器的情况的图。标号说明30a 30g布线、31b 31f晶体管、32栅极线、41a 41g衬垫、42a 42g衬垫、50a 50g布线、100显示装置、110上部框架、120下部框架、145扁形电缆、150影像信号发生器、200显示面板、210显示区域、300中继基板、410第I连接器、420第2连接器
具体实施例方式以下，参照

本发明的实施方式。另外，在附图中，对于相同或者相等的元素赋予相同的标号，省略重复的说明。图1是表示本发明的一实施方式的显示装置100的图。这里，显示装置包括液晶显不装置、有机EL (Electro-Luminescent,电发光)显不装置等的、通过各个像素成为与灰度值对应的亮度而进行显示的显示装置。如该图所示，显示装置100包括将显示面板200以夹持的方式固定的上部框架110和下部框架120 ;将影像信息变换为能够在显示面板200中显示的格式的中继基板300;以及将在该中继基板300中变换的信息传递到显示面板200的挠性印制基板(FPC) 500。图2是用于说明在图1的显示装置100中影像信号的传递的图。如该图2所示，在影像信号发生器150中生成的影像信号经由扁形电缆145而传递到中继基板300。在中继基板300中，将在影像信号发生器150中生成的影像信号变换为能够在显示面板200中显示的格式，并通过耦合的第I连接器410和第2连接器420经由FPC500而传输到显示面板200。在显示面板200中，通过驱动IC (Integrated Circuit,集成电路)220在规定的时钟动作，从而在显示区域210中显示基于影像信号的图像。图3是示意性地表示图2的第I连接器410和第2连接器420及其周边电路的电连接的图。第I连接器410与中继基板300固定地连接成为一体，第2连接器420与FPC500固定地连接成为一体，第I连接器410和第2连接器420可插拔地连接。如该图所示，第I连接器410具有衬垫41a 41g，该衬垫41a 41g是在中继基板300的第I布线(第I信号线)30a^30g电连接的信号线的方向上交替地错开而排列的7个端子，第2连接器420具有衬垫42a 42g，该衬垫42a 42g是在FPC500的第2布线(第2信·号线)50a飞Og电连接的信号线的方向上交替地错开而排列、且用于与第I连接器410的衬垫41a 41g分别接触的端子。若第I连接器410和第2连接器420正常地连接，则与第I连接器410的衬垫41a 41g对应的第2连接器420的衬垫42a 42g接触，且分别电连接。在FPC500中，分别连接到第2连接器420的两端的衬垫42a和42g的第2布线50a和50g相互电连接。此外，在中继基板300中，除了连接到在第I连接器410中两端的衬垫41a和41g的第I布线30a和30g之外的第I布线30lT30f分支而分别连接到晶体管31b^31f的源极和漏极中的其中一个。此外，晶体管31c和31e的源极和漏极中的另一个连接到计测点MP1，晶体管31b、31d以及31f的源极和漏极中的另一个连接到计测点MP2，各个晶体管31lT31f的栅极连接到共同的栅极线32。另外，在本实施方式中，使用了若对栅极施加高电压则导通的η型的晶体管，但也可以是使用了 P型的晶体管的结构。此外，第I布线30g与计测点MPl连接，第I布线30a和栅极线32与分别施加电压的施加点APl和AP2连接。在图3中，通过对开关的设定进行组合，没有连接到这些点的用虚线表示的布线能够经由具有高阻抗的元件而接地。在以后的检查步骤的说明中，假设经由具有高阻抗的元件而接地。接着，说明使用如图3所示那样连接的连接器周边电路，检查第I连接器410和第2连接器420的连接的方法。图4是表示第I连接器410和第2连接器420的连接的检查步骤SlOO的流程图。另外，在该流程图中记载的处理是使用在未图示的存储装置中保存的程序并使用未图示的处理装置而执行。如该流程图所示，首先，在步骤Sll中，对施加点APl施加高电压，在步骤S12中，确认在计测点MPl中是否检测出高电压。由此，能够确认第I连接器410的两端的衬垫41a和41g与第2连接器420的两端的衬垫42a和42gh分别电连接的情况，检查连接器两端的连接。在步骤S12中为否定的判定的情况下，转移到步骤S15，由于连接器的连接检查不合格所以显示检查错误等，结束检测步骤S100。另一方面，在是肯定的判定的情况下，进入步骤S13，对施加点AP2施加高电压，接着在步骤S14中，检查在计测点MP2中是否检测出低电压。这里，若对施加点AP2施加高电压，则晶体管31lT31f导通，在步骤S12中对施加点API施加的高电压从第I布线30a经由第2布线50a、第2布线50g、第I布线30g、晶体管31e以及31c，将衬垫41e和41c的电压作为高电压。因此，与该路径中的衬垫41a和41g对应地,衬垫41a、41c、41e以及41g成为高电压，在这些衬垫之间的衬垫41b、41d以及41f维持低电压，所以在相邻的衬垫中的任一个短路的情况下，在计测点MP2中检测出高电压。这里，在计测点MP2中检测出高电压，在步骤S14中为否定的判定的情况下，转移到步骤S15，连接器的连接检查成为不合格并显示检查错误等，结束检查步骤S100。另一方面，在检测出低电压的情况下，在步骤S16中进行检查合格的处理，结束检查步骤S100。在检查为不合格的情况下，也可以进行连接器的重新连接等，再次重复检查步骤S100。这里，如图5的流程图所示，采用将图4的步骤S13与步骤Sll同时进行的步骤S21，也能够进行同样的检查。图6是表示显示装置100的制造步骤的流程图。如该流程图所示，首先，在步骤S51的显示面板制造步骤S51中，制造由有源矩阵基板构成的显示面板200。接着，在步骤S52中，制造用于将影像信息变换为能够在显示面板200中显示的格式的中继基板300，从而进行准备，在步骤S53中，将制造的显示面板200和中继基板300通过FPC500连接。在接下来的步骤SlOO中，实施在图4中说明的检查步骤S100，确认FPC500与中继基板300的连接。这里，在检查为不合格的情况下，也可以进行连接器的重新连接等，再次重复检查步骤S100。最终，在步骤S54的显示装置组装步骤中，在确认了连接的显示面板200上安装上部框架110、下部框架120等，完成显示装置，结束显示装置制造步骤。另外，在本实施方式中，为了说明，第I连接器410和第2连接器420的衬垫的数目为7个，但衬垫的数目并不限定于此，或多或少都可以。此外，衬垫的排列为2列，但也可以按I列依次排列，也可以按3列以上排列而配置。此时，也需要对相邻的衬垫交替地施加高电位和低电位。另外，在本实施方式中，将连接到第2连接器的两端的衬垫的第2布线的信号线相互连接，但也可以如图7所示，根据第I连接器430和第2连接器440的衬垫数的合计为偶数等的理由，使用在第2布线中连接到不是第2连接器的两端的端子的端子的2个信号线51c和51g连接的FPC510，在中继基板310中，对连接到从端部起第2个布线35c的施加点APl施加电压。
权利要求
1.一种连接器连接检查电路，其特征在于，包括第I连接器，具有多个端子；第I信号线，该第I信号线是分别电连接到所述第I连接器的所述多个端子的多个信号线；第2连接器，具有与所述第I连接器的各个端子可插拔地电连接的多个端子；第2信号线，该第2信号线是分别电连接到所述第2连接器的各个端子的多个信号线； 第I计测端子，该第I计测端子是在所述第I信号线的多个信号线中、除了连接到所述第I连接器的规定的两个端子的信号线之外的一部分信号线分别经由晶体管的源极和漏极而连接的一个端子；第2计测端子，该第2计测端子是在所述第I信号线的多个信号线中、除了连接到所述第I连接器的所述规定的两个端子的信号线之外的剩余的信号线分别经由晶体管的源极和漏极而连接的一个端子；以及一个栅极信号线，共同连接到所述晶体管的各个栅极，在所述第I信号线中、连接到所述第I连接器的所述规定的两个端子的两个信号线中的一个连接到所述第I计测端子，在所述第2信号线中、连接到与所述第I连接器的所述规定的两个端子对应的所述第 2连接器的两个端子的两个信号线相互电连接。
2.如权利要求1所述的连接器连接检查电路，其特征在于，所述一部分信号线的各个信号线与所述剩余的信号线的各个信号线交替地连接到所述第I连接器的多个排列的端子。
3.如权利要求1所述的连接器连接检查电路，其特征在于，在检查时，对在所述第I信号线中、连接到所述第I连接器的所述规定的两个端子的两个信号线中的另一个施加规定的电位，且对所述栅极信号线施加使所述源极和漏极导通的电位。
4.如权利要求1至3的任一项所述的连接器连接检查电路，其特征在于，所述规定的两个端子是所述第I连接器的两端的端子。
5.一种显示装置，包括显示面板；中继基板，对所述显示面板发送影像信号；挠性印制基板，将所述显示面板和所述中继基板连接；以及权利要求1所述的连接器连接检查电路，用于检查所述中继基板和所述挠性印制基板通过连接器的连接。
6.一种连接器连接检查方法，进行第I连接器和第2连接器的连接检查，所述第I连接器具有作为多个信号线的第I信号线的各个信号线分别电连接的多个端子，所述第2连接器具有作为多个信号线的第2信号线的各个信号线分别电连接且与所述第I连接器的各个端子可插拔地电连接的多个端子，所述连接器连接检查方法包括端子连接检查步骤，连接到所述第2连接器的规定的两个端子的所述第2信号线中的两个信号线相互电连接，对连接到与所述规定的端子对应的所述第I连接器的两个端子中的一个端子的信号线施加规定的电压，检查在连接到所述第I连接器的两个端子中的另一个端子的信号线中是否计测出所述施加的电压；以及邻接端子短路检查步骤，在所述第I信号线的多个信号线中，在所述第I连接器的端子的排列中、连接到包括所述另一个端子的隔一个的端子的信号线共同连接，对所述一端施加规定的所述电压，检查在所述隔一个的端子之间的各个端子共同电连接的信号线中是否计测出所述施加的电压。
7.如权利要求6所述的连接器连接检查方法，其特征在于，所述端子连接检查步骤和所述邻接端子短路检查步骤并行进行。
8.如权利要求6所述的连接器连接检查方法，其特征在于，对连接到除了所述第I连接器的两个端子之外的端子的信号线进行插入，使得分别连接晶体管的源极和漏极，在所述邻接端子短路检查步骤中，对所述晶体管的栅极施加源极和漏极的导通电压， 并计测电压。
9.如权利要求6至8的任一项所述的连接器连接检查方法，其特征在于，所述规定的两个端子是所述第2连接器的两端的端子。
10.一种显示装置的制造方法，包括显示面板制造步骤，使用形成了薄膜晶体管的玻璃基板来制造显示面板；中继基板准备步骤，准备用于将影像信号发送到所述显示面板的中继基板；连接步骤，将所述显示面板和所述中继基板通过挠性电缆连接；以及使用了权利要求6所述的连接器连接检查方法的检查步骤，检查所述中继基板和所述挠性电缆的连接。
全文摘要
一种能够有效地检查连接器的连接的连接器连接检查电路及方法、显示装置及其制造方法。连接器连接检查电路包括第1连接器(410)，具有分别连接了第1信号线(30)的各个信号线的多个端子；第2连接器(420)，具有分别连接了第2信号线(50)的各个信号线且与第1连接器的各个端子可插拔地连接的多个端子；第1计测端子，是除了连接到第1连接器的两端的端子的信号线之外的一部分信号线分别经由晶体管(31)的源极和漏极而连接的一个端子；以及第2计测端子，是该一部分信号线之外的剩余的信号线分别经由晶体管的源极和漏极而连接的一个端子，连接到第1连接器的两端的端子的两个信号线中的一个连接到第1计测端子，连接到第2连接器的两端的端子的两个信号线相互电连接。
文档编号G01R31/02GK102998576SQ20121033233
公开日2013年3月27日 申请日期2012年9月10日 优先权日2011年9月9日
发明者紫垣匠, 长尾将志 申请人:株式会社日本显示器东