专利名称：一种电极的校验治具的制作方法
技术领域：
一种电极的校验治具技术领域[0001]本实用新型属于模具加工领域，尤其是涉及一种电极的校验治具。
背景技术：
[0002]在模具的生产过程中需要对制作模具的电极进行检验，在现有的技术中一般采用将电极放在校验支座后，通过校验支座的中间的孔找电极的中心，然后再对电极进行测量， 存在检验精度不够高，偏差较大等技术问题。发明内容[0003]本实用新型要解决的问题是提供一种电极的校验治具，尤其适合在对电极的检测和校验中使用。[0004]为解决上述技术问题，本实用新型采用的技术方案是一种电极的校验治具，包括底座，所述底座上设有校验台，所述校验台上设有支撑柱，所述支撑柱上设有支座，所述支座的一个侧面活动连接有螺纹柱。[0005]进一步的，所述校验台为圆形。[0006]进一步的，所述支撑柱为四个，关于校验台的中心对称。[0007]进一步的，所述支座为U型。[0008]进一步的，所述螺纹柱为四个。[0009]本实用新型具有的优点和积极效果是由于采用上述技术方案，将待校验的电极用螺纹柱固定在支座上再分中，可以很方便的对电极进行打平和找中心，有效地减小误差； 具有结构简单，使用方便，检测效率高等优点。


[0010]图I是本实用新型一种电极的校验治具的结构示意图。[0011]图中[0012]I、底座 2、校验台 3、支撑柱[0013]4、支座 5、螺纹柱 6、电极具体实施方式
[0014]如图I所示，本实用新型一种电极的校验治具，包括底座1，所述底座I上设有校验台2，所述校验台2为圆形，所述校验台2上设有支撑柱3，所述支撑柱3为四个，关于校验台2的中心对称，所述支撑柱3上设有支座4，所述支座4为U型，所述支座4的一个侧面活动连接有螺纹柱5，所述螺纹柱5为四个。[0015]本实例的工作过程使用时，将待校验的电极6放入支座4上用螺纹柱5固定后， 可以很方便的对电极6进行打平和找中心，有效地减小误差。[0016]以上对本实用新型的一个实施例进行了详细说明，但所述内容仅为本实用新型的较佳实施例，不能被认为用于限定本实用新型的实施范围。凡依本实用新型申请范围所作的均等变化与改进等，均应仍归属于本实用新型的专利涵盖范围之内。
权利要求1.一种电极的校验治具，其特征在于包括底座，所述底座上设有校验台，所述校验台上设有支撑柱，所述支撑柱上设有支座，所述支座的一个侧面活动连接有螺纹柱。
2.根据权利要求I所述的一种电极的校验治具，其特征在于所述校验台为圆形。
3.根据权利要求I所述的一种电极的校验治具，其特征在于所述支撑柱为四个，关于校验台的中心对称。
4.根据权利要求I所述的一种电极的校验治具，其特征在于所述支座为U型。
5.根据权利要求I所述的一种电极的校验治具，其特征在于所述螺纹柱为四个。
专利摘要本实用新型提供一种电极的校验治具，包括底座，所述底座上设有校验台，所述校验台为圆形，所述校验台上设有支撑柱，所述支撑柱为四个，关于校验台的中心对称，所述支撑柱上设有支座，所述支座为U型，所述支座的一个侧面活动连接有螺纹柱，所述螺纹柱为四个。本实用新型的有益效果是将待校验的电极用螺纹柱固定在支座上再分中，可以很方便的对电极进行打平和找中心，有效地减小误差；具有结构简单，使用方便，检测效率高等优点。
文档编号G01B21/00GK202814366SQ201220466148
公开日2013年3月20日 申请日期2012年9月13日 优先权日2012年9月13日
发明者王立征 申请人:天津市瑞福科技发展有限公司