专利名称:显影磁辊表磁测量装置的制作方法
技术领域:
本实用新型涉及一种磁特性测量装置,特别涉及用于复印机、激光打印机的显影磁辊表磁测量装置。
背景技术:
复印机、激光打印机的显影磁辊,一般是通过显影磁辊内的磁体将墨粉吸附在显影套筒表面,又通过磁辊上的四个磁极中的主磁极(轴向磁极中心与感光鼓中心相交)在显影偏压的作用下使墨粉吸附在感光鼓上达到显影目的。因此,精确的测量显影磁辊的磁极表磁和磁极轴向均勻性,是保证显影磁辊正常工作的重要技术。目前多采用为手持式的测量方法,存在着测量不准,效率不高,测量数据重复性差且无法测量显影磁辊轴向磁场均勻性等问题。
发明内容本实用新型要解决的问题是提供一种显影磁辊表磁测量装置,借助该装置,不仅使显影磁辊表磁的测量操作简单,测量数据准确,而且还可以很方便地测量显影磁辊轴向磁场均勻性。本实用新型采取的技术方案是一种显影磁辊表磁测量装置,包括底板、两根导轨轴、带两个通孔的滑座、底座、调整座、带有探头孔的调整块、调节螺丝、一对导轨轴支撑架、 一对V型工件支架,所述的一对导轨轴支撑架和一对V型工件支架分别对称设置在所述底板的两端;两根导轨轴分别穿过滑座上的通孔设置在导轨轴支撑架上;所述底座的一端通过连接轴与滑座绞连;所述调整座是一个有一定厚度且上壁开有通孔的金属框架,垂直设置在底座上;所述调整块是一非金属长方体,垂直设置在调整座的框架内,所述调节螺丝穿过调整座上壁的通孔与调整块螺纹连接;在调整块上的探头孔的一侧设置探头固定螺丝。本实用新型的使用,改变了传统的一手持探头,一手持磁辊的测量方式,不仅测量数据重复性强,测量结果准确,而且使显影磁辊磁场轴向均勻性的测量变得简单。
图1是本实用新型正面结构示意图。图2是本实用新型的右视图。图3是本实用新型底板俯视图。
具体实施方式
参考图1和图2,显影磁辊表磁测量装置,包括底板1、两根导轨轴2、带两个通孔的滑座3、底座4、调整座5、带有探头孔9的调整块6、一对导轨轴支撑架11、一对V型工件支架12,在底板1的两端,对称打有8个长孔,导轨轴支撑架11和V型工件支架12通过调节垫板16固定在长孔中;在滑座3中间设置两个通孔,两根导轨轴2分别穿过通孔固定导轨轴支撑架11上;底座4的一端通过连接轴13与滑座3绞连,另一端不连接;调整座5是一个有一定厚度的金属框架,垂直设置在滑座3上;调整块6是一尼龙长方体,垂直设置在调整座5的框架内;在调整座4的上壁打了一个通孔,上下调节螺丝7的螺母设置在调整座的上端,螺丝端穿过通孔与调整块5螺纹连接,为方便调整探头10的前后位置,在调整块6 上探头孔9的一侧设置探头固定螺丝8。参考图3,在的底板1两端对称设置多个长孔1-1,根据不同型号显影磁辊的需要, 将导轨轴支撑架和V型工件支架均通过调节垫板16固定在适当的长孔中1-1中。参考图1、图2,测量时,拧松探头固定螺丝8,将测试探头10放进探头孔9中,向上搬动调整座5,将工件15平放在V型工件支架12,放下调整座5,根据工件直径大小,将探头前后移动,同时调整上下调节螺丝7,探头10刚与工件15的表面接触为测量的最佳位置,拧紧上下调节螺丝7和探头固定螺丝8开始测量,左右移动滑座3,分别测试工件不同位置的表磁。
权利要求1.一种显影磁辊表磁测量装置,其特征在于包括底板(1)、两根导轨轴(2)、带两个通孔的滑座(3)、底座(4)、调整座(5)、带有探头孔(9)的调整块(6)、调节螺丝(7)、一对导轨轴支撑架(11 )、一对V型工件支架(12),所述的一对导轨轴支撑架(11)和一对V型工件支架(12)分别对称设置在所述底板(1)的两端;两根导轨轴(2)分别穿过滑座(3)上的通孔设置在导轨轴支撑架(11)上;所述底座(4)的一端通过连接轴(13)与滑座(3)绞连;所述调整座(5)是一个有一定厚度且上壁开有通孔的金属框架,垂直设置在底座(4)上;所述调整块(6)是一非金属长方体,垂直设置在调整座(5)的框架内,所述调节螺丝(7)穿过调整座(5)上壁的通孔与调整块(6)螺纹连接;在调整块(6)上的探头孔(9)的一侧设置探头固定螺丝(8)。
2.如权利要求1所述的显影磁辊表磁测量装置,其特征在于在所述的底板(1)两端对称设置多个长孔(1-1),所述的导轨轴支撑架(11)和V型工件支架(1 均通过调节垫板 (15)固定在长孔(1-1)中。
专利摘要本实用新型涉及一种显影磁辊表磁测量装置,一对导轨轴支撑架和一对V型工件支架分别对称设置在底板的两端;两根导轨轴分别穿过滑座上的通孔设置在导轨轴支撑架上;底座的一端通过连接轴与滑座绞连;调整座是一个有一定厚度且上壁开有通孔的金属框架,垂直设置在底座上;调整块是一非金属长方体,垂直设置在调整座的框架内,调节螺丝穿过调整座上壁的通孔与调整块螺纹连接;在调整块上的探头孔的一侧设置探头固定螺丝。本实用新型改变了传统的一手持探头,一手持磁辊的测量方式,不仅测量数据重复性强,测量结果准确,而且使显影磁辊磁场轴向均匀性的测量变得简单。
文档编号G01R33/12GK202189137SQ20112024265
公开日2012年4月11日 申请日期2011年7月12日 优先权日2011年7月12日
发明者何兢伟, 姜真, 张明熠, 陈维, 韩立胜 申请人:天津市中环天佳电子有限公司