专利名称：房间净尺寸测量控制结构的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及控制结构，尤其涉及房间净尺寸测量控制结构。
背景技术：
目前，墙面抹灰往往是根据墙面平整度情况，直接进行冲筋抹灰，不能很好的检查控制房间的净尺寸。申请号为CN201110169565.9的中国专利公开了“一种室内三维尺寸测量方法”，操作步骤是:a.规划扫描平面:依据需求规划室内三维尺寸需要的扫描的平面；b.建立坐标系:根据扫描平面的第一个点向量和旋转方向矢量来构建坐标系；c.米样:按照扫描规划获得角度和距离值，转换到构建坐标系后获得采样点的坐标；d.拟合:对采样点基于最小二乘法进行实时的直线拟合，利用拟合直线进行实时墙壁质量判断，同时可获得平面的边的多条拟合直线方程；e.求解:依据拟合的多条直线方程和扫描平面的坐标关系，采用坐标转换和空间解析几何的方法来求解室内三维尺寸。但该方法不适用于现场施工时对房间净尺寸的测量控制。
发明内容本实用新型的目的在于克服已有技术的不足，提供一种便于更好的进行墙面抹灰的施工和检查控制，保证房间净尺寸的房间净尺寸测量控制结构。本实用新型的房间净尺寸测量控制结构，它包括设置在地面上的中心控制线，所述的中心控制线包括横向中心线和纵向中心线相交的十字线。采用本结构的中心控制线，可以方便的进行墙面抹灰的施工和检查控制，保证房间净尺寸。

附图为本实用新型的房间净尺寸测量控制结构的结构示意图。
具体实施方式
以下结合附图和具体实施例对本实用新型作以详细描述。如附图所示本实用新型的房间净尺寸测量控制结构，它包括设置在地面上的中心控制线，所述的中心控制线包括横向中心线I和纵向中心线2相交的十字线。采用本结构的测量控制方法如下:首先进行房间净尺寸计算，一般是图纸尺寸减去两侧围护结构厚度和抹灰层4厚度；然后从中心线起测量到墙面的净尺寸(房间净尺寸的1/2)，利用这个尺寸进行墙面抹灰冲筋。图中3为墙体。
权利要求1.间净尺寸测量控制结构，其特征在于:它包括设置在地面上的中心控制线，所述的中心控制线包括横向中心线和纵向中心线相交的十字线。
专利摘要本实用新型公开了房间净尺寸测量控制结构，它包括设置在地面上的中心控制线，所述的中心控制线包括横向中心线和纵向中心线相交的十字线。采用本结构的中心控制线，可以方便的进行墙面抹灰的施工和检查控制，保证房间净尺寸。
文档编号G01B21/00GK202928541SQ20122038500
公开日2013年5月8日 申请日期2012年8月6日 优先权日2012年8月6日
发明者张武艺, 曹振田 申请人:中国建筑第六工程局有限公司