专利名称：一种检测人造石英晶片菱形的装置的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及测量检测设备，更具体的说，涉及一种检测人造石英晶片菱形的
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背景技术：
人造石英晶体材料，由于其具有优异的压电性能，被广泛的应用于彩电、计算机、移动电话、寻呼机、录像机、激光视盘机、电子钟表、固定电话和各种遥控器等各种民用军事工业电子设备，主要是用作频率选择和频率稳定的元器件；它还具有优异的光学性能，常被用于制造各种光学透镜、棱镜、偏振片和滤波片等；因此，人造石英晶体材料是一种极为重要、且应用广泛的功能晶体材料；石英晶体又称为水晶，它常常被人们赋予纯洁和吉祥的美 好情怀，故还被用来制成各式各样的装饰品；正是由于它的地位重要又用途广泛，所以，目前已经形成了影响仅次于单晶硅和人造金刚石的人造石英晶体产业。在生产中，人造光学石英晶片主要的检测指标为平行度、厚度、菱形等。但菱形一直没有找到很理想的检测方法和工具，在现有技术中，一直采用的是在灯光下桌面放一块黑布的目测检测方法，其主观性较强，工作效率低，并且检测误差率高。为了解决以上存在的问题，人们一直在寻求一种理想的技术解决方案。
发明内容本实用新型的目的是为了针对现有技术中的不足，从而提供一种结构简单、检测效率高、检测准确的检测人造石英晶片菱形的装置。本实用新型提供一种检测人造石英晶片菱形的装置，由千分尺构成，其特征在于，在所述千分尺的小砧上加装V型夹持装置，所述V型夹持装置具有一个V型开槽，并且V型开槽呈90°，并且所述V型夹持装置的V型开槽内设置一限制挡块以便于晶片的放置。进一步，所述限制挡块采用粘接的方式置于所述V型开槽内。通过本实用新型提出的方案，使有关人造石英晶片菱形的检测过程更加客观、高效，并且大大提升了广品的检验合格率。

图I为本实用新型所述的一种检测人造石英晶片菱形的装置的立体图。图2为V型夹持装置的沿Α-Α’的截面图。图3为V型夹持装置的立体图。
具体实施方式
以下结合附图对本实用新型的特征作详细说明，所举实例只用于解释本实用新型，并非用于限定本实用新型的范围。本实用新型利用正方形对角线长度相等的原理。图I示出了一种检测人造石英晶片菱形的装置的立体图。在检测晶片的千分尺I的小砧上加装V型夹持装置2。图2、图3分别给出V型夹持装置2的沿A-A’的截面图和V型夹持装置2的立体图。所述V型夹持装置2具有一个V型开槽，并且V型开槽呈90°，并且V型夹持装置2的V型开槽内设置一限制挡块3以便于晶片的放置，限制挡块3可以采用粘接的方式置于V型开槽内。检测时，将晶片放入千分尺I的V型夹持装置2内，并紧贴限制挡块3，然后转动 千分尺的旋钮，压紧晶片一角，读取对角线长度读数。然后将晶片旋转90°重复上述步骤，读取另一对角线长度读数。然后测算对角长度差是否在工艺要求的尺寸范围内，从而判断石英晶片菱形检测是否合格。
权利要求1.一种检测人造石英晶片菱形的装置，由千分尺(I)构成，其特征在于，在所述千分尺(I)的小砧上加装V型夹持装置(2)，所述V型夹持装置(2)具有一个V型开槽，并且V型开槽呈90°，并且所述V型夹持装置(2)的V型开槽内设置一限制挡块(3)以便于晶片的放置。
2.如权利要求I所述的一种检测人造石英晶片菱形的装置，其中所述限制挡块(3)采用粘接的方式置于所述V型开槽内。
专利摘要本实用新型提供一种检测人造石英晶片菱形的装置，由千分尺(1)构成，其特征在于，在所述千分尺(1)的小砧上加装V型夹持装置(2)，所述V型夹持装置(2)具有一个V型开槽，并且V型开槽呈90°，并且所述V型夹持装置(2)的V型开槽内设置一限制挡块(3)以便于晶片的放置。通过本实用新型提出的方案，使有关人造石英晶片菱形的检测过程更加客观、高效，并且大大提升了产品的检验合格率。
文档编号G01B5/02GK202522182SQ201220121150
公开日2012年11月7日 申请日期2012年3月28日 优先权日2012年3月28日
发明者刘燕, 周家家, 袁磊, 邹小根, 郑海燕 申请人:兴山县峡晶电子有限责任公司