专利名称：一种组合式测试夹的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及ー种测试夹，特别是ー种组合式测试夹，属于測量装置设计制造技术领域。
背景技术：
目前，测试人员在对电气元件进行测试时，通常会用到测试笔和测试夹，这两种测量装置分别对应不同的电气元件。测试笔一般用于测量体积小且距离近的电气元件；而测试夹一般用于测量体积大且距离远的电气元件。对于复杂的电气元件组合来说， 就需要测试人员同时携带两种测量工具进行测量，而稍有不慎，就会遗失测量工具或者损坏测量エ具，给测试人员带来诸多不便和麻烦。因此有必要对现有技术加以改进。
发明内容为解决现有测量工具采用分体式结构所帯来的測量不便、麻烦等问题，本实用新型提供ー种组合式测试夹。本实用新型通过下列技术方案完成ー种组合式测试夹，包括相铰接的上、下夹盖，且下夹盖尾部与信号线相连接，其特征在于下夹盖上设置移动探针，以针对不同的电气元件，将探针从测试夹下夹盖上移出而用探针进行測量，收回而改用测试夹进行測量。所述探针尾部设有带螺纹的固定钉及连线端，以便固定探针，并与下夹盖尾部的信号线相连。所述下夹盖底部开有条形槽，探针置于该条形槽内，且探针尾部的固定钉置于条形槽外，以方便探针沿条形槽移动。本实用新型具有下列优点和效果采用上述方案，将探针和测量夹有机地组合成一体，以针对不同的电气元件，将探针从测试夹下夹盖上移出而用探针进行測量，收回而改用测试夹进行测量，只需携带本測量装置就能满足各种不同的測量需要。本实用新型结构简单，使用和携帯都非常方便，磨损小，使用寿命长。实为ー理想的电气测量装置。

图I为本实用新型之探针移出时的结构示意图；图2为本实用新型之探针收回时的结构示意图；图3为下夹盖俯视图。
具体实施方式

以下结合附图对本实用新型作进ー步描述本实用新型提供的组合式测试夹，包括通过铰链5铰接的上夹盖4和下夹盖1，且下夹盖I的尾部与信号线6相连接，下夹盖I上设置移动探针3，探针3尾部设有带螺纹的固定钉2及连线端，下夹盖I底部开有条形槽8，条形槽8的前端设安装孔7，用于安装探针3，探针3置于条形槽8内，且探针3尾部的固定钉2置于条形槽8タト，以方便探针3在条形槽8内滑动，实现探针3的伸出与收回，如图I、图2 、图3。
权利要求1.ー种组合式测试夹，包括相铰接的上、下夹盖，且下夹盖尾部与信号线相连接，其特征在于下夹盖上设置移动探针。
2.根据权利要求I所述的组合式测试夹，其特征在于所述探针尾部设有带螺纹的固定钉。
3.根据权利要求I所述的组合式测试夹，其特征在于所述下夹盖底部开有条形槽，探针置于该条形槽内。
4.根据权利要求2所述的组合式测试夹，其特征在于所述探针尾部的固定钉置于下夹盖底部的条形槽外。
专利摘要本实用新型提供一种组合式测试夹，包括相铰接的上、下夹盖，且下夹盖尾部与信号线相连接，其特征在于下夹盖上设置移动探针。由于将探针和测量夹有机地组合成一体，可针对不同的电气元件，将探针从测试夹下夹盖上移出而用探针进行测量，收回而改用测试夹进行测量，只需携带本测量装置就能满足各种不同的测量需要。本实用新型结构简单，使用和携带都非常方便，磨损小，使用寿命长。
文档编号G01R1/04GK202453377SQ201120505400
公开日2012年9月26日 申请日期2011年12月7日 优先权日2011年12月7日
发明者严峰, 李辉, 阎定强 申请人:李辉