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小样品测角装置的制作方法

时间:2025-05-16    作者: 管理员

专利名称:小样品测角装置的制作方法
专利说明
一、技术领域本实用新型涉及一种在科研和应用领域中的辅助设备,具体地说是一种把所研究的样品放置到科研仪器中去的小样品测角装置。
背景技术
通常将所研究的样品放置到科研仪器中时,需要对样品相对仪器的参考方向,进行比较精确的空间定位。比如在对单晶体材料的研究中,电阻测量,光学测量,中子散射,角分辨光电子谱等等重要实验,都需要知道单晶材料放置在仪器中时的主轴空间指向,以便研究材料的各向异性。多数情况下研究使用的样品或标本尺寸都比较小(一般在毫米量级),无法准确测量角度,同时仪器的样品腔空间一般也很狭窄,内部无法固定测角装置,这样样品的空间方位就比较难以确定。

发明内容
本实用新型的目的是提供一种结构简单、使用方便的小样品测角装置,该测角装置可以提高样品的角分辨率,准确确定样品的空间方位。
本实用新型的目的是这样来实现的一种小样品测角装置,其特征在于它包括刻度板、金属圆片和指针,在刻度板上设有与样品底座相适配的缺口,该缺口使刻度板的中心与样品底座上的圆孔圆心相重叠;刻度板上设有以圆心为中心的刻度线;放置样品的金属圆片位于圆孔处且置于刻度板的背面,在金属圆片上设有确定样品角度方向的指针。为方便操作,指针可位于金属圆片的背面。
为保证样品的角分辨率,准确确定样品的空间方位,指针要采用不易弯曲的金属丝,本实用新型中用的是直径0.5毫米左右的坚硬的钨丝。
本实用新型采用刻度板和指针相结合的方式,将样品固定在一个比圆孔直径略大的金属圆片上,金属圆片背部临时固定一个金属指针,把圆片、样品和指针作为一体,首先在X射线衍射仪等定位仪上确定样品的主要参考方向与指针的角度差,比如单晶样品可以通过劳厄照相确定晶体主轴方向,然后把样品穿过底座上的圆孔。在一片塑料板上制作一直径较大的圆,并标上角度刻度,依照底座的尺寸挖掉一块,使得样品底座正好嵌入到挖掉的缺口里,并使圆孔中心与刻度板中心对齐。依据指针与样品的主要参考方向角度差,可以计算出指针需要转动的角度,使得样品主要参考方向与底座参考方向重合。然后撤除指针和刻度板,把底座和样品安装回仪器的样品腔中,实现样品空间方位的准确定位,而且不对样品腔结构作任何改动和破坏。与现有技术相比,本实用新型结构简单、经济实用,在科研和应用中可以提高样品的角分辨率,准确确定样品的空间方位。


附图是本实用新型的结构示意图。
具体实施方式
一种本实用新型所述的小样品测角装置,包括刻度板1、金属圆片2和指针3,在刻度板1上设有与样品底座6相适配的缺口4,平板样品底座6下部开有圆孔。在刻度板1的中心设有放置样品7且直径略小于金属圆片2的圆孔,在刻度板1上设有以圆孔的圆心为中心的刻度线5;放置样品7的金属圆片2位于圆孔处且置于刻度板1的背面,在金属圆片2背部临时固定一个确定样品7角度方向的指针3。指针3位于金属圆片2的背面。指针3采用不易弯曲的直径0.5毫米左右的坚硬的钨丝。
操作时,把圆片2、样品7和指针3作为一体,首先在X射线衍射仪等定位仪上确定样品7的主要参考方向与指针3的角度差,比如单晶样品可以通过劳厄照相确定晶体主轴方向,然后把样品5穿过底座6上的圆孔。在一片刻度板1上制作一直径较大的圆,并标上角度刻度,刻度板1可由塑料板制成。依照底座6的尺寸挖掉一块,使得样品底座6正好嵌入到挖掉的缺口4里,并使圆孔中心与刻度板1中心对齐。依据指针3与样品7的主要参考方向角度差,可以计算出指针3需要转动的角度,使得样品主要参考方向与底座6参考方向重合。然后撤除指针3和刻度板1,把底座6和样品7安装回仪器的样品腔中。刻度板直径10厘米左右,可以达到1度的分辨率,如果刻度板做得更大,并配以更长的指针,则角度分辨率就更好。
权利要求1.一种小样品测角装置,其特征在于它包括刻度板(1)、金属圆片(2)和指针(3),在刻度板(1)上设有与样品底座相适配的缺口(4),该缺口(4)使刻度板(1)的中心与样品底座上的圆孔圆心相重叠;刻度板(1)上设有以圆心为中心的刻度线(5);放置样品的金属圆片(2)位于圆孔处且置于刻度板(1)的背面,在金属圆片(2)上设有确定样品角度方向的指针(3)。
2.根据权利要求1所述的小样品测角装置,其特征在于指针(3)位于金属圆片(2)的背面。
3.根据权利要求1所述的小样品测角装置,其特征在于所述指针(3)是不易弯曲的金属丝。
4.根据权利要求3所述的小样品测角装置,其特征在于所述指针(3)是钨丝。
专利摘要本实用新型公开了一种结构简单、使用方便的小样品测角装置,包括刻度板、金属圆片和指针,在刻度板上设有与样品底座相适配的缺口,该缺口使刻度板的中心与样品底座上的圆孔圆心相重叠;刻度板上设有以圆心为中心的刻度线;放置样品的金属圆片位于圆孔处且置于刻度板的背面,在金属圆片上设有确定样品角度方向的指针。与现有技术相比,本实用新型经济实用,可以提高样品的角分辨率,准确确定样品的空间方位,在科研和应用中具有极大的实用价值。
文档编号G01B21/22GK2757118SQ20042008018
公开日2006年2月8日 申请日期2004年10月13日 优先权日2004年10月13日
发明者张清明, 吴勇, 安明 申请人:南京大学

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