专利名称：多段功能测试装置的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种测试装置，特别是涉及提供有多段时间差测试待测基板的电讯连接状态的一种多段功能测试装置。
背景技术：
由于电子装置的功能日益增加，多重功能必须建立于一主机板上来使用，因此使得现今主机板必须增加许多配置以达到需求，当然以上原因更使得主机板于制作完成后，必须经过多道的测试步骤才可确认该主机板是否合格，而至今每一道测试步骤都需由单一的测试装置进行检测，请参阅图1A及图1B所示，其为现有的待测基板功能测试装置(治具)实施例立体及剖视结构示意图，其中该测试装置1具有一承载座11，该承载座11上具有延伸相同一高度的多个顶针111，通过该承载座11提供承载其上具有电路布局的一待测基板2，使得当该待测基板2置于该承载座11上进行测试时，该多个顶针111可在该待测基板2上的电路布局进行适当接触，且通过该测试装置1相对应该承载座11的上方更具有一盖体12，该盖体12更延伸出有一凸伸臂121，该凸伸臂121可沿左右二侧分别具有的一导杆13延伸方向进行线性位移运动，当该盖体12进行向下的线性位移运动时，恰会使得该盖体12可进行压迫该待测基板2，由此可使得该待测基板2上的电路布局与该多个顶针111确切接触，将该待测基板2的电路布局进行电讯信号传递以供测试，以测试该待测基板2是否合乎需求。
对于现今的该待测基板2则必须经过多道的测试步骤才可确认是否合格的要求下，以上该测试装置1仅可对该待测基板2上的电路布局进行单一功能测试，因此必须设置多个类似测试装置1分别以不同的多个顶针111排列方式，进行对该待测基板2上的电路布局进行不同电讯信号的多道测试步骤，但如此却造成必须制作多个测试装置1去进行测试步骤，增加制作该测试装置的成本，而经常更替其测试装置以导致测试时间的增加，以及会因为人为疏失使得待测基板不合格率增加等缺失，无形中造成了该产业支付成本的增加，此乃产业间急需解决的问题，以降低支付成本提高产业的竞争力，该问题的突破解决实为刻不容缓。
实用新型内容本实用新型的主要目的在于提供一种多段功能测试装置，其可在同一测试装置上进行待测基板的多段功能测试，以达到减少更换测试装置的测试时间以及减少制作测试装置的成本。
本实用新型的次要目的在于提供一种多段功能测试装置，其可使得待测基板在同一测试装置上进行测试，以达到降低更换测试的人为疏失以及降低待测基板不合格率的功效。
本实用新型的另一目的在于提供一种多段功能测试装置，其可进行待测基板的功能测试，以达到提高待测基板产品品质的功效。
为达上述目的，本实用新型提供一种多段功能测试装置，其包括有一承载座、一测试座、多个弹性体、一盖体以及一偏移装置。
该承载座具有可提供置放一待测物的一容置空间，该容置空间布设有贯穿该承载座的多个通孔。
该测试座具有至少一组不同高度的多个顶针，该多个顶针的位置分别对应于该多个通孔。
该弹性体连接该承载座与该测试座，使该测试座与该承载座相距一距离。
该盖体可与该承载座相贴靠，该盖体还具有延伸出该承载座的一凸伸臂。
该偏移装置具有一轴心以及一曲面，该曲面上的不同位置是与该轴心相距不同长度距离，该曲面通过该盖体与该承载座相贴靠时可提供该凸伸臂抵靠。
其中当该盖体与该承载座相贴靠时，通过该凸伸臂压迫该曲面上的不同位置，通过该多个弹性体形变，以改变该承载座与该测试座相距的距离。


图1A为现有的待测基板功能测试装置实施例立体结构示意图；
图1B为现有的待测基板功能测试装置实施例剖视结构示意图；图2A为本实用新型的多段功能测试装置较佳实施例立体结构示意图；图2B为本实用新型的多段功能测试装置较佳实施例剖面结构示意图；图3为本实用新型的偏移装置旋转圆周运动相对应线性位移状态示意图；图4A至图4D为本实用新型的多段功能测试装置剖面连续动作较佳实施例示意图。
具体实施方式
本实用新型的主要技术精神是当进行待测基板的功能测试时，通过多段功能测试装置的一偏移装置使提供测试的时间差以及位移落差，进而达到待测基板多段功能测试的功效。
以下将举出若干较佳实施例详细说明本实用新型的多段功能测试装置的详细手段、动作方式、达成功效、以及本实用新型的其它技术特征。
请参阅图2A及图2B所示，其为本实用新型的多段功能测试装置较佳实施例立体及剖面结构示意图，本实用新型的多段功能测试装置3包括有一承载座31、一测试座32、多个弹性体34、一盖体35以及一偏移装置36。该承载座31具有可提供置放一待测物4的一容置空间311，该容置空间311更布设有贯穿该承载座31的多个通孔312，该待测物4为其上具有电路布局的一电路基板，而该测试座32具有至少一组不同高度h、h’的多个顶针33、33a，该多个顶针33、33a包括一第一组顶针33与一第二组顶针33a，该第一组顶针33比该第二组顶针33a为高，且该多个顶针33、33a的位置分别对应于该多个通孔312，在本实用新型较佳实施例中，该顶针33、33a其贯穿该测试座32而延伸出该测试座32的底面，且该顶针33、33a为一弹性组件，可通过施力压迫进行适当高度(h-h’)的位移运动，使得该多个顶针33、33a可与该待侧物4进行接触连接，且提供不同的电子信号进行测试。
该弹性体34连接该承载座31与该测试座32，使该测试座32与该承载座31相距一距离s，在本实用新型较佳实施例中，该弹性体34中还具有沿一固定方向91延伸的一定位体341，通过该定位体341可使得该弹性体34可沿该定位体341的延伸方向91进行一线性位移运动，相对限制该承载座31仅能固定沿该定位体341延伸方向91位于该测试座32上进行线性位移运动。而该盖体35可与该承载座31相贴靠，该盖体35还具有延伸出该承载座31的一凸伸臂351，在本实用新型较佳实施例中，该凸伸臂351还具有一开孔352，该开孔352可与一导杆37相连接，使该盖体35沿该导杆37延伸方向92作一线性位移运动。
该偏移装置36具有一轴心361以及一曲面362，因此该偏移装置36其为一凸轮结构或是为一偏心轮结构，请参阅图3所示，其为本实用新型的偏移装置旋转圆周运动相对应线性位移状态示意图，本实用新型该偏移装置36可通过该轴心361为中心进行一旋转运动，由于该曲面362上的不同位置与该轴心361相距不同长度距离，即设作用点C距离该轴心361的长度L为最长，且作用点A距离该轴心361的长度L’为最短，此时当该偏移装置36以该轴心361为中心进行旋转至作用点C时，会使得处于D位置的对象相对于该轴心361的线性距离为最长，即D位置的对象位于最高处，而当该偏移装置36经过旋转90度至作用点A时，使得处于D位置的对象相对于该轴心361的线性距离为最短，即D位置的对象位于最低处，因此当进行该偏移装置36的旋转运动时，会使得D位置的对象进行L-L’间的线性间距运动。以上本实用新型该曲面362通过该盖体35与该承载座31相贴靠时可提供该凸伸臂351抵靠，当该盖体35与该承载座31相贴靠时，通过该凸伸臂351压迫该曲面362上的不同位置，使得该多个弹性体34进行形变，改变该承载座31与该测试座32相距的距离。
请参阅图4A至图4D所示，其为本实用新型的多段功能测试装置剖面连续动作较佳实施例示意图，以下所述的本实用新型连续动作较佳实施例中，因大部份的组件相同于前述实施例，因此相同的组件将直接给予相同的名称及编号且不予赘述。图4A，首先将该待测物4置于该承载座31上，且该承载座31与该测试座32之间是以该弹性体34与该定位体341连接固定，该多个顶针33、33a固定于该测试座32上且相对应于该多个通孔312，图4B是将该盖体35进行线性位移运动，使得该盖体35与该待测物4相接触且贴靠该承载座31，达到将该待测物4固定以增加测试的稳定度，但此时该多个顶针33、33a未与该待测物4相接触，因此尚未进行测试功能，且该凸伸臂351恰抵靠该偏移装置36相对于该轴心361的线性距离为最长作用点，以提供使该偏移装置36进行动作，图4C该盖体35继续进行下压且该偏移装置36进行旋转运动，迫使该承载座31压迫该弹性体34而沿该定位体341延伸方向进行位移，使得第一组顶针33进而接触该待测物4做第一段测试，而此时该承载座31与该测试座32相距为第一距离s1，图4D中该盖体35与该承载座31继续进行下压，且因该顶针33、33a为一弹性组件，因此该第一组顶针33与第二组顶针33a同时与该待测物4作接触完成第二段测试，此时该承载座31与该测试座32相距第二距离s2，以上若需进行第三段或更多段的测试时，仅需修正该偏移装置36的该曲面362相对于该轴心361的线性距离及更多组不同高度的顶针，诸如此类变化为熟悉此类技术者所能依据上述揭露而加以变化实施，仍将不失本实用新型的要义所在，也不脱离本实用新型的精神和范围，故在此不多加赘述。
以上本实用新型多段功能测试装置，可在同一测试装置上进行待测基板的多段功能测试，以达到减少更换测试装置的测试时间以及减少制作其装置的成本，且降低更换测试的人为疏失以及降低待测基板不合格率的功效，实是克服现有技术的不足，满足产业界的需求并提高产业竞争力。
权利要求1.一种多段功能测试装置，其特征在于，包括有一承载座，其具有可提供置放一待测物的一容置空间，该容置空间布设有贯穿该承载座的多个通孔；一测试座，该测试座具有至少一组不同高度的多个顶针，该多个顶针的位置分别对应于该多个通孔；多个弹性体，该弹性体连接该承载座与该测试座，使该测试座与该承载座相距一距离；一盖体，其与该承载座相贴靠，该盖体还具有延伸出该承载座的一凸伸臂；以及一偏移装置，其具有一轴心以及一曲面，该曲面上的不同位置其是与该轴心相距不同长度距离，该曲面通过该盖体与该承载座相贴靠时可提供该凸伸臂抵靠；其中，当该盖体与该承载座相贴靠时，通过该凸伸臂压迫该曲面上的不同位置，通过该多个弹性体形变，以改变该承载座与该测试座相距的距离。
2.如权利要求1所述的多段功能测试装置，其特征在于，该凸伸臂还具有一开孔，该开孔可与一导杆相连接，使该盖体沿该导杆延伸方向作一线性位移运动。
3.如权利要求1所述的多段功能测试装置，其特征在于，该偏移装置是以该轴心为中心进行一旋转运动的装置。
4.如权利要求1所述的多段功能测试装置，其特征在于，该偏移装置其为一凸轮结构。
5.如权利要求1所述的多段功能测试装置，其特征在于，该偏移装置其为一偏心轮结构。
6.如权利要求1所述的多段功能测试装置，其特征在于，该顶针为一可通过施力压迫进行适当高度的位移运动的弹性组件。
7.如权利要求1所述的多段功能测试装置，其特征在于，该弹性体中还具有一定位体，该定位体可使得该承载座位于该测试座上进行一线性位移运动。
8.如权利要求1所述的多段功能测试装置，其特征在于，该顶针贯穿该测试座而延伸出该测试座的底面。
9.如权利要求1所述的多段功能测试装置，其特征在于，该多个顶针包括一第一顶针与一第二顶针，该第一顶针比该第二顶针高，该多个顶针可与该待侧物进行接触连接，且提供不同的电子信号进行测试。
10.如权利要求1所述的多段功能测试装置，其特征在于，通过该凸伸臂压迫该曲面上使该承载座与该测试座距一第一距离与一第二距离，该第一距离大于该第二距离，当该承载座与该测试座相距第一距离时，该待测物以一第一顶针测试，当该承载座与该测试座相距第二距离时，该待测物另加以一第二顶针测试。
专利摘要本实用新型提供一种多段功能测试装置，其包括一承载座、一测试座、多个弹性体、一盖体以及一偏移装置。承载座具有可提供置放待测物的容置空间，容置空间布设有贯穿承载座的多个通孔，测试座具有至少一组不同高度的多个顶针，多个顶针的位置分别对应于多个通孔，弹性体连接承载座与测试座，使测试座与承载座相距一距离，盖体与承载座相贴靠，盖体具有延伸出承载座的凸伸臂，偏移装置具有轴心及曲面，曲面上的不同位置与该轴心相距不同长度距离，曲面通过盖体与承载座相贴靠时可提供凸伸臂抵靠，当盖体与承载座相贴靠时，通过该凸伸臂压迫曲面上的不同位置，使多个弹性体形变以改变承载座与测试座相距的距离。
文档编号G01R31/28GK2663993SQ200320103869
公开日2004年12月15日 申请日期2003年10月31日 优先权日2003年10月31日
发明者刘丰吉 申请人:明基电通股份有限公司