专利名称:一种涡流检测探头的制作方法
技术领域:
本实用新型涉及无损检测领域,尤其涉及一种用于检测材质为40Cr的回转支承淬透层深度的涡流检测探头。
背景技术:
现有通用涡流检测探头很容易检测出管材、线材等诸多材料,但对材质为40Cr的回转支承淬火层金属组织不敏感,很难识别出淬火层金属材料,造成漏检,影响材料的相关产品的质量。因此,涡流检测探头急需得到改进。
发明内容本实用新型的目的是提供一种能识别材质为40Cr的回转支承淬火层金属组织的 检测探头,克服现有技术中涡流检测探头对材质为40Cr的回转支承表面淬火层识别不敏感、容易漏检的技术问题。实现上述目的的技术方案是一种涡流检测探头,包括绕组单元和封装绕组单元的外壳;所述绕组单元包括磁芯,绕在磁芯上的检测线圈和绕在检测线圈上的激励线圈;所述外壳的上部设有通孔,所述外壳的下部设有空腔;所述绕组单元被封装在外壳下部的空腔内;所述激励线圈由直径为O. iro. 16mm的漆包铜线绕制445 450匝形成;检测线圈由直径为O. 05 0. 07mm的漆包铜线绕制1400 1500匝形成。进一步的,所述外壳的下端还固定联接一个可以避免提离效应的卡槽,所述卡槽的A面为一斜面。优选的,所述卡槽的A面与探头外壳的B面呈105°的α夹角。优选的,所述激励线圈由直径为O. 15mm的漆包铜线绕制450匝形成;检测线圈由直径为O. 06mm的漆包铜线绕制1500匝形成。优选的,所述激励线圈由直径为O. 16mm的漆包铜线绕制445匝形成;检测线圈由直径为O. 06mm的漆包铜线绕制1450匝形成。优选的,所述激励线圈由直径为O. 16mm的漆包铜线绕制450匝形成;检测线圈由直径为O. 06mm的漆包铜线绕制1450匝形成。优选的,所述激励线圈由直径为O. 16mm的漆包铜线绕制450匝形成;检测线圈由直径为O. 06mm的漆包铜线绕制1500匝形成。优选的,所述激励线圈由直径为O. 16mm的漆包铜线绕制450匝形成;检测线圈由直径为O. 05mm的漆包铜线绕制1500匝形成。优选的,所述激励线圈由直径为O. 16mm的漆包铜线绕制450匝形成;检测线圈由直径为O. 06mm的漆包铜线绕制1400匝形成。优选的,所述激励线圈由直径为O. 15mm的漆包铜线绕制450匝形成;检测线圈由直径为O. 06mm的漆包铜线绕制1400匝形成。优选的,所述激励线圈由直径为O. 15mm的漆包铜线绕制450匝形成;检测线圈由直径为O. 06mm的漆包铜线绕制1450匝形成。采用本实用新型后,材质为40Cr的回转支承齿顶面3_5mm的淬火层组织均能比较准确的检测到;卡槽不仅可以避免提离效应,且可以适合不同齿深的回转支承的检测。
图I为本实用新型的结构示意图。图中1.卡槽;2.绕组单元;3.外壳;4.通孔;5.空腔。 图2为激励线圈、检测线圈和磁芯的局部放大图。图中2-1.磁芯'2-2.检测线圈;2-3.激励线圈。
具体实施方式
以下结合附图和实施例对本实用新型作进一步详细的说明。如图f 2所示,一种涡流检测探头,包括绕组单元2和封装绕组单元的外壳3 ;所述绕组单元2包括磁芯2-1,绕在磁芯2-1上的检测线圈2-2和绕在检测线圈2-2上的激励线圈2-3 ;所述外壳3的上部设有通孔4,检测线圈2-2和激励线圈2-3从所述通孔4中引出漆包铜线的线头;所述外壳3的下部设有空腔5 ;所述绕组单元2被封装在所述空腔5内;所述激励线圈2-3由直径为O. ΙΟ. 16mm的漆包铜线绕制445 450匝形成;检测线圈2-2由直径为O. 05 O. 07mm的漆包铜线绕制1400 1500匝形成。进一步的,所述外壳3的下端还固定联接一个可以避免提离效应的卡槽1,所述卡槽I的A面为一斜面,在检测过程中所述A面与被检测的回转支承的齿背较为紧密贴合,由于A面为一斜面,可适合各种不同齿槽宽度的回转支承检测。齿槽宽度越宽,卡槽的A面与齿背贴合范围越大。优选的,所述卡槽I的A面与探头外壳3的B面呈105°的α夹角。优选的,所述激励线圈2-3由直径为O. 15mm的漆包铜线绕制450匝形成;检测线圈2-2由直径为O. 06mm的漆包铜线绕制1500匝形成。优选的,所述激励线圈2-3由直径为O. 16mm的漆包铜线绕制445匝形成;检测线圈2-2由直径为O. 06mm的漆包铜线绕制1450匝形成。优选的,所述激励线圈2-3由直径为O. 16mm的漆包铜线绕制450匝形成;检测线圈2-2由直径为O. 06mm的漆包铜线绕制1450匝形成。优选的,所述激励线圈2-3由直径为O. 16mm的漆包铜线绕制450匝形成;检测线圈2-2由直径为O. 06mm的漆包铜线绕制1500匝形成。优选的,所述激励线圈2-3由直径为O. 16mm的漆包铜线绕制450匝形成;检测线圈2-2由直径为O. 05mm的漆包铜线绕制1500匝形成。优选的,所述激励线圈2-3由直径为O. 16mm的漆包铜线绕制450匝形成;检测线圈2-2由直径为O. 06mm的漆包铜线绕制1400匝形成。优选的,所述激励线圈2-3由直径为O. 15mm的漆包铜线绕制450匝形成;检测线圈2-2由直径为O. 06mm的漆包铜线绕制1400匝形成。优选的,所述激励线圈2-3由直径为O. 15mm的漆包铜线绕制450匝形成;检测线圈2-2由直径为O. 06mm的漆包铜线绕制1450匝形成。本实用新型的激励线圈可选用445 450匝,如445匝、450匝等;检测线圈可选用1400 1500胆,如1400匝、1450匝、1500匝等;激励线圈铜线直径可选用O. 05 O. 07mm,如 O. 05mm、0. 06mm、0. 07mm ;检测线圈铜线直径可选用 O. 14 O. 16mm,如 O. 14mm、0. 15mm、O. 16mm。利用本实用新型对材质为40Cr的实为3mm淬火层的回转支承齿顶面进行检测,相对误差均< 5. 3%,具体实施例详见表I。表I
权利要求1.一种涡流检测探头,包括绕组单元(2)和封装绕组单元(2)的外壳(3);所述绕组单元(2)包括磁芯(2-1),绕在磁芯(2-1)上的检测线圈(2-2)和绕在检测线圈(2-2)上的激励线圈(2-3);所述外壳(3)的上部设有通孔(4),所述外壳(3)的下部设有空腔(5);所述绕组单元(2)被封装在所述空腔(5)内;其特征在于所述激励线圈(2-3)由直径为0.iro. 16mm的漆包铜线绕制445 450匝形成;检测线圈(2_2)由直径为0. 05、. 07mm的漆包铜线绕制1400 1500匝形成。
2.根据权利要求I所述的涡流检测探头,其特征在于所述外壳(3)的下端还固定联接一个可以避免提离效应的卡槽(I ),所述卡槽(I)的A面为一斜面。
3.根据权利要求2所述的涡流检测探头,其特征在于所述卡槽(I)的A面与探头外壳(3)的B面呈105°的a夹角。
4.根据权利要求2或3所述的涡流检测探头,其特征在于所述激励线圈(2-3)由直径为0. 15mm的漆包铜线绕制450匝形成;检测线圈(2_2)由直径为0. 06mm的漆包铜线绕制1500匝形成。
5.根据权利要求2或3所述的涡流检测探头,其特征在于所述激励线圈(2-3)由直径为0. 16mm的漆包铜线绕制445阻形成;检测线圈(2-2)由直径为0. 06mm的漆包铜线绕制1450匝形成。
6.根据权利要求2或3所述的涡流检测探头,其特征在于所述激励线圈(2-3)由直径为0. 16mm的漆包铜线绕制450匝形成;检测线圈(2-2)由直径为0. 06mm的漆包铜线绕制1450匝形成。
7.根据权利要求2或3所述的涡流检测探头,其特征在于所述激励线圈(2-3)由直径为0. 16mm的漆包铜线绕制450匝形成;检测线圈(2-2)由直径为0. 06mm的漆包铜线绕制1500匝形成。
8.根据权利要求2或3所述的涡流检测探头,其特征在于所述激励线圈(2-3)由直径为0. 16mm的漆包铜线绕制450匝形成;检测线圈(2_2)由直径为0. 05mm的漆包铜线绕制1500匝形成。
9.根据权利要求2或3所述的涡流检测探头,其特征在于所述激励线圈(2-3)由直径为0. 16mm的漆包铜线绕制450匝形成;检测线圈(2-2)由直径为0. 06mm的漆包铜线绕制1400匝形成。
10.根据权利要求2或3所述的涡流检测探头,其特征在于所述激励线圈(2-3)由直径为0. 15mm的漆包铜线绕制450匝形成;检测线圈(2_2)由直径为0. 06mm的漆包铜线绕制1400匝形成。
11.根据权利要求2或3所述的涡流检测探头,其特征在于所述激励线圈(2-3)由直径为0. 15mm的漆包铜线绕制450匝形成;检测线圈(2_2)由直径为0. 06mm的漆包铜线绕制1450匝形成。
专利摘要本实用新型涉及无损检测领域,尤其涉及一种涡流检测探头,包括绕组单元(2)和封装绕组单元的外壳(3);所述绕组单元(2)包括磁芯(2-1),绕在磁芯(2-1)上检测线圈(2-2)和绕在检测线圈(2-2)上的激励线圈(2-3);所述外壳(3)的上部设有通孔(4),下部设有空腔(5);所述绕组单元(2)被封装在所述空腔(5)内;所述激励线圈(2-3)由直径为0.14~0.16mm的漆包铜线绕制445~450匝形成;检测线圈(2-2)由直径为0.05~0.07mm的漆包铜线绕制1400~1500匝形成。采用上述技术方案后,克服了涡流检测探头对材质为40Cr的回转支承表面淬火层识别不敏感,容易漏检的技术问题。
文档编号G01B7/26GK202562433SQ201220195680
公开日2012年11月28日 申请日期2012年5月3日 优先权日2012年5月3日
发明者金佳琳, 虞文武, 林俊明 申请人:常州机电职业技术学院