专利名称：一种plc光分路器的测试装置的制作方法
技术领域：
本实用新型属于集成光学领域，尤其涉及一种PLC光分路器的测试方法，用以提高企业的工作效率。
背景技术：
随着FTTH的普及，PLC光分路器的需求量越来越大。PLC光分路器技术指标优异，器件体积小，单个器件的分路通道多，可达到128路。在大规模生产和应用上都较之光纤拉锥型分路器有压倒性的优势。 但是，多通道数的PLC器件测试很繁琐，提高多通道分路器的测试效率，是工程应用上具有很大意义的课题。现有的多通道多波段测试系统，PLC的输入端利用光开关实现多波段选择输入，PLC的输出端接多通道功率计实时显示测得的光功率。这样只要把光纤阵列与PLC的输入输出对准，即可测试全通道多波段的损耗值。这种方法最消耗时间的步骤在与光纤阵列与PLC的对准和耦合，需要手动进行调节。因为波导的尺寸很小，只有微米量级，普通摄像头的放大倍率有限，难以观察清楚是否完全对准耦合。工程上可行的做法是，根据功率计的实时读数来判断是否对准。但是，只有在输入和输出都对准的情况下，光功率计才会有读数。同时调节输入和输出使其对准是费时费力的。
发明内容本实用新型的目的就是为了克服上述现有技术存在的缺陷而提供一种效率高的PLC光分路器的测试装置。本实用新型的目的可以通过以下技术方案来实现一种PLC光分路器的测试装置，其特征在于，该装置包括样品架、输入端FA、接收端设备、光开关，LED白光源、宽带红外光源、计算机，所述的样品架前方设有输入端FA，后方设有接收端设备，所述的LED白光源和宽带红外光源的输出经光纤并联连接到光开关，所述的计算机分别连接LED白光源、宽带红外光源、光开关和接收端设备。所述的接收端设备为图象传感器或多通道FA和光功率计。所述的宽带红外光源为1290nm 1610nm宽带红外光光源。使用PLC光分路器的测试装置进行测试的方法，其特征在于，该方法包括以下步骤第一步输入端对准(I)在样品架上放上待测IXN芯片；(2)通过控制光开关使LED白光传输到单通道FA ； (3)选择接收端设备为图像传感器；⑷调节输入端FA的位置，当计算机的显示器上显示出N个白色光斑时，说明输入端FA已经与PLC芯片的输入端口对准；第二步输出端对准[0014](I)在样品架上放上待测I XN芯片；(2)通过控制光开关使宽带红外光传输到单通道FA ； (3)选择接收端设备为多通道FA和光功率计；(4)微调输入端FA和接收端多通道FA，使光功率计的功率值读数最大；第三步，测试通过控制光开关控制不同波长的宽带红外光插入待测IXN芯片的通道中，通过光功率计测得功率值即得插入损耗。所述的待测IXN芯片为含有I个输入端波导，N个输出对端波导，其中N为自然数。所述的N 为 8、16、32、64、128 或 256。所述的宽带红外光波长范围是1290nm 1610nm，插入损耗的测试结果是覆盖这一波段范围的频谱曲线。所述的宽带红外光需要测试的波长是1310nm，1490nm和1550nm。通过控制输出光源的偏振态，测得待测I XN芯片的偏振相关损耗值。与现有技术相比，本实用新型先利用红外图像传感器(CXD)，调节对准PLC的输入端。然后再换上光功率计，调节对准PLC的输出端。配合工业支架装置的设计，可以使CCD和光功率计的切换变得很简单。这样把PLC耦合的过程分解成两步，简单明了，提高了测试效率。

图I为本实用新型输入端对准的示意图；图2为本实用新型输出端对准的示意图。
具体实施方式
以下结合附图和具体实施例对本实用新型进行详细说明。实施例如图1-2所示，一种PLC光分路器的测试装置，该装置包括样品架、输入端FA1、接收端设备、光开关2，LED白光源3、宽带红外光源4、计算机5，所述的样品架前方设有输入端FA1，后方设有接收端设备，所述的LED白光源3和宽带红外光源4的输出经光纤并联连接到光开关2，所述的计算机5分别连接LED白光源3、宽带红外光源4、光开关2和接收端设备。使用上述PLC光分路器的测试装置进行测试的方法，该方法包括以下步骤第一步输入端对准(I)在样品架上放上待测I XN芯片6 ; (2)计算机5输出控制信号控制光开关2使LED白光传输到单通道FAl ；(3)选择接收端设备为图像传感器(XD7 ; (4)调节输入端FAl的位置，图像传感器CCD7发出的视频信号输入到计算机5，其显示器上显示出N个白色光斑时，说明输入端FA已经与待测IXN芯片6即PLC芯片的输入端口对准；第二步输出端对准(I)在样品架上放上待测I XN芯片6 ; (2)计算机5输出控制信号控制光开关2使宽带红外光传输到单通道FAl ； (3)选择接收端设备为多通道FA8和光功率计9 ； (4)微调输入端FAl和接收端多通道FA8，使光功率计9的功率值读数最大；第三步，测试通过控制光开关2控制宽带红外光光源发出1290nm 1610nm不同波长的宽带红外光插入待测IXN芯片的通道中，通过光功率计测得功率值即得插入损耗，输出数据信号输入计算机5,插入损耗的测试结果是覆盖1290nm 1610nm波段范围的频谱曲线。通过控制输出光源的偏振态，可以测得待测IXN芯片的偏振相关损耗值。其中待测IXN芯片为含有I个输入端波导，N个输出对端波导，其中N为自然数。N 优选为 2、4、8、16、32、64、128 或 256。 所述的宽带红外光需要测试的波长优选是1310nm，1490nm和1550nm。
权利要求1.一种PLC光分路器的测试装置，其特征在于，该装置包括样品架、输入端FA、接收端设备、光开关，LED白光源、宽带红外光源、计算机，所述的样品架前方设有输入端FA，后方设有接收端设备，所述的LED白光源和宽带红外光源的输出经光纤并联连接到光开关，所述的计算机分别连接LED白光源、宽带红外光源、光开关和接收端设备。
2.根据权利要求I所述的一种PLC光分路器的测试装置，其特征在于，所述的接收端设备为图象传感器或多通道FA和光功率计。
3.根据权利要求I所述的一种PLC光分路器的测试装置，其特征在于，所述的宽带红外光源为1290nm 1610nm宽带红外光光源。
专利摘要本实用新型涉及一种PLC光分路器的测试装置，该装置包括样品架、输入端FA、接收端设备、光开关，LED白光源、宽带红外光源、计算机，所述的样品架前方设有输入端FA，后方设有接收端设备，所述的LED白光源和宽带红外光源的输出经光纤并联连接到光开关，所述的计算机分别连接LED白光源、宽带红外光源、光开关和接收端设备。与现有技术相比，本实用新型具有测试效率高等优点。
文档编号G01M11/00GK202770619SQ201220405128
公开日2013年3月6日 申请日期2012年8月15日 优先权日2012年8月15日
发明者肖熠, 王毅强, 商惠琴, 王明华, 杨建义, 郝寅雷 申请人:上海光芯集成光学股份有限公司