专利名称：一种led寿命测试系统及其测试方法
技术领域：
本发明涉及一种LED寿命测试系统及其测试方法，特别涉及LED寿命测试系统中的LED固定部分、致冷器、冷热双区温度箱的结构，以及与上述结构的改进相关的测试方法。
背景技术：
单颗LED生产出来后，需要对其寿命做一个评估。目前比较通行的做法是在同型号的一批LED中，抽取一定的LED样品，并老化数千小时(通常不小于6000小时)，在老化前先测试每一颗LED的光色电参数，并在老化过程中每间隔一定时间测量其光色电参数； 老化时间越长，LED光输出的衰减越大，把每次测量的结果保存，并根据一定的算法计算出老化后LED的光输出衰减量，从而推算出这一型号的LED寿命。现有的LED寿命测试系统在进行LED老化测试时，均是采用长条形老化支架；当需要对单颗LED进行光色电测试时，就把每一颗LED拆卸下来，安装于积分球侧壁开口处进行测试；如果批量老化测试LED，则需要大量人工来完成LED的拆卸工作；测试完成，再把每一颗LED安装回老化支架，继续老化。这样就带来几个问题一是反复拆卸与安装，需要大量人工和时间，急剧增加老化成本，而且浪费时间；二是反复拆卸与安装，非常容易损坏LED， 增加了整个试验的不确定度，也就是说测试人员可能无法判断某一颗LED的损坏是拆卸过程中的人为因素造成的还是LED本身的产品质量问题，无法达到试验目的；再者，在拆卸与安装的过程中，非常容易使LED的光学透镜产生污溃和划痕，影响其光输出特性，从而影响测量结果，使推算结果出现偏差。特别是针对于目前业界比较公认的标准IES LM-80的要求，在老化过程中LED周围空气温度的变化范围为Ts°c至(Ts-5) °C，而LED的壳温变化范围为TS°C至(Ts_2) °C。对于几十度甚至上百度的温度而言，以上两者温度可以认为是大致相同的温度。但由于LED 被点亮后，温度会急剧升高，从而造成表面和周围空气出现巨大温差。所以如何既能控制 LED周围空气温度，又能控制其壳温Ts，并且又将两者控制在几乎相同的温度范围内就成为业界亟待解决的一个技术难题。

发明内容
本发明的目的是为了解决以上行业困境，提供一种既能获得较高测量精度，又便于对老化过程中LED的周围空气温度和壳温进行控制的LED寿命测试系统。本发明采用的技术方案为一种LED寿命测试系统，包括利用温度箱进行老化的老化子系统、利用积分球进行光色电测量的测量子系统，以及对老化数据和测量数据进行整合分析的分析子系统；所述LED寿命测试系统还包括致冷器和用于焊接多颗待测LED的铝基板，所述致冷器包括散热器、电致冷板和安装盘；所述电致冷板和安装盘均固定安装于散热器上，所述安装盘的中部具有开口，使电致冷板镶嵌于所述开口中，并使散热器位于面向安装盘底面的一侧；所述铝基板紧贴固定于电致冷板的表面上，并使铝基板用于焊接LED引脚的一面朝上外露；所述铝基板具有多个用于连接LED的安装位，每个安装位的LED正、负极均与铝基板上各安装位一一对应的接线焊点电连接；所述温度箱为冷热双区温度箱，所述冷热双区温度箱包括通过隔热板隔离而成的冷箱和热箱，所述隔热板上设置有至少一个贯穿所述隔热板的用于安装所述致冷器的温度箱安装孔位；所述温度箱安装孔位的结构要求满足在所述致冷器通过其安装盘固定安装于温度箱安装孔位上时，使所述散热器置于冷箱中，并使电致冷板上的铝基板置于热箱中；所述积分球的表面设置有用于安装所述致冷器的积分球安装孔位，所述积分球安装孔位的结构要求满足在所述致冷器通过其安装盘固定安装于积分球安装孔位上时，使所述散热器置于积分球外部，并使电致冷板上的铝基板置于积分球的内部；以及，所述老化子系统还包括用于为与铝基板上的各接线焊点相对应的各LED提供独立的老化测试用电流源的老化供电单元；所述测量子系统的测量供电单元包括一测量用电流源和使测量用电流源按序或随机地单独点亮与铝基板上的各接线焊点相对应的每颗LED 的开关切换电路，以单独测量与铝基板上的各接线焊点相对应的每颗LED的光色电参数。其中，所述电致冷板与铝基板之间涂覆有导热硅脂层。其中，所述铝基板紧贴电致冷板的表面涂覆有绝缘漆层，以保证铝基板上的任何一处过孔的铜皮均不与电致冷板发生电导通。其中，所述安装盘的底面上具有手持把手。其中，所述安装盘与散热器之间设置有环绕电致冷板布置的第一密封垫。其中，所述电致冷板的轮廓与开口具有相匹配的外形轮廓，使电致冷板恰好镶嵌于所述开口中。其中，所述安装盘设置有贯穿其顶面与底面的供铝基板上各接线焊点的引出线从安装盘的底面穿出的过线孔。其中，所述测量供电单元包括分别与铝基板上各接线焊点的正、负极接线焊点一一对应设置的各正、负极接线端子，各正极、负极接线端子分别均与测量用电源的正极、 负极电连接，形成与铝基板上的各接线焊点一一对应的各供电电路，所述开关切换电路包括 对应地电连接于各供电电路上的各受控开关。本发明的另一个目的是针对LED壳温控制部分及LED固定部分的改进提供一种上述LED寿命测试系统的测试方法。本发明采用的技术方案为上述LED寿命测试系统的测试方法，包括如下步骤步骤I :将待测试的一组LED焊接于铝基板的各安装位上，组成一个携带有LED铝基板的致冷器，共组成η个携带有LED铝基板的致冷器，其中，η为大于等于I小于等于温度箱安装孔位的数量的自然数；步骤2 :完成以上η组LED的老化测试，具体为步骤21 :将各铝基板接线焊点的引出线通过各自安装盘上的过线孔引至冷箱中完成接线，具体为使铝基板上的每颗LED和与各自一一对应的老化测试用电流源组成各单独供电回路；步骤22 :将热电偶粘贴于每一颗LED的预定的壳温测试点上，并将热电偶线通过与各自相对应的安装盘的过线孔引出至冷箱，再在冷箱内与外接的热电偶插座对接，使各热电偶线与外部的温度采集器连接，形成温度测量回路；步骤23 :将η个携带有LED铝基板的致冷器通过各自的安装盘固定安装于冷热双区温度箱内与各自一一对应的温度箱安装孔位上，使各致冷器的散热器均置于冷箱中，并使致冷器上的LED铝基板置于热箱中；步骤24 :启动老化子系统完成η组LED的老化试验，当老化时间达到设定的运行时间后，系统保存所有的测试数据，并停止老化；步骤3 :按照步骤31至34顺次完成η组LED的光色电参数测量；步骤31 :将携带有LED铝基板的致冷器从冷箱中取出，并通过积分球安装孔位安装于积分球的侧壁上，使所述散热器置于积分球外部，并使电致冷板上的铝基板置于积分球的内部；步骤32 :连接测量供电单元和铝基板的接线焊点的引出线，具体为形成与铝基板上的各LED —一对应的包括串联有测量用电流源、LED和开关切换电路的一受控开关的各供电回路；步骤33 :控制开关切换电路，使测量用电流源按序或随机地单独点亮铝基板上的每颗LED，完成各颗LED的光色电测量；步骤34 :从积分球上整体取下携带有LED铝基板的致冷器，断开铝基板的接线焊点的引出线与测量供电单元的连接。其中，在步骤31的安装过程中，使致冷器安装盘的顶面通过第二密封垫与积分球安装孔位的外周侧壁紧贴；在步骤23中，使致冷器的安装盘的顶面通过第二密封垫与温度箱安装孔位外周的隔热板紧贴。本发明的有益效果为在使用本发明的LED寿命测试系统进行寿命测试时，可将多颗LED直接焊接在铝基板上，连接电缆通过安装盘外围过线孔按序连接至铝基板接线焊点处，再将整个携带有LED铝基板的致冷器安装于冷热双区温度箱的温度箱安装孔位上， 进行多颗LED的老化。当老化完成，需要进行各颗LED的光色电测量时，只需将整个致冷器从冷热双区温度箱里拆卸出来，连同LED —起移植到积分球外侧开孔进行测试，即实质上仅为安装盘的拆装，非常方便。由于拆装过程不需要对LED进行操作，所以可以提高LED 的安全性，不易损坏LED，节省时间和操作人员工作量，极大的提高测试效率；另外，铝基板上的每颗LED可由单独的老化测试用电流源供电，这样如果某一颗LED失效，不会影响其它 LED的继续试验，不仅极大地提高试验的可靠性和连续性，也可以非常方便地查找故障点， 便于分析失效原因，提高寿命推算的准确度。另外，本发明的LED寿命测试系统对LED壳温进行控温的控制部分包括致冷器和冷热双区温度箱的冷箱，并按照常规方式通过热箱控制LED周围空气的温度，即本发明可对LED壳温和LED周围空气利用不同的装置进行单独控制，因此，只需分别通过惯常采用的温度控制方式(如采用PID控制器进行调节的闭环控制系统)即可达到所要求的控制目标。再者，采用制冷器和冷箱控制LED壳温的结构可使本发明的LED寿命测试系统在进行小功率LED的老化测试时，可仅通过致冷器完成控温目标；而在进行大功率LED的老化测试时，便可通过冷箱快速带走散热器的热量，从而实现对LED的二次制冷，这样，既可有效增加致冷器的制冷功率，达到控温目标，又可延长其使用寿命；而且本发明将致冷器放置于一个温度相对稳定的空间，可以减小致冷器所处的环境温度的波动量，从而使其致冷温度更稳定，波动度更小。


图I为根据本发明的LED寿命测试系统的致冷器的分解示意图；图2为图I中安装盘的结构示意图；图3为图2中安装盘的仰视图；图4为示出图I中所示致冷器的组装关系及致冷器与铝基板的组装关系的剖视示意图，其中，图中未绘制剖面线；图5为根据本发明的LED寿命测试系统的冷箱的结构示意图；图6示出了携带有LED铝基板的致冷器与冷热双区温度箱的组装结构的示意图；图7示出了致冷器与积分球的安装结构；图8示出了测量子系统的测量供电单元的一种实施结构。
具体实施例方式本发明的LED寿命测试系统包括利用冷热双区温度箱进行老化的老化子系统和利用积分球进行光色电测量的测量子系统，还包括如图I所示的致冷器I和如图4所示的用于焊接多颗待测试LED的铝基板3，如图I至4所示，该致冷器I包括安装盘101、电致冷板102和散热器104，该电致冷板102和安装盘101均固定安装于散热器104上，该安装盘 101的中部具有开口 101a，使电致冷板102镶嵌于开口 IOla中(在本实施例中，电致冷板 102与开口 IOla可具有相匹配的外形轮廓，使前者恰好镶嵌于后者中)，并使散热器104位于面向安装盘101的底面一侧，即对于图I和4所示的方位，散热器104位于安装盘101的底面的下方。如图4所示，该铝基板3紧贴固定于电致冷板102的表面上，并使铝基板3的用于焊接LED引脚的一面朝上外露，即铝基板3的用于焊接LED引脚的一面基本与安装盘的顶面的朝向一致。为了使铝基板3能够通过致冷器I进行有效的散热，可在该电致冷板102与铝基板3之间涂覆导热硅脂层，以使铝基板3与电致冷板102之间具有高导热性。为了使安装盘101与散热器104能够紧密地贴合，可在安装盘101与散热器104 之间设置环绕电致冷板102布置的第一密封垫105，即电致冷板102置于环形的第一密封垫105中。对此，如图3所示，该安装盘101的底面上可环绕开口 IOla设置一圈向内凹陷的用于容置第一密封垫105的环形槽101c，将安装盘101固定安装于散热器104上的散热器安装孔可设置于该环形槽IOlc上，而第一密封垫105上也设置有与散热器安装孔相对应的通孔，安装时，使螺钉顺次穿过散热器安装孔和第一密封垫105的对应通孔，并使螺钉旋入散热器104上的螺纹孔而将安装盘101固定安装于散热器104上。上述铝基板3具有多个用于焊接LED的安装位，每个安装位的LED正、负极均例如是通过铜皮与铝基板上的与各安装位一一对应的接线焊点电连接，为了使布线整洁，本实施例将各接线焊点均设置于铝基板的两侧边缘上，在本实施例中，该铝基板3提供至少20 个LED的安装位。在进行多颗LED的老化测试时，需要将多颗LED焊接于铝基板3的各安装位上，形成LED铝基板。
如图6所示，上述老化子系统的冷热双区温度箱2包括通过隔热板间隔设置的冷箱21和热箱22，如图5和6所示，该隔热板上设置有至少一个贯穿隔热板的用于安装致冷器I的温度箱安装孔位211。在进行LED的老化测试时，该致冷器I通过其安装盘101固定安装于温度箱安装孔位211上，使散热器104置于冷箱21中，并使电致冷板102上的铝基板3置于与冷箱密闭隔离的热箱22中进行老化测试。由于在测试时，如图6所示，LED铝基板置于热箱22中，并需要将连接于铝基板3 的接线焊点上的为各颗LED提供测试电流的引出线连接至设置于冷箱21内的接线端子排的一端上，因此，为了便于布线，如图3所示，可在安装盘101上设置贯穿其顶面和底面的例如是在散热器103外周(或者为在铝基板3外周)布置的过线孔101d，这样，便可将连接于铝基板3的接线焊点上的引出线通过过线孔IOld引至冷箱21中。在此，例如是安装于冷箱21中的安装支架217上的接线端子排的另一端上的对应接线可通过冷箱21的过线孔 213连接至控制柜的与各老化测试用电流源电连接的对应的接线端子上。为了便于安装致冷器I，冷热双区温度箱采用上、下结构，并使冷箱21置于热箱22 的上方，这样，冷箱21与热箱22之间的用于设置温度箱安装孔位211的隔热板即为冷箱21 的底板和热箱22的顶板。安装时，将整个致冷器I倒置(即使散热器104位于上方)，安装人员可手握安装盘101的底面上设置的两个手持把手IOlb将致冷器I放置于温度箱安装孔位211处。由于每个铝基板3可焊接多颗LED (在此，每个铝基板3上焊接的LED称为一组 LED)，且冷热双区温度箱2中可同时安装多个致冷器1，因此，通过本发明的致冷器I、铝基板3和冷热双区温度箱2可同时完成一组例如是多于20颗LED、且为多组的老化测试。本发明的老化子系统除上述特有的结构设计外，其余的例如是用于采集LED壳温和铝基板温度，及采集冷热双区温度箱的环境温度及湿度的温度和湿度采集单元，以形成闭环控制系统的数据采集单元均可根据LED老化测试的要求按照常规方式进行；另外，在本发明的与温度控制相关的结构设计的基础上，本领域技术人员很容易通过常规控制算法分别实现对LED周围环境温度及LED壳温的控制。上述冷箱21除与致冷器I相关的结构外，其余的例如是制冷系统及空气内循环通道的设计均可以采用与通常使用的制冷箱相同的惯常设计结构，如该冷箱21包括工作室 216和制冷控制室(图中未示出)，冷箱的制冷系统安装于制冷控制室内，工作室216与制冷控制室间的隔板上设置有送风口 212和回风口 214，该制冷系统通常包括制冷压缩机、蒸发器和用于完成空气循环的风机等。上述冷箱21还可设置有用于观察其内部情况的观察窗218。而热箱22的设计则可以采用常规老化温度箱的设计。为了便于将致冷器I整体安装于冷热双区温度箱上，如图3所示，可在安装盘101 上设置贯穿该安装盘的在散热器的外周布置的安装盘安装孔101e。这样，在需要进行老化测试时，只需将安装有铝基板3的致冷器I整体利用安装盘安装孔IOle安装于冷热双区温度箱的隔热板上即可，在安装时，为了保证冷箱21与热箱22之间的气密性，可在安装盘101 的顶面与冷箱21的隔热板之间设置一第二密封垫215。如图7所示，本发明的测量子系统的积分球5的表面设置有用于安装致冷器I的积分球安装孔位501，在将致冷器I通过其安装盘101固定安装于积分球安装孔位上时，使散热器104置于积分球外部，并使电致冷板102上的铝基板3置于积分球5的内部，在此，同样可通过该第二密封垫215使安装盘101的顶面与积分球5的位于积分球安装孔位501 外周的侧壁紧贴。这样，铝基板3上的各颗LED就可按照常规的方式完成光色电参数的测量。为了以上述安装方式完成铝基板上各颗LED的单独测量，该测量子系统的测量供电单元包括一测量用电流源和使测量用电流源按序或随机地单独点亮与铝基板上的各接线焊点相对应的每颗LED的开关切换电路，以单独测量与铝基板上的各接线焊点相对应的每颗LED的光色电参数。满足上述条件的测量供电单元例如是包括分别与铝基板上各接线焊点的正、负极接线焊点一一对应设置的各正、负极接线端子，各正极、负极接线端子分别均与测量用电源的正极、负极电连接，形成与铝基板上的各接线焊点一一对应的各供电电路，所述开关切换电路包括一一对应地电连接于各供电电路上的各受控开关。这样，在进行光色电测量时，只需将各接线焊点的引出线与正、负极接线端子对应电连接即可形成与各颗LED —一对应的供电回路，而测量子系统通过控制开关切换电路即可每次仅点亮一颗LED完成其光色电参数的测量。如图8所示，作为一种实施例，各受控开关的一端均与测量用电流源的负极电连接，各受控开关的另一端分别与各负极接线端子一一对应电连接，各正极接线端子均与测量用电流源的正极电连接。上述受控开关可以是继电器、例如是三极管的开关管等。本发明的LED寿命测试系统的测试方法包括如下步骤步骤I :将待测试的一组LED焊接于铝基板3的各安装位上，组成一个携带有LED 铝基板(即为焊接有多颗LED的铝基板)的致冷器I，在此共组成例如是9个携带有LED铝基板的致冷器(在该实施例中，冷热双区温度箱设置有9个温度箱安装孔位)。步骤2 同时完成以上9组LED的老化测试，具体为步骤21 :将各铝基板的接线焊点的引出线通过各自的安装盘上的过线孔引至冷箱中完成接线，具体为使铝基板上的每颗LED由与各自一一对应的老化测试用电流源单独供电；步骤22 :将热电偶粘贴于每一颗LED的预定的壳温测试点上，并将热电偶线通过与各自相对应的安装盘的过线孔引出至冷箱，再在冷箱内与外接的热电偶插座对接，使各热电偶线与外部的温度采集器连接，形成温度测量回路；其中，可在铝基板上设计用于对热电偶线进行限位的固定过孔；步骤23 :将9个携带有LED铝基板的致冷器通过各自的安装盘固定安装于冷热双区温度箱的与各自一一对应的温度箱安装孔位上，使各致冷器的散热器均置于冷箱中，并使致冷器上的LED铝基板置于热箱中；步骤24 :启动老化子系统进行9组LED的老化试验，当老化时间达到设定的运行时间后，系统保存所有的测试数据，并停止老化；停止老化后，老化子系统可进行报警提示， 通知操作人员进行光色电测试；在步骤24进行LED的老化试验的过程中，按照老化试验的要求，需要对每一颗LED 的壳温、电压、电流、运行时间进行监控记录；如果在老化过程中，某颗LED发生故障，系统首先会自动记录发生故障的时间、电压、电流、温度，并报警，通知人工干预；另外，如果在老化过程中，主计算机发生故障，从计算机将自动启动，接过整个子系统的控制权，对所有外设发送控制指令，并接收保存所有监控数据，此时，该从计算机变为主计算机，当主计算机故障排除，再投入运行后，其变为从计算机，对主计算机起备份作用。步骤3 :按照步骤31至34顺次完成以上9组LED的光色电参数测量；步骤31 :将携带有LED铝基板的致冷器通过积分球安装孔位安装于积分球的侧壁上，使所述散热器置于积分球外部，并使电致冷板上的铝基板置于积分球的内部；步骤32 :连接测量供电单元和铝基板的接线焊点的引出线，对于如图8所示的实施例，即将接线焊点的引出线连接至对应的正极、负极接线端子上，具体为形成与铝基板上的各LED —一对应的包括串联有测量用电流源、一 LED和一开关切换电路的受控开关的各供电回路；步骤33 :控制开关切换电路，使测量用电流源按序或随机地单独点亮铝基板上的各颗LED，以测量每一颗LED的光色电参数，在此，在点亮单颗LED后，采用现有方法完成该颗LED的光色电参数测量与记录；步骤34:从积分球上整体取下携带有LED铝基板的致冷器1，断开铝基板的接线焊点的引出线与测量供电单元的连接。本发明的LED寿命测试系统的分析子系统根据对上述测试方法获得的老化数据和测量数据按照现有的计算方法进行整合分析，形成测试报告。以上所述仅为本发明较佳的实施方式，并非用来限定本发明的实施范围，但凡在本发明的保护范围内所做的等效变化及修饰，皆应认为落入了本发明的保护范围内。
权利要求
1.一种LED寿命测试系统，其特征在于包括利用温度箱进行老化的老化子系统、利用积分球进行光色电测量的测量子系统，以及对老化数据和测量数据进行整合分析的分析子系统；其特征在于所述LED寿命测试系统还包括致冷器和用于焊接多颗待测LED的铝基板，所述致冷器包括散热器、电致冷板和安装盘；所述电致冷板和安装盘均固定安装于散热器上，所述安装盘的中部具有开口，使电致冷板镶嵌于所述开口中，并使散热器位于面向安装盘底面的一侧；所述铝基板紧贴固定于电致冷板的表面上，并使铝基板用于焊接LED引脚的一面朝上外露；所述铝基板具有多个用于连接LED的安装位，每个安装位的LED正、负极均与铝基板上各安装位一一对应的接线焊点电连接；所述温度箱为冷热双区温度箱，所述冷热双区温度箱包括通过隔热板隔离而成的冷箱和热箱，所述隔热板上设置有至少一个贯穿所述隔热板的用于安装所述致冷器的温度箱安装孔位；所述温度箱安装孔位的结构要求满足在所述致冷器通过其安装盘固定安装于温度箱安装孔位上时，使所述散热器置于冷箱中，并使电致冷板上的铝基板置于热箱中；所述积分球的表面设置有用于安装所述致冷器的积分球安装孔位，所述积分球安装孔位的结构要求满足在所述致冷器通过其安装盘固定安装于积分球安装孔位上时，使所述散热器置于积分球外部，并使电致冷板上的铝基板置于积分球的内部；以及，所述老化子系统还包括用于为与铝基板上的各接线焊点相对应的各LED提供独立的老化测试用电流源的老化供电单元；所述测量子系统的测量供电单元包括一测量用电流源和使测量用电流源按序或随机地单独点亮与铝基板上的各接线焊点相对应的每颗LED的开关切换电路，以单独测量与铝基板上的各接线焊点相对应的每颗LED的光色电参数。
2.根据权利要求I所述的LED寿命测试系统，其特征在于所述电致冷板与铝基板之间涂覆有导热硅脂层。
3.根据权利要求I所述的LED寿命测试用LED固定装置，其特征在于所述铝基板紧贴电致冷板的表面涂覆有绝缘漆层，以保证铝基板上的任何一处过孔的铜皮均不与电致冷板发生电导通。
4.根据权利要求I所述的LED寿命测试系统，其特征在于所述安装盘的底面上具有手持把手。
5.根据权利要求I所述的LED寿命测试系统，其特征在于所述安装盘与散热器之间设置有环绕电致冷板布置的第一密封垫。
6.根据权利要求I所述的LED寿命测试系统，其特征在于所述电致冷板的轮廓与开口具有相匹配的外形轮廓，使电致冷板恰好镶嵌于所述开口中。
7.根据权利要求I所述的LED寿命测试系统，其特征在于所述安装盘设置有贯穿其顶面与底面的供铝基板上各接线焊点的引出线从安装盘的底面穿出的过线孔。
8.根据权利要求I所述的LED寿命测试系统，其特征在于所述测量供电单元包括分别与铝基板上各接线焊点的正、负极接线焊点一一对应设置的各正、负极接线端子，各正极、负极接线端子分别均与测量用电源的正极、负极电连接，形成与铝基板上的各接线焊点对应的各供电电路，所述开关切换电路包括对应的电连接于各供电电路上的各受控开关。
9.根据权利要求I至8中任一项所述的LED寿命测试系统的测试方法，其特征在于 包括如下步骤步骤I :将待测试的一组LED焊接于铝基板的各安装位上，组成一个携带有LED铝基板的致冷器，共组成η个携带有LED铝基板的致冷器，其中，η为大于等于I小于等于温度箱安装孔位的数量的自然数；步骤2 :同时完成以上η组LED的老化测试，具体为步骤21 :将各铝基板接线焊点的引出线通过各自安装盘上的过线孔引至冷箱中完成接线，具体为使铝基板上的每颗LED和与各自一一对应的老化测试用电流源组成各单独供电回路；步骤22 :将热电偶粘贴于每一颗LED的预定的壳温测试点上，并将热电偶线通过与各自相对应的安装盘的过线孔引出至冷箱，再在冷箱内与外接的热电偶插座对接，使各热电偶线与外部的温度采集器连接，形成温度测量回路；步骤23 :将η个携带有LED铝基板的致冷器通过各自的安装盘固定安装于冷热双区温度箱内与各自一一对应的温度箱安装孔位上，使各致冷器的散热器均置于冷箱中，并使致冷器上的LED铝基板置于热箱中；步骤24 :启动老化子系统完成η组LED的老化试验，当老化时间达到设定的运行时间后，系统保存所有的测试数据，并停止老化；步骤3 :按照步骤31至34顺次完成η组LED的光色电参数测量；步骤31 :将携带有LED铝基板的致冷器从冷箱中取出，并通过积分球安装孔位安装于积分球的侧壁上，使所述散热器置于积分球外部，并使电致冷板上的铝基板置于积分球的内部；步骤32 :连接测量供电单元和铝基板的接线焊点的引出线，具体为形成与铝基板上的各LED —一对应的包括串联有测量用电流源、LED和开关切换电路的一受控开关的各供电回路；步骤33 :控制开关切换电路，使测量用电流源按序或随机地单独点亮铝基板上的每颗 LED，完成各颗LED的光色电测量；步骤34 :从积分球上整体取下携带有LED铝基板的致冷器，断开铝基板的接线焊点的引出线与测量供电单元的连接。
10.根据权利要求9所述的LED寿命测试系统的测试方法，其特征在于在步骤31的安装过程中，使致冷器安装盘的顶面通过第二密封垫与积分球安装孔位的外周侧壁紧贴；在步骤23中，使致冷器的安装盘的顶面通过第二密封垫与温度箱安装孔位外周的隔热板紧贴。
全文摘要
本发明公开了一种LED寿命测试系统，包括致冷器、铝基板、冷热双区温度箱和积分球，前者的电致冷板和安装盘固定安装于散热器上，使电致冷板镶嵌于安装盘的开口中；铝基板固定于电致冷板的表面上；冷热双区温度箱包括通过隔热板隔离而成的冷、热箱，隔热板和积分球上均设置有用于安装致冷器的安装孔位，在致冷器分别安装于温度箱和积分球安装孔位上时，散热器分别置于冷箱和积分球外部，而铝基板分别置于热箱和积分球的内部。本发明的致冷器可在不拆卸LED的情况下整体移动，极大地方便了LED寿命试验；另外，通过将铝基板接线焊点的引出线连接到开关切换电路，便可单独点亮每颗LED，从而达到单独测试每一颗LED光色电参数的目的。
文档编号G01K7/02GK102590763SQ20121005563
公开日2012年7月18日 申请日期2012年3月5日 优先权日2012年3月5日
发明者施朝阳, 邓恒波, 陈云明 申请人:常州市产品质量监督检验所, 深圳市迈昂科技有限公司