专利名称：磁环不合格品自动检测装置的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种磁环不合格品自动检测装置。
背景技术：
磁环在生产和喷涂过程中，少量磁环外表面会产生压坑、划伤等缺陷，且表面上的压坑、划伤其大小、深度与分布位置都是随机的。磁环企业目前普遍采用人工目测方法对磁环进行逐一检查，不仅工作量大、效率低，而且漏检率高，影响产品出厂质量。磁环在自动输送线上到达检测位置时，其中心位置是固定的，但圆周方向的位置是随机的，而且缺陷的位置也是随机的，因此必须研究适当的算法进行识别。
发明内容为了克服现有技术存在的不足，本实用新型的目的在于提供一种识别精度高、效率高、节约人力的磁环不合格品自动检测装置。为达到以上目的，本实用新型提供了一种磁环不合格品自动检测装置，它包括CXD摄像机、用于拍摄磁环图像；照明系统，用于给磁环提供拍照成像所需的光源；图像采集卡，与所述的CCD摄像机相连接，用于将拍摄到的磁环图像转成数字化信号存入计算机；计算机，与所述的图像采集卡相连接，用于对磁环图像进行分析，并判定磁环是否存在缺陷。本实用新型的进一步改进在于，还包括光电触发器，用于判定磁环是否运行至CCD 摄像机范围内的检测工位。本实用新型的进一步改进在于，还包括设置在所述的CXD摄像机与磁环之间的光学系统，用于给CCD摄像机提供放大的磁环图像。本实用新型的有益效果是(1)综合运用计算机技术、传感器技术、通信技术及数字图像处理分析技术等实现信息的获取、传输、处理和控制，实现了磁环表面缺陷的在线检测；(2)该系统可实现非接触检测，自动剔除表面有缺陷磁环，识别精度和效率高。

附图1为本实用新型一种磁环不合格品自动检测装置实施例的结构示意图。
具体实施方式
下面对本实用新型的较佳实施例进行详细阐述，以使本实用新型的优点和特征能更易于被本领域技术人员理解，从而对本实用新型的保护范围做出更为清楚明确的界定。参见附图1，一种磁环不合格品自动检测装置，它包括[0017]光电触发器，用于判定磁环是否运行至CXD摄像机范围内的检测工位。CXD摄像机、用于拍摄磁环图像；照明系统，用于给磁环提供拍照成像所需的光源；光学系统，设置在CXD摄像机与磁环之间，用于给CXD摄像机提供放大的磁环图像；图像采集卡，与CCD摄像机相连接，用于将拍摄到的磁环图像转成数字化信号存入计算机；计算机，与图像采集卡相连接，用于对磁环图像进行分析，并判定磁环是否存在缺陷。以下根据本实用新型的较佳实施例详述本实用新型的工作原理。1)当光电触发器检测到工位上有待检测的磁环通过时，触发照明系统内的光源打开，CXD摄像机开启。2)照明系统打开，CXD摄像机拍摄磁环的图像，磁环经光学系统放大后成像于CXD 摄像机。由于磁环表面压坑、划伤的缺陷十分微小，难以检测，且表面往往有一层油膜，所以照明系统的入射强度和方向，甚至是光源的种类都会对CCD摄像机的拍摄效果造成影响。 而且需要特别提及的是，在CCD摄像机拍摄图像时还需要屏蔽环境光的干扰以及保证光学系统摆放位置、角度等正确，才可以恰当地将图形放大不发生畸变，并且得到清晰的磁环图像。3)图像采集卡将CCD摄像机拍摄的图像转成数字化信号存入计算机中。4)计算机将磁环图像转换为灰度图像；需要特别提及的是，在转成灰度图像的时候，灰度图像的转化算法也会对磁环的检测造成影响。可以通过阈值设定的方法对图像进行处理，还可以通过设定一个灰度计算公式进行灰度的转换。灰度图像的转换方式不限定本实用新型的保护范围。5为了加快计算机的处理效率，本实施例中计算机运用图形分割算法对灰度图像进行分割，为了避免产品标识和凹坑型缺陷、划伤型缺陷混淆，可以将有产品标识的区域进行单独分割，减小产品识别的难度。6计算机运用图像边缘检测算法对分割后的每一个图像中的边缘信息进行提取。 需要特别提及的是，图像边缘检测算法可以采取形态学边缘提取算法，小波变换边缘提取算法等，采取哪种类型的图像边缘提取算法可以根据采用的灯光强度、CCD摄像机的分辨率、光学系统的放大倍数、灰度计算公式等因素综合进行考虑。7)计算机运用缺陷分析识别算法对提取的边缘信息进行判定，判定是凹坑型缺陷、划伤型缺陷还是产品的标示信息，最终确定产品是否为不合格品。凹坑型缺陷的边缘大致为圆形或椭圆形，划伤型缺陷的边缘形状大致为长条形，产品标识一般为字母以及数字的组合，通过判定边缘的形状可以判定出检测到的部位为凹坑、划伤还是产品标识。如果是凹坑和划伤，还可以计算凹坑和划伤区域的面积大小，当大于规定的面积时，判定为不合格品；当小于或等于规定的面积时，判定为合格品。通过以上实施例可以看出，本实用新型是一种识别精度高、效率高、节约人力的磁环不合格品自动检测装置。以上实施方式只为说明本实用新型的技术构思及特点，其目的在于让熟悉此项技术的人了解本实用新型的内容并加以实施，并不能以此限制本实用新型的保护范围，凡根据本实用新型精神实质所做的等效变化或修饰均涵盖在本实用新型的保护范围内。
权利要求1.一种磁环不合格品自动检测装置，其特征在于它包括 CCD摄像机、用于拍摄磁环图像；照明系统，用于给磁环提供拍照成像所需的光源；图像采集卡，与所述的CCD摄像机相连接，用于将拍摄到的磁环图像转成数字化信号存入计算机；计算机，与所述的图像采集卡相连接，用于对磁环图像进行分析，并判定磁环是否存在缺陷。
2.根据权利要求1所述的磁环不合格品自动检测装置，其特征在于还包括光电触发器，用于判定磁环是否运行至CXD摄像机范围内的检测工位。
3.根据权利要求1所述的磁环不合格品自动检测装置，其特征在于还包括设置在所述的CCD摄像机与磁环之间的光学系统，用于给CCD摄像机提供放大的磁环图像。
专利摘要本实用新型公开了一种磁环不合格品自动检测装置，它包括CCD摄像机、用于拍摄磁环图像；照明系统，用于给磁环提供拍照成像所需的光源；图像采集卡，与所述的CCD摄像机相连接，用于将拍摄到的磁环图像转成数字化信号存入计算机；计算机，与所述的图像采集卡相连接，用于对磁环图像进行分析，并判定磁环是否存在缺陷。本实用新型解决了现有技术的缺点，提供了一种识别精度高、效率高、节约人力的磁环不合格品自动检测装置。
文档编号G01N21/89GK202133624SQ20112025032
公开日2012年2月1日 申请日期2011年7月15日 优先权日2011年7月15日
发明者兰茹, 汪永生, 贺显良 申请人:苏州谷夫道自动化科技有限公司