专利名称：一种光强测试设备的制作方法
技术领域：
本发明涉及液晶面板技术，尤其涉及一种光强测试设备。
背景技术：
随着薄膜场效应晶体管液晶显示(TFT-IXD)技术的发展和工业技术的进步，液晶显示器件生产成本降低、制造工艺的日益完善，使其成为当前显示领域的主流技术。LCD是所有显示器中耗电较低的产品，特别是反射型TFT-LCD，由于取消了背光源，其功耗比透射 式TFT-LCD低了一个数量级。传统透射型液晶显示器在光强测试时，是由背面照射，正面测试的方法进行光强测试，而反射型薄膜场效应晶体管液晶显示器或没有背光源的其它被测设备，由于没有背光源无法按照上述的方法进行光强测试。由此可见现有技术中存在无法对没有背光源的被测设备进行光强测试的问题。

发明内容
本发明的目的是提供一种光强测试设备，解决现有技术中存在的无法对没有背光源的被测设备进行光强测试的问题。本发明提供一种光强测试设备，光强测试设备包括光源和光强测试器，其中光源发射的光线经过第一光路，经被测设备反射后经过第二光路，光强测试器的光接收面位于第一光路之外，且能够接收第二光路上的光。优选地，所述被测设备为反射型液晶面板。优选地，还包括光反射板,其中光源发射的光线经光反射板反射后,射向反射型液晶面板，再经反射型液晶面板反射后经过第二光路。优选地，光源发射的光线经光反射板反射后，垂直射向反射型液晶面板。优选地，光源发射的光线与反射型液晶面板平行。优选地，所述光反射板上设置有光通过孔，经过所述第二光路的光通过所述光通过孔被光强测试器的光接收面接收。优选地，所述光通过孔设置在所述光反射板的中心区域。优选地，所述光通过孔的外形为圆形或多边形或椭圆形。优选地，所述光反射板的反射面上设置有反射棱镜。优选地，所述反射棱镜为多个，分别设置于所述光通过孔的四周。优选地，光强测试设备进一步包括转动装置，转动装置用于在反射型液晶面板所在的平面内，转动和移动所述反射型液晶面板。由于本发明实施例所述光强测试设备是通过光源和光强测试器采用反射的方式进行测试，光源发射的光线经过第一光路，经没有背光源的被测设备反射后经过第二光路射入光强测试器，从而实现对被测设备的光强测试。


图I所示为本发明提供的反射型液晶面板测试设备剖面图；图2所示为本发明提供的带反射板的反射型液晶面板测试设备剖面图；图3所示为本发明提供的反射型液晶面板测试设备反射板俯视图；图4所示为本发明提供的带转动装置的反射型液晶面板测试设备反射板俯视图。
具体实施例方式本发明提供一种光强测试设备，为了解决现有技术中存在的无法对没有背光源的被测设备进行光强测试的问题。为了便于本领域技术人员的理解，下面结合反射型液晶面板的具体实施例和附图对本发明进行说明。
参见图I所示，该图为本发明提供的测试设备剖面图。本发明实施例以反射型液晶面板作为被测设备进行说明，当然被测设备也可以是其它需要进行光强测试的设备，在此不再详述。本发明实施例所述光强测试设备具体可以包括光源11和光强测试器12。其中光源11发射的光线经过第一光路，经反射型液晶面板13反射后经过第二光路，光强测试器12的光接收面位于第一光路之外，且位于第二光路之上。这样通过光源11和光强测试器12经过反射的方式可以对反射型液晶面板13进行光强测试。反射型液晶面板可以包括半透半反液晶面板和全反射液晶面板。由于本发明实施例所述光强测试设备是通过光源11和光强测试器12采用反射的方式进行测试，光源11发射的光线经过第一光路，经被测设备反射后经过第二光路射入光强测试器12，从而实现对被测设备的光强测试。如图2所示，本发明实施例所述光强测试设备还可以包括光反射板14。其中光源11发射的光线经光反射板14反射后，射向反射型液晶面板13，再经反射型液晶面板反射(漫反射)后经过第二光路，射入光强测试器12的光接收面。为了便于光强测试器12对光强的计算，需要保证测试时光源11的入射光能够垂直射向反射型液晶面板13。光源11发射的光线经光反射板14反射后,垂直射向反射型液晶面板13，再经反射型液晶面板反射(漫反射)后经过第二光路，射入光强测试器12的光接收面。当然，经光反射板14反射的光也可以与反射型液晶面板13呈其他角度。优选的方案是光源11发射的光线与反射型液晶面板平行13。反射板14的结构如图3所示，为了便于光强测试器12接收反射光，在光反射板14上可以开设有光通过孔141，经过所述第二光路的光通过所述光通过孔141被光强测试器12的光接收面接收。光通过孔141设置在光反射板的中心区域，当然也可以设置在其它区域，如中心偏左区域或中心偏右区域，本发明实施例对此不进行限定。光通过孔141的外形可以为圆形，当然也可以是多边形、椭圆形等其它形状，本发明实施例对此不进行限定。为了保证能够有更多的光线射向反射型液晶面板，在光反射板14的反射面上设置有反射棱镜142,反射棱镜142可以为多个。
多个反射棱镜142可以设置于光通过孔141的四周。为了方便对反射型液晶面板不同区域进行测试，反射型液晶面板13测试设备还可以包括转动装置15,转动装置15用于在反射型液晶面板13所在的平面内，转动和移动反射型液晶面板13，这样就可以方便对反射型液晶面板进行光强测试。首先从光源11发射出平行光(与反射型液晶面板13所在平面平行的光)，并照射到光反射板14。光反射板14上的反射棱镜142再将平行光均匀分散照射到反射型液晶面板13上。接下来，反射型液晶面板13将照射到其上的光漫反射出去，并通过光反射板14上的光通过孔141经第二光路被位于其上端的光强测试器12接收。光强测试器12根据接收到的光强的强弱计算得到测试结果 。为了方便测试，本发明所述光强测试设备还可以进一步包括转动装置15，转动装置15可以设置在反射型液晶面板(或被测设备)的一端，用于在反射型液晶面板所在的平面内，转动和移动所述反射型液晶面板。本实施例中的反射型液晶面板可以是半透半反型的面板，半透半反型的面板既可以通过背光源实现显示，也可以将外界透过基板的光重新反射回去。本发明本实施例所述光强测试设备的实验条件具体可以为暗室测试。当光线只通过半透半反型液晶面板的背光源发出时，即本发明实施例所述的光强测试设备的光源11可以处于不开启状态，光强测试设备此时接收到的光线为背光源所发出的光。根据接收到的光强，我们可以测量出只打开背光源情况下液晶面板的亮度。当本发明实施例所述的光强测试设备的光源11开启，液晶面板的背光源关闭时，本发明实施例所述的光强测试设备的光源11发出的光可以经过光反射板14反射到半透半反型的液晶面板上，再经过反射从而被光强测试器12接收，进而测试出反射光的强度。本发明实施例所述的光强测试设备可以将接收到的光强与液晶面板的背光源发出的光强进行对比，从而判断出半透半反型的面板的反射效果。当然也可以是即打开背光源又打开光强测试设备的光源11，这样光线通过半透半反型液晶面板的背光源和光强测试设备的光源11同时发出，利用前述的测试方法进行测试，以用来测试屏幕总体亮度的情况。最后应说明的是以上实施例仅用以说明本发明的技术方案而非对其进行限制，尽管参照较佳实施例对本发明进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解其依然可以对本发明的技术方案进行修改或者等同替换，而这些修改或者等同替换亦不能使修改后的技术方案脱离本发明技术方案的精神和范围。
权利要求
1.一种光强测试设备，其特征在于，光强测试设备包括光源和光强测试器，其中光源发射的光线经过第一光路，经被测设备反射后经过第二光路，光强测试器的光接收面位于第一光路之外，且能够接收第二光路上的光。
2.根据权利要求I所述的光强测试设备，其特征在于，所述被测设备为反射型液晶面板。
3.根据权利要求2所述的光强测试设备，其特征在于，还包括光反射板，其中光源发射的光线经光反射板反射后，射向反射型液晶面板，再经反射型液晶面板反射后经过第二光路。
4.根据权利要求3所述的光强测试设备，其特征在于，光源发射的光线经光反射板反射后，垂直射向反射型液晶面板。
5.根据权利要求4所述的光强测试设备，其特征在于，光源发射的光线与反射型液晶 面板平行。
6.根据权利要求I至5任一项所述的光强测试设备，其特征在于，所述光反射板上设置有光通过孔，经过所述第二光路的光通过所述光通过孔被光强测试器的光接收面接收。
7.根据权利要求6所述的光强测试设备，其特征在于，所述光通过孔设置在所述光反射板的中心区域。
8.根据权利要求6所述的光强测试设备，其特征在于，所述光通过孔的外形为圆形或多边形或椭圆形。
9.根据权利要求6所述的光强测试设备，其特征在于，所述光反射板的反射面上设置有反射棱镜。
10.根据权利要求9所述的光强测试设备，其特征在于，所述反射棱镜为多个，分别设置于所述光通过孔的四周。
11.根据权利要求I至5任一项所述的光强测试设备，其特征在于，光强测试设备进一步包括转动装置，转动装置用于在反射型液晶面板所在的平面内，转动和移动所述反射型液晶面板。
全文摘要
本发明公开了一种光强测试设备，为了解决现有技术中存在的无法对被测设备进行光强测试的问题，本发明实施例提供一种光强测试设备，光强测试设备包括光源和光强测试器，其中光源发射的光线经过第一光路，经被测设备反射后经过第二光路，光强测试器的光接收面位于第一光路之外且位于第二光路之上，由于通过光源和光强测试器采用反射的方式进行测试，从而实现光强测试。
文档编号G01J1/00GK102853905SQ201210376009
公开日2013年1月2日 申请日期2012年9月29日 优先权日2012年9月29日
发明者张弥 申请人:京东方科技集团股份有限公司