专利名称：光学坐标测量仪用探针触测时辅助工作台的制作方法
技术领域：
光学坐标测量仪用探针触测时辅助工作台技术领域本发明创造涉及光学坐标测量仪使用三坐标探针接触测量时的辅助工 作台。
背景技术：
型号为0MS1000光学坐标测量仪其中的功能之一是兼具三坐标探针接 触测量，0MS1000光学坐标测量仪的工作台为光学玻璃工作台，在光学玻璃工作台的边框上 设有螺纹孔，用于装夹仪器校准标准器具如标准孔或标准球，在使用三坐标探针接触测量 时，某些零部件需要定位装夹才能检测，但光学坐标测量仪的工作台为光学玻璃工作台，零 部件无法装夹固定，坐标基准无法建立，无法成批次检测。发明内容本发明创造的目的是提供一种型号为0MS1000光学坐标测量仪使用三 坐标探针接触测量时易建立零部件的装夹和坐标基准的光学坐标测量仪用探针触测时辅 助工作台；本发明创造的目的是通过下述的技术方案实现的光学坐标测量仪用探针触测 时辅助工作台，其特征在于由直角基座、紧固螺钉、连接轴和可旋转工作台构成，在直角基 座内侧壁上制成安装可旋转工作台的通槽，在直角基座制成通槽的两边交叉处制出安装连 接轴的孔，并在通槽的一侧边上制出两排，每排上两个螺纹孔，可旋转工作台制成方形，在 一个角处制出光孔，在可旋转工作台上制出成排、成列的螺纹孔，将可旋转工作台安装在直 角基座的通槽内，用连接轴将直角基座和可旋转工作台连接，将紧固螺钉装在直角基座两 排螺纹孔内并压紧可旋转工作台。本发明创造的优点采用光学坐标测量仪用探针触测时辅助工作台，使用三坐标 探针接触测量时，有效的解决了零部件的装夹和坐标基准的建立，即可实现零部件的程序 化自动化成批次检测，提高了检测的效率和准确度。

图1是光学坐标测量仪用探针触测时辅助工作台结构示意图；图2是图1中沿A-A线切面示意图；图3是光学坐标测量仪用探针触测时辅助工作台中的可旋转工作台结构示意图；图4是光学坐标测量仪用探针触测时辅助工作台中的直角基座结构示意图。图中的1、直角基座2、紧固螺钉3、连接轴4、可旋转工作台具体实施方式
光学坐标测量仪用探针触测时辅助工作台，其特征在于由直角基 座、紧固螺钉、连接轴和可旋转工作台构成，在直角基座内侧壁上制成安装可旋转工作台的 通槽，在直角基座制成通槽的两边交叉处制出安装连接轴的孔，并在通槽的一侧边上制出 两排，每排上两个螺纹孔，可旋转工作台制成方形，在一个角处制出光孔，在可旋转工作台 上制出成排、成列的螺纹孔，将可旋转工作台安装在直角基座的通槽内，用连接轴将直角基 座和可旋转工作台连接，将紧固螺钉装在直角基座两排螺纹孔内并压紧可旋转工作台。使用时将光学坐标测量仪用探针触测时辅助工作台用紧固螺钉固定在0MS1000 光学坐标测量仪的光学玻璃工作台边框上，借助光学坐标测量仪用探针触测时辅助工作台 中的直角基座和可旋转工作台建立了坐标系。
权利要求光学坐标测量仪用探针触测时辅助工作台，其特征在于由直角基座、紧固螺钉、连接轴和可旋转工作台构成，在直角基座内侧壁上制成安装可旋转工作台的通槽，在直角基座制成通槽的两边交叉处制出安装连接轴的孔，并在通槽的一侧边上制出两排，每排上两个螺纹孔，可旋转工作台制成方形，在一个角处制出光孔，在可旋转工作台上制出成排、成列的螺纹孔，将可旋转工作台安装在直角基座的通槽内，用连接轴将直角基座和可旋转工作台连接，将紧固螺钉装在直角基座两排螺纹孔内并压紧可旋转工作台。
专利摘要光学坐标测量仪用探针触测时辅助工作台，涉及光学坐标测量仪使用三坐标探针接触测量时的辅助工作台。由直角基座、紧固螺钉、连接轴和可旋转工作台构成，在直角基座内侧壁上制成安装可旋转工作台的通槽，在直角基座制成通槽的两边交叉处制出安装连接轴的孔，并在通槽的一侧边上制出两排，每排上两个螺纹孔，在可旋转工作台制成方形，在一个角处制出光孔，在可旋转工作台上制出成排、成列的螺纹孔，将可旋转工作台安装在直角基座的通槽内，用连接轴将直角基座和可旋转工作台连接，将紧固螺钉装在直角基座两排螺纹孔内并压紧可旋转工作台。优点有效的解决了零部件的装夹和坐标基准的建立，即可实现零部件成批次检测，提高了检测的效率和准确度。
文档编号G01B11/00GK201653362SQ20102013143
公开日2010年11月24日 申请日期2010年3月16日 优先权日2010年3月16日
发明者孙广顺, 王燕 申请人:沈阳飞机工业(集团)有限公司