专利名称：一种三段式测试探针的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及PCB测试装置技术领域，特别涉及一种三段式测试探针。
背景技术：
随着电子技术的迅猛发展，印制线路板(PCB)的制作层数越来越高、线路密度越来越密、焊盘尺寸越做越小。通常，PCB板及芯片在完成布线后，为确定每一条线路皆可正常导通，须通过探针作为测试媒介。图1所示，现有的测试探针由针套1和针体2组成，针体2套设于针套1的前端，外露的部分形成探测头3。测试PCB板时，由于PCB板上有多个测试点，需将多个测试探针根据测试点的高低位置安装在测试探针的针盘上，然后针体的探测头与测试点相接触，针套的尾部通过导线连接测试机，从而完成PCB板的测试。对于高密度的PCB板，因密度太大， 使用的探针尺寸非常精细，其硬度无法保证，增大了测试难度。现有的测试探针其针体和针套是分开生产的，即先生产一支针体然后通过压接的方式加上针套，这种两段式分体结构的探针具有以下缺陷1.压接后的针套以及探测头使用时容易发生脱落；2.两段式的测试探针只能采用一种型号的探测头，故只能用于测试双面或四层及以上的PCB板，而对于单面PCB板，因焊盘孔是冲掉的，孔内无铜，需采用不同角度面的探测头进行测孔边，因此，两段式测试探针无法解决单面PCB板的测试问题。
发明内容本实用新型的目的在于避免现有技术中的不足之处而提供一种结构简单、使用方便、测试稳定性好的三段式测试探针，能有效结合复合式治具测试单面PCB板。本实用新型的目的通过以下技术措施实现提供一种三段式测试探针，包括有探测头、针套、针体以及设置于针套内的压簧， 所述针体包括有第一针体和第二针体，所述第二针体的一端套设于所述针套内且抵压所述压簧，所述第二针体的另一端与所述第一针体的一端固定连接，所述探测头与所述第一针体的另一端固定连接，所述针套、第一针体及第二针体一体成型。其中，所述第一针体的直径为0. 28 0. 3mm。其中，所述探测头的顶部为圆锥状。其中，所述探测头的顶部为锯齿状。其中，所述探测头的顶部为圆弧状。本实用新型的有益效果本实用新型的一种三段式测试探针，包括有探测头、针套、针体以及设置于针套内的压簧，所述针体包括有第一针体和第二针体，所述第二针体的一端套设于所述针套内且抵压所述压簧，所述第二针体的另一端与所述第一针体的一端固定连接，所述探测头与所述第一针体的另一端固定连接，所述针套、第一针体及第二针体一体成型。采用上述三段式的结构，可使用不同形状的探测头进行PCB测试，特别针对单面PCB板由于其焊盘孔是冲掉
3的，孔内无铜，需采用不同形状多个接触面的探测头进行测孔边，本实用新型能有效结合复合式治具解决测试PCB单面板的问题，其测试稳定性好。三段式测试探针的针套、针体加工时一体成型，使用时针套不会发生脱落，具有结构简单，使用方便的优点。

利用附图对本实用新型做进一步说明，但附图中的内容不构成对本实用新型的任何限制。图1为现有技术的二段式测试探针的结构示意图。.图2为本实用新型的一种三段式测试探针的结构示意图。图3为本实用新型的一种三段式测试探针的剖面结构示意图。图4为本实用新型的一种三段式测试探针的圆锥状探测头的结构示意图。图5为本实用新型的一种三段式测试探针的锯齿状探测头的结构示意图。图1至图5中包括有针套1、针体2、探测头3、压簧4 ；第一针体21、第二针体22。
具体实施方式
结合以下实施例对本实用新型作进一步说明本实用新型的一种三段式测试探针的实施例1如图2至图5所示，包括有探测头 3、针套1、针体2以及设置于针套1内的压簧4，所述针体2包括有第一针体21和第二针体 22，所述第二针体22的一端套设于所述针套1内且抵压所述压簧4，所述第二针体22的另一端与所述第一针体21的一端固定连接，所述探测头3与所述第一针体21的另一端固定连接，所述针套1、第一针体21及第二针体22 —体成型。采用三段式的结构探针，可使用不同形状的探测头3进行PCB测试，特别针对单面 PCB板由于其焊盘孔是冲掉的，孔内无铜，需采用不同形状具有多个接触面的探测头3进行测孔边，能有效结合复合式治具解决测试PCB单面板的问题，其测试稳定性更好。而现有技术的两段式探针只能采用一种结构型号的探测头3，若测试单面PCB板时，所需的锯齿状探测头或其他多角度面的探测头，在使用时很容易脱落，因此，这种探针只能测试双面或四层及以上的PCB板。本实施例中，所述探测头3的顶部为圆锥状。作为优选的实施方案，所述探测头3的顶部为圆弧状或是锯齿状。当然，所述探测头3的形状不局限于上述描述的形状，根据检测PCB板焊孔的需要，还可以是其他形状。本实施例中，第一针体21的直径为0. 28 0. 3mm。本实用新型的三段式测试探针，针套1、第一针体21及第二针体22加工时一体成型，使用时针套1不会发生脱落，具有结构简单，使用方便的优点。最后应当说明的是，以上实施例仅用于说明本实用新型的技术方案而非对本实用新型保护范围的限制，尽管参照较佳实施例对本实用新型作了详细说明，本领域的普通技术人员应当理解，可以对本实用新型的技术方案进行修改或者等同替换，而不脱离本实用新型技术方案的实质和范围。
权利要求1.一种三段式测试探针，包括有探测头、针套、针体以及设置于针套内的压簧，其特征在于所述针体包括有第一针体和第二针体，所述第二针体的一端套设于所述针套内且抵压所述压簧，所述第二针体的另一端与所述第一针体的一端固定连接，所述探测头与所述第一针体的另一端固定连接，所述针套、第一针体及第二针体一体成型。
2.根据权利要求1所述的一种三段式测试探针，其特征在于所述第一针体的直径为 0. 28 0. 3mm。
3.根据权利要求1所述的一种三段式测试探针，其特征在于所述探测头的顶部为圆锥状。
4.根据权利要求1所述的一种三段式测试探针，其特征在于所述探测头的顶部为锯齿状。
5.根据权利要求1所述的一种三段式测试探针，其特征在于所述探测头的顶部为圆弧状。
专利摘要本实用新型公开了一种三段式测试探针，包括有探测头、针套、针体以及设置于针套内的压簧，所述针体包括有第一针体和第二针体，所述第二针体的一端套设于所述针套内且抵压所述压簧，所述第二针体的另一端与所述第一针体的一端固定连接，所述探测头与所述第一针体的另一端固定连接，所述针套、第一针体及第二针体一体成型。本实用新型的测试探针能有效结合复合式治具解决测试单面PCB板的问题，其测试稳定性好，具有结构简单，使用方便的优点。
文档编号G01R1/067GK202018464SQ20112007312
公开日2011年10月26日 申请日期2011年3月18日 优先权日2011年3月18日
发明者苏宝军 申请人:东莞市连威电子有限公司