专利名称：高压介质损耗测试仪器的制作方法
技术领域：
高压介质损耗测试仪器
技术领域：
本实用新型涉及一种测试仪器，尤其涉及一种对电力设备进行高压介质损耗测试 的仪器，其最高测试电压可高达500KV。
背景技术：
为了检验电力设备的运行状况和安装质量，保证设备安全正常地运行，在工程的 交接试验、预防性试验以及检修过程中都需要进行高压介质损耗的测试，因此高压介质损 耗测试是一种保证电力设备运输、安装、检修质量及安全运行的重要措施。目前，国产高压介损测试仪由于无法实现高压端取样，故，暂不能进行高压反接法 测试，而作为合格的介损测试仪，必须同时具备正接法和反接法的测试功能。同时，介损是一个与电源频率有关的变量，传统的试验方法都是采用工频升压装 置进行加压，然而随着超高电压项目的建成，谐振升压装置有取代工频升压装置的趋势。为 了适应这种发展趋势，也需要提供一种新的检测装置。因此，为避免上述技术问题，确有必要提供一种结构更加合理的高压介质损耗测 试仪器，以克服现有技术中的所述缺陷。

实用新型内容为解决上述问题，本实用新型的目的在于提供一种结构新颖的高压介质损耗测试 仪器，其最高检测电压等级能达到500KV，能够在500KV高压端进行电流信号取样，并保证 介损准确测试。为实现上述目的，本实用新型采取的技术方案为一种高压介质损耗测试仪器，其 包括串谐升压控制箱、激励变压器、电抗器、补偿电容器、标准电容、高压取样单元、被试品 以及介质损耗测试仪，其中，所述串谐升压控制箱、激励变压器、电抗器以及补偿电容器依 次串接并为被试品提供一个用于测试的高压源；所述标准电容通过一芯线连接至介质损耗 测试仪，并为介损测试仪提供一个标准信号通道；所述高压取样单元与被试品串接，且高压 取样单元通过光纤与介质损耗测试仪连接，并为介损测试仪提供一个被试品信号通道；所 述介质损耗测试仪将标准信号通道和被试品信号通道上传递过来的信号进行模拟_数字 转换，并将数字信号的处理，最终得出检测结果。本实用新型的高压介质损耗测试仪器进一步设置为所述高压取样单元集成有取 样电路、信号调制电路以及光纤驱动和接收电路。本实用新型的高压介质损耗测试仪器还可设置为所述介质损耗测试仪上设有一 用于连接光纤的光纤接口。与现有技术相比，本实用新型具有如下有益效果1、超高压。设备测试范围覆盖了 500KV(含500KV)及以下电压等级的电气设备的 介质损耗。2、通过采用光纤通讯技术，完全实现了超高压范围内的正接法和反接法的介损测试。3、采用谐振升压设备进行介损试验。4、装置一体化设计。仪器将所有部件设计在一个机箱内，结构紧凑，接线简单，使 用便捷性大幅提高，可满足各种电压等级的应用需要。

图1是本实用新型的高压介质损耗测试仪器的原理图。
具体实施方式
请参阅图1所示，本实用新型为高压介质损耗测试仪器，其包括串谐升压控制箱 1、激励变压器2、电抗器4、补偿电容器3、标准电容5、高压取样单元6、被试品7以及介质损 耗测试仪8等构件。其中，所述串谐升压控制箱1、激励变压器2、电抗器4以及补偿电容器 3依次串接并具有串联谐振升压功能，从而为被试品7提供一个用于测试的高压源，有效降 低了高压装置的功率容量。所述标准电容5通过一芯线51连接至介质损耗测试仪8上，并 为介损测试仪8提供一个标准信号通道。所述高压取样单元6内部集成了取样电路、信号 调制电路以及光纤驱动和接收电路，实现取样信号的零相位差传送到介质损耗测试仪8，其 与被试品7串接，且高压取样单元6通过光纤61与介质损耗测试仪8连接，并为介损测试 仪8提供一个被试品信号通道。所述介质损耗测试仪8上设有一用于连接光纤61的光纤 接口 81，该介质损耗测试仪8将标准信号通道和被试品信号通道上传递过来的信号进行模 拟_数字转换，信号增益控制，并将数字信号的处理，该处理过程包括数字滤波和傅里叶变 换，最后将测试分析的结果显示和打印，即得出检测结果。本实用新型的高压介质损耗测试仪器的工作原理如下将被试品7放置在串谐升 压控制箱1、激励变压器2、电抗器4以及补偿电容器3组成的高压源上，高压取样单元6获 得被试品7的模拟信号，并通过一种“幅度-时间”脉冲调制技术调制成系列脉冲信号，然 后通过光纤61将脉冲信号送到介质损耗测试仪8上，而标准电容5的标准信号亦送到介质 损耗测试仪8上，之后介质损耗测试仪8进行模拟-数字转换，并将数字信号的处理，最终 得出检测结果。以上的具体实施方式
仅为本创作的较佳实施例，并不用以限制本创作，凡在本创 作的精神及原则之内所做的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本创作的保护范围之 内。
权利要求一种高压介质损耗测试仪器，其特征在于其包括串谐升压控制箱、激励变压器、电抗器、补偿电容器、标准电容、高压取样单元、被试品以及介质损耗测试仪，其中，所述串谐升压控制箱、激励变压器、电抗器以及补偿电容器依次串接并为被试品提供一个用于测试的高压源；所述标准电容通过一芯线连接至介质损耗测试仪，并为介损测试仪提供一个标准信号通道；所述高压取样单元与被试品串接，且高压取样单元通过光纤与介质损耗测试仪连接，并为介损测试仪提供一个被试品信号通道；所述介质损耗测试仪将标准信号通道和被试品信号通道上传递过来的信号进行模拟 数字转换，并将数字信号的处理，最终得出检测结果。
2.如权利要求1所述的高压介质损耗测试仪器，其特征在于所述高压取样单元集成 有取样电路、信号调制电路以及光纤驱动和接收电路。
3.如权利要求1所述的高压介质损耗测试仪器，其特征在于所述介质损耗测试仪上 设有一用于连接光纤的光纤接口。
专利摘要本实用新型涉及一种高压介质损耗测试仪器，其由串谐升压控制箱、激励变压器、电抗器、补偿电容器、标准电容、高压取样单元、被试品以及介质损耗测试仪等部件组成，其中标准电容连接至介质损耗测试仪，并为介损测试仪提供一个标准信号通道；高压取样单元与被试品串接，且高压取样单元通过光纤与介质损耗测试仪连接，并为介损测试仪提供一个被试品信号通道；所述介质损耗测试仪将标准信号通道和被试品信号通道上传递过来的信号进行模拟数字转换，并将数字信号的处理，最终得出检测结果。本高压介质损耗测试仪器结构简单，能够在500KV高压端进行电流信号取样，并保证介损准确测试，具有十分广阔的应用前景。
文档编号G01R27/26GK201673211SQ20102020656
公开日2010年12月15日 申请日期2010年5月28日 优先权日2010年5月28日
发明者付友君 申请人:长沙金艺电子科技有限公司