专利名称：可调式自动落下测试装置的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种测试装置，且特别涉及一种可调式自动落下测试装置。
背景技术：
可携式电子产品具有让使用者随身携带的特性，而在使用中常常会发生跌落现 象。因此，一般的可携式电子产品或零件在出厂前都要经过落下测试。目前，通常使用人工手动跌落或者跌落试验机来进行落下测试。采用人工手动跌 落的方式比较费人力，而且每次跌落的高度都由人来控制，难免存在一些偏差。传统的跌落 试验机每次跌落以后也需要操作人员将产品再次放到初始位置以进行下一次跌落，导致测 试效率难以提高。并且，一种跌落试验机通常只有一个测试高度，其仅能针对某种特定的产 品进行测试。如此，则无法满足不同产品对不同测试高度的需求。

实用新型内容本实用新型提供一种可调式自动落下测试装置，能够解决上述问题。为解决所述技术问题，本发明的技术方案是本实用新型提供一种可调式自动落下测试装置，包括中空旋转本体、第一载板以 及第二载板。中空旋转本体具有相互平行的第一内表面与第二内表面。第一载板耦接于第 一内表面。第一载板将第一内表面所在平面分成第一部分与第二部分，第一载板与第一部 分的夹角为锐角。至少部分的第一载板位于中空旋转本体内，且第一载板位于中空旋转本 体内的长度为可调整。第二载板平行于第一载板并耦接于第二内表面。第二载板将第二内 表面所在平面分成第三部分与第四部分，第二载板与第三部分的夹角为锐角。至少部分的 第二载板位于中空旋转本体内，且第二载板位于中空旋转本体内的长度为可调整。第二载 板在第一内表面的正投影位于第一部分，且第一载板不位于第二载板向第一内表面投影的 路径上。在本实用新型的一具体实施例中，中空旋转本体包括至少一块隔板，耦接于第一 内表面与第二内表面之间以将中空旋转本体分隔成至少两个测试区。在本实用新型的一具体实施例中，中空旋转本体具有多个第一固定部，第一载板 与第二载板分别具有第二固定部，每一个第二固定部选择性地固定于这些第一固定部中的一个。在本实用新型的一具体实施例中，可调式自动落下测试装置还包括控制单元，耦 接于中空旋转本体以控制中空旋转本体旋转。在本实用新型的一具体实施例中，控制单元包括马达与变频器，马达耦接于中空 旋转本体，变频器耦接于马达以控制马达的旋转速度与旋转方向。在本实用新型的一具体实施例中，可调式自动落下测试装置还包括感应器与待感 应元件，待感应元件设置于中空旋转本体，感应器位于待感应元件的一侧以感应待感应元 件并发出感应信号。
3[0012]在本实用新型的一具体实施例中，可调式自动落下测试装置还包括计数器，耦接 于感应器与控制单元，计数器接收感应信号以记录中空旋转本体的旋转次数，当中空旋转 本体的旋转次数达到预设值时，计数器发出停止旋转信号至控制单元。在本实用新型的一具体实施例中，可调式自动落下测试装置还包括指示元件，耦 接于计数器，当中空旋转本体的旋转次数达到预设值时，计数器控制指示元件发出指示。在本实用新型的一具体实施例中，待感应元件为磁铁，感应器为磁铁感应器。在本实用新型的一具体实施例中，第一载板与所述第一部分的夹角以及第二载板 与第三部分的夹角均为45度。与现有技术相比，本发明的有益效果可以是本实用新型提供的可调式自动落下测试装置中，根据实际需要，可调整第一载板 与第二载板位于中空旋转本体内的长度，进而改变测试高度，满足不同产品的测试要求。另 外，随着中空旋转本体的旋转，产品可交替地由第一载板落下至第二内表面以及由第二载 板落下至第一内表面，以自动进行重复落下测试。为让本实用新型的所述和其它目的、特征和优点能更明显易懂，下文特举较佳实 施例，并配合附图，作详细说明如下。

图1为本实用新型一较佳实施例的可调式自动落下测试装置的示意图。图2为图1中的可调式自动落下测试装置沿A-A线的剖面图。图3A及图;3B为本实用新型一较佳实施例的第一载板与第二载板固定于不同测试 高度的侧视图。图4A 图4C为本实用新型一较佳实施例的控制单元的部分电路图。
具体实施方式
图1为本实用新型一较佳实施例的可调式自动落下测试装置的示意图。图2为图 1中的可调式自动落下测试装置沿A-A线的剖面图。请参照图1与图2。本实施例中的可 调式自动落下测试装置1包括中空旋转本体11、第一载板12、第二载板13、控制单元14、感 应器15、待感应元件16、计数器17、指示元件18、转动组件20以及底座21。然而，本实用新 型对此不作任何限定。在本实施例中，中空旋转本体11具有相互平行的第一内表面111与第二内表面 112。具体而言，中空旋转本体11为矩形中空体，由两对平行侧壁W1、W2以及W3、W4形成。 侧壁Wl、W2分别平行于旋转轴线L，侧壁W3、W4分别垂直于旋转轴线L。侧壁Wl、W2的内 表面即分别为第一内表面111与第二内表面112。然而，本实用新型对此不作任何限定。在本实施例中，中空旋转本体11包括隔板113。隔板113耦接于第一内表面111 与第二内表面112之间，以将中空旋转本体11分隔成多个测试区。如此，可同时对多个产 品进行测试。隔板113的数目可根据实际需要而定，N个隔板可分隔出N+1个测试区。图1 中仅示意性地标出了两个测试区T1、T2。另外，本实施例中的隔板均垂直于第一内表面111 与第二内表面112设置。然而，本实用新型对此不作任何限定。在本实施例中，中空旋转本体11还包括多个第一固定部114，分别设置于侧壁W3、W4上。关于第一固定部114的作用容后详述。在本实施例中，底座21用于支撑中空旋转本体11。底座21包括支撑架211与支 撑板212。支撑架211耦接中空旋转本体11。并且，支撑架211固定于支撑板212上，以更 稳固地支撑中空旋转本体11。然而，本实用新型对此不作任何限定。在本实施例中，转动组件20包括转轴201以及轴承202。轴承202固定于支撑架 211以支撑转轴201。转轴201的一端耦接于中空旋转本体11的侧壁W3，另一端支撑于轴 承202。然而，本实用新型对此不作任何限定。在本实施例中，控制单元14包括马达141与变频器142。马达141耦接于转轴201 的另一端，用于驱动转轴201旋转，进而带动中空旋转本体11以旋转轴线L为轴一并旋转。 变频器142耦接于马达141，用于控制马达141的旋转速度与旋转方向。然而，本实用新型 对此不作任何限定。在本实施例中，感应器15与待感应元件16用于感应中空旋转本体11的旋转次 数。具体而言，待感应元件16设置于转轴201，感应器15设置于待感应元件16下方相对应 的支撑架211上。感应器15可在预设感应范围内感应到待感应元件16并发出感应信号。 由于待感应元件16随着转轴201 —起转动，因此，每转一圈，待感应元件16会经过预设感 应范围一次，感应器15便发出一次感应信号。转轴201转η圈，感应器15即发出η次感应 信号。本实施例中的待感应元件16例如为磁铁，感应器15例如为磁铁感应器。然而，本实 用新型对感应器15与待感应元件16的设置位置与类型不作任何限定。在其它实施例中，待感应元件16也可设置于中空旋转本体11上，感应器15设置 于待感应元件16 —侧相对应的位置。只要确保中空旋转本体11旋转一周，待感应元件16 可经过预设感应范围，以使感应器15感应到待感应元件16以发出感应信号即可。在本实施例中，计数器17耦接于感应器15与控制单元14。计数器17用于接收感 应器15的感应信号以记录中空旋转本体11的旋转次数，并将其与一预设值作比较。当中 空旋转本体11的旋转次数达到预设值时，计数器17发出停止旋转信号至控制单元14，使得 控制单元14控制中空旋转本体11停止旋转。然而，本实用新型对此不作任何限定。在本实施例中，指示元件18耦接于计数器17。当中空旋转本体11的旋转次数达 到预设值时，计数器17控制指示元件18发出指示信号。指示元件18例如可为指示灯或者 蜂鸣器。然而，本实用新型对此不作任何限定。在本实施例中，变频器142、计数器17以及指示元件18均整合于操作箱19内。其 中，变频器142可设置于操作箱19的内部，计数器17与指示元件18可设置于操作箱19的 表面，以方便人员观察。然而，本实用新型对此不作任何限定。在本实施例中，第一载板12耦接于第一内表面111。至少部分的第一载板12位于 中空旋转本体11内，且第一载板12位于中空旋转本体11内的长度为可调整。具体而言， 第一载板12横跨所有测试区，并倾斜地耦接于第一内表面111且与侧壁Wl相交于交线Ρ1。 第一内表面111所在平面被交线Pl分成第一部分1111与第二部分1112，第一载板12与第 一部分1111形成第一容置区Si，且第一载板12与第一部分1111的夹角α为锐角。较佳 地，夹角α可为45度。然而，本实用新型对此不作任何限定。另外，本实施例中的交线Pl 为侧壁Wl的一条边。因此，第二部分1112位于侧壁Wl的延伸部分，即中空旋转本体11之 外。然而，本实用新型对此不作任何限定。于其它实施例中，交线Pl也可为侧壁Wl中间的某一条直线。在本实施例中，第二载板13平行于第一载板12并耦接于第二内表面112。至少 部分的第二载板13位于中空旋转本体11内，且第二载板13位于中空旋转本体11内的长 度为可调整。具体而言，第二载板13也横跨所有测试区，并倾斜地耦接于第二内表面112 且与侧壁W2相交于交线P2。第二内表面112所在平面被交线P2分成第三部分1121与第 四部分1122，第二载板13与第三部分1121形成第二容置区S2，且第二载板13与第三部分 1121的夹角β为锐角。较佳地，夹角β可为45度。然而，本实用新型对此不作任何限定。 另外，本实施例中的交线Ρ2为侧壁W2的一条边。因此，第四部分1122位于侧壁W2的延伸 部分，即中空旋转本体11之外。然而，本实用新型对此不作任何限定。于其它实施例中，交 线Ρ2也可为侧壁W2中间的某一条直线。在本实施例中，第二载板13在第一内表面111内的正投影F2位于第一部分1111。 并且，第一载板12不位于第二载板13向第一内表面111投影的路径上。具体而言，在本实 施例中，当第二载板13向第一内表面111投影时(在图2中即为向下投影时)，应不经过第 一载板12。此时，第一载板12在第二内表面112的正投影Fl位于第三部分1121。并且， 第二载板13不位于第一载板12向第二内表面112投影的路径上。由此，可确保产品在测 试时，可交替地位于第一容置区Sl与第二容置区S2内，而不会沿着第一载板12及第二载 板13 —直下滑导致脱离第一容置区Sl或第二容置区S2。在本实施例中，对应于中空旋转本体11的第一固定部114，第一载板12与第二载 板13分别具有至少一第二固定部121、131。本实用新型对第二固定部121、131的个数不作 任何限定。具体而言，第一载板12与侧壁W3、W4分别具有交线P3、P4。多个第一固定部114 沿着交线P3、P4的方向均勻排列于侧壁W3、W4。第一固定部114例如可为螺柱。第一载 板12的侧边，即与侧壁W3、W4的相交处设置有与第一固定部114相对应排列的第二固定部 121。第二固定部121例如可为螺孔。同理，在本实施例中，第二载板13与侧壁W3、W4分别具有交线P5、P6。多个第一 固定部114沿着交线P5、P6的方向均勻排列于侧壁W3、W4。第二载板13的侧边，即与侧壁 W3、W4的相交处也设置有与第一固定部114相对应排列的第二固定部131。第二固定部131 也可为螺孔。然而，本实用新型对此不作任何限定。在其它实施例中，当第一固定部114与第二固定部121、131皆为螺孔时，可调式自 动落下测试装置1可包括多个固定柱，以将第一载板12、第二载板13固定至中空旋转本体 11的对应位置。具体而言，固定柱可依次穿过第二固定部121/131与第一固定部114，以将 第一载板12/第二载板13固定于中空旋转本体11。其中，固定柱可为螺柱。然而，本实用 新型对此不作任何限定。或者，在其它实施例中，第一固定部114可为卡勾，对应的第二固定部121、131可 为卡扣；或者第一固定部114可为卡扣，对应的第二固定部121、131可为卡勾；或者第一固 定部114与第二固定部121、131可为其它相配合的卡合结构。根据实际需要的测试高度， 第二固定部121、131与第一固定部114对应卡合于适当位置。然而，本实用新型对此不作 任何限定。或者，在其它实施例中，第一固定部114可为滑槽，对应的第二固定部121、131可为滑块；或者第一固定部114可为滑块，对应的第二固定部121、131可为滑槽；或者第一固 定部114与第二固定部121、131可为其它相配合的滑动结构。根据实际需要的测试高度，第 二固定部121、131与第一固定部114相对滑动至一适当位置。较佳的，在滑动结构中可设 置多个止动点以使第一载板12与第二载板13能较好地定位。然而，本实用新型对此不作 任何限定。第一固定部114与第二固定部121、131还可为其它任意能够相对固定的结构。图3A及图;3B为本实用新型一较佳实施例的第一载板与第二载板固定于不同测试 高度的侧视图。请参照图3A与图;3B。在本实施例中，由于在测试时，产品是沿着第一载板12或第二载板13下滑，在脱 离第一载板12或第二载板13后，即作自由落体运动。因此，第一载板12与第二载板13固 定于中空旋转本体11内的长度决定了产品的测试高度。在本实施例中，图3B中的第一载 板12与第二载板13固定于中空旋转本体11内的长度较图3A中的短。故图;3B中的测试 高度H2大于图3A中的测试高度HI。在本实施例中，每一第二固定部121、131选择性地固定于多个第一固定部114的 其中之一，以调节产品的测试高度。具体而言，在本实施例中，第一载板12、第二载板13分 别具有七个第二固定部121、131，中空旋转本体11的侧壁W3上对应地设置有七个第一固定 部114。图3A中第一载板12与第二载板13全部位于中空旋转本体11内，因此，七个第二 固定部121、131对应地依次固定于七个第一固定部114。此时，测试高度为HI。图中第 一载板12与第二载板13部分位于中空旋转本体11内，七个第二固定部121、131的其中五 个对应地依次固定于七个第一固定部114的其中五个。此时，测试高度为H2。然而，本实 用新型对此不作任何限定。在其它实施例中，第一固定部114与第二固定部121、131的数 目可根据实际需要而定。图4A 图4C为本实用新型一较佳实施例的控制单元的部分电路图。其中图4A 为图1中的控制单元14的主控制回路，图4B为控制单元14的辅助控制回路，图4C为控制 单元14的计数器控制回路。请参照图1、图4A、图4B及图4C。在本实施例中，在图4A所示的主控制回路中，变频器142的端口 R、S、T及GND分 别为三相电源的输入端及接地端。三相电源包括电源开关QS，用于同时控制三相输入的通 断。其中，三相输入的三条输入支路各包括一个熔断器FU。当某一输入支路的电流大于安 全值时，其对应的熔断器FU将熔断。即，只要有一条输入支路的电流超过安全值时，三相电 源就将被切断。端口 U、V、W连接于马达141以为其供电。其中，马达141可为三相马达。 端口 MO、Ml分别为马达141反转与正转的信号输入端口，其工作原理如辅助控制回路(图 4B)所示。计数器控制回路(图4C)串联于辅助控制回路与接地端之间。变频器142内部 还包含调速电路(图未示)，其可通过调节频率来调节马达141的转速。然而，本实用新型 对此不作任何限定。在本实施例中，图4B所示的辅助控制回路包括反转电路AC与正转电路BC，分别 控制马达141的反转与正转，即控制马达141逆时针旋转或顺时针旋转。反转电路AC包括 触点开关SBO、SBl及继电器ΚΜ0。其中，继电器KMO具有常开端ΚΜ0-0、常闭端KMO-C及触 片(图未示)。常开端KMO-O并联于触点开关SBO ；常闭端KMO-C串联于触点开关SBO与触 点开关SBl ；触片可于常开端KMO-O与常闭端KMO-C之间切换。同理，正转电路BC包括触 点开关SB1、SBO及继电器KM1。其中，继电器KMl具有常开端KM1-0、常闭端KMl-C及触片(图未示)。常开端KMl-O并联于触点开关SBl ；常闭端KMl-C串联于触点开关SBl与触点 开关SBO ；触片可于常开端KMl-O与常闭端KMl-C之间切换。然而，本实用新型对此不作任 何限定。在本实施例中，在初始状态，反转电路AC中的触点开关SBO为打开状态，触点开关 SBl为闭合状态，继电器KMO的触片位于其常闭端KM0-C。此时，反转电路AC断开。正转电 路BC与反转电路AC类似，其不同之处在于，正转电路BC中的触点开关SBl为打开状态，触 点开关SBO为闭合状态。当按下反转电路AC中的触点开关SBO时，使得正转电路BC中的 触点开关SBO打开。同时，反转电路AC中，SBO、SBl、KMO-C所在的支路瞬时导通，继电器 KMO的触片切换到常开端ΚΜ0-0，使得KM0-0、SB1、KM0-C所在的支路导通，即反转电路AC导 通。此时，马达141带动中空旋转本体11逆时针旋转。当按下正转电路BC中触点开关SBl 时，使得反转电路AC中的触点开关SBl打开，由此反转电路AC断开。同时，正转电路BC中， SB1、SB0、KM1-C所在的支路瞬时导通，继电器KMl的触片切换到常开端KM1-0，使得KM1-0、 SBO,KMl-C所在的支路导通，即正转电路BC导通。此时，马达141带动中空旋转本体11顺 时针旋转。由此，通过辅助控制回路可随时切换中空旋转本体11的旋转方向。然而，本实 用新型对此不作任何限定。在本实施例中，基于第一载板12与第二载板13在中空旋转本体11中的相对位置 (如图2所示)，只有当中空旋转本体11逆时针旋转时，才可完成测试。即只有当马达141 反转时，产品才可以相同的高度重复落下。然而，本实用新型对此不作任何限定。在其它实 施例中，当第一载板12与第二载板13在中空旋转本体11中的设置位置与图1中的设置位 置关于旋转轴线L成轴对称时，马达141正转可以完成测试。在本实施例中，图4C所示的计数器控制回路包括计数器17、感应器15以及指示元 件18。计数器17的端口 13、15为技术信号输入端口，其连接于感应器15，以感应器15发 出的感应信号作为其启动信号。指示元件18串联于端口 II、IlO之间。其中，端口 II、12 为指示元件18提供24V直流电源。端口 18、IlO为常开输出端口。当其闭合时，其所在的 电路导通，指示元件18工作。端口 111、112连接于220V电源，为计数器回路供电。计数器 17还包括有复位键reset以及设置键(图未示)。前者用于为计数器17清零，后者用于为 计数器17设定预设值。然而，本实用新型对此不作任何限定。在本实施例中，在开始测试前，可先调节第一载板12与第二载板13，使其固定于 中空旋转本体11的一适当位置。随后，可将产品放入测试区。在本实施例中，N个测试区 可同时测试N个产品。其中，该些产品可为同一种类，也可为不同种类，本实用新型对此不 作任何限定。在闭合电源开关QS后，主控制回路得电。另外，可通过设置键向计数器17输 入一预设值。此时，可调式自动落下测试装置1处于预备状态。然而，本实用新型对此不作 任何限定。在本实施例中，在按下触点开关SBO后，马达141开始带动中空旋转本体11逆时 针旋转。中空旋转本体11每旋转一圈，感应器15发出一次感应信号。计数器17接收到感 应器15发出的第一个感应信号后即被启动，开始记录中空旋转本体11的旋转次数。当旋 转次数达到预设值时，计数器17控制常开输出端口 18、IlO闭合，指示元件18发出指示信 号，例如为发光或发出蜂鸣声。同时，计数器17发出停止旋转信号至控制单元14。由此，马 达141停止旋转，本次测试结束。然而，本实用新型对此不作任何限定。[0055]在本实施例中，中空旋转本体11每旋转一圈，产品会交替地位于第一容置区Sl与 第二容置区S2内，以分别沿着第一载板12与第二载板13下滑后作自由落体运动。因此， 中空旋转本体11每旋转一圈，产品即作了两次落下测试。然而，本实用新型对此不作任何 限定。综上所述，本实用新型较佳实施例提供的可调式自动落下测试装置中，通过调整 第一载板与第二载板位于中空旋转本体内的长度可改变测试高度。多个隔板将中空旋转本 体分为多个测试区，使得该测试装置可同时测试多个产品。待感应元件、感应器及计数器相 配合以自动控制旋转次数。由此，较先前技术而言，本实用新型较佳实施例提供的可调式自 动落下测试装置不仅测试高度可调，而且使得产品的重复落下高度保持一致，测试更精确， 也实现了测试过程的自动化。虽然本实用新型已以较佳实施例揭露如上，然其并非用以限定本实用新型，任何 熟知此技艺者，在不脱离本实用新型的精神和范围内，当可作些许的更动与润饰，因此本实 用新型的保护范围当视权利要求书所限定的范围为准。
权利要求1.一种可调式自动落下测试装置，其特征是，包括中空旋转本体，其具有相互平行的第一内表面与第二内表面；第一载板，其耦接于所述第一内表面，所述第一载板将所述第一内表面所在平面分成 第一部分与第二部分，所述第一载板与所述第一部分的夹角为锐角，至少部分的所述第一 载板位于所述中空旋转本体内，且所述第一载板位于所述中空旋转本体内的长度为可调整 的；以及第二载板，其平行于所述第一载板并耦接于所述第二内表面，所述第二载板将所述第 二内表面所在平面分成第三部分与第四部分，所述第二载板与所述第三部分的夹角为锐 角，至少部分的所述第二载板位于所述中空旋转本体内，且所述第二载板位于所述中空旋 转本体内的长度为可调整的，所述第二载板在所述第一内表面的正投影位于所述第一部 分，且所述第一载板不位于所述第二载板向所述第一内表面投影的路径上。
2.根据权利要求1所述的可调式自动落下测试装置，其特征是，所述中空旋转本体包 括至少一块隔板，耦接于所述第一内表面与所述第二内表面之间以将所述中空旋转本体分 隔成至少两个测试区。
3.根据权利要求1所述的可调式自动落下测试装置，其特征是，所述中空旋转本体具 有多个第一固定部，所述第一载板与所述第二载板分别具有第二固定部，所述每一个第二 固定部选择性地固定于所述这些第一固定部中的一个。
4.根据权利要求1所述的可调式自动落下测试装置，其特征是，所述可调式自动落下 测试装置还包括控制单元，耦接于所述中空旋转本体以控制所述中空旋转本体旋转。
5.根据权利要求4所述的可调式自动落下测试装置，其特征是，所述控制单元包括马 达与变频器，所述马达耦接于所述中空旋转本体，所述变频器耦接于所述马达以控制所述 马达的旋转速度与旋转方向。
6.根据权利要求4所述的可调式自动落下测试装置，其特征是，所述可调式自动落下 测试装置还包括感应器与待感应元件，所述待感应元件设置于所述中空旋转本体，所述感 应器位于所述待感应元件的一侧以感应所述待感应元件并发出感应信号。
7.根据权利要求6所述的可调式自动落下测试装置，其特征是，所述可调式自动落下 测试装置还包括计数器，耦接于所述感应器与所述控制单元，所述计数器接收所述感应信 号以记录所述中空旋转本体的旋转次数，当所述中空旋转本体的旋转次数达到预设值时， 所述计数器发出停止旋转信号至所述控制单元。
8.根据权利要求7所述的可调式自动落下测试装置，其特征是，所述可调式自动落下 测试装置还包括指示元件，耦接于所述计数器，当所述中空旋转本体的旋转次数达到上述 预设值时，所述计数器控制所述指示元件发出指示。
9.根据权利要求6所述的可调式自动落下测试装置，其特征是，所述待感应元件为磁 铁，所述感应器为磁铁感应器。
10.根据权利要求1所述的可调式自动落下测试装置，其特征是，所述第一载板与所述 第一部分的夹角以及所述第二载板与所述第三部分的夹角均为45度。
专利摘要本实用新型揭露了一种可调式自动落下测试装置，包括中空旋转本体、第一载板以及第二载板。中空旋转本体具有平行的第一内表面与第二内表面。第一载板耦接于第一内表面并将第一内表面所在平面分成第一部分与第二部分，第一载板与第一部分的夹角为锐角。第一载板位于中空旋转本体内的长度为可调整的。第二载板平行于第一载板并耦接于第二内表面，且将第二内表面所在平面分成第三部分与第四部分，第二载板与第三部分的夹角为锐角。第二载板位于中空旋转本体内的长度为可调整的。第二载板在第一内表面的正投影位于第一部分，且第一载板不位于第二载板向第一内表面投影的路径上。本实用新型的可调式自动落下测试装置可改变测试高度，满足不同产品的测试要求。
文档编号G01M7/08GK201844915SQ20102016967
公开日2011年5月25日 申请日期2010年4月23日 优先权日2010年4月23日
发明者林俊吉, 王军 申请人:名硕电脑(苏州)有限公司, 和硕联合科技股份有限公司