专利名称:光插回损测试仪的制作方法
技术领域:
本实用新型涉及一种光测仪表,尤其涉及一种光插回损测试仪的电路模块。
背景技术:
光纤通信技术(optical fiber communications)从光通信中脱颖而出,已成为现 代通信的主要支柱之一,在现代电信网中起着举足轻重的作用。光纤通信作为一门新兴技 术,其近年来发展速度之快、应用面之广是通信史上罕见的,也是世界新技术革命的重要标 志和未来信息社会中各种信息的主要传送工具。光纤作为目前光通信中光的传输介质,和光通信器件、连接器件等相关器件和设 备组成整个光通信网络的传输枢纽。而光通信网络中的每一个光纤器件的网光传输特性都 关系着整个网络的的传输性能,例如光纤器件的回波损耗(RL)关系着激光信号源的稳定 性,插入损耗(IL)关系着整个光网络的传输距离;相关偏振损耗(PDL)等都关系着整个光 通信网络的传输质量。所谓回波损耗即为光通信光纤器件后入射光功率和反射光功率之 比;所谓插入损耗即为光经过光纤器件后损耗掉的光功率;即为入射光功率和出来的光功 率之差;根据回波损耗的定义目前市场出现了回波损耗测试仪的测量设备,回波损耗测试 仪操作复杂,价格昂贵,并且只能作为回波损耗测试用;根据插入损耗的定义可以利用光功 率计和分路器来测量插入损耗,但是需要人工计算,目前市场上还没有专门用来测量插入 损耗的仪表。
发明内容本实用新型需要解决的技术问题是提供了一种光插回损测试仪,旨在解决上述的 问题。为了解决上述技术问题,本实用新型是通过以下技术方案实现的本实用新型包括双波长激光器;所述的双波长激光器经光路与光偶合器连接; 光偶合器经光路与法兰连接;所述法兰经光路与光偶合器相连;光偶合器经光路与第二探 测器相连;所述的双波长激光器通过LD驱动电路与MCU相连;所述的第二探测器通过放大 电路和模数转换电路与MCU相连;放大电路和模数转换电路还与第一探测器相连。与现有技术相比,本实用新型的有益效果是运行速度快,工作性能强,集多表功 能为一身,操作简单,测试结果误差小,结构简单,成本低,同时体积小便于携带,显示直观。
图1是本实用新型模块图;图2为本实用新型在校准状态时的示意图。
具体实施方式
以下结合附图与具体实施方式
对本实用新型作进一步详细描述[0011]由图1可见本实用新型包括双波长激光器LD ;所述的双波长激光器LD经光路 与光偶合器连接;光偶合器经光路与法兰连接;所述法兰经光路与光偶合器相连;光偶合 器经光路与第二探测器PD_B相连;所述的双波长激光器LD通过LD驱动电路与MCU相连; 所述的第二探测器PD_B通过放大电路和模数转换电路与MCU相连;放大电路和模数转换电 路还与第一探测器PD_A相连;所述的MCU还与IXD显示器相连。本实用新型中的法兰、光偶合器、两个PD(PD_A用于纯粹的光功率测量,另一个 PD_B是用来测量光路中返回的光功率)、以及放大电路和模数转换电路和LD驱动电路都是 采用现有技术的部件。偶合器是把LD激光器发出的光和法兰进来的光进行偶合,LD激光器发出的光通 过偶合器法兰发射出去,法兰进来的光通过偶合器进入PD_B探测器。本实用新型针对现有的光源、光功率计和回波损耗测试仪的不足,结合实际中使 用的情况而提供一种控制方便、体积小、携带方便的数字插回损测试仪。本实用新型由单片机、双波长的LD激光器、两个PD探测器——
一个光偶合器组成。LD激光器发出连续稳定的光(两个波长的光不能同时开启)40_8探 测器将返回的光信号转成电信号经过放大电路和模数转换电路测量返回的光功率,PD_A用 于纯粹的光功率测量,根据发出去的光功率和返回的光功率之比(发出去的光功率由PD_ A测量得到,返回的光功率由PD_B测量得到),可以测量出被测器件的回波损耗;根据PD_A 测得的两次光功率之差可以测量出被测器件的插入损耗(两次光功率一次为光源直接接 入PD_A所测得的光功率,一次为光源经过被测器件后进入PD_A所测得的光功率);单片机 用于控制LD的工作波长和工作状态,读取模数转换电路的转换数据,进行修正和计算,并 把结果显示在IXD上。在系统设计方面,采用了单片机自带LCD的液晶驱动,程序控制简单,稳定性好。在本实用新型中MCU为本装置控制中心,采用了当前流行的超低功耗的单片机, 大大减小了待机和工作时间的耗电,延长了单次充电的使用时间。单片机用于控制LD的工 作波长和工作状态,读取模数转换电路的转换数据,进行修正和计算,并把结果显示在LCD 上。在使用之前,必须对本实用新型进行校准,以记录各个距离段的补偿系数和补偿 值,这样才能使得测量的结果更加准确。如图2所示准备好6种波长的稳定光源:850nm、1300nm、1310nm、1490nm、 1550nm、1625nm ;—台标准光功率计和一台光路控制非标设备。将本实用新型通过USB与PC机相连。非标设备通过USB与PC机相连,标准光功 率计通过USB与PC机相连。光路上,非标设备与6个光源相连,与标准光功率计相连、还与本实用新型相连。首先将PD_A与非标设备的被测表接入口相连,由上位机控制完成6个波长的光功 率校准。再将PD_B与非标设备的被测表接入口相连,由上位机控制完成1310和1550nm的 两个波长的光功率校准。这样就可以完成本实用新型的校准。
权利要求一种光插回损测试仪,其特征在于包括双波长激光器;所述的双波长激光器经光路与光偶合器连接;光偶合器经光路与法兰连接;所述法兰经光路与光偶合器相连;光偶合器经光路与第二探测器相连;所述的双波长激光器通过LD驱动电路与MCU相连;所述的第二探测器通过放大电路和模数转换电路与MCU相连;放大电路和模数转换电路还与第一探测器相连。
2.根据权利要求1所述的光插回损测试仪,其特征在于所述的MCU还与LCD显示器 相连。
专利摘要本实用新型涉及一种光插回损测试仪,包括双波长激光器;所述的双波长激光器经光路与光偶合器连接;光偶合器经光路与法兰连接;所述法兰经光路与光偶合器相连;光偶合器经光路与第二探测器相连;所述的双波长激光器通过LD驱动电路与MCU相连;所述的第二探测器通过放大电路和模数转换电路与MCU相连;放大电路和模数转换电路还与第一探测器相连;本实用新型的有益效果是运行速度快,工作性能强,集多表功能为一身,操作简单,测试结果误差小,结构简单,成本低,同时体积小便于携带,显示直观。
文档编号G01M11/02GK201607319SQ20102011699
公开日2010年10月13日 申请日期2010年1月26日 优先权日2010年1月26日
发明者阮志光, 陈春 申请人:上海光家仪器仪表有限公司;上海光维通信技术有限公司