专利名称：一种自动除屑的测试插座的制作方法
技术领域：
测试插座是一种在集成电路测试、电子系统调、可编程芯片烧录、电路失效分析等领域广泛应用的一种电气连接设备。特别是在集成电路测试行业中，测试插座作为测试机系统与被测芯片之间的接口，是保证测试良率、提高测试效率的关键之一。
背景技术：
集成电路自动化测试设备的成本很高，因此提高测试效率，减少因测试插座保养、 清洁而停机的次数，非常重要。在QFN封装的集成电路测试过程中，碎屑累积在插座中特别是弹簧探针周围的现象尤为严重，因此传统的插座需要定期停机除碎屑、超声波清洁。

实用新型内容为解决上述技术问题，本实用新型提供了如下技术方案一种自动除屑的测试插座，其主要由底板、连接器主体、芯片、流道和外接真空吸嘴组成，其中连接器主体固定在底板上，芯片为连接器主体的一部分，流道围绕在芯片周围，在测试插座的侧面有一外接真空吸嘴。其中，上述的自动除屑的测试插座，外接真空吸嘴通过外接真空吸嘴接口外接真空泵。自动除屑的测试插座的芯片在连接器主体的中心部位。使用时，打开真空泵，即可将被测芯片带来的碎屑吸走，从而可以避免碎屑累积在插座中，从而减少插座清洁保养的次数，有效提高测试效率。

图1为本实用新型测试插座的结构图；图2为本实用新型测试插座的剖面图；图3为本实用新型测试插座的流道分布图。其中，1为底板，2为连接器主体，3为流道，4为芯片，5为外接真空吸嘴接口，6为气体流向，7为插座主体，8为气道，9为外接真空吸嘴。
具体实施方式
一种自动除屑的测试插座，其主要由底板1、连接器主体2、芯片4、流道3和外接真空吸嘴9组成，其中连接器主体2固定在底板上，芯片4在连接器主体2的中心部位，流道 3围绕在芯片4周围，在测试插座的侧面有一外接真空吸嘴9，外接真空吸嘴9可以通过外接真空吸嘴接口 5外接真空泵。使用时，打开真空泵，即可将被测芯片带来的碎屑吸走，从而可以避免碎屑累积在插座中，从而减少插座清洁保养的次数，有效提高测试效率。
权利要求1.一种自动除屑的测试插座，其主要由底板、连接器主体、芯片、流道和外接真空吸嘴组成，其中连接器主体固定在底板上，芯片为连接器主体的一部分，流道围绕在芯片周围， 在测试插座的侧面有一外接真空吸嘴。
2.根据权利要求1所述的自动除屑的测试插座，其特征在于外接真空吸嘴通过外接真空吸嘴接口外接真空泵。
3.根据权利要求1所述的自动除屑的测试插座，其特征在于芯片在连接器主体的中心部位。
专利摘要本实用新型涉及一种自动除屑的测试插座，其主要由底板、连接器主体、芯片、流道和外接真空吸嘴组成，其中连接器主体固定在底板上，芯片为连接器主体的一部分，流道围绕在芯片周围，在测试插座的侧面有一外接真空吸嘴。该测试插座可以避免碎屑累积在插座中，从而减少插座清洁保养的次数，有效提高测试效率。
文档编号G01R1/04GK202025020SQ20112004575
公开日2011年11月2日 申请日期2011年2月24日 优先权日2011年2月24日
发明者周明, 殷岚勇, 王强, 田治峰, 贺涛, 闫立民, 高凯 申请人:上海韬盛电子科技有限公司