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一种地磁环境下材料磁特性测量装置的制作方法

时间:2025-05-22    作者: 管理员

专利名称:一种地磁环境下材料磁特性测量装置的制作方法
技术领域
本实用新型涉及一种材料磁特性测量装置,尤其是一种地磁环境下材料磁特性测
量装置。
背景技术
传统的材料磁特性测试方法是在饱和磁场环境下测试出材料的磁化曲线、磁滞回线等磁特性曲线,通过理论计算外推得到地磁场下材料的磁特性。然后许多材料一般在地磁场环境下使用,关注的是在地磁场环境下的磁特性。如用于轮船壳体、石油钻井、蛙人潜水具等无磁钢。多数材料的饱和磁场很大,比地磁场要高出4 5个数量级。材料在不同的磁场环境中,磁特性会发生变化。如果这种变化不是线性的,则通过外推方法得到的地磁场下的材料磁特性数据可能会存在较大误差。
发明内容本实用新型所要解决的技术问题是提供一种地磁环境下材料磁特性测量装置,复现地磁环境,排出干扰磁场开展材料测量;利用磁屏蔽技术,在屏蔽室内复现地磁环境来测量材料的磁特性。本实用新型的上述目的通过这样的技术方案来实现一种地磁环境下材料磁特性测量装置,包括磁性材料测量仪、磁屏蔽室、线圈绕组,磁性材料测量仪位于磁屏蔽室内。所述磁屏蔽室设有多个屏蔽层。所述线圈绕组匝数不多于10匝。所述磁性材料测量仪设有两级退磁仪,分别为常规退磁仪、微小退磁仪。本实用新型一种地磁环境下材料磁特性测量装置,磁屏蔽室设有多个屏蔽层,可将地磁场屏蔽到百分之一以下;用于磁化材料的磁化线圈绕组匝数少,一般不多于10匝, 设定最大磁化强度为地磁场大小;磁性材料测量仪设有两级退磁仪,分别为常规退磁仪、 微小退磁仪,微小退磁仪在常规退磁仪进行退磁后再使用,退磁下限小于地磁场的十分之
ο本实用新型装置能准确测试材料在地磁环境下的磁特性,能反映材料在实际使用环境下的真实磁性能。
以下结合附图和实施例对本实用新型作进一步说明

图1是本实用新型装置结构示意图。
具体实施方式
一种地磁环境下材料磁特性测量装置,包括磁性材料测量仪1、磁屏蔽室2、线圈绕组,磁性材料测量仪1位于磁屏蔽室2内。[0013]所述磁屏蔽室2设有电流源3。磁屏蔽室2设有多个屏蔽层,线圈绕组匝数不多于10匝,磁性材料测量仪1设有两级退磁仪,分别为常规退磁仪、微小退磁仪。磁化用电流源3输出电流步进小,在微安级左右;最大输出电流则在毫安级左右。用于磁化材料的磁化线圈绕组匝数少,一般不多于10匝,设定最大磁化强度为地磁场大小。磁性材料测量仪1设有两级退磁仪,分别为常规退磁仪、微小退磁仪,微小退磁仪在常规退磁仪进行退磁后再使用,退磁下限小于地磁场的十分之一。在磁屏蔽室2内,将被测材料样品环绕上线圈绕组,通过电流源3通入微小电流, 直至复现地磁环境。测试出材料的磁化曲线、磁滞回线等磁特性曲线,从而得到材料在地磁环境下的磁特性。
权利要求1.一种地磁环境下材料磁特性测量装置,包括磁性材料测量仪(1)、磁屏蔽室(2)、线圈绕组,其特征在于磁性材料测量仪(1)位于磁屏蔽室(2)内。
2.根据权利要求1所述一种地磁环境下材料磁特性测量装置,其特征在于所述磁屏蔽室(2)设有多个屏蔽层。
3.根据权利要求1所述一种地磁环境下材料磁特性测量装置,其特征在于所述线圈绕组匝数不多于10匝。
4.根据权利要求1所述一种地磁环境下材料磁特性测量装置,其特征在于所述磁性材料测量仪(1)设有两级退磁仪,分别为常规退磁仪、微小退磁仪。
专利摘要一种地磁环境下材料磁特性测量装置,包括磁性材料测量仪、磁屏蔽室、线圈绕组,磁性材料测量仪位于磁屏蔽室内。本实用新型装置能准确测试材料在地磁环境下的磁特性,能反映材料在实际使用环境下的真实磁性能。
文档编号G01N27/80GK202177601SQ20112029941
公开日2012年3月28日 申请日期2011年8月17日 优先权日2011年8月17日
发明者程华富, 蔡传真 申请人:中国船舶重工集团公司第七一○研究所

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