专利名称：低硬度物体厚度测量工具的制作方法
技术领域：
本发明涉及厚度测量工具，尤其涉及低硬度物体厚度测量工具。
背景技术：
厚度测量按照测量方式可分为直接测量法、间接测量法；间接测量法中常用的有超声波测量法，超声波是利用声音在材料中的传播并反射回来的时间来计算材料的厚度，这种测量方法不适用于多种材料分层排列的物体的厚度测量。厚度测量按照接触方式一般分为两种一种为接触式厚度测量仪、一种为非接触式厚度测量仪；对于非接触式厚度测量仪主要存在对于表面粗糙程度大的物品测量时不准确的问题，且存在仪器设备较为复杂的问题。一般，接触式厚度测量仪在测量厚度时如果需要夹持都会导致被夹持部位的形 变，硬度越大这种形变就越小，反之硬度越小这种形变就越大；我们在对柔软的物体进行厚度测量时如果需要进行夹持时，我们分多人测量就会发现每个人的测量结果各不相同，这是因为每个人在对夹持状况的判定各不相同；同一人在不同的时间测量的结果也有可能不同。现在的接触式测量工具主要用于对刚性规则物体的厚度测量，对于柔性非规则物体的测量工具较少，已有的对低硬度非规则物体的测量工具大都存在操作步骤繁琐，测量准确性不高，人为因素较多等问题。对于很多行业都希望在不破坏产品的情况下对产品的厚度进行测量，但是由于本身材料较软，无法使用正常的测量方法来进行厚度的测量工作，只能采用将待测量部位剪开后使用测量尺直接进行测量的方法。

发明内容
本发明所要解决的技术问题是提供低硬度物体厚度测量工具，其在对低硬度物体测量时，根据待测物体的硬度设定夹持力范围，使得低硬度物体在被夹持时避免出现变形后被测量的情况，减少了由于夹持时的变形对测量结果的影响。为解决上述技术问题，本发明采用下述技术方案低硬度物体厚度测量工具，它包括测量平台、基座和厚度测量仪；所述测量平台上表面固设有基座，测量平台上表面还设有基准探头，所述基座上表面垂设有滑轨，所述厚度测量仪滑配合设置于滑轨上。所述厚度测量仪包括显示及控制装置、水平臂、厚度测量探头和压力感应探头；所述显示及控制装置垂向设有通道，该通道套设于基座的滑轨上，所述水平臂水平固定于显示及控制装置对应于基准探头一侧的侧壁上，所述压力感应探头与厚度测量探头下端固定连接，所述压力感应探头的位置与测量平台的基准探头位置对应，厚度测量探头上部固定连接于水平臂端部，压力感应探头和厚度测量探头通过穿设于水平臂内部的导线与显示及控制装置电连接。所述显示及控制装置包括机壳、显示器、参数设置按钮、压力指示灯、测量控制按钮和马达；所述显示器、参数设置按钮、压力指示灯和测量控制按钮分别嵌设于机壳的前表面上，所述马达包括主驱动马达和步进马达，该主驱动马达和步进马达安装于机壳的后表面上；显示器用来显示各项参数值；参数设置按钮用来对马达的运转速度，厚度测量仪的运动速度和返程高度，压力感应探头和压力指示灯的压力下限和上限值进行设置；压力指示灯分别用来显示压力传感器以适当的压力与被测量物体触接或者显示压力传感器以过量的压力与被测量物体触接；测量控制按钮用来控制马达对厚度测量仪的运行进行控制；主驱动马达和步进马达分别用来驱动厚度测量仪快速上下移动或以步进方式上下移动。工作原理
参见图5 图6所示,步骤为
第一步设定参数首先，根据不同材料和不同硬度的被测量物体计算出合适的压力值，在显示及控制装置31上通过参数设置按钮314设置在压力感应探头34使用时的压力上限值和压力下限值；然后对厚度测量仪3的运行速度进行调整；最后将厚度测量仪3调整到一个合适的高度，以方便测量；
第二步清零点击显示及控制装置31上的测量控制按钮316，使压力感应探头34下行与基准探头11触接，然后，停止压力感应探头34的下行，对显示及控制装置31显示屏313上显示的厚度值进行清零，再点击显示及控制装置31上的测量控制按钮316，使压力感应探头34上行与基准探头11分离一端距离，以便压力感应探头与基准探头之间能容置被测量物体；
第三步测量被测物体厚度首先，将被测量物体放置于基准探头11上，然后，点击测量控制按钮316，使压力感应探头34下行，当压力感应探头34与被测量物体接触后，松开测量控制按钮316 ;此时,参见图5所示,如显示及控制装置31上的压力指示灯315显示为绿灯，说明压力感应探头34以正确的压力与被测量物体表面触接，则直接在显示及控制装置31的显示器313上读取相应的厚度值；参见图6所示，如果压力指示灯315显示为红灯，说明压力感应探头34以过量的压力与被测量物体表面触接，并使被测量物体表面下凹，则还需点击测量控制按钮316，驱动步进电机，使厚度测量仪3步进上行，直到压力指示灯315显示为绿灯为止，然后读取被测量物体的正确厚度值。本发明在对低硬度物体测量时，根据待测物体的硬度设定夹持力范围，使得低硬度物体在被夹持时避免出现变形后被测量的情况，减少了由于夹持时的变形对测量结果的影响。


图I是本发明正面结构示意 图2是本发明反面结构示意 图3是本发明右侧结构示意 图4是本发明左侧结构示意 图5是本发明压力感应探头对被测物体正常施压状态示意 图6是本发明压力感应探头对被测物体过量施压状态示意图。
具体实施方式
参见图I 图4所示，低硬度物体厚度测量工具，它包括测量平台I、基座2和厚度测量仪3 ;所述测量平台I上表面固设有基座2，测量平台I上表面还设有基准探头11，所述基座2上表面垂设有滑轨21，所述厚度测量仪3滑配合设置于滑轨21上。所述厚度测量仪3包括显示及控制装置31、水平臂32、厚度测量探头33和压力感应探头34 ;所述显示及控制装置31垂向设有通道311，该通道311套设于基座2的滑轨21上，所述水平臂32水平固定于显示及控制装置31对应于基准探头11 一侧的侧壁上，所述压力感应探头34与厚度测量探头33下端固定连接，所述压力感应探头34的位置与测量平台I的基准探头11位置对应，厚度测量探头33上部固定连接于水平臂32端部，压力感应探头34和厚度测量探头33通过穿设于水平臂32内部的导线与显示及控制装置31电连接。所述显示及控制装置31包括机壳312、显示器313、参数设置按钮314、压力指示灯315、测量控制按钮316和马达317 ;所述显示器313、参数设置按钮314、压力指示灯315和测量控制按钮316分别嵌设于机壳312的前表面上，所述马达317包括主驱动马达3171和 步进马达3172，该主驱动马达3171和步进马达3172安装于机壳312的后表面上。如上所述，本发明低硬度物体厚度测量工具，所述的实施例及图，只是本发明较好的实施效果，并不是只局限于本发明，凡是与本发明的结构、特征等近似、雷同者，均应属于本发明保护的范围。
权利要求
1.低硬度物体厚度测量工具，其特征在于它包括测量平台(I)、基座(2)和厚度测量仪(3);所述测量平台(I)上表面固设有基座(2)，测量平台(I)上表面还设有基准探头(11)，所述基座(2)上表面垂设有滑轨(21)，所述厚度测量仪(3)滑配合设置于滑轨(21)上。
2.根据权利要求I所述的低硬度物体厚度测量工具，其特征在于所述厚度测量仪(3)包括显示及控制装置(31)、水平臂(32)、厚度测量探头(33)和压力感应探头(34);所述显示及控制装置(31)垂向设有通道(311)，该通道(311)套设于基座(2)的滑轨(21)上，所述水平臂(32 )水平固定于显示及控制装置(31)对应于基准探头(11) 一侧的侧壁上，所述压力感应探头(34)与厚度测量探头(33)下端固定连接，所述压力感应探头(34)的位置与测量平台(I)的基准探头(11)位置对应，厚度测量探头(33)上部固定连接于水平臂(32)端部，压力感应探头(34)和厚度测量探头(33)通过穿设于水平臂(32)内部的导线与显示及控制装置(31)电连接。
3.根据权利要求2所述的低硬度物体厚度测量工具，其特征在于所述显示及控制装置(31)包括机壳(312)、显示器(313)、参数设置按钮(314)、压力指示灯(315)、测量控制按钮(316)和马达(317);所述显示器(313)、参数设置按钮(314)、压力指示灯(315)和测量控 制按钮(316)分别嵌设于机壳(312)的前表面上，所述马达(317)包括主驱动马达(3171)和步进马达(3172)，该主驱动马达(3171)和步进马达(3172)安装于机壳(312)的后表面上。
全文摘要
本发明涉及低硬度物体厚度测量工具，它包括测量平台、基座和厚度测量仪；所述测量平台上表面固设有基座，测量平台上表面还设有基准探头，所述基座上表面垂设有滑轨，所述厚度测量仪滑配合设置于滑轨上；本发明在对低硬度物体测量时，根据待测物体的硬度设定夹持力范围，使得低硬度物体在被夹持时避免出现变形后被测量的情况，减少了由于夹持时的变形对测量结果的影响。
文档编号G01B21/08GK102829746SQ201210329958
公开日2012年12月19日 申请日期2012年9月7日 优先权日2012年9月7日
发明者任磊 申请人:深圳汇洁集团股份有限公司