专利名称：Oled光学测量机具的制作方法
技术领域：
OLED光学测量机具技术领域[0001]本实用新型有关于OLED光学测量，尤其是一种OLED光学测量机具。
背景技术：
[0002]以现有的技术而言，对于OLED检测目前皆是使用自动光学检测(Automated Optical Inspection, AOI)系统，此检测技术已被大量的应用于工业检测之中。因为如此， 此检测技术也越来越先进，在价格上也越来越普及。且随着科技的进步，电脑处理的运算速度越来越快速，使得运用此技术的仪器在检测操作上也变得越来越快速、准确。[0003]而自动光学检测系统由摄影机(Charge Coupled Device, CO))、影像撷取卡 (Frame Grabber)、光源与光学镜头系统、运动控制机构、电脑、信号输入/出装置等兀件组成，而目前在相关OLED产业的检测上皆是以此技术检测，只是在检测物治具及机台的设计上皆有所不同，因此对于整体使用上的便利性也有所不同，如治具及测试片的安装、以及机台的稳定性及准确性、测量机构的对位及如何同时测试多组测试片等等……。上述这些问题都是目前对于OLED的检测上需要改进的。[0004]因此，本实用新型的发明人亟需构思一种新技术以改善其问题。实用新型内容[0005]所以本实用新型的目的为解决上述现有技术上的问题，本实用新型中提出一种 OLED光学测量机具，其目的在于可以于机台上规划多个测量区，且该OLED测试治具也可以因测试片大小而量身订做，对于在测量区规画上的灵活性也相对提高，相较现有技术的测量仪器，其O LED测试治具皆为固定于测试位置，且治具的大小并不能随意更换，搭配可三轴移动的测量，使其测量上被局限于一固定范围内，且测量数量也被固定住。在本实用新型中，该OLED测试治具放置于该上方测量空间的底面，所以在该OLED测试治具摆放上，只需要考虑上方测量空间的底面的平面大小。再以搭配该三维空间调整座的CCD先行对位之后，再将该辉度计移动置于欲检测的OLED的正确位置进行测量。由上文可知，本实用新型的上方测量空间的底面的平面皆可为测量区域，只需待使用者规划。对于本实用新型的 OLED测试治具也与现有的技术有所不同。在本实用新型中使用真空方式吸附该OLED测试片，除了可以固定该OLED测试片之外，也可以使CCD先行对位后的测量位置更为固定且准确。[0006]为达到上述的目的，本实用新型题出一种OLED光学测量机具，其中包含一测量机台，包含一上方测量空间及一下方机件区。该上方测量空间的底面配置有数个测量区，各测量区配置有至少一 OLED测试治具，该OLED测试治具包括位于四边的四个脚架及由四个脚架所支撑的测试平台，该测试平台上可用于放置0LED，以及该OLED测试治具底部尚包含一底面，该底面用于将该OLED测试治具放置于该上方测量空间的底面；其中该OLED测试治具尚包含数个探针，位于该OLED测试治具的底面，该探针的探针头朝向该测试平台，各探针可以施加电流给与该测试平台上方的0LED，该测试平台对应该探针的位置设有数个探针孔洞可令该探针头伸出该探针孔洞，而与置于该测试平台上的OLED相接触；一光学测量仪器，用于测量该OLED的光学特性，该光学测量仪器位在该上方测量空间的上方，用于接收来自该OLED的光以测量OLED的光学特性；一三维空间调整座，位在该光学测量仪器的上方并将该光学测量仪器夹持住，该三维空间调整座能够调整该光学测量仪器在三个维度方向上的位置，例如可令该光学测量仪器在XY平面上调整到所需要的位置，以对该OLED对位，另外该光学测量仪器也可以在纵轴Z方向进行高低调整已达到所需要的高度。[0007]其中，该OLED测试治具尚包含至少一 个设于该测试平台底面的真空腔，该真空腔以管路连接一个真空泵，该真空泵置于该下方机件区；以及该测试平台对应该真空腔的位置设有至少一个吸附孔洞，该吸附孔洞与该真空腔连通；该真空泵工作使该真空腔形成真空，并通过该吸附孔洞将被测试的OLED吸附在该测试平台上。[0008]其中，该OLED测试治具尚包含一个对OLED加热以达到所需测量条件的温度晶片， 该温度晶片设于该测试平台的下方。[0009]其中，尚包含一个温度控制器，设于该下方机件区，该温度控制器电连接该温度晶片。[0010]其中，尚包含一台提供清洁的空气以清除平台上水汽的喷气清净机，该喷气清净机位于该上方测量空间的侧面。[0011]其中，尚包含一个电源供应器，该电源供应器位于该下方机件区。[0012]其中，尚包含一台显示器，该显示器内包含一个外接于该测量机台的处理器，该显示器用以连接各工作元件并将接收的信息经由该处理器处理过后显示出来。[0013]其中，该光学测量仪器为一个用以测量该OLED所发射的光频率及光强度的辉度计。[0014]其中，该电源供应器为定电压模式、定电流模式及定电压定电流自动切换模式的供应器。[0015]本实用新型的OLED光学测量机具，可以于机台上规划多个测量区，且该OLED测试治具也可以因测试片大小而量身订做，对于在测量区规画上的灵活性也相对提高，相较现有技术的测量仪器，其OLED测试治具皆为固定于测试位置，且治具的大小并不能随意更换，搭配可三轴移动的测量结构，使其测量上被局限于一固定范围内，且测量数量也被固定住。在本实用新型中，该OLED测试治具放置于该上方测量空间的底面，所以在该OLED测试治具摆放上，只需要考虑上方测量空间的底面的平面大小。再以搭配该三维空间调整座的 CCD先行对位之后，再将该辉度计移动置欲检测的OLED的正确位置进行测量。[0016]由下文的说明可更进一步了解本实用新型的特征及其优点，阅读时并请参考附图。


[0017]图I所显示为本实用新型的装置位置示意图。[0018]图2A所显示为本实用新型的OLED测试治具无探针示意图。[0019]图2B所显示为本实用新型的OLED测试治具无探针透视示意图。[0020]图2C所显示为本实用新型的OLED测试治具的测试平台底部元件位置示意图。[0021]图2D所显示为本实用新型的OLED测试治具完整示意图。[0022]图3A所显示为本实用新型的OLED测试片示意图。[0023]图3B所显示为本实用新型的OLED与测试治具结合示意图。[0024]主要元件符号说明[0025]10测量机台11上方测量空间 12下方机件区[0026]20 OLED测试治具21测试平台22底面[0027]23探针 24探针孔洞25真空腔[0028]26吸附孔洞27温度晶片28 OLED测试片[0029]29 OLED测量区 30真空泵 40光学测量仪器[0030]50三维空间调整座 60温度控制器70喷气清净机[0031]80电源供应器90显示器。
具体实施方式
[0032]兹谨就本实用新型的结构组成，及所能产生的功效与优点，配合附图，举本实用新型的一较佳实施例详细说明如下。[0033]请参考图I，本实用新型的OLED光学测量机具，包含[0034]—测量机台10,包含一上方测量空间11及一下方机件区12。该上方测量空间11 的底面配置有数个测量区，各测量区配置有[0035]至少一 OLED测试治具20，如图2A、图2B及图2C所显示，该OLED测试治具20主要包括位于四边的四个脚架及由四个脚架所支撑的测试平台21，该测试平台21上可用于放置0LED，以及该OLED测试治具底部尚包含一底面22，该底面22用于供该OLED测试治具 20 放置于该上方测量空间11的底面；如图2D所显示，其中该OLED测试治具20尚包含[0036]数个探针23，位于该OLED测试治具20的底面22，该探针23的探针头朝向该测试平台21，各探针23可以施加电流给与该测试平台21上方的0LED，该测试平台21对应该探针23的位置留数个探针孔洞24可令该探针头延伸过该探针孔洞24，而与置于该测试平台 21上的OLED相接触；[0037]至少一真空腔25设在该测试平台21底面，该真空腔25以一管路连接一真空泵 30，该真空泵30置于该下方机件区12。该测试平台21上对应该真空腔25的位置留有至少一吸附孔洞26，该吸附孔洞26与该真空腔25连通。当测试时OLED置于该吸附孔洞26 的上方，启动该真空泵30，可对该真空腔25抽真空，因此可将该OLED吸附在该测试平台21 上。[0038]一温度晶片27，位于该测试平台21的底面可以对OLED加热而达到所需要的测量条件；较佳者，该温度晶片27位于该测试平台21的底面正中央，使数个探针23围绕于该温度晶片27周围(如图2D所不)。[0039]一光学测量仪器40，用于测量该OLED的光学特性，该光学测量仪器40位于该上方测量空间11的上方，用于接收来自该OLED的光以测量OLED发光的强度及频率，较佳者该光学测量仪器可为一辉度计，用以测量该OLED所发射的光的频率及光强度；[0040]一三维空间调整座50，位于该光学测量仪器40的上方并将该光学测量仪器40夹持住，可令该光学测量仪器40在XY平面上调整到所需要的位置，以对该OLED对位。另外该光学测量仪器40也可以在纵轴Z方向进行高低调整已达到所需要的高度。其中，在测量过程中可应用CCD先行对位，再利用该三维空间调整座50调整该光学测量仪器40的正确测量位置。[0041]一温度控制器60，位在该下方机件区12内。该温度控制器60以电连接该温度晶片27用于控制该温度晶片27，以达到所需要的温控条件。[0042]一喷气清净机70，位在该上方测量空间11的侧面，可以提供提供清洁的空气，以清除平台上的水汽。[0043]一电源供应器80，该电源供应器80设于该下方机件区12内，该电源供应器80将外接电源经处理后提供电力给本实用新型相关的装置。其中该电源供应器80的输出模式可设定为定电压模式、定电流模式及定电压定电流自动切换模式。[0044]—显不器90,该显不器90内包含一处理器91外接于该测量机台10,该显不器90 用以连接各测试元件并将接收的信息经处理器91处理过后显示各测试元件的信息，如该光学测量仪器40、该三维空间调整座50的位置以及温度晶片27的温度。[0045]如图3A及图3B所显示，可将欲测试的OLED放置于该OLED测试片28上方后，再将该OLED测试片28置于该测试平台21上方。该OLED测试片28可设定为四个OLED测量区29(如图3A的假想线区域)，[0046]各OLED测量区29分别连接到对应探针23的正极，同时各OLED测量区29还连接到一电源负极。[0047]本实用新型的优点如图I所显示，可以于机台上规划多个测量区，且该OLED测试治具也可以因测试片大小而量身订做，对于在测量区规画上的灵活性也相对提高，相较现有技术的测量仪器，其OLED测试治具皆为固定于测试位置，且治具的大小并不能随意更换，搭配可三轴移动的测量，使其测量上被局限于一固定范围内，且测量数量也被固定住。 在本实用新型中，该OLED测试治具放置于该上方测量空间的底面，所以在该OLED测试治具摆放上，只需要考虑上方测量空间的底面的平面大小。再以搭配该三维空间调整座的CCD 先行对位之后，再将该辉度计移动置欲检测的OLED的正确位置进行测量。由上文可知，本实用新型的上方测量空间的底面的平面皆可为测量区域，只需待使用者规划。对于本实用新型的OLED测试治具也与现有的技术有·所不同。在本实用新型中使用真空方式吸附该 OLED测试片，除了可以固定该OLED测试片之外，也可以使CCD先行对位后的测量位置更为固定且准确。[0048]综上所述，本发明人性化的体贴设计，相当符合实际需求。其具体改进现有缺失， 相较于现有技术明显具有突破性的进步优点，确实具有功效的增进，且非易于达成。[0049]上列详细说明是针对本实用新型的一可行实施例的具体说明，惟该实施例并非用以限制本实用新型的专利范围，凡未脱离本实用新型技艺精神所为的等效实施或变更，均应包含于本实用新型的权利要求范围中。
权利要求1.一种OLED光学测量机具,其特征在于,包含一台测量机台，包含一个上方测量空间及一个下方机件区，该上方测量空间的底面配置有数个测量区，各测量区配置有至少一个OLED测试治具，该OLED测试治具包括位于四边的四个脚架及由四个脚架所支撑的测试平台，该测试平台供放置0LED，以及该OLED测试治具底部尚包含一个底面，该底面用于将该OLED测试治具放置于该上方测量空间的底面；其中该OLED测试治具尚包含数个用于给放置于该测试平台上的OLED施加电流的探针，该探针设于OLED测试治具的底面，各该探针的探针头朝向该测试平台，该测试平台对应各该探针的位置设有探针孔洞，使各该探针头伸出该探针孔洞，而与置于该测试平台上的OLED相接触；一个用于接收来自该OLED的光以测量OLED光学特性的光学测量仪器，该光学测量仪器位于该上方测量空间的上方；以及一个三维空间调整座，位于该光学测量仪器的上方并将该光学测量仪器夹持住，该三维空间调整座能够调整该光学测量仪器在三个维度方向上的位置。
2.如权利要求I所述的OLED光学测量机具，其特征在于，该OLED测试治具尚包含至少一个设于该测试平台底面的真空腔，该真空腔以管路连接一个真空泵，该真空泵置于该下方机件区；以及该测试平台对应该真空腔的位置设有至少一个吸附孔洞，该吸附孔洞与该真空腔连通；该真空泵工作使该真空腔形成真空，并通过该吸附孔洞将被测试的OLED吸附在该测试平台上。
3.如权利要求I所述的OLED光学测量机具，其特征在于，该OLED测试治具尚包含一个对OLED加热以达到所需测量条件的温度晶片，该温度晶片设于该测试平台的下方。
4.如权利要求3所述的OLED光学测量机具，其特征在于，尚包含一个温度控制器，设于该下方机件区，该温度控制器电连接该温度晶片。
5.如权利要求I所述的OLED光学测量机具，其特征在于，尚包含一台提供清洁的空气以清除平台上水汽的喷气清净机，该喷气清净机位于该上方测量空间的侧面。
6.如权利要求I所述的OLED光学测量机具，其特征在于，尚包含一个电源供应器，该电源供应器位于该下方机件区。
7.如权利要求I所述的OLED光学测量机具，其特征在于，尚包含一台显示器，该显示器内包含一个外接于该测量机台的处理器，该显示器用以连接各工作元件并将接收的信息经由该处理器处理过后显示出来。
8.如权利要求I所述的OLED光学测量机具，其特征在于，该光学测量仪器为一个用以测量该OLED所发射的光频率及光强度的辉度计。
9.如权利要求6所述的OLED光学测量机具，其特征在于，该电源供应器为定电压模式、 定电流模式及定电压定电流自动切换模式的供应器。
专利摘要一种OLED光学测量机具，包含一个测量机台，其包含一个上方测量空间及一个下方机件区。该上方测量空间的底面配置有数个测量区，各测量区配置有一个OLED测试治具，该OLED测试治具主要是位在四边的四个脚架及由四个脚架所支撑的测试平台，该测试平台上可用于放置OLED，以及该OLED测试治具底部尚包含一个底面，该底面用于将该OLED测试治具放置于该上方测量空间的底面;一个光学测量仪器，用于测量该OLED的光学特性，该光学测量仪器位在该上方测量空间的上方，用于接收来自该OLED的光以测量OLED特性;一三维空间调整座，位在该光学测量仪器的上方并将该光学测量仪器夹持住，可令该光学测量仪器进行三轴的调整。
文档编号G01M11/02GK202793740SQ20122040563
公开日2013年3月13日 申请日期2012年8月16日 优先权日2012年8月16日
发明者余章凯 申请人:光达检测科技有限公司