专利名称：一种探伤仪的参数快速设置方法
技术领域：
本发明涉及一种参数设置方法，尤其涉及一种探伤仪的参数快速设置方法。
背景技术：
目前世界上主要(全部)的UT探伤机是由仪器开发人员设计，需要检验员通过仔细地阅读说明书才能使用的仪器，操作起来不仅繁琐，还必须要技术部门的专业人员才能操作。操作起来步骤太繁琐，这样不仅需要操作人员有丰富的技术经验，整个设置及校准过程也会耗费大量时间，并且整个过程由于人为的疏忽，也会遗漏一些参数设置及操作过程。 由于探伤行业特点，通常新型的数字化检测设备要求初次接受该仪器的人员对操作系统菜单及相应的校准、设置过程要有清晰的认识，在使用之前得长时间、多次地按照说明书的要求来进行仪器的调试，才能掌握某一仪器的使用。改变目前以菜单设置实现模块功能的做法，常见的设计需要检验员花很多时间熟悉仪器，让检验员觉得很难适应新的仪器，不是有丰富的探伤经验很难操控，我们要站在检验员的角度来设计一款全新介面的UT机。我们要设计新型的操作程序，让检验仪器校准和检验操作过程自动连贯起来。

发明内容
本发明要解决的问题是提供一种新型的操作程序，依托新型的数字化设备，使检验仪器校准和检验操作过程自动连贯起来的参数快速设置方法。为解决上述问题，本发明通过以下方案来实现一种探伤仪的参数快速设置方法， 对以探伤仪的菜单设置按照校准、基本参数的设置、曲线的制作、基本功能的调整等进行合理的分配，将检验仪器校准和检验操作过程自动连贯起来，参数设置方法包括基本参数设置、闸门设置、收发设置、探头设置、校准、DAC/AVG曲线制作、智能设置、通道信息、显示设置、标准库、预置和整机设置。所述校准为焊缝自动校准，包括以下步骤，1)、探头设置，所述探头设置在类型上提供直探头和斜探头两种选择，探头信息为晶片尺寸的调节；2)、工件信息，分为平板和曲面，设置被测工件值的厚度，屏幕横坐标显示范围，该范围步进值为0. 1、0. 5、1和5;3)、声速和延时校准，斜探头部分提供参考回波1和参考回波2两种声程值，直探头部分设置初次校准的距离和声程终止的范围，校准后的声速值和延时自动关联到声速和零偏，通过手动测量探头的前沿值。4)、探头角度或K值校准，用于反射的试块上孔的孔径值和用于反射的试块上孔的孔深值，其步进值都固定为0.1 ；5)、DAC曲线制作通过逐点找最高波制作DAC曲线，进行下一个点的制作，在需要调整时选择试块校正，补偿为设置补偿dB值；6)、标准库，提供几种常用的探伤标准进行选择，常用的标准有JB/T 4730、GB/T11345 和 AffS Dl. 1 等。所述校准为钢板自动校准，包括以下步骤，1)、直探头设置，直探头角度为0，设置探头的晶片尺寸，固定步进值为1 ；2)、工件信息，设置屏幕横坐标显示范围、设置被测工件值的厚度，显示超声波在待测工件中的声速值；3)、声速和延时校准，直探头设置为初次校准的距离和声程终止的范围，校准后的声速值和延时自动关联到声速和零偏。所述校准为锻件自动校准，包括以下步骤，1)、制作AVG曲线，制作曲线时使用试块的平底孔直径，设置目标孔径的直径值；2)、速和延时校准，直探头设置为初次校准的距离和声程终止的范围，校准后的声速值和延时自动关联到声速和零偏。所述闸门设置提供A闸门、B闸门和双闸门，调节闸门的起始位置、宽度和高度。所述收发设置通过设置输出阻抗和控制发射电压，提供单晶片和双晶片两种，所述单晶片为单晶片收发，所述双晶为一收一发。所述智能设置包括增益方式、自动波高、曲面修正和波峰记忆，所述增益方式提供自动增益和手动增益，所述自动波高控制自动增益的时候波升高或降低的程度，所述曲面修正在进行曲面探伤时，内侧探伤或外测探伤自动曲面修正，所述波峰记忆通过闸门套住回波实时记录当前动态回波的最高回波。所述通道信息为对当前通道进行选择和命名、对通道设置和通道名称保存。所述显示设置包括检波、距离坐标、屏幕颜色和分区显示，所述检波有正检波、负检波、全检波和射频四种现在，所述距离坐标有提供声程、深度和水平三种，所述分区显示通过一次波、二次波、三次波、多次波分颜色显示回波型号，自动根据板厚区分不同回波次数。所述预置包括抑制、日期和时间、打印机类型和报警设置，所述整机设置有通道清零和信息锁定，提供手动校准或自动校准两种选择。本发明具有的优点如下1、本发明采用DAC/AVG曲线生成、存储、调用，其制作简单，逐个取点，自动生成评定线、定量线、DAC曲线、判废线四条曲线；编辑方便，可自主修正各取样点，曲线间距可自主调整。AVG曲线当量自主可调，自动计算缺陷当量Φ值；用于锻件检测很方便，能够减轻检验员的计算负担。2、本发明在双闸门模式下，用闸门A和B分别套住需要比较的回波，按下比较键， 则闸门A回波的dB值减去闸门B回波的dB值的差值显示出来，不需要通过菜单控制，可通过闸门锁定后用快捷键直接控制计算并输出结果。3、本发明具有连续存储回放功能，在记录检测过程中屏幕内回波波形与数据的动态变化，使数据记录更详细，类似摄像功能的菜单设置，通俗易懂操作方便，且存储文件可随时直接转存于U盘等存储设备，对记录有争议或者不确定的检测结果会很有用，便于分析。4、本发明具有焊缝检测图形示意功能，能直观的显示图形，缺陷位置一目了然，图片可存储于探伤报告中。
5、本发明射频显示能真实显示原始波形，方便细致分析回波特点，辅助缺陷的定性分析。


图1为本发明的流程图；图2为本发明的界面及按钮分布图；图3为本发明的实施例数字式超声检测仪电路框图；图4为本发明实施例A扫检测仪电路框图。
具体实施例方式以下是通过具体实施方式
与

对本发明做进一步的描述如图2所示，探伤机器界面及按钮分布，左边数字方格为按钮键设置，右边为屏
眷ο如图3所示，数字式超声检测仪包括微处理器2、发射电路4、接收电路5和传感器 6，所述发射电路4经由微处理器2处理出的数据命令发射输送到接收电路5，该数字式超声检测仪还包括电源3、显示器1和A/D转换器7，所述电源3提供电源给微处理器2和发射电路4，所述显示器1控制电路设备的显示状态，所述A/D转换器7通过转换信号接收电路 5和微处理器2工作。如图4所示，逻辑控制电路通过接口电路连接外部设备，所述的逻辑控制电路与脉冲发射电路通过发射器发射信号，再有A/D转换电路与接收放大电路通过接收器接收信号，接口电路连接扫查位置传感器电路，并通过位置传感器感应，接口电路连接到计算机系统中，计算机系统控制图像显示器，利用按键操作程序。实施例一如图1、图2所示，焊缝校准，1、探头设置，提供直探头和斜探头两种选择，按此单对应键切换两种模式(不同模式仪器自动关联不同的校准模式)；晶片尺寸(斜探头为晶片长X宽，直探头为晶片直径Φ)，按住此单对应键调节各个数值的大小；显示探头的角度或K值，在校准仪器是自动与校准值相关，不需设置(直探头不需设置角度，角度为0)设置探头的前沿值，具体数值仪器校准后测量得来，手动输入。2、基本设置，设置屏幕横坐标显示范围，可调节，步进值设置为0. 1、0.5、1和5 ；水平移位，固定步进值0. 1，左右平移波形显示，不影响范围；显示超声波在待测工件中的声速值，校准前根据探头不同显示不同的标准值；设置被测工件值的厚度，固定步进值0. 1， 用于缺陷位置计算，分为平板和曲面。3、校准，斜探头部分，1)、声速/延时校准(校准材料声速和探头延时)和角度/K值校准(校准探头角度或K值)，按此单对应键切换两种模式，设置第一个回波的声程值，步进值固定为1设置第二个回波的声程值，步进值固定为1校准确认菜单，按下此键自动校准完成，校准后的声速值和延时自动关联到基本菜单中的声速和零偏，不需手动输入；2)、分声速/延时校准(校准材料声速和探头延时)和角度/K值校准(校准探头角度或K值)，按此单对应键切换两种模式，用于反射的试块上的孔的孔径值，步进值固定为0. 1，用于反射的试块上的孔的孔深值，步进值固定为0. 1 ；校准确认菜单，按下此键自动校准完成，校准后的探头角度/K值自动关联到探头设置菜单中的探头角度项，不需手动输入；直探头部分，声速/延时校准，设置初次校准的距离，一般设置为板厚，设置声程终止的范围， 可设置为板厚的整数倍，校准确认菜单，按下此键自动校准完成，校准后的声速值和延时自动关联到基本菜单中的声速和零偏，不需手动输入。4、DAC曲线制作，逐点找最高波制作DAC曲线，按确定键进入下一个点的制作，DAC曲线制作完成后，效果不理想的情况下可在试块上校正，按次键校正不同的点，按其他任意键退出调整， DAC曲线删除设置补偿dB值，按此处对应键切换补偿、测长线、定量线和判废线；5、标准库，提供几种主要应用的标准，JB/T 4730、GB/T 11345以及AWS Dl. 1等， 根据需要按此键进行选择切换。实施例二 如图1、图2所示，钢板校准，1、探头设置，提供直探头和斜探头两种选择，按此单对应键切换两种模式(不同模式仪器自动关联不同的校准模式)；晶片尺寸(斜探头为晶片长X宽，直探头为晶片直径Φ)，按住此单对应键调节各个数值的大小；显示探头的角度或K值，在校准仪器是自动与校准值相关，不需设置(直探头不需设置角度，角度为0)设置探头的前沿值，具体数值仪器校准后测量得来，手动输入。2、基本设置，设置屏幕横坐标显示范围，可调节，步进值设置为0. 1、0. 5、1和5 ；水平移位，固定步进值0. 1，左右平移波形显示，不影响范围；显示超声波在待测工件中的声速值，校准前根据探头不同显示不同的标准值；设置被测工件值的厚度，固定步进值0. 1， 用于缺陷位置计算，分为平板和曲面。3、校准，直探头部分，声速/延时校准，设置初次校准的距离，一般设置为板厚，设置声程终止的范围， 可设置为板厚的整数倍，校准确认菜单，按下此键自动校准完成，校准后的声速值和延时自动关联到基本菜单中的声速和零偏，不需手动输入。实施例三如图1、图2所示，锻件校准，1、AVG曲线制作，关/ > 3N制作/ < 3N制作，按此键在3种模式中切换，需要选定某一种模式按确认键进行确认，输入制作曲线时使用试块的平底孔直径；设置目标孔径的Φ值，确定制作菜单，按下此键自动生成曲线(设计当量计算公式)；2、校准，直探头部分，声速/延时校准，设置初次校准的距离，一般设置为板厚，设置声程终止的范围， 可设置为板厚的整数倍，校准确认菜单，按下此键自动校准完成，校准后的声速值和延时自动关联到基本菜单中的声速和零偏，不需手动输入。实施例四焊缝检测(默认横波，可手动修改为纵波)，焊缝类型可选为对接、角接、T接、贴角缝，默认平板对接，检测面设定，平板、曲面外侧、曲面内侧1、对接焊缝，斜探头检测、直探头检测选择斜探头检测参数输入工件参数材质板厚―mm，坡口形式单V、X型扫查面选择口单面双侧、口双面双侧、口单面单侧、口双面单侧厚度输入―mm反射次数1次波(dl = S) ,1+2 次波(dl = S，d2 = 2T-S)、2+3 次波(d2 = 2T-S， d3 = S-2T)、3+4 次波(d3 = S-2T，d4 = 4T-S) ·探头参数探头规格型号—频率(MHz)晶片尺寸(mm，矩形—X—、圆形Φ—)标称角度/K值试块型号标准试块—、对比试块1—、对比试块2—、灵敏度校正试块—。系统校准入射点检测操作完成输入前沿值__mm声速校准设定Rl (选择50mm、25、100，支持手动调节)，设定R2 (选择100mm、100、 125、150、200，支持手动调节)角度/K值校准设定反射体直径(mm) :(1. 5、3、5、50)输入反射体深度(从15mm、 20、30、40、50、支持手动调节)，确定后自动存入系统校准参数中。曲线制作选择技术规范JB4730、GBl 1345、AWS Dl. U EN1714, API1104—选择试块标准试块、对比试块(平面试块、曲面试块(曲面试块要输入扫查面R 值、底面R值))。设定反射体根据所选技术标准自动默认对应的反射体尺寸((^1.5、3、2丨)，但可支持手动调节。反射体测试操作第一点、第二点、…自动按声程从小到大为相邻点(不以测点先后为序)自动排序连贯制作曲线。生成曲线基准线、三条线选择(判废线、定量线、测长线)，确认后则锁定，在后面的操作中不得修改，但可另行启动修功能对曲线可进行手动修正。扫查灵敏度设定根据所选技术标准默认，支持手动调节耦合及衰减补偿设定 _dB曲面修正启动默认为平板，启动曲面修正后选择外侧扫查(输入工件外径— mm,工件内径—mm)、内侧扫查(输入工件内径—mm，工件外径—mm)。随时显示深度、弧长、当量(Φ值与参考试块的反射体值相同)__dB.缺陷检测过程自主选择仪器通用功能进行缺陷的检测，与其他仪器的办法相同。
缺陷显示缺陷编号、缺陷定量(最大点、起点、终点)分别对应的dB值、深度、水平距离、离起点长度值。启动横向扫查按各技术标准默认灵敏度，比如4730 默认6dB(可持自动调节)。 缺陷测量和显示按上述不变。2、焊缝直探头检测/角接焊缝检测参数输入工件参数，工件材质—(工件材质是否必要)工件厚度，—mm，坡口形式单V、X型、直边…(坡口形式是否必要)检测面，内表面、外表面。(仅对于管子纵缝必要，涉及曲面修正)探头参数，探头型号和规格_频率(M Hz)(实质上输入的探头频率是无用的，检测过程中不会对结果又影响) 晶片尺寸(Ι Π1:Φ—、—X—)系统校准声速校准，试块上校准，设定厚度—mm，自动取Bi、B2校正声速工件上校准，设定板厚—mm，自动取Bi、B2校正声速曲线制作选择技术规范，JB4730、GB11345、AWSDl. U EN1714, API1104—选择试块，标准试块、对比试块。设定反射体，试块上校准，根据所选技术标准自动默认对应的反射体尺寸(Φ1.5、3、2···，支持手动调节)。工件上校准，反射体测试操作第一点、第二点、…按仪器自动按声程从小到大为相邻点(不以测点先后为序)自动排序连贯制作曲线。曲线生成，基准线、三条曲线(判废线、定量线、测长线)，确认后则锁定，在后面的操作中不得修改，但可另行启动修改功能对曲线可进行手动修正。扫查灵敏度设定，根据所选技术标准默认，支持手动调节耦合及衰减补偿设定― dB仪器显示，深度、弧长、当量(Φ ？(与标准反射体值相同)—dB.缺陷显示缺陷编号、缺陷定量(最大、起点、终点)分别对应的dB值、深度、水平距离。3、直探头在，母材检测/钢板检测按键切换选择工件参数，扫查面，母材上扫查、焊缝面上直接扫查。标称厚度(mm)―
参数输入探头参数频率(MHz)晶片尺寸(mm;Φ—)扫查类型母材扫查扫查宽度—mm钢板扫查(平行线扫查(间距—mm、格子线扫查(横向—*纵向—mm)；反射次数一次波、二次波、三次波、N次波(反射次数1次波(dl = S) ,1+2次波 (dl = S,d2 = 2T-S)、2+3 次波(d2 = 2T-S，d3 = S_2T)、3+4 次波(d3 = S-2T，d4 = 4T-S) ·系统校准声速校准试块上校准L1输入，L2输入(支持手动调节)工件上校准L1默认为输入板厚T，L2默认为2T(支持手动调节)，钢板检测才设定L2 Ln (支持手动调节)曲线制作(查技术标准，钢板扫查和母材扫查不做曲线？)选择技术规范:4730,11345,AffS Dl. 1、EN1714、API1104···选择试块标准试块、对比试块。设定反射体试块上校准根据所选技术标准自动默认对应的反射体尺寸((^1.5、3、2丨)，但可支持手动调节。工件上校准反射体测试操作第一点、第二点、…按仪器自动按声程从小到大为相邻点(不以测点先后为序)自动排序连贯制作曲线。生成三条曲线(判废线、定量线、测长线)，确认后则锁定，在后面的操作中不得修改，但可另行启动修改功能对曲线可进行手动修正。扫查灵敏度设定根据所选技术标准默认，支持手动调节耦合及衰减补偿设定 _dB仪器显示深度、弧长、当量(Φ ？(与标准反射体值相同)—dB.缺陷显示缺陷编号、缺陷定量(最大、起点、终点)分别对应的dB值、深度、水平距离。实施例五在人机界面的操作过程如下，闸门设置，模式可提供3种闸门信息显示模式A闸门/B闸门/双闸门，通过按左侧对应键在 3种模式中进行切换，固定步进值0. 1，起始位置为闸门左端的横坐标值，固定步进值0. 1， 宽度为闸门左右端的横坐标的差值，步进值固定为1。收发设置，匹配可提供四种选择50 Ω/100 Ω/200 Ω/500 Ω四种选择，按左侧对应键在四种当中切换；工作方式可提供两种选择单晶/双晶两种选择，双晶模式为一收一发模式，单晶为单晶片收发，按左侧对应键在两种模式中切换；
控制发射电压的强弱，提供强/弱两种选择，按左侧对应键在两种模式中进行切换；提供低频/中频/高频/宽频四种模式，用做滤波，按按左侧对应键在四种模式中进行切换。AVG曲线制作，距离选择检测距离与3倍近场区的关系，分‘> 3N’和‘< 3N’两种，大于3N的区域自动生成曲线，小于3N的区域采用逐点测试的方式进行制作AVG曲线，因此在这两个进行切换的时候，同列的下面3个同级菜单也会有所变化；孔径设置，此处输入用作参考的平底孔试块的孔径值，用来对仪器进行校准和记录，仪器会记录此处平底孔到上表面的深度值，以用作自动计算使用，深度值也可在自动校准中输入；曲线尺寸检测需要制作的AVG曲线的孔径，例如检测距离大于3N我们需要的是 Φ Imm平底孔的AVG曲线，而用Φ 2mm的平底孔试块作为参考试块；当检测距离小于3N时， 该选项处于不可调节状态，为灰色；制作分两种模式，根据检测距离，大于3N的时候根据参考孔径回波，自动计算生成目标孔径回波的AVG曲线；当检测距离小于3N的时候，采用逐点测试记录的方式制作 AVG曲线，制作方法与DAC曲线相同；智能设置，增益方式即将某一回波高度增大或减小的方式，该处提供两种模式供选择自动增益和手动增益，选择自动增益，当按自动增益键的时候，波高自动升高或降低到指定高度；选择手动增益，通过调节dB数值来控制波高，此时羡慕的自动高度项为灰色，处于不可调节的状态；自动波高及控制自动增益的时候波升高或降低的程度，例如设置为80%时，将闸门套在某一个回波上面，再按自动增益键，则回波自动升高或降低到80 %的高度，并且 dB数会自动调整到对应值；曲面修正在进行曲面探伤时使用，分内侧探伤和外测探伤，按此处可进行Φ和 Φ的切换，选定后按确定，在变换到对数字进行调节，其中Φ为外径对应，用于外侧探伤， Φ为内径对应，用于内侧探伤，仪器根据输入的外径值或内径值自动进行曲面修正，显示出真实的深度位置和前端位置；波峰记忆提供开启和关闭两个选项，当开启时，可以通过间门套住回波实时记录当前动态回波的最高回波。通道信息通道用来对当前通道进行选择和命名，操作者可根据需要对通道进行选择和命名，按此处对应键可进行通道选择和命名的切换，选定某一项后按确认键可对选定项进行操作，或者选定通道，或者对通道进行命名；保存按此处对应键可对通道设置和通道名称进行保存，方便下次探伤使用；删除删除当前通道的信息，包括名称和设置信息，通道信息清0，操作方法为按此处对应键后再按确认；覆盖此键的作用是用作数据覆盖，当你在通道项选定某个通道时，按此键对选定的通道的数据进行覆盖。显示设置，检波方式此处为检波方式的选择，提供4种检波方式的选择全检波、正检波、负检波和射频这4种模式，按此处对应键在4种模式中切换；距离坐标暂时提供两种坐标S和H(要不要考虑L)，当选择S的时候，横坐标显示为声程的1 1距离，当选择H的时候，横坐标显示为深度的1 1距离；屏幕颜色提供几种模式的屏幕背景颜色、波形颜色、字体颜色的模型供选择，以适应在不同的光照环境工作；目前设计的未蓝底黄字，波形显示区域为黑底，回波颜色为亮黄色；分区显示提供开启和关闭两种选择，用于帮助区分一次回波、二次回波和多次回波。预置，抑制用来滤除杂波，例如当设置为10%的时候，低于10%的波将会被全部滤除， 当设置为0%的时候，相当于抑制被关闭；时间时间当中的年、月、日均可调，按此处对应键在3个之间切换，切换到某一个可直接进行调接；打印机自动选择打印机品牌，适应不同的打印机进行打印操作；蜂鸣用于报警使用，关闭时报警无声音，开启时有报警的情况下会发出报警声。整机设置整机清零选定此处的键，然后按确认键，按一次一个小短横杠-变为！，按4次确认4个横杠全变为4个感叹号，再按次确认，整机清零，恢复到出厂设置；校准设置按此处对应键可开启自动校准，再次按此处关闭自动校准；灵敏度锁校准完成后用于锁定灵敏度，在探伤过程中dB数变动的话，在灵敏度事先锁定时按面板上的灵敏度恢复键可以恢复到校准完成时候的状态。
权利要求
1.一种探伤仪的参数快速设置方法，其特征在于对以探伤仪的菜单设置按照校准、 基本参数的设置、曲线的制作、基本功能的调整等进行合理的分配，将检验仪器校准和检验操作过程自动连贯起来，参数设置方法包括基本参数设置、间门设置、收发设置、探头设置、 校准、DAC/AVG曲线制作、智能设置、通道信息、显示设置、标准库、预置和整机设置。
2.根据权利要求1所述的探伤仪的参数快速设置方法，其特征在于所述校准为焊缝自动校准，包括以下步骤，1)、探头设置，所述探头设置在类型上提供直探头和斜探头两种选择，探头信息为晶片尺寸的调节；2)、工件信息，分为平板和曲面，设置被测工件值的厚度，屏幕横坐标显示范围，该范围步进值为0. 1,0. 5、1和5 ；3)、声速和延时校准，斜探头部分提供参考回波1和参考回波2两种声程值，直探头部分设置初次校准的距离和声程终止的范围，校准后的声速值和延时自动关联到声速和零偏，通过手动测量探头的前沿值。4)、探头角度或K值校准，用于反射的试块上孔的孔径值和用于反射的试块上孔的孔深值，其步进值都固定为0.1;5)、DAC曲线制作通过逐点找最高波制作DAC曲线，进行下一个点的制作，在需要调整时选择试块校正，补偿为设置补偿dB值；6)、标准库，提供几种常用的探伤标准进行选择，常用的标准有JB/T4730、GB/T 11345 禾口 AWS Dl. 1 等。
3.根据权利要求1所述的探伤仪的参数快速设置方法，其特征在于所述校准为钢板自动校准，包括以下步骤，1)、直探头设置，直探头角度为0，设置探头的晶片尺寸，固定步进值为1；2)、工件信息，设置屏幕横坐标显示范围、设置被测工件值的厚度，显示超声波在待测工件中的声速值；3)、声速和延时校准，直探头设置为初次校准的距离和声程终止的范围，校准后的声速值和延时自动关联到声速和零偏。
4.根据权利要求1所述的探伤仪的参数快速设置方法，其特征在于所述校准为锻件自动校准，包括以下步骤，1)、制作AVG曲线，制作曲线时使用试块的平底孔直径，设置目标孔径的直径值；2)、速和延时校准，直探头设置为初次校准的距离和声程终止的范围，校准后的声速值和延时自动关联到声速和零偏。
5.根据权利要求1所述的探伤仪的参数快速设置方法，其特征在于所述间门设置提供A闸门、B闸门和双闸门，调节闸门的起始位置、宽度和高度。
6.根据权利要求1所述的探伤仪的参数快速设置方法，其特征在于所述收发设置通过设置输出阻抗和控制发射电压，提供单晶片和双晶片两种，所述单晶片为单晶片收发，所述双晶为一收一发。
7.根据权利要求1所述的探伤仪的参数快速设置方法，其特征在于所述智能设置包括增益方式、自动波高、曲面修正和波峰记忆，所述增益方式提供自动增益和手动增益，所述自动波高控制自动增益的时候波升高或降低的程度，所述曲面修正在进行曲面探伤时，内侧探伤或外测探伤自动曲面修正，所述波峰记忆通过间门套住回波实时记录当前动态回波的最高回波。
8.根据权利要求1所述的探伤仪的参数快速设置方法，其特征在于所述通道信息为对当前通道进行选择和命名、对通道设置和通道名称保存。
9.根据权利要求1所述的探伤仪的参数快速设置方法，其特征在于所述显示设置包括检波、距离坐标、屏幕颜色和分区显示，所述检波有正检波、负检波、全检波和射频四种现在，所述距离坐标有提供声程、深度和水平三种，所述分区显示通过一次波、二次波、三次波、多次波分颜色显示回波型号，自动根据板厚区分不同回波次数。
10.根据权利要求1所述的探伤仪的参数快速设置方法，其特征在于所述预置包括抑制、日期和时间、打印机类型和报警设置，所述整机设置有通道清零和信息锁定，提供手动校准或自动校准两种选择。
全文摘要
本发明公开了一种探伤仪的参数快速设置方法，对以探伤仪的菜单设置按照校准、基本参数的设置、曲线的制作、基本功能的调整等进行合理的分配，将检验仪器校准和检验操作过程自动连贯起来，参数设置方法包括基本参数设置、闸门设置、收发设置、探头设置、校准、DAC/AVG曲线制作、智能设置、通道信息、显示设置、标准库、预置和整机设置，本发明是制作简单、编辑方便和快捷的参数设置方法。
文档编号G01N29/30GK102353722SQ20111017378
公开日2012年2月15日 申请日期2011年6月24日 优先权日2011年6月24日
发明者汪月银 申请人:汪月银